JIS C 5101-21:2014 電子機器用固定コンデンサ―第２１部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類１ | ページ 6

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                                                              C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
                                 図6−リフロー温度プロファイル
f)  試験の回数 : 個別規格に規定がない場合,1回とする。
g) 個別規格には,d)又はe)の温度プロファイルを規定する。
4.9.3  後処理
  コンデンサは,6時間24時間放置する。
  フラックス残さ(渣)は適切な溶剤で取り除く。
4.9.4  最終検査,測定及び要求性能
  後処理後にコンデンサは,外観検査及び次の電気的性能を測定し,次の要求性能を満足しなければなら
ない。
  通常の照明の下で,約10倍の拡大鏡で検査したとき,クラックなどの損傷があってはならない。
  また,電極の表面処理層の食われ(はんだ食われ)が,主要りょう(稜)の全長の25 %以下とする。個
別規格には,追加の要求を規定してもよい。
  静電容量を4.5.1によって測定し,その変化は表11に規定する値以下とする。
                                    表11−最大静電容量変化
                                  公称温度係数           要求性能a)
                                     10−6/K
                          +100≧α≧−750             0.5 %又は0.5 pF
                          −750>α≧−1 500及びSL(1C)1 %又は1 pF
                          注a) いずれか大きい値とする。

4.10 はんだ付け性

  はんだ付け性は,JIS C 60068-2-58によるほか,次による。
4.10.1 試験条件
4.10.1.1 はんだ槽法(寸法記号1608M,2012M及び3216Mに適用する。)
    注記 寸法記号は,表A.1参照。
  個別規格に規定がない場合は,JIS C 60068-2-58の6.(はんだ槽法)及び8.(試験条件)によるほか,
次による。
  試料は,80 ℃140 ℃で,30秒60秒間予備加熱を実施する。
    はんだ合金 :       Sn-Pb                   Sn-Ag-Cu
    はんだ温度 :       235 ℃±5 ℃            245 ℃±5 ℃

――――― [JIS C 5101-21 pdf 26] ―――――

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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
    浸せき時間 :       2秒±0.2秒間            3秒±0.3秒間
    浸せき深さ :       10 mm                   10 mm
    浸せき回数 :       1回                     1回
4.10.1.2 リフロー法(赤外線及び熱風方式)
  JIS C 60068-2-58の7.(リフロー法)及び8.(試験条件)によるほか,次による。
a) ソルダペーストを試験基板に塗布する。
b) ソルダペーストの塗布厚は,個別規定の規定による。
c) 試料の端子をソルダペーストの上に載せる。
d) はんだ合金 : Sn-Pbはんだの場合
      個別規格に規定がない場合は,試験基板上の試料を,赤外線及び熱風方式で,150 ℃±10 ℃で60
    秒120秒間の予備加熱を実施する。
      試料の温度が215 ℃±3 ℃に達するまで,速やかに上昇させ,10秒±1秒間保持する。
e) はんだ合金 : Sn-Ag-Cuはんだの場合
      個別規格に規定がない場合は,試験基板上の試料を,赤外線及び熱風方式で,150 ℃±5 ℃から
    180 ℃±5 ℃まで60秒120秒間の予備加熱を実施する。
      試料の温度が235 ℃±3 ℃に達するまで,速やかに上昇させ,225 ℃以上に20秒±5秒間保持する。
f)  個別規格には,d)又はe)の温度プロファイルを規定する。
4.10.2 後処理
  フラックス残さ(渣)は,適切な溶剤で取り除く。
4.10.3 最終測定及び要求性能
  コンデンサは,通常照明の下で約10倍の拡大鏡で検査したとき,損傷があってはならない。端子又は電
極の表面部分は,ピンホール,ぬれ不良及びはんだはじきが少なく,はんだが良好に付着していなければ
ならない。これらの不完全な部分は,一箇所に集中してはならない。
  それ以上の要求性能については,個別規格に規定してもよい。

4.11 温度急変

  この試験は,カテゴリ温度範囲が110 ℃以上のコンデンサに適用する。
  温度急変は,JIS C 5101-1の4.16(温度急変)によるほか,次による。
  コンデンサは,4.3によってプリント配線板に取り付ける。
4.11.1 初期測定
  静電容量を4.5.1によって測定する。
4.11.2 サイクル数
  サイクル数は,5回とする。
  カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度に放置する時間は,30分間とする。
4.11.3 後処理
  コンデンサは,6時間24時間放置する。
4.11.4 最終測定及び要求性能
  コンデンサは,外観検査を実施し,目に見える損傷があってはならない。静電容量を4.5.1によって測定
したとき,その変化は,表12に規定する値以下とする。

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                                    表12−最大静電容量変化
                               公称温度係数 10−6/K      要求性能a)
                          +100≧α≧−750              1 %又は1 pF
                          −750>α≧−1 500及びSL(1C)2 %又は1 pF
                          注a) いずれか大きい値とする。

4.12 一連耐候性

  一連耐候性は,JIS C 5101-1の4.21(一連耐候性)によるほか,次による。
4.12.1 初期測定
  静電容量を4.5.1によって測定する。
4.12.2 高温
  高温は,JIS C 5101-1の4.21.2(高温)による。
4.12.3 温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクル
  JIS C 5101-1の4.21.3[温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクル]による。
4.12.4 低温
  低温は,JIS C 5101-1の4.21.4(低温)によるほか,次による。
4.12.4.1 最終測定及び要求性能
  コンデンサは,外観に損傷があってはならない。
4.12.5 温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクル
  JIS C 5101-1の4.21.6[温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクル]によるほか,次による。
4.12.5.1 試験条件
  電圧は,印加しない。
  残りのサイクルは,表13による。
                            表13−温湿度サイクル,残りのサイクル数
                                  カテゴリ    24時間のサイクル数
                                 − /− / 56          5
                                 − /− / 21          1
                                 − /− / 10          1
                                 − /− / 04          0
4.12.5.2 後処理
  コンデンサは,6時間24時間放置する。
4.12.6 最終測定及び要求性能
  コンデンサは,外観に損傷があってはならない。
  コンデンサは電気的性能を測定し,表14に規定する要求性能を満足しなければならない。

――――― [JIS C 5101-21 pdf 28] ―――――

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C 5101-21 : 2014 (IEC 60384-21 : 2011)
                                  表14−最終測定及び要求性能
  測定項目    測定条件       公称温度係数α                        要求性能
                             (サブクラス)
  静電容量  4.5.1による。                      静電容量変化が2 %又は1 pFのいずれか大きい値以下
                          +100≧α≧−750(1B)
                                               静電容量変化が3 %又は1 pFのいずれか大きい値以下
                         −750>α≧−1 500(1F)
                             及びSL(1C)
  誘電正接  4.5.2による。 全てのα及びサブクラス 4.5.2の表7の2倍以下
  絶縁抵抗  4.5.3による。 全てのα及びサブクラス Ri≧2 500 MΩ又はRi×CN≧25 sのいずれか小さい値以上
 注記 サブクラスの記号は,2.2.5による。

4.13 高温高湿(定常)

  高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1の4.22[高温高湿(定常)]によるほか,次による。
  コンデンサは,4.3によってプリント配線板に取り付ける。
4.13.1 初期測定
  静電容量を4.5.1によって測定する。
4.13.2 試験条件
  個別規格に規定がない場合は,電圧は印加しない。
  試験の厳しさは,表15及び個別規格に規定する試験条件から選定することが望ましい。
  試験期間は,2.1に従って選定することが望ましく,個別規格に規定する。
                               表15−高温高湿(定常)の試験条件
                               厳しさ      温度        相対湿度
                                            ℃            %
                                 1       +85±2        85±3
                                 2       +60±2        93±3
                                 3       +40±2        93±3
  電圧印加の規定がある場合は,試料の半数は定格電圧を印加し,その他の半数は印加しない。
  高温高湿(定常)試験後に槽から取り出し,15分間以内に耐電圧試験を4.5.4によって実施する。ただ
し,この場合の電圧は,定格電圧とする。
    注記 安全上の理由によって,定格電圧1 kV以上のコンデンサについては,別の電圧印加条件を個別
          規格に規定してもよい。
4.13.3 後処理
  コンデンサは,6時間24時間放置する。
4.13.4 最終測定及び要求性能
  コンデンサは,外観に損傷があってはならない。
  コンデンサは電気的性能を測定し,表16の要求性能を満足しなければならない。

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                                  表16−最終測定及び要求性能
  測定項目    測定条件       公称温度係数α                        要求性能
                             (サブクラス)
  静電容量  4.5.1による。                      静電容量変化が2 %又は1 pFのいずれか大きい値以下
                          +100≧α>−750(1B)
                                               静電容量変化が3 %又は1 pFのいずれか大きい値以下
                         −750≧α>−1 500(1F)
                             及びSL(1C)
  誘電正接  4.5.2による。 全てのα及びサブクラス 4.5.2の表7の2倍以下
  絶縁抵抗  4.5.3による。 全てのα及びサブクラス Ri≧2 500 MΩ又はRi×CN≧25 sのいずれか小さい値以上
 注記 サブクラスの記号は,2.2.5による。

4.14 耐久性

  耐久性は,JIS C 5101-1の4.23(耐久性)によるほか,次による。
  コンデンサは,4.3によってプリント配線板に取り付ける。
4.14.1 初期測定
  静電容量を4.5.1によって測定する。
4.14.2 試験条件
  カテゴリ電圧と定格電圧とが等しい場合,表17によって試験を実施する。
                            表17−耐久性の試験条件(UC=URの場合)
                項目                                UR
                                                     V
                              UR≦200           200500
             温度         カテゴリ上限温度    カテゴリ上限温度    カテゴリ上限温度
             電圧    V         1.5UR               1.3UR               1.2UR
             試験時間 h        1 000               1 500               2 000
  カテゴリ電圧と定格電圧とが等しくない場合,表18によって試験を実施する。
                          表18−耐久性の試験条件(UC=URでない場合)
                項目                                UR
                                                     V
                              UR≦200           200500
            温度     ℃    TR        TB        TR        TB        TR        TB
            電圧     V    1.5UR     1.5UC     1.3UR     1.3UC     1.2UR     1.2UC
            時間      h        1 000                1 500               2 000
            試料               2分割               2分割               2分割
            注記 TR : 定格温度
                 TB : 85 ℃を超えるカテゴリ上限温度(100 ℃,125 ℃及び150 ℃)
4.14.3 後処理
  コンデンサは,6時間24時間放置する。
4.14.4 最終測定及び要求性能
  コンデンサは,外観に損傷があってはならない。
  コンデンサは電気的性能を測定し,表19の要求性能を満足しなければならない。

――――― [JIS C 5101-21 pdf 30] ―――――

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