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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
この品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格と同等又は高い
水準とする。
1.3 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。
これらの引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追
補を含む。)は適用しない。西暦年の記載がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 5063 : 1997 抵抗器及びコンデンサの標準数列
注記 対応国際規格 : IEC 60063 : 1963,Preferred number series for resistors and capacitors並びに
Amendment 1 : 1967及びAmendment 2 : 1977 (IDT)
JIS C 5101-1 : 1998 電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則
注記 対応国際規格 : IEC 60384-1 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1 :
Generic specification 並びにAmendment 2 : 1987,Amendment 3 : 1989及びAmendment 4 : 1992
(MOD)
なお,JIS C 5101-1 : 1998は,対応国際規格 : IEC 60384-1 : 1999,Fixed capacitors for use in
electronic equipment−Part 1 : Generic specificationの最新版として制定されておらず,該当する
事項の項番は,JIS C 5101-1の該当事項のものと一致しない場合がある。両者で引用する項
番に相違がある場合は,IEC 60384-1 : 1999の項番を注記に示す。
JIS C 5101-2-1 : 2009 電子機器用固定コンデンサ−第2-1部 : ブランク個別規格 : 固定メタライズド
ポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
注記 対応国際規格 : IEC 60384-2-1 : 2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 2-1 :
Blank detail specification: Fixed metallized polyethylene-terephthalate film dielectric d.c. capacitors
−Assessment levels E and EZ (IDT)
JIS C 60068-1 : 1993 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格 : IEC 60068-1 : 1988,Environmental testing−Part 1 : General and guidance及び
Amendment 1 : 1992 (IDT)
JIS Z 8601 : 1954 標準数
注記 対応国際規格 : ISO 3 : 1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
注記 対応国際規格 : IEC 60410 : 1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes
(MOD)
1.4 個別規格に規定する事項
個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。
個別規格には,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求性能よりも低い水準の要求性能を
規定してはならない。より厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格の1.9の中に記載し,
更に,試験計画の中に,例えば,アステリスク (*) を付けて明示する。
注記 1.4.1の外形図及び寸法は,一覧表で示してもよい。
各個別規格に次の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。
1.4.1 外形図及び寸法
外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別が容易にできるように図示する。コンデンサ
――――― [JIS C 5101-2 pdf 6] ―――――
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
の互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべての寸法値は,
通常ミリメートルで規定する。
寸法は,本体の長さ,幅,高さ及び端子間隔とする。円筒形の場合は,本体の直径及び長さ,並びに端
子の長さ及び直径を規定する。“寸法及び定格静電容量と定格電圧との組合せ範囲”のように幾つかの組合
せを個別規格に規定する場合は,必要に応じてそれぞれの寸法及び寸法許容差を図の下に表で示す。
形状が上記の場合と異なる場合は,個別規格にそのコンデンサを適切に表す寸法を規定する。
コンデンサがプリント配線板用でない場合には,個別規格の中にそのことを明記する。
1.4.2 取付け
個別規格に通常使用の場合の取付方法を規定する。試験及び測定のための取付方法(要求がある場合)
は,4.1 による。
1.4.3 定格及び特性
定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,次による。
1.4.3.1 定格静電容量範囲
定格静電容量の範囲は,2.2.1による。
注記 電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合で,個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた範囲と
が異なる場合は,次の文章を追加する。“各定格電圧での定格静電容量の範囲は,品質認証電
子部品一覧表 (QPL) による。”
1.4.3.2 特殊な特性
設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,追加の規定をしてもよい。
1.4.3.3 はんだ付け
はんだ付け性及びはんだ耐熱性で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格の規定による。
1.4.4 表示
コンデンサ及びその包装に対する表示項目は,個別規格に規定する。この規格の1.6と異なる場合は,
その事項を個別規格に明記する。
1.5 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1によるほか,次による。
1.5.1
性能等級1のコンデンサ(長寿命用)[performance grade 1 capacitors (long life) ]
高い性能水準を長期間にわたって必要とするコンデンサ。
1.5.2
性能等級2のコンデンサ(一般用)[performance grade 2 capacitors (general purpose) ]
性能等級1のコンデンサのような高い性能水準を必要としない一般用のコンデンサ。
1.5.3
定格電圧 (UR)
カテゴリ下限温度と定格温度との間のどの温度でも,コンデンサに連続して印加できる直流電圧の最高
電圧。
注記 コンデンサに印加する直流電圧と交流電圧のピーク値との和は,定格電圧以下である。交流電
圧の最大値は,次に示すそれぞれの周波数での定格電圧に対する割合以下又は280 V以下とす
る。
50 Hz : 20 %
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
100 Hz : 15 %
1 kHz : 3 %
10 kHz : 1 %
1.6 表示
表示は,JIS C 5101-1の2.4によるほか,次による。
1.6.1 コンデンサ及び包装の表示
表示内容は,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順による。
a) 定格静電容量
b) 定格電圧(直流電圧を表す記号d.c.は,記号 又は で表してもよい。)
c) 定格静電容量許容差
d) カテゴリ電圧
e) 製造年月(又は年週)
f) 製造業者名又はその商標
g) 耐候性カテゴリ
h) 製造業者の形名
i) 引用個別規格
1.6.2 コンデンサ本体への表示
コンデンサには,1.6.1のa),b),c)及び必要な項目をできるだけ多く,明りょうに表示する。コンデン
サの表示の重複は避けることが望ましい。
1.6.3 コンデンサの包装への表示
コンデンサの包装には,1.6.1のすべての事項を明りょうに表示する。
1.6.4 表示の追加
1.6.1に規定するもの以外に,表示を追加する場合は,混乱しないように表示する。
2 推奨特性及び定格
2.1 推奨特性
個別規格に規定する特性は,次の中から選定するのが望ましい。
2.1.1 推奨耐候性カテゴリ
この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 60068-1の8.によって分類する。
カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。
カテゴリ下限温度 : −55 ℃,−40 ℃及び−25 ℃
カテゴリ上限温度 : +85 ℃,+100 ℃,+105 ℃及び+125 ℃
高温高湿(定常)の試験期間 : 4日,10日,21日及び56 日
125 ℃での耐久性試験期間を超える連続使用については,加速性について配慮する(個別規格による)。
注記 カテゴリ上限温度の+105 ℃は,我が国で広く使用しているため追加した。
低温及び高温の試験温度は,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。
2.2 推奨定格値
2.2.1 定格静電容量 (CR)
定格静電容量の推奨値は,1,1.5,2.2,3.3,4.7及び6.8並びにそれらの10n倍(nは整数とする。)とす
る。これらの値は,JIS C 5063に規定するE6標準数列から選定する。
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
その他の値が必要な場合は,E12標準数列から選定する。
2.2.2 定格静電容量許容差
定格静電容量に対する推奨許容差は,±5 %,±10 %及び±20 %とする。
2.2.3 定格電圧 (UR)
定格電圧の推奨値は,JIS Z 8601に規定するR5 標準数列を使用することとし,次による。ただし,そ
の他の値が必要な場合は,R10標準数列の定格電圧を使用してもよい。
R5標準数列のもの : 40 V,63 V,100 V,160 V,250 V,400 V,630 V,1 000 V,1 600 V
R10標準数列のもの : 50 V,200 V
2.2.4 カテゴリ電圧 (UC)
カテゴリ電圧は,次による。
カテゴリ上限温度85 ℃の場合は1.0 UR
カテゴリ上限温度100 ℃の場合は0.8 UR
カテゴリ上限温度105 ℃の場合は0.75 UR
カテゴリ上限温度125 ℃の場合は0.5 UR
2.2.5 定格温度
定格温度は,85 ℃とする。
3 品質評価手順
3.1 製造の初期工程
製造の初期工程は,コンデンサ素子の巻取り又はそれと同等な工程とする。
3.2 構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,類似の工程及び類似の材料で
製造したコンデンサとする。
3.3 出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で購入者から要求がある場合は,JIS C 5101-1 の3.5.1によって,出荷対象ロ
ットの成績証明書を提出する。耐久性試験後に要求される特性値は,静電容量の変化,誘電正接 (tan
び絶縁抵抗とする。
注記 JIS C 5101-1の3.5.1は,対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の3.9と同等である。
3.4 品質認証
品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1の3.4による。
ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証の試験計画は,3.5による。定数抜取手順は3.4.1及
び3.4.2による。
注記 JIS C 5101-1の3.4は,対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の3.5と同等である。
3.4.1 定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は,JIS C 5101-1 の3.4.2 b) の規定による。試料は,認証を得ようとするコンデンサのす
べての範囲を代表し,個別規格に規定する範囲,又はその一部でもよい。
注記1 JIS C 5101-1の3.4.2 b) は,対応国際規格IEC 60384-1 : 1999の3.5.3 b) と同等である。
抜き取る試料は,最低及び最高の定格電圧のものでそれぞれの電圧に対応する最小及び最大の定格静電
容量のもので構成する。定格電圧が5 種類以上ある場合は,中間の定格電圧のものも試験する。このよう
に一つの認証範囲の試験には,4組合せ(定格静電容量と定格電圧との組合せ)又は6組合せのものを試
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C 5101-2 : 2009 (IEC 60384-2 : 2005)
料とする。認証範囲の試料が3組合せ以下の場合の試料数は, 4組合せの場合と同数とする。
予備の試料は,次による。
予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに2個(6組合
せの場合)又は3個(4組合せの場合)とする。
a) 群0での許容不適合品置換え用として1組合せに1個
b) 製造業者の責任でない事故による不適合品置換え用として1組合せに1個
群0に規定する試料は,すべての群の試料を適用する場合の試料数であり,すべての試験を適用しない
場合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に,群を追加する場合の群0の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験のため,各群及び各副群で試験する試料数及び合格判定数を,表1及び表1Aに示す。
注記2 合格判定数の数は,許容不適合数を示している。
3.4.2 試験(評価水準Eの場合)
表1及び表2に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,
各群の試験は,記載の順に従って行う。
すべての試料は,群0の試験を行った後,その他の群に分割する。
群0の試験中に発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。
1 個のコンデンサが,一つの群内で二つ以上の項目で不適合になっても不適合品数は1 個と数える。
各群又は各副群での不適合品数が合格判定数以下であり,かつ,不適合品数の合計が総合格判定数以下
の場合の品質認証は,合格とする。
注記 表1及び表2は,定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成する。表1は,各試験又は試
験群に対する抜取計画及び合格判定数の詳細を規定している。表2は,箇条4に規定する試験
の詳細と併せて,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する試
験方法又は試験条件を規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する品質確認検査
と同じとする。
――――― [JIS C 5101-2 pdf 10] ―――――
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- IEC 60384-2:2005(IDT)
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JIS C 5101-2:2009の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式