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C 5101-22 : 2021 (IEC 60384-22 : 2019)
6.2.5 静電容量の温度特性
直流電圧を印加した場合(印加時)及び印加しない場合(印加なし)の静電容量の温度特性に対する推
奨値を,表3に規定する。また,サブクラスの記号も表に示す。例えば,印加なしの場合,温度範囲−55 ℃
+125 ℃の静電容量の変化±20 %のコンデンサのサブクラス記号は,2C1となる。
静電容量の温度特性での温度範囲は,カテゴリ温度範囲と同じとする。
表3−静電容量の温度特性
サブ 印加なしの20 ℃の静電容量値に対す カテゴリ温度範囲及びその数字記号
クラス るカテゴリ温度範囲内の印加時·印加
−55 −55 −55 −40 −25 +10
記号 なしの静電容量値の最大変化率 +150 +125 +85 +85 +85 +85
% ℃ ℃ ℃ ℃ ℃ ℃
印加なし 印加時(注記1) 0 1 2 3 4 6
2B ±10 個別規格の規定 − − × × × −
2C ±20 による。 − × × × − −
2D +20/−30 − × − − × −
2E +22/−56 − − × × × ×
2F +30/−80 − − × × × ×
2R ±15 × × × − × −
カテゴリ上限温度が125 ℃を超える場合は,印加時·印加なしの両方について,静電容量値の最大変化率を個別
規格に規定することが望ましい。
注記1 印加する直流電圧は,定格電圧又は個別規格に規定の電圧である。
注記2 表中の×は,適用の推奨を示している。
注記 基準温度25 ℃における参考情報を附属書Cに示している。
6.2.6 寸法
寸法の記号及び規定に関する指針は,附属書Aによる。
寸法の詳細は,個別規格に規定する。
7 品質評価手順
7.1 製造の初期工程
製造の初期工程は,誘電体に内部電極を塗布したものの最初の焼成工程とする。
7.2 構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサは,外形寸法及び定格値が異なっていても,同じ工程及び同じ材料で製造し
たコンデンサとする。
7.3 出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で購入者から要求があるときは,JIS C 5101-1:2019のQ.1.5によって出荷対
象ロットの成績証明書を提出可能にしておく。耐久性試験後の要求事項は,静電容量の変化,誘電正接(tan
及び絶縁抵抗とする。
7.4 品質認証
7.4.1 一般事項
品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1:2019のQ.2による。
ロットごと及び定期的品質確認検査に基づく品質認証試験の計画は,7.5による。定数抜取手順は,7.4.2
及び7.4.3による。
――――― [JIS C 5101-22 pdf 11] ―――――
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C 5101-22 : 2021 (IEC 60384-22 : 2019)
7.4.2 定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は,JIS C 5101-1:2019のQ.2.4の規定による。試料は,認証を得ようとするコンデンサの
全ての範囲を代表するものとし,個別規格に規定する全ての範囲であっても,また,その一部でもよい。
温度特性ごとに試料は,外形寸法の最大値及び最小値と,定格電圧の最高値及び最低値との4組合せと
し,それぞれの公称静電容量が最大のものを選定する。定格電圧が5種類以上の場合は,中間の定格電圧
についても試験をする。したがって,品質認証試験は,温度特性ごとに,4組合せ又は6組合せ(公称静
電容量と定格電圧との組合せ)の試料が必要である。
評価水準EZを適用する場合の予備試料は,次による。
予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として1組合せごとに2個(6組合
せの場合)又は3個(4組合せの場合)としてもよい。
群0に規定する試料数は,全ての群の試験を適用する場合の試料数であり,全ての試験を適用しない場
合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に群を追加する場合,群0の試料数は,追加する群に必要な個数を追加する。
品質認証試験の場合の各群又は副群の試料数及び合格判定数は,表4による。
7.4.3 試験
表4及び表5に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,
各群の試験は,規定の順に従って実施する。
全ての試料は,群0の試験を実施した後,その他の群に分割する。
群0の試験で発生した不適合は,その他の群に用いてはならない。
1個のコンデンサが,一つの群内の試験で全て又は一部の試験項目で不適合となったとき,“1個の不適
合品”と数える。
判定では,各群又は副群での不適合品数がゼロの場合に,合格とする。
表4及び表5は,定数抜取手順に基づく品質認証試験計画を構成している。表4は,各試験群に対する
試験項目,試料数及び合格判定数の詳細を規定している。一方,表5は,箇条8に規定する試験の詳細と
合わせて,試験条件及び要求事項の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する試験方法,試験条件
などを規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求事項は,個別規格に規定する品質確認検
査と同じとする。
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C 5101-22 : 2021 (IEC 60384-22 : 2019)
表4−品質認証試験の定数抜取試験計画 評価水準EZ
群又は副 試験項目 細分箇条番号 試料数 合格判定数
群の番号 n e) c
0 外観 8.5 132+24 f) 0
寸法 8.5
静電容量 8.6.1
誘電正接 8.6.2
絶縁抵抗 8.6.3
耐電圧 8.6.4
予備試料 − 12 −
1A 端子強度g) 8.16 12 0
はんだ耐熱性 8.10
部品の耐溶剤性b) 8.17
1B インピーダンスb) 8.6.5 12 0
等価直列抵抗(ESR)b) 8.6.6
はんだ付け性 8.11
表示の耐溶剤性b) 8.18
2 耐プリント板曲げ性d) 8.9 12 0
3 a) 取付け 8.4 84+24 f) 0 c)
外観 8.5
静電容量 8.6.1
誘電正接 8.6.2
絶縁抵抗 8.6.3
耐電圧 8.6.4
3.1 固着性h) 8.8 24 0
温度急変 8.12
一連耐候性 8.13
3.2 高温高湿(定常) 8.14 24 0
3.3 耐久性 8.15 36 0
3.4 加速高温高湿(定常)b) 8.19 24 f) 0
4 静電容量の温度特性 8.7 12 0
注a) この測定値は,その後の副群3.1副群3.4の試験での初期値とする。
b) 個別規格に規定がある場合に適用する。
c) 取付け後に不適合品が見つかったコンデンサは,続く試験の許容不適合品数の算出に用い
てはならない。これらの不適合品は,予備試料と交換する。
d) 個別規格にアルミナ基板だけに取り付けると規定しているコンデンサには適用しない。
e) 定格電圧と公称静電容量との組合せで7.4.2による。
f) 副群3.4を試験する場合の追加試料。
g) 板端子をもつコンデンサに適用する。
h) 板端子をもつコンデンサには適用しない。
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C 5101-22 : 2021 (IEC 60384-22 : 2019)
表5−品質認証の試験計画
細分箇条番号及び D又は 試験条件 試料数(n) 要求事項
試験項目 ND (注記1参照) 及び (注記1参照)
(注記1参照) 合格判定数
(c)
群0 ND 表4による。
8.5 外観 8.5.3による。
表示は,明瞭である。
その他は,個別規格の規
定による。
8.5 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
8.6.1 静電容量 周波数 : · Hz 規定の許容差による。
測定電圧 : · V(実効値)
8.6.2 誘電正接(tan 周波数及び測定電圧は,8.6.1によ 8.6.2.3による。
る。
8.6.3 絶縁抵抗 方法は,個別規格の規定による。 8.6.3.4による。
8.6.4 耐電圧 方法は,個別規格の規定による。 永久破壊及びフラッシオ
ーバがない。
群1A D 表4による。
8.16 端子強度 試験Ua1 力 : 2.5 N
(適用可能な場合) 試験Ub 方法1 : 力 : 2.5 N
曲げ回数 : 1回
外観 損傷がない。
8.10.3 初期測定 特殊な前処理は,8.2による。
静電容量
8.10 はんだ耐熱性
方法は個別規格の規定による。
後処理時間 : 24 h±2 h
8.10.6 最終測定 外観 8.10.6による。
静電容量 8.10.6による。
8.17 部品の耐溶剤性 溶剤 : · 個別規格の規定による。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ·
方法2
後処理時間 : ·
群1B D 表4による。
8.6.5 インピーダンス 周波数 : 100 kHz 個別規格の規定による。
(適用する場合)
8.6.6 等価直列抵抗 周波数 : 100 kHz 個別規格の規定による。
(適用する場合)
8.11 はんだ付け性
方法は,個別規格の規定による。
8.11.4 最終測定 外観 8.11.4による。
8.18 表示の耐溶剤性a) 溶剤 : · 表示は,明瞭である。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ·
方法1
ラビングの材料 : 脱脂綿
後処理時間 : ·
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C 5101-22 : 2021 (IEC 60384-22 : 2019)
表5−品質認証の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験条件 試料数(n) 要求事項
試験項目 ND (注記1参照) 及び (注記1参照)
(注記1参照) 合格判定数
(c)
群2 D 表4による。
8.9 耐プリント板曲げ性
曲げ深さ : · 個別規格の規定による。
曲げ回数 : ·
8.9.2 初期測定 静電容量
8.9.3 最終測定 静電容量(プリント配線板を曲げた ΔC/C≦±10 %
状態)
外観 損傷がない。
群3 D 表4による。
8.4 取付け
プリント配線板の材質 : ·b)
外観 8.5.3による。
静電容量 規定の許容差による。
誘電正接 8.6.2.3による。
絶縁抵抗 8.6.3.4による。
耐電圧 永久破壊及びフラッシオ
ーバがない。
副群3.1 D 表4による。
8.8 固着性
外観 損傷がない。
8.12.3 初期測定 特殊な前処理は,8.2による。
静電容量
8.12 温度急変
TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
5サイクル
t1=30 min
後処理時間 : 24 h±2 h
8.12.6 最終測定 外観 損傷がない。
静電容量 ΔC/Cは,8.12.6による。
8.13 一連耐候性
特殊な前処理は,8.2による。
8.13.3 初期測定 静電容量
8.13.4 高温 温度 : カテゴリ上限温度
時間 : 16 h
8.13.5 温湿度サイクル
(試験Db),
最初のサイクル
8.13.6 低温 温度 : カテゴリ下限温度
時間 : 2 h
外観 損傷がない。
8.13.7 温湿度サイクル 後処理時間 : 24 h±2 h
(試験Db),
残りのサイクル
8.13.8 最終測定 外観 損傷がなく表示が明瞭で
ある。
静電容量 ΔC/Cは,8.13.8による。
誘電正接 8.13.8による。
絶縁抵抗 8.13.8による。
――――― [JIS C 5101-22 pdf 15] ―――――
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