JIS C 5101-26:2021 電子機器用固定コンデンサ―第26部:品種別通則―固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ

JIS C 5101-26:2021 規格概要

この規格 C5101-26は、JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で,電子回路基板に取り付けるラジアルリード線端子形の主に電子機器用の直流回路に用いる固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサについて規定。

JISC5101-26 規格全文情報

規格番号
JIS C5101-26 
規格名称
電子機器用固定コンデンサ―第26部 : 品種別通則―固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ
規格名称英語訳
Fixed capacitors for use in electronic equipment -- Part 26:Sectional specification -- Fixed aluminium electrolytic capacitors with conductive polymer solid electrolyte
制定年月日
2012年6月20日
最新改正日
2021年2月22日
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対応国際規格

ISO

IEC 60384-26:2018(IDT), IEC 60384-26:2018/CORRIGENDUM 1:2020(IDT)
国際規格分類

ICS

31.060.50
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
2012-06-20 制定日, 2017-10-20 確認日, 2021-02-22 改正
ページ
JIS C 5101-26:2021 PDF [25]
                                                  C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1 一般事項・・・・[1]
  •  1.1 適用範囲・・・・[1]
  •  1.2 目的・・・・[1]
  •  1.3 引用規格・・・・[1]
  •  1.4 個別規格に規定する事項・・・・[2]
  •  1.5 用語及び定義・・・・[3]
  •  1.6 表示・・・・[3]
  •  2 推奨特性及び定格・・・・[4]
  •  2.1 推奨特性・・・・[4]
  •  2.2 推奨定格値・・・・[4]
  •  3 品質評価手順・・・・[5]
  •  3.1 製造の初期工程・・・・[5]
  •  3.2 構造的に類似なコンデンサ・・・・[5]
  •  3.3 出荷対象ロットの成績証明書・・・・[5]
  •  3.4 品質認証(QA)試験・・・・[5]
  •  3.5 品質確認検査・・・・[11]
  •  4 試験及び測定手順・・・・[12]
  •  4.1 電圧処理(要求がある場合)・・・・[12]
  •  4.2 測定条件・・・・[12]
  •  4.3 外観検査及び寸法検査・・・・[12]
  •  4.4 電気的性能・・・・[13]
  •  4.5 端子強度・・・・[14]
  •  4.6 はんだ耐熱性・・・・[14]
  •  4.7 はんだ付け性・・・・[14]
  •  4.8 温度急変・・・・[15]
  •  4.9 振動・・・・[15]
  •  4.10 衝撃・・・・[15]
  •  4.11 バンプ・・・・[16]
  •  4.12 一連耐候性・・・・[16]
  •  4.13 高温高湿(定常)・・・・[16]
  •  4.14 耐久性・・・・[17]
  •  4.15 サージ・・・・[17]
  •  4.16 逆電圧(要求がある場合)・・・・[18]
  •  4.17 部品の耐溶剤性(要求がある場合)・・・・[18]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 5101-26 pdf 1] ―――――

           C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)

pdf 目次

ページ

  •  4.18 表示の耐溶剤性(要求がある場合)・・・・[18]
  •  4.19 高温保存・・・・[18]
  •  4.20 高温及び低温特性・・・・[18]
  •  4.21 充放電(要求がある場合)・・・・[19]
  •  4.22 大電流サージ(要求がある場合)・・・・[19]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 5101-26 pdf 2] ―――――

                                                 C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人
電子情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本
産業規格を改正すべきとの申出があり,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本
産業規格である。これによって,JIS C 5101-26:2012は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5101の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5101-1 第1部 : 品目別通則
    JIS C 5101-2 第2部 : 品種別通則 : 固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン
        デンサ
    JIS C 5101-2-1 第2-1部 : ブランク個別規格 : 固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
        ム直流コンデンサ 評価水準E及びEZ
    JIS C 5101-3 第3部 : 品種別通則 : 表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデンサ
    JIS C 5101-3-1 第3-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定タンタル固体(MnO2)電解コンデンサ
        評価水準EZ
    JIS C 5101-4 第4部 : 品種別通則−固定アルミニウム固体(MnO2)及び非固体電解コンデンサ
    JIS C 5101-4-1 第4-1部 : ブランク個別規格 : アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準EZ
    JIS C 5101-4-2 第4-2部 : ブランク個別規格 : アルミニウム固体(MnO2)電解コンデンサ−評価水準
        EZ
    JIS C 5101-8 第8部 : 品種別通則 : 固定磁器コンデンサ 種類1
    JIS C 5101-8-1 第8-1部 : ブランク個別規格 : 固定磁器コンデンサ 種類1 評価水準EZ
    JIS C 5101-9 第9部 : 品種別通則 : 固定磁器コンデンサ 種類2
    JIS C 5101-9-1 第9-1部 : ブランク個別規格 : 固定磁器コンデンサ 種類2 評価水準EZ
    JIS C 5101-11 第11部 : 品種別通則 : 固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ
        ンサ
    JIS C 5101-11-1 第11-1部 : ブランク個別規格 : 固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく
        直流コンデンサ 評価水準EZ
    JIS C 5101-13 第13部 : 品種別通則 : 固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
    JIS C 5101-13-1 第13-1部 : ブランク個別規格 : 固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
        サ 評価水準E及びEZ
    JIS C 5101-14 第14部 : 品種別通則 : 電源用電磁障害防止固定コンデンサ
    JIS C 5101-14-1 第14-1部 : ブランク個別規格−電源用電磁障害防止固定コンデンサ−評価水準DZ
    JIS C 5101-14-2 第14-2部 : ブランク個別規格−電源用電磁障害防止固定コンデンサ−安全性試験
    JIS C 5101-15 第15部 : 品種別通則 : 固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

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――――― [JIS C 5101-26 pdf 3] ―――――

           C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)

pdf 目次

    JIS C 5101-15-1 第15部 : ブランク個別規格 : はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
        水準E
    JIS C 5101-15-2 第15部 : ブランク個別規格 : 焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
        E
    JIS C 5101-15-3 第15部 : ブランク個別規格 : 焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E
    JIS C 5101-16 第16部 : 品種別通則 : 固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
    JIS C 5101-16-1 第16-1部 : ブランク個別規格 : 固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
        デンサ 評価水準E及びEZ
    JIS C 5101-17 第17部 : 品種別通則 : 固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン
        デンサ
    JIS C 5101-17-1 第17-1部 : ブランク個別規格 : 固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
        パルスコンデンサ 評価水準E及びEZ
    JIS C 5101-18 第18部 : 品種別通則−表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)及び非固体電解コン
        デンサ
    JIS C 5101-18-1 第18-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定アルミニウム固体(MnO2)電解コン
        デンサ−評価水準EZ
    JIS C 5101-18-2 第18-2部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ
        −評価水準EZ
    JIS C 5101-20 第20部 : 品種別通則 : 表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル
        ム直流コンデンサ
    JIS C 5101-20-1 第20-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ
        ィドフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
    JIS C 5101-21 第21部 : 品種別通則−表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1
    JIS C 5101-21-1 第21-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水準
        EZ
    JIS C 5101-22 第22部 : 品種別通則−表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2
    JIS C 5101-22-1 第22-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水準
        EZ
    JIS C 5101-23 第23部 : 品種別通則 : 表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル
        ム直流コンデンサ
    JIS C 5101-23-1 第23-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
        ートフィルム直流コンデンサ 評価水準EZ
    JIS C 5101-24 第24部 : 品種別通則 : 表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ
    JIS C 5101-24-1 第24-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解
        コンデンサ−評価水準EZ
    JIS C 5101-25 第25部 : 品種別通則 : 表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ
        ンサ
    JIS C 5101-25-1 第25-1部 : ブランク個別規格 : 表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ−評価水準EZJIS C 5101-26 第26部 : 品種別通則−固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ

(pdf 一覧ページ番号 4)

――――― [JIS C 5101-26 pdf 4] ―――――

                                                 C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)
    JIS C 5101-26-1 第26-1部 : ブランク個別規格 : 固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ
        ンサ 評価水準EZ

(pdf 一覧ページ番号 5)

――――― [JIS C 5101-26 pdf 5] ―――――

                                      日本産業規格                            JIS
                                                                         C 5101-26 : 2021
                                                          (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)

電子機器用固定コンデンサ−第26部 : 品種別通則−固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ

Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 26: Sectional specification-Fixed aluminiumelectrolytic capacitors with conductive polymer solid electrolyte

序文

 この規格は,2018年に第2版として発行されたIEC 60384-26及び2020年に発行されたCorrigendum 1
を基に,技術的内容及び対応国際規格の構成を変更することなく作成した日本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある補足·参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 一般事項

1.1 適用範囲

  この規格は,JIS C 5101-1を品目別通則とする品種別通則で,電子回路基板に取り付けるラジアルリー
ド線端子形の主に電子機器用の直流回路に用いる固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ
(以下,コンデンサという。)について規定する。
  固体電解質のMnO2を用いた固定アルミニウム固体(MnO2)電解コンデンサは,JIS C 5101-4による。
固体電解質の導電性高分子を用いた表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサは,
JIS C 5101-25による。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60384-26:2018,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 26: Sectional specification
              −Fixed aluminium electrolytic capacitors with conductive polymer solid electrolyte 及び
              Corrigendum 1:2020(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

1.2 目的

  この規格は,推奨する定格及び特性の規定,JIS C 5101-1から適切な品質評価手順,試験方法及び測定
方法の選定,並びに一般的要求事項を規定することを目的とする。この品種別通則に基づいた個別規格に
規定する個々の試験の厳しさ及び要求事項は,この規格よりも低い水準であってはならず,この規格と同
等又は高い水準とする。

1.3 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

――――― [JIS C 5101-26 pdf 6] ―――――

           2
C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
        の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
      注記 対応国際規格 : IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of
             sampling plans for inspection of electronic components and packages
    JIS C 5101-1:2019 電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則
      注記 対応国際規格 : IEC 60384-1:2016,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
             Generic specification
    JIS C 60063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
      注記 対応国際規格 : IEC 60063,Preferred number series for resistors and capacitors
    JIS C 60068-1:2016 環境試験方法−電気·電子−第1部 : 通則及び指針
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-1:2013,Environmental testing−Part 1:General and guidance
    JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気·電子−第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ
        付け性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
             methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads
    JIS Z 8601 標準数
      注記 対応国際規格 : ISO 3,Preferred numbers−Series of preferred numbers
    IEC 60417,Graphical symbols for use on equipment

1.4 個別規格に規定する事項

1.4.1 一般事項
  個別規格は,ブランク個別規格の様式による。
  個別規格は,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求事項と同等又は高い水準とする。よ
り厳しい要求事項を規定する場合は,その内容を個別規格の1.9に記載し,さらに,試験計画の中に,ア
ステリスク(*)などを付けて明示する。
  1.4.2の外形図及び寸法は,一覧表に示してもよい。
  各個別規格に1.4.21.4.5の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定するこ
とが望ましい。
1.4.2 外形図及び寸法
  外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区別を容易にするために図示する。コンデンサの
互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。全ての寸法値は,ミリメート
ル(mm)で規定する。
  本体寸法は,次の事項を規定する。
− 一般(円筒形以外) : 幅,長さ及び高さ
− 円筒形 : 直径及び長さ
  端子寸法は,次の事項を規定する。
− リード端子 : 直径,長さ及び間隔
  形状が上記と異なる場合は,そのコンデンサを適切に表す寸法情報を個別規格に規定する。

――――― [JIS C 5101-26 pdf 7] ―――――

                                                                                             3
                                                  C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)
1.4.3 取付け
  個別規格に,通常使用する場合の取付方法,並びに振動及びバンプ又は衝撃の各試験を行う場合の取付
方法を規定する。コンデンサの設計上,特別な取付具を必要とする場合は,個別規格にその取付具を規定
し,振動,及びバンプ又は衝撃の各試験には,この取付具を用いる。
1.4.4 定格及び特性
1.4.4.1 一般事項
  定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,1.4.4.21.4.4.4による。
1.4.4.2 公称静電容量範囲
  公称静電容量の範囲は,2.2.1による。
  IEC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合は,個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範囲とが
異なるとき,次の文章を追加することが望ましい。
  “各定格電圧での公称静電容量の範囲は,品質認証電子部品一覧表(QPL)による。また,品質認証電
子部品一覧表(QPL)は,IECオンラインサービス(https://certificates.iecq.org/)で参照可能である。”
1.4.4.3 特殊な特性
  特殊な特性は,設計及び使用目的によって必要な場合,その規定項目を追加してもよい。
1.4.4.4 はんだ付け
  はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験に適用する試験方法,厳しさ及び要求事項は,個別規格に規定する。
1.4.5 表示
  コンデンサ本体及びその包装への表示項目は,個別規格に規定する。表示項目が1.6と異なる事項は,
個別規格に明記する。

1.5 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1:2019によるほか,次による。
1.5.1
静電容量(capacitance)
  <電解コンデンサ>規定する測定周波数の近似的な正弦波交流を用いて測定した静電容量値及び抵抗値
によって,等価直列回路を構成した場合の容量。

1.6 表示

1.6.1 一般事項
  表示は,JIS C 5101-1:2019の2.4によるほか,この規格の1.6.21.6.4による。
1.6.2 表示の内容
  表示の内容は,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順による。
a) 端子の極性
b) 公称静電容量
c) 定格電圧(直流電圧を表す記号は,IEC 60417-5031-2002-10による記号         ,又は で表しても
    よい。)
d) 製造年月又は製造年週
e) 製造業者名及び/又はその商標
f) 公称静電容量の許容差
g) カテゴリ温度
h) 製造業者の形名

――――― [JIS C 5101-26 pdf 8] ―――――

           4
C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)
i) 引用個別規格
1.6.3 コンデンサ本体への表示
  コンデンサ本体には,端子の極性を表示する。1.6.2のその他の項目の内容は,必要に応じて表示する。
  いずれの表示も,明瞭であり,指でこすっても,汚れたり又は消えたりしてはならない。
1.6.4 コンデンサの包装への表示
  コンデンサの包装には,必要に応じて1.6.2の項目の内容を明瞭に表示することが望ましい。

2 推奨特性及び定格

2.1 推奨特性

  ここでは,推奨特性の中で推奨耐候性カテゴリだけを規定する。
  この規格に規定するコンデンサは,JIS C 60068-1:2016の附属書Aに規定する一般原則に基づく耐候性
カテゴリに分類する。
  カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度は,次の中から選定する。
− カテゴリ下限温度 : −55 ℃
− カテゴリ上限温度 : +105 ℃及び+125 ℃
  低温及び高温の試験の厳しさは,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

2.2 推奨定格値

2.2.1 公称静電容量(CN)
  公称静電容量の推奨値は,マイクロファラド(F)の単位で表す。
  公称静電容量の推奨値は,JIS C 60063に規定するE12の標準数列(1.0,1.2,1.5,1.8,2.2,2.7,3.3,
3.9,4.7,5.6,6.8及び8.2)並びにそれらの10n倍(×10n,nは正負の整数)から選定する。
2.2.2 公称静電容量許容差
  公称静電容量許容差の推奨値は,±10 %又は±20 %とする。
2.2.3 定格電圧(UR)
  定格直流電圧の推奨値は,JIS Z 8601に規定するR10及びR20の標準数並びにそれらの10n倍(×10n,
nは整数)から選定する。
− R10標準数 : 1.0,1.25,1.6,2.0,2.5,3.15,4.0,5.0,6.3及び8.0
− R20標準数 : 3.5 1) 及び4.5
      注1)   IS Z 8601では,R20標準数としては,3.55であるが,市場·業界では数値を丸めて3.5を用
            いている。
2.2.4 カテゴリ電圧(UC)
  カテゴリ電圧は,定格電圧と同じになる。
2.2.5 サージ電圧
  サージ電圧は,定格電圧の1.15倍に最も近い有効数字2桁の値に丸めた電圧(表1参照)とする。
                                        表1−サージ電圧
                                                                                     単位 V
    定格電圧   2.0  2.5  4.0  5.0  6.3  8.0   10  12.5  16   20   25   35   50
    サージ電圧 2.3  2.9  4.6  5.8  7.2  9.2   12   14   18   23   29   40   58

――――― [JIS C 5101-26 pdf 9] ―――――

                                                                                             5
                                                  C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)
2.2.6 定格温度
  定格温度は,カテゴリ上限温度とする。

3 品質評価手順

3.1 製造の初期工程

  製造の初期工程は,コンデンサ製造業者での化成済陽極はくの検査工程となる。

3.2 構造的に類似なコンデンサ

  構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,本質的に同じ生産工程及び材
料で製造したコンデンサとする。

3.3 出荷対象ロットの成績証明書

  個別規格に規定がある場合で,かつ,購入者から要求がある場合,出荷者は,JIS C 5101-1:2019のQ.1.5
によって,出荷対象ロットの成績証明書を購入者に提出する。耐久性試験後に要求する特性値は,静電容
量値の変化,損失角の正接(tan δ)又は等価直列抵抗(ESR),及び漏れ電流とする。

3.4 品質認証(QA)試験

3.4.1 一般事項
  品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1:2019のQ.2による。
  ロットごと及び定期的品質検査に基づく品質認証試験の試験計画は,3.5による。定数抜取手順は,3.4.2
及び3.4.3による。
3.4.2 定数抜取に基づく品質認証
  定数抜取手順は,JIS C 5101-1:2019のQ.2.4による。試料は,認証を得ようとするコンデンサの全ての
範囲を代表するものとし,認証範囲は,個別規格に規定する全ての範囲又はその一部でもよい。
  試料は,最高定格電圧での最大外形寸法及び最小外形寸法と,最低定格電圧での最大外形寸法及び最小
外形寸法とで構成する4組合せとする。外形寸法が4種類を超える場合は,中間の外形寸法のものも試験
する。これらの定格電圧と外形寸法とのそれぞれの組合せにおいて,最大の公称静電容量を試料に選定す
る。したがって,範囲認証の場合,試験は,4組合せ又は6組合せについて行う。認証範囲が4組合せ未
満の場合,試料数は,4組合せの場合と同数とする。
  予備試料は,製造業者の責任ではない事故による不適合品の置換え用として,1組合せごとに2個(6
組合せの場合)又は3個(4組合せの場合)としてもよい。
  群0に規定する試料数は,群0の後に実施する群1群5の全ての群の試験を適用する場合の試料数で
あり,全ての群の試験を適用しない場合には,適用しない群の試験に応じてその試料数を減らしてもよい。
  品質認証の試験計画に,群を追加する場合の群0の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。
  品質認証試験のための各群及び副群で試験する試料数及び許容不適合数は,表2による。
3.4.3 試験
  表2及び表3に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,
各群の試験は,記載の順序に従って行う。
  全ての試料は,群0の試験を行った後,その他の群に分割する。
  群0の試験の中で発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。
  品質認証は,不適合数がゼロの場合に,合格とする。
  表2及び表3は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成している。表2は,各試験又は試験
群に対する試料数及び許容不適合数の詳細を規定している。表3は,試験条件及び要求事項の要点を示し

――――― [JIS C 5101-26 pdf 10] ―――――

           6
C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)
ており,個別規格で選定する。
  定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求事項は,個別規格に規定する品質確認検
査と同じであることが望ましい。
                           表2−品質認証試験の抜取計画,評価水準EZ
         群              試験項目            細分箇条番号   試料数b)    許容不適合数c)
                                                                  n              c
          0   大電流サージa)                    4.22        120+12 d)        0
               外観                               4.3
               寸法                               4.3
               漏れ電流                          4.4.1
               静電容量                          4.4.2
               損失角の正接(tanδ)             4.4.3
               等価直列抵抗(ESR)               4.4.4
               予備試料
           1A 端子強度                            4.5           12             0
               はんだ耐熱性                       4.6
               部品の耐溶剤性a)                   4.17
           1B はんだ付け性                       4.7           24             0
               表示の耐溶剤性a)                   4.18
               温度急変                           4.8
               振動                               4.9
               衝撃又はバンプ(個別規格で規定)4.10又は4.11
           1  一連耐候性                         4.12          36             0
          2   高温高湿(定常)                  4.13           24             0
          3   耐久性                            4.14           36             0
          4   高温保存                          4.19           12             0
               サージ                            4.15
               逆電圧a)                          4.16
          5   高温及び低温特性                  4.20           12             0
               充放電a)                          4.21
       注a) 要求がある場合。
         b) 定格電圧と外形寸法との組合せは,3.4.2による。
         c) 受け入れられる数を示し,この数を超えてはならない。
         d) 予備試料数。

――――― [JIS C 5101-26 pdf 11] ―――――

                                                                                             7
                                                  C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)
                                     表3−品質認証試験計画
       細分箇条番号,     D又は  試験及び測定 試料数(n)及び           要求事項a)
     試験及び検査項目a)    ND b)    条件a)   許容不適合数(c)c)
 群0                       ND                 表2による。
 4.22 大電流サージe)             4.22.1による。                 4.22の後に実施する群0の各項目
                                                                  の要求事項による。
 4.3 外観                        4.3.1による。                  外観に損傷がない。
                                                                  表示は,明瞭であり,かつ,個別
                                                                  規格の規定による。
 4.3 寸法(詳細)                4.3.1による。                  個別規格の規定による。
 4.4.1 漏れ電流                  4.4.1による。                  0.2 CNUR又は500 μAの,いずれか
                                                                  大きい値以下(+20 ℃±2 ℃)
 4.4.2 静電容量                  4.4.2による。                  規定する許容差以内
 4.4.3 損失角の正接(tanδ)     4.4.3による。                  個別規格の規定による。
 4.4.4 等価直列抵抗(ESR)       4.4.4による。                  個別規格の規定による。
 群1A                       D                 表2による。

4.5 端子強度

                    4.5.1による。
 4.5.2 初期検査
    静電容量                     4.4.2による。
 4.5.3 最終検査
     外観                        4.3.1による。                  外観に損傷がない。

4.6 はんだ耐熱性

                4.6.1による。
 4.6.2 初期検査
    静電容量                     4.4.2による。
 4.6.4 最終検査
     外観                        4.3.1による。                  外観に損傷がない。
                                                                  クラックなどの損傷がない。
                                                                  表示は,明瞭であり,かつ,個別
                                                                  規格の規定による。
     漏れ電流d)                  4.4.1による。                  0.2 CNUR又は500 μAの,いずれか
                                                                  大きい値以下(+20 ℃±2 ℃)
    静電容量                     4.4.2による。                  個別規格の規定による。
    損失角の正接(tanδ)        4.4.3による。                  個別規格の規定による。
    等価直列抵抗(ESR)          4.4.4による。                  個別規格の規定による。
 4.17 部品の耐溶剤性e)           4.17による。                   個別規格の規定による。
 群1B                       D                 表2による。

4.7 はんだ付け性

                4.7.1による。
 4.7.3 最終検査
     外観                        4.3.1による。                  破損の痕跡がない。
                                                                  端子のはんだ付けする部分の表面
                                                                  は,ピンホール,ぬれなし,はん
                                                                  だはじきなどの欠点が僅かに点在
                                                                  する以外は,新しいはんだで覆う。
                                                                  また,これらの欠点は,1か所に
                                                                  集中しない。
                                                                  端子の先端部分などでめっきのな
                                                                  い部分は,評価の対象としない。
 4.18 表示の耐溶剤性e)           4.18による。                   JIS C 5101-1:2019の4.32による。

4.8 温度急変

                    4.8.1による。
 4.8.2 初期検査
    静電容量                     4.4.2による。

――――― [JIS C 5101-26 pdf 12] ―――――

           8
C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)
                                 表3−品質認証試験計画(続き)
       細分箇条番号,     D又は  試験及び測定 試料数(n)及び           要求事項a)
     試験及び検査項目a)    ND b)    条件a)   許容不適合数(c)c)
 群1B(続き)               D                 表2による。
 4.8.4 後処理                    4.8.4による。
 4.8.5 最終検査
     外観                        4.3.1による。                  外観に損傷がない。
                                                                  表示は,明瞭であり,かつ,個別
                                                                  規格の規定による。
     漏れ電流d)                  4.4.1による。                  0.2 CNUR又は500 μAの,いずれか
                                                                  大きい値以下(+20 ℃±2 ℃)
     静電容量                    4.4.2による。                  4.8.2の測定値に対して
                                                                  ·ΔC/C·≦10 %
    損失角の正接(tanδ)        4.4.3による。                  個別規格の規定による。

4.9 振動

                        4.9.1による。
 4.9.3 最終検査
     外観                        4.3.1による。                  外観に損傷がなく,表示は明瞭と
                                                                  する。
     静電容量                    4.4.2による。                  4.8.2の測定値に対して
                                                                  ·ΔC/C·≦10 %

4.10 衝撃

(又は4.11 バンプ) 4.10.1による。● 4.10.3 最終検査 外観 4.3.1による。 外観に損傷がなく,表示は明瞭と する。 静電容量 4.4.2による。 4.8.2の測定値に対して ·ΔC/C·≦10 %●

4.11 バンプ

(又は4.10 衝撃) 4.11.1による。● 4.11.3 最終検査 外観 4.3.1による。 外観に損傷がなく,表示は明瞭と する。 静電容量 4.4.2による。 4.8.2の測定値に対して ·ΔC/C·≦10 % 群1 D 表2による。●

4.12 一連耐候性

                 4.12.1による。
 4.12.2 初期検査
    静電容量                     4.4.2による。
 4.12.3 高温                     4.12.3による。
 4.12.4 温湿度サイクル(試験     4.12.4による。
 Db),最初のサイクル
 4.12.5 低温                     4.12.5による。
 4.12.6 温湿度サイクル(試験     4.12.6による。
 Db),残りのサイクル
 4.12.7 後処理                   4.12.7による。
 4.12.8 最終検査
     外観                        4.3.1による。                  外観に損傷がなく,表示は明瞭と
                                                                  する。
     漏れ電流 d)                 4.4.1による。                  0.2 CNUR又は500 μAの,いずれか
                                                                  大きい値以下(+20 ℃±2 ℃)
     静電容量                    4.4.2による。                  4.12.2の測定値に対して
                                                                  ·ΔC/C·≦20 %
    損失角の正接(tanδ)        4.4.3による。                  個別規格の規定値の1.5倍以下

――――― [JIS C 5101-26 pdf 13] ―――――

                                                                                             9
                                                  C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)
                                 表3−品質認証試験計画(続き)
       細分箇条番号,     D又は  試験及び測定 試料数(n)及び           要求事項a)
     試験及び検査項目a)    ND b)    条件a)   許容不適合数(c)c)
 群2                        D                 表2による。

4.13 高温高湿(定常)

           4.13.1による。
 4.13.2 初期検査
    静電容量                     4.4.2による。
 4.13.4 後処理                   4.13.4による。
 4.13.5 最終検査
     外観                        4.3.1による。                  外観に損傷がなく,表示は明瞭と
                                                                  する。
     漏れ電流                    4.4.1による。                  4.4.1.3の規定値の5倍以下
     静電容量                    4.4.2による。                  個別規格の規定による。
    損失角の正接(tanδ)        4.4.3による。                  個別規格の規定値の1.5倍以下
 群3                        D                 表2による。

4.14 耐久性

                     4.14.1による。
 4.14.2 初期検査
    静電容量                     4.4.2による。
 4.14.4 後処理                   4.14.4による。
 4.14.5 最終検査
     外観                        4.3.1による。                  外観に損傷がなく,表示は明瞭と
                                                                  する。
     漏れ電流                    4.4.1による。                  0.2 CNUR又は500 μAの,いずれか
                                                                  大きい値以下(+20 ℃±2 ℃)
     静電容量                    4.4.2による。                  4.14.2の測定値に対して
                                                                  ·ΔC/C·≦20 %
    損失角の正接(tanδ)        4.4.3による。                  個別規格の規定値の1.5倍以下
    等価直列抵抗(ESR)          4.4.4による。                  個別規格の規定値の2倍以下
 群4                        D                 表2による。

4.19 高温保存

                   4.19.1による。
 4.19.2 初期検査
    静電容量                     4.4.2による。
 4.19.4 後処理                   4.19.4による。
 4.19.5 最終検査
     外観                        4.3.1による。                  外観に損傷がなく,表示は明瞭と
                                                                  する。
     漏れ電流d)                  4.4.1による。                  0.2 CNUR又は500 μAの,いずれか
                                                                  大きい値以下(+20 ℃±2 ℃)
     静電容量                    4.4.2による。                  4.19.2の測定値に対して
                                                                  ·ΔC/C·≦5 %
    損失角の正接(tanδ)        4.4.3による。                  個別規格の規定による。

4.15 サージ

                     4.15.1による。
 4.15.2 初期検査
    静電容量                     4.4.2による。
 4.15.4 後処理                   4.15.4による。
 4.15.5 最終検査
     外観                        4.3.1による。                  外観に損傷がない。
    漏れ電流d)                   4.4.1による。                  0.2 CNUR又は500 μAの,いずれか
                                                                  大きい値以下(+20 ℃±2 ℃)
     静電容量                    4.4.2による。                  4.15.2の測定値に対して
                                                                  ·ΔC/C·≦15 %

――――― [JIS C 5101-26 pdf 14] ―――――

           10
C 5101-26 : 2021 (IEC 60384-26 : 2018,Cor.1 : 2020)
                                 表3−品質認証試験計画(続き)
       細分箇条番号,     D又は  試験及び測定 試料数(n)及び           要求事項a)
     試験及び検査項目a)    ND b)    条件a)   許容不適合数(c)c)
 群4(続き)                D
    損失角の正接(tanδ)        4.4.3による。 表2による。      個別規格の規定による。
 4.16 逆電圧e)                   4.16による。
 4.16.1 初期検査
    静電容量                     4.4.2による。
 4.16.3 後処理                   4.16.3による。
 4.16.4 最終検査
    漏れ電流                     4.4.1による。                  0.2 CNUR又は500 μAの,いずれか
                                                                  大きい値以下(+20 ℃±2 ℃)
     静電容量                    4.4.2による。                  4.16.1の測定値に対して
                                                                  ·ΔC/C·≦10 %
    損失角の正接(tanδ)        4.4.3による。                  個別規格の規定による。
 群5                        D

4.20 高温及び低温特性

           4.20.1による。表2による。
 段階1 : 20 ℃
    静電容量e)   )                4.4.2による。
 段階2 : カテゴリ下限温度
    静電容量e)                   4.4.2による。                  段階1の測定値に対して
                                                                  ·ΔC/C·≦20 %
    等価直列抵抗                 4.4.4による。                  個別規格の規定値の2倍以下
     (ESR)e)
 段階3 : カテゴリ上限温度
    漏れ電流                     4.4.1による。                  4.4.1.3の規定値の12.5倍以下
    静電容量e)                   4.4.2による。                  段階1の測定値に対して
                                                                  ·ΔC/C·≦20 %
    等価直列抵抗                 4.4.4による。                  個別規格の規定値の2倍以下
     (ESR)e)
 4.21 充放電e)                   4.21.1による。
 4.21.2 初期検査
    静電容量                     4.4.2による。
 4.21.4 最終検査
     外観                        4.3.1による。                  外観に損傷がなく,表示は明瞭と
                                                                  する。
     漏れ電流                    4.4.1による。                  0.2 CNUR又は500 μAの,いずれか
                                                                  大きい値以下(+20 ℃±2 ℃)
     静電容量                    4.4.2による。                  4.21.2の測定値に対して
                                                                  ·ΔC/C·≦20 %
    損失角の正接(tanδ)        4.4.3による。                  個別規格の規定値の1.5倍以下
    等価直列抵抗(ESR)          4.4.4による。                  個別規格の規定値の2倍以下
 注a) 細分箇条番号は,箇条4による。
    b) この表の中で,Dは破壊試験,NDは非破壊試験を示す。
    c) 受け入れられる数を示し,この数を超えてはならない。
    d) 4.1の電圧処理を適用する。
    e) 要求がある場合。
    f) 比較用の値として用いる。

――――― [JIS C 5101-26 pdf 15] ―――――

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JIS C 5101-26:2021の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60384-26:2018(IDT)
  • IEC 60384-26:2018/CORRIGENDUM 1:2020(IDT)

JIS C 5101-26:2021の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5101-26:2021の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISC60063:2018
抵抗器及びコンデンサの標準数列
JISZ8601:1954
標準数

切削工具(用語/工具材料/バイト/ドリル/フライス/リーマ/歯切工具/ブローチ/ねじ加工工具(転造ダイスを含む)/刃先交換工具/ダイヤモンド/CBN工具/ハクソー/機械刃物/木工用のこ/やすり),研削工具(一般/研削といし/研磨布紙),作業工具(スパナ及びレンチ/ペンチ等/ねじ回し/万力/その他),保持具等(ジグ/シャンク及びアーバ/チャック等)

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