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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,表2に規定する要求性能を満足する。
4.5 はんだ付け性
はんだ付け性は,JIS C 5101-1の4.15によるほか,次による。
4.5.1 試験条件
加速蒸気エージングなどの前処理は,適用しない。
はんだ小球法を適用する場合は,個別規格の規定による。はんだ槽法又ははんだ小球法のどちらも適用
しない場合は,はんだこてサイズAによるはんだ試験を行う。
4.5.2 要求性能
表2に規定する要求性能を満足する。
4.6 温度急変
温度急変は,JIS C 5101-1の4.16によるほか,次による。
4.6.1 初期測定
初期測定は,4.3.1による。
4.6.2 試験条件
サイクル数は,5回とする。
カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度における放置時間は,30分間とする。
4.7 振動
振動は,JIS C 5101-1の4.17によるほか,次による。
4.7.1 試験条件
試験Fcの厳しさを適用する。
次のうちの一つの周波数範囲,10 Hz55 Hz,10 Hz500 Hz又は10 Hz2 000 Hzで,振幅0.75 mm又
は加速度100 m/s2のどちらか緩い方の振幅とする。全試験持続時間は6時間とする。
個別規格に周波数範囲及び使用する取付方法を規定する。リード線によって取り付けるリード線端子反
対方向形(アキシャルリード線端子)コンデンサは,本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.7.2 最終測定及び要求性能
表2に規定する要求性能を満足する。
4.8 バンプ
バンプは,JIS C 5101-1の4.18によるほか,次による。
個別規格には,バンプ又は衝撃のどちらで試験するか規定する。
4.8.1 初期測定
初期測定は,適用しない。
4.8.2 試験条件
個別規格に,次に推奨する厳しさのどれを適用するか規定する。
バンプの回数 : 1 000回又は4 000回
ピーク加速度 : 400 ms2 100 ms2
又は
作用時間 : 6 ms 16 ms
個別規格には,取付方法も規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)コンデンサ
をリード線だけで固定する場合は,本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.8.3 最終測定及び要求性能
――――― [JIS C 5101-2 pdf 21] ―――――
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,表2に規定する要求性能を満足する。
4.9 衝撃
衝撃は,JIS C 5101-1の4.19によるほか,次による。
個別規格には,バンプ又は衝撃のどちらを行うか規定する。
4.9.1 初期測定
初期測定は,行わない。
4.9.2 試験条件
個別規格に,表9に示す条件のうちどれを適用するか規定する。
パルス波形は,正弦半波とする。
表9−ピーク加速度及び作用時間
ピーク加速度 m/s2 作用時間 ms
300 18
500 11
1 000 6
個別規格には,取付方法も規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)コンデンサ
をリード線だけで固定する場合は,本体と取付部との距離を6 mm±1 mmとする。
4.9.3 最終測定及び要求性能
コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,表2に規定する要求性能を満足する。
4.10 一連耐候性
一連耐候性は,JIS C 5101-1の4.21によるほか,次による。
4.10.1 初期測定
初期測定は行わず,4.4.2,4.8.3又は4.9.3の測定値を適用する。
4.10.2 高温
高温は,JIS C 5101-1 の4.21.2による。
4.10.3 温湿度サイクル(12+12時間サイクル)及び試験Db最初のサイクル
温湿度サイクルは,JIS C 5101-1の4.21.3による。
4.10.4 低温
低温は,JIS C 5101-1の4.21.4による。
4.10.5 減圧
減圧は,JIS C 5101-1の4.21.5によるほか,次による。
4.10.5.1 試験条件1
試験は個別規格に規定がある場合に行い,温度範囲15 ℃35 ℃,気圧8 kPaで試験を行う。試験時間
は1時間とする。
4.10.5.2 試験条件2
規定の気圧を保ち,1時間の試験時間の最後の5分間定格電圧を印加する。この試験を適用するコンデ
ンサの試料は,必要な場合2分割又は3分割し,それぞれJIS C 5101-1の4.5.6の表1に規定する測定箇
所に電圧を印加する。
注記 JIS C 5101-1の最新版の対応国際規格では,表3になっている。
4.10.5.3 中間検査
――――― [JIS C 5101-2 pdf 22] ―――――
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,表2に規定する要求性能を満足する。
4.10.6 温湿度サイクル(12+12時間サイクル)及び試験Db残りのサイクル
温湿度サイクルは,JIS C 5101-1の4.21.6によるほか,次による。
4.10.6.1 試験条件
温湿度試験槽から取り出し15分以内に,4.2.1に規定する試験回路及び条件によって測定箇所Aに定格
電圧を1分間印加する。
注記 測定箇所A : 端子間(JIS C 5101-1の4.5.3の表1による。)
4.10.6.2 最終測定及び要求性能
後処理後にコンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,表2に規定する要求性能を満足する。
4.11 高温高湿(定常)
高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1の4.22によるほか,次による。
4.11.1 初期測定
静電容量を4.2.2によって測定し,誘電正接 (tan ‰ 4.2.3.1によって測定する。
4.11.2 試験条件
高温高湿放置後,槽からコンデンサを取り出し,15 分間以内に4.2.1によって耐電圧試験を行う。ただ
し,定格電圧を印加する。
4.11.3 最終測定及び要求性能
後処理後にコンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,表2に規定する要求性能を満足する。
4.12 耐久性
耐久性は,JIS C 5101-1の4.23によるほか,次による。
4.12.1 初期測定
初期測定は,4.3.1によって行う。
4.12.2 試験条件1
性能等級1のコンデンサの試験時間は2 000時間,性能等級2は1 000時間とし,その他の試験条件は,
表10による。
表10−性能等級1及び性能等級2に対する耐久性試験
カテゴリ −/85/− −/100/− −/105/− −/125/−
温度 85 ℃ 85 ℃ 100 ℃ 85 ℃ 105 ℃ 85 ℃ 125 ℃
電圧(d.c.) 1.25 UR 1.25 UR 1.25 UC 1.25 UR 1.25 UC 1.25 UR 1.25 UC
試料の分類 分割しない 2分割 2分割 2分割
注記 カテゴリ−/105/−は,カテゴリ上限温度105 ℃の追加によって規定した。
4.12.3 試験条件2
試験電圧は,それぞれコンデンサに直列保護抵抗器を通じて印加する。
その抵抗値は0.22/CR ( 圀 ‰柿 CRは,ファラド (F) を単位とした定格静電容量とする。また,その抵
抗値は,計算値の±30 %以内で最大2 M 地
4.12.4 試験条件3
規定の時間放置後,4.12.3と同じ抵抗器Rを通じて放電する。
4.12.5 最終測定及び要求性能
コンデンサの外観検査及び電気的性能の測定を行い,表2に規定する要求性能を満足する。
4.13 充放電
――――― [JIS C 5101-2 pdf 23] ―――――
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
充放電は,JIS C 5101-1 の4.27によるほか,次による。
4.13.1 初期測定
CR≦1 ンデンサでは,4.2.3に規定する方法で誘電正接 (tan ‰ 定する。
4.13.2 試験条件
コンデンサは,標準状態で1秒間に0.1サイクル60サイクルの範囲内で10 000回の充放電を行う。1 秒
間のサイクル数は,コンデンサの表面温度上昇が周囲温度よりも10 ℃を超えないサイクル数とする。各
サイクルは,コンデンサへの充電と放電とからなる。疑義がある場合は,1秒間に1サイクル2サイクル
で試験を行う。各コンデンサは,次の式で算出された抵抗値R1の低インダクタンス抵抗器R1を通じて放
電する。
UR
R1
dU
CR
dt
ここに, UR : コンデンサの定格電圧 (V)
CR : コンデンサの定格静電容量 (
dU
: 表11に示したボルト/マイクロ秒 (V/
dt
R1 : 放電回路での抵抗値で,計算値に最も近いE24標準数
列の抵抗値で2.2 坎 上の値とする。
試験での印加電圧は,UR±5 %とする。
コンデンサは,次の条件の抵抗値R2を通じて充電する。
R2≧22×R1
充電時間は,10×CR×R2時間以上とする。
a) リード線端子同一方向形(ラジアルリード線端子)のコンデンサの試験用dU/dt リード線端子同一
方向形(ラジアルリード線端子)のコンデンサの試験用dU/dtは,表11による。
表11−リード線端子同一方向形(ラジアルリード線端子)のコンデンサの試験用dU/dt (V/μs)
リード線間隔“e”(2.5 mm又は2.54 mm)の倍数(注記1参照)
定格電圧 2e 3e 4e 6e 9e 11e 15e 17e
V
40 5 3 3 1.5 1 0.8 0.6 0.4
63 10 5 6 3 2 1 0.8 0.6
100 20 6 9 5 3 2 1 0.8
250 15 20 11 7 5 3 1.2
400 30 30 20 10 8 6 4
630 40 25 12 10 8 6
注記1 リード線間がスプレー表面間の距離に一致していない場合は,その距離は,例えば,素子長さで表すこと
とし,個別規格に素子長さを規定するか又はその長さの決め方を規定する。
リード線間隔が表の値と異なる場合は,最も近いリード線間隔の値に対応したdU/dt値とする。
注記2 このdU/dt値は,試験に用いる値で,連続作動時に耐える値ではない。
b) リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子)のコンデンサの試験用dU/dt 素子長さの明示
がない場合のdU/dt値は,本体寸法から3 mm差し引いた値に最も近い表11の値とする。
個別規格に素子長さ又は規定方法が明示してある場合は,その値に対応する表の値とする。
4.13.3 最終測定及び要求性能
――――― [JIS C 5101-2 pdf 24] ―――――
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
後処理後の電気的性能は,表2に規定する要求性能を満足する。
4.14 部品の耐溶剤性
部品の耐溶剤性は,JIS C 5101-1の4.31による。
4.15 表示の耐溶剤性
表示の耐溶剤性は,JIS C 5101-1の4.32による。
JIS C 5101-2:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-2:2005(IDT)
JIS C 5101-2:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-2:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式