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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
表1−品質認証試験の定数抜取試験計画 評価水準E
群番号 試験項目 この規格の 試料数 (n) 及び合格判定数d) (c)
細分箇条番 1組合せ 4組合せ c) 以下の場合 6組合せ c) の場合
号 c)につき
n 4n c c合計 6n c c合計
0 外観 4.1
寸法 4.1
静電容量 4.2.2 29 116 2 b) 174 3 b)
誘電正接 (tan 4.2.3
耐電圧 4.2.1
絶縁抵抗 4.2.4
予備試料 2 8 12
1 1A 端子強度 4.3
はんだ耐熱性 4.4 3 12 1 18 1
部品の耐溶剤性 a) 4.14
1B はんだ付け性 4.5
表示の耐溶剤性 a) 4.15
温度急変 4.6 6 24 1 36 2 b)
振動 4.7
バンプ又は衝撃 a) 4.8又は4.9
一連耐候性 4.10 9 36 2 4 54 3 6
2 高温高湿(定常) 4.11 5 20 1 30 2 b)
3 耐久性 4.12 10 40 2 b) 60 3 b)
4 充放電 4.13 5 20 1 30 2
注a) 個別規格の規定による。
b) 1組合せの中から2個以上の不適合があってはならない。
c) 定格静電容量と定格電圧との組合せで3.4.1による。
d) 合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。
――――― [JIS C 5101-2 pdf 11] ―――――
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
3.4.2A 試験(評価水準EZの場合)
表1A及び表2に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であ
り,各群の試験は,記載の順に従って行う。
すべての試料は,群0の試験を行った後,その他の群に分割する。
群0の試験中に発生した不適合は,その他の群に用いてはならない。
1 個のコンデンサが,一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても,不適合品数は1個と数える。
各群又は各副群での不適合品数が合格判定数以下であり,かつ,不適合品数の合計が総合格判定数以下
の場合の品質認証は,合格とする。
注記 表1A及び表2は,定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表1Aは,各試験又は
試験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。表2は,箇条4に規定する試
験の詳細と併せて,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する
試験方法又は試験条件を規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する品質確認検
査と同じとする。
表1A−品質認証試験の定数抜取試験計画及び合格判定個数 評価水準EZ
群 試験項目 この規格の細分箇条番 試料数 合格判定数c)
号 n b) c
0 外観 4.1
寸法 4.1
静電容量 4.2.2
誘電正接 (tan 4.2.3 132 0
耐電圧 4.2.1
絶縁抵抗 4.2.4 12
予備試料
1 1A 端子強度 4.3 12 0
はんだ耐熱性 4.4
部品の耐溶剤性 a) 4.14
1B はんだ付け性 4.5 24 0
表示の耐溶剤性 a) 4.15
温度急変 4.6
振動 4.7
バンプ又は衝撃 a) 4.8又は4.9
一連耐候性 4.10 36 0
2 高温高湿(定常) 4.11 24 0
3 耐久性 4.12 36 0
4 充放電 4.13 24 0
注a) 個別規格の規定による。
b) 定格電圧と定格静電容量との組合せで3.4.1による。
c) 合否判定の不適合品の数を示し,この数以下の場合を合格とする。
表2−品質認証の試験計画
――――― [JIS C 5101-2 pdf 12] ―――――
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
細分箇条番号及び D 試験条件a) 試験数 (n) 要求性能a)
試験項目 a) 又は 及び合格判定
ND b) 数c) (c)
群0 ND 表1又は
4.1 外観 表1Aによる。 4.1による。
表示は明りょうとし,
その他は個別規格の規
定による。
4.1 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.2.2 静電容量 規定の許容差による。
4.2.3 誘電正接 (tan 周波数 : 1 kHz 4.2.3.2による。
4.2.1 耐電圧 方法は,個別規格の規定による。 絶縁破壊又はフラッシオ
ーバがない。ただし,
一時的瞬時破壊があっ
てもよい。
4.2.4 絶縁抵抗 方法は,個別規格の規定による。 4.2.4.2による。
群1A D 表1又は
4.3.1 初期測定 静電容量 表1Aによる。
誘電正接 (tan
測定周波数
CR>1 1 kHz
CR≦1 F : 10 kHz
4.3 端子強度
外観 損傷がない。
4.4 はんだ耐熱性
強制乾燥なし。
方法は,個別規格の規定による。(1A
又は1B)
4.14 部品の耐溶剤性
溶剤 : ... 個別規格の規定による。
溶剤の温度 : ...
方法2
後処理時間 : ...
4.4.2 最終測定 外観 損傷がなく,表示は明り
ょうとする。
静電容量 4.3.1の測定値に対してΔ
C/C≦2 %
tan 湘
誘電正接 (tan
加量
等級1 (CR≦1 F) : ≦0.003
等級1 (CR>1 F) : ≦0.002
等級2 (CR≦1 F) : ≦0.005
等級2 (CR>1 F) : ≦0.003
群1B D 表1又は
4.5 はんだ付け性
加速蒸気エージングは行わない。 表1Aによる。 端子に,はんだが良好に付
方法は,個別規格の規定による。 着しているか又ははん
だ小球法の場合は,···s
以内にはんだが流れ
る。
4.15 表示の耐溶剤性
溶剤 : ... 個別規格の規定による。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ... 表示は明りょうとする。
方法2
後処理時間 : ...
表2−品質認証の試験計画(続き)
――――― [JIS C 5101-2 pdf 13] ―――――
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
細分箇条番号及び D 試験条件a) 試験数 (n) 要求性能a)
試験項目a) 又は 及び合格判定
ND b) 数c) (c)
4.6.1 初期測定 静電容量
誘電正接 (tan
測定周波数
CR>1 F : 1 kHz
CR≦1 F : 10 kHz
4.6 温度急変
TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
5サイクル
試験時間t1=30 min
外観 損傷がない。
4.7 振動
取付方法は,個別規格の規定による。
手順 : B4
周波数範囲 : ...Hzから...Hz
振幅 : 0.75 mm又は加速度 : 100 m/s2
どちらか緩い方
合計時間 : 6 h
4.7.2 最終測定 外観 損傷がない。
4.8 バンプ
取付方法は,個別規格の規定による。
(又は4.9衝撃) バンプ回数 : ...
ピーク加速度 : ... m/s2
作用時間 : ... ms
4.9 衝撃
取付方法は,個別規格の規定による。
(又は4.8バンプ) ピーク加速度 : ... m/s2
作用時間 : ... ms
4.8.3又は4.9.3最終測定 外観 損傷がない。
静電容量 4.6.1の測定値に対して
ΔC/C≦5 %
誘電正接 (tan tan
増加量
等級1 (CR≦1F) : ≦0.003
等級1 (CR>1F) : ≦0.002
等級2 (CR≦1F) : ≦0.005
等級2 (CR>1F) : ≦0.003
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %以
上
表2−品質認証の試験計画(続き)
――――― [JIS C 5101-2 pdf 14] ―――――
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
細分箇条番号及び D 試験条件a) 試験数 (n) 要求性能a)
試験項目a) 又は 及び合格判定
NDb) 数c) (c)
群1 D
4.10 一連耐候性
表1又は
4.10.2 高温 温度 : カテゴリ上限温度 表1Aによる。
時間 : 16 h
4.10.3 温湿度サイクル
(12+12時間サイク
ル)最初のサイクル
4.10.4 低温 温度 : カテゴリ下限温度
時間 : 2 h
4.10.5 減圧(個別規格 気圧 : 8 kPa
に規定がある場合)
4.10.5.3 中間検査 外観 永久破壊,フラッシオーバ
又はケースに異常な変
形がない。
4.10.6 温湿度サイクル
(12+12時間サイクル)
残りのサイクル
4.10.6.2 最終測定 外観 損傷がなく,表示は明りょ
うとする。
静電容量 4.4.2,4.8.3又は4.9.3の測
定値に対してΔC/C≦
5%
誘電正接 (tan tan は4.6.1の値
からの増加量
等級1 (CR≦1F) : ≦0.005
等級1 (CR>1F) : ≦0.003
等級2 (CR≦1F) : ≦0.008
等級2 (CR>1F) : ≦0.005
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %以
上
群2 D
4.11 高温高湿(定常)
表1又は
4.11.1 初期測定 静電容量 表1Aによる。
誘電正接 (tan
測定周波数 : 1 kHz
4.11.3 最終測定 外観 損傷がなく,表示は明りょ
うとする。
静電容量 4.11.1の測定値に対して
ΔC/C≦5 %
誘電正接 (tan tan
増加量≦0.005
絶縁抵抗 4.2.4.2の規定値の50 %以
上
表2−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D 試験条件a) 試験数 (n) 要求性能a)
――――― [JIS C 5101-2 pdf 15] ―――――
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JIS C 5101-2:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-2:2005(IDT)
JIS C 5101-2:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.30 : 紙コンデンサ及びプラスチックコンデンサ
JIS C 5101-2:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式