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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
試験項目a) 又は 及び合格判定
NDb) 数c) (c)
群3 D
4.12 耐久性
試験時間 表1又は
等級1 : 2 000 h 表1Aによる。
等級2 : 1 000 h
4.12.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan
CR>1F : 1 kHz
CR≦1F : 10 kHz
4.12.5 最終測定 外観 損傷がなく,表示は明りょ
うとする。
静電容量 4.12.1の測定値に対して
性能等級1の場合
ΔC/C≦5 %,
性能等級2 の場合
ΔC/C≦8 %
誘電正接 (tan tan
増加量
等級1 (CR≦1F) : ≦0.003
等級1 (CR>1F) : ≦0.002
等級2 (CR≦1F) : ≦0.005
等級2 (CR>1F) : ≦0.003
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %以
上
群4 D
4.13 充放電
表1又は
4.13.1 初期測定 静電容量 表1Aによる。
誘電正接 (tan
CR>1 F : 1 kHz
CR≦1 F : 10 kHz
充電時間 : ...s
放電時間 : ...s
4.13.3 最終測定 静電容量 4.13.1の測定値に対して
性能等級1の場合
ΔC/C≦3 %,
性能等級2 の場合
ΔC/C≦5 %
誘電正接 (tan tan
増加量
等級1 (CR≦1 F) : ≦0.003
等級1 (CR>1 F) : ≦0.002
等級2 (CR≦1 F) : ≦0.005
等級2 (CR>1 F) : ≦0.003
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %以
上
注a) 試験の細分箇条番号及び要求性能は,箇条4(試験及び測定方法)による。
b) この表でDは破壊試験,NDは非破壊試験を示す。
c) 合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。
3.5 品質確認検査
3.5.1 検査ロットの構成
――――― [JIS C 5101-2 pdf 16] ―――――
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
a) 群A及び群B検査 この検査は,ロットごとに行う。
製造業者は,次の条件でコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
1) 検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2参照)。
2a) 試料は,検査ロットに含まれる定格電圧と定格静電容量との組合せ及び外形寸法の代表とする。
− 試料数
− 1組合せ当たり5個以上
2b) EC 電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合は,1組合せ当たりの抜取数が4個以下のとき,製造業
者は,国内監督検査機関の承認を必要とする。
b) 群C検査 この検査は,定期的に行う。
試料は,定期検査周期期間内に製造されたものを代表するもので,かつ,定格電圧の高電圧群,中
電圧群及び低電圧群に分類する。その期間に認証範囲の定格電圧の高電圧群,中電圧群及び低電圧群
ごとに一つの外形寸法のものを試験した場合,その後の期間では,認証のすべての範囲を包含するた
めに,製造中のその他の定格電圧及び/又は外形寸法のものを試験する。
3.5.2 試験計画
ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画は,ブランク個別規格JIS C 5101-2-1の
箇条2の表4による。
3.5.3 長期保管後の出荷
JIS C 5101-1の3.5.2の規定に従い,はんだ付け性及び静電容量について,群A及び群Bの再検査を行
う。
注記 JIS C 5101-1の3.5.2は,対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の3.10と同等である。
3.5.4 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,表3及び表4から選定することが望ましい。
表3−ロットごとの品質確認検査
検査副群b) D c) E F c) G c) EZ
IL AQL IL AQL IL AQL IL AQL IL n c
% % % %
A0 100 %a)
A1 S-3 2.5 S-3 b)
0
A2 S-3 1.0 S-3 b)
0
B1 S-3 2.5 S-3 b)
0
注記 IL=検査水準,AQL=合格品質限界,n=試料数,c=合格判定数
注a) この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。
抜取水準は部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視
するために,抜取試料をすべて検査する。
抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品
質水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出す
る。
b) 試料数 (n) は,JIS Z 9015-1に規定する付表1の検査水準 (IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字に
従い,付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
c) 評価水準D,F及びGは,検討中。
表4−定期的品質確認検査
検査副群 b) D a) E F a) G a) EZ
――――― [JIS C 5101-2 pdf 17] ―――――
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
p n c p n c p n c p n c p n c
C 1A 6 9 1 6 5 0
C 1B 6 18 1 6 5 0
C1 6 27 2 6 10 0
C2 6 15 1 6 10 0
C3 3 21 1 6 10 0
C4 3 9 1 6 10 0
注記 p=検査周期(月),n=試料数,c=合格判定数
注a) 評価水準D,F及びGは,検討中。
b) 検査副群の内容は,ブランク個別規格JIS C 5101-2-1の箇条2による。
4 試験及び測定方法
この箇条は,JIS C 5101-1の4.に規定する事項を補足する。
4.1 外観及び寸法
外観及び寸法は,JIS C 5101-1の4.4による。
4.2 電気的試験
4.2.1 耐電圧
耐電圧は,JIS C 5101-1の4.6によるほか,次による。
4.2.1.1 試験回路
コンデンサC1 を削除する。
R1と試料 (CX) の定格静電容量との積は,0.01秒を超え1秒以下とする。
R1は,電源の内部抵抗を含む。
R2は,放電電流を1 A以下に制限する値とする。
4.2.1.2 試験条件
JIS C 5101-1の4.5.3の表1に規定する測定箇所に,品質認証試験の場合は1分間,ロットごとの品質確
認検査の場合は1秒間,表5に規定する試験電圧を印加する。
表5−試験電圧
測定箇所 試験電圧
1 a) 性能等級1 : 1.6 UR
性能等級2 : 1.4 UR
1 b) 及び 1 c) 2 UR又は200 Vのどちらか高い値
注記 試験電圧の印加中に自己回復作用があってもよい。
注記 JIS C 5101-1の4.5.3の表1は,対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の4.5.6の表3と同等である。
4.2.2 静電容量
静電容量は,JIS C 5101-1の4.7によるほか,次による。
4.2.2.1 測定条件
静電容量は,1 kHzで測定又は測定値を1 kHzの値に補正する。ただし,10 Fを超える定格静電容量の
ものは,50 Hz120 Hzで測定してもよい。
1 kHzでの測定電圧のピーク値は定格電圧の3 %以下とし,50 Hz120 Hzでのピーク値は,定格電圧の
20 %又は100 V (70 V r.m.s.) のどちらか小さい値以下とする。
4.2.2.2 要求性能
静電容量は,規定の許容差による。
――――― [JIS C 5101-2 pdf 18] ―――――
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
4.2.3 誘電正接 (tan
誘電正接 (tan ‰ JIS C 5101-1の4.8によるほか,次による。
4.2.3.1 1 kHzでの測定条件
誘電正接 (tan ‰湮 定は,次による。
− 周波数 : 1 kHz
− ピーク電圧 : ≦定格電圧の3 %
− 確度 : ≦10×10−4(絶対値)
4.2.3.2 1 kHz での要求事項
誘電正接 (tan ‰ 次の表6に示す要求性能を満足する。
表6−誘電正接 (tan
定格静電容量 tan 絶対値)
F 性能等級1 性能等級2
≦1 0.008 0.01
>1 0.01 0.01
4.2.3.3 10 kHz での測定条件
誘電正接 (tan ‰湮 定は,次による。
表2で,CR≦1 Fのコンデンサに対して要求がある場合 :
− 周波数 : 10 kHz
− ピーク電圧 : 1 V r.m.s.以下
− 確度 : ≦10×10−4(絶対値)
4.2.4 絶縁抵抗
絶縁抵抗は,JIS C 5101-1の4.5によるほか,次による。
4.2.4.1 測定条件
測定の前にコンデンサを十分に放電する。放電回路の抵抗と試料の定格静電容量との積は,0.01未満又
は個別規格の規定による。
4.2.4.2 要求性能 測定電圧は,JIS C 5101-1の4.5.2による。絶縁抵抗値とコンデンサの定格静電容量と
の積は,1秒未満又は個別規格の規定値とする。
絶縁抵抗は,表7の要求性能を満足する。
表7−絶縁抵抗の要求性能
――――― [JIS C 5101-2 pdf 19] ―――――
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
RC 積の最小値 端子間絶縁抵抗の最小値 端子とケース間の絶縁抵
[R : 端子間絶縁抵抗], 抗の最小値
C : 定格静電容量 (CR)
s M 圀 M 圀
測定箇所は,JIS C 5101-1の4.5.3の表1の規定による。
1 a) 1 a) 1 b) 及び 1 c)
定格静電容量 定格静電容量
CR>0.33 F CR≦0.33 F
定格電圧 定格電圧 定格電圧 定格電圧
UR>100 V UR≦100 V UR>100 V UR≦100 V
等級 等級 等級 等級 等級 等級 等級 等級
1 2 1 2 1 2 1 2
10 000 2 500 5 000 1 250 30 000 7 500 15 000 3 750 30 000
4.2.4.3 温度補正係数
20 ℃以外の温度で測定した場合は,必要に応じて測定値に適切な補正係数を乗じて20 ℃の値に補正す
る。疑わしい場合は,20 ℃で測定する。表8に示す補正係数は,メタライズドポリエチレンテレフタレー
トフィルムコンデンサの平均値である。
表8−試験温度に対応する補正係数
温度 補正係数 温度 補正係数
℃ ℃
15 0.79 27 1.38
16 0.83 28 1.45
17 0.87 29 1.52
18 0.91 30 1.59
19 0.95 31 1.66
20 1.00 32 1.74
21 1.05 33 1.82
22 1.10 34 1.91
23 1.15 35 2.00
24 1.20
25 1.26
26 1.32
4.3 端子強度
端子強度は,JIS C 5101-1の4.13によるほか,次による。
4.3.1 初期測定
静電容量は,4.2.2によって測定する。
誘電正接 (tan 4.2.3.1又は4.2.3.3によって測定する。
4.4 はんだ耐熱性
はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1の4.14によるほか,次による。
4.4.1 試験条件
強制乾燥は,適用しない。
4.4.2 最終性能及び要求性能
――――― [JIS C 5101-2 pdf 20] ―――――
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JIS C 5101-2:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-2:2005(IDT)
JIS C 5101-2:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-2:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式