この規格ページの目次
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C 5101-4-2 : 2010 (IEC 60384-4-2 : 2007)
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準
注記 個別規格に規定する評価水準は,JIS C 5101-4の3.5.4から選定する。
このブランク個別規格の試験の群構成と同じ場合は,個別規格に複数の評価水準を規定し
てもよい。
(9) 重要な特性に関する参照データ
例 社団法人電子情報技術産業協会 (1) 個別規格番号 (2)
例 電子機器用固定コンデンサ (4)
例 JIS C 5101-4-2(ブランク個別規格番号)
第1部 : 品目別通則 (3) 個別規格の名称 (5)
JIS C 5101-1:2010 例 アルミニウム固体電解コンデンサ
構造の説明 (6)
外形図(表1参照。) (7)
(第三角法) 評価水準(複数も可)例 EZ
(規定寸法内であれば,外形は異なってもよい。)
性能等級 例 長寿命等級 (8)
注記 (1)(8) : 個別規格の識別及びコンデンサの識別を参照。
この個別規格で認証されたコンデンサの詳細な内容は,品質認証書 (Qualification
approval certificate) に示されている。*
注* この記載は,IEC電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。
(pdf 一覧ページ番号 )
注記 (9) : コンデンサの識別を参照。
1 一般事項
1.0 適用範囲
この規格は,JIS C 5101-4を品種別通則とするブランク個別規格で,主に電子機器用の直流回路に用い
る固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解コンデンサ(以下,コンデンサという。)の評価水準EZについて規
定する。
なお,表面実装用アルミニウム固体 (MnO2) 電解コンデンサに関する規定事項は含まない。これらの規
定内容は,JIS C 5101-18による。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60384-4-2:2007,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 4-2: Blank detail
specification−Fixed aluminium electrolytic capacitors with solid (MnO2) lectrolyte−Assessment
level EZ (IDT)
なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,一致していることを
示す。
1.1 推奨する取付方法
取付けは,JIS C 5101-4の1.4.2による。
1.2 寸法
外形寸法記号及び寸法は,表1による。
――――― [JIS C 5101-4-2 pdf 6] ―――――
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C 5101-4-2 : 2010 (IEC 60384-4-2 : 2007)
表1−外形寸法記号及び寸法
単位 mm
外形寸法記号 寸法
φ L H d ···
注記1 外形寸法記号がない場合は,この表1を削除し,寸法を表2に記載して,それを表1とする。
注記2 寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。
1.3 定格及び特性
定格及び特性は,次による。
公称静電容量範囲(表2による。)
公称静電容量許容差
定格電圧(表2による。)
カテゴリ電圧(個別規格に規定がある場合に適用する。)(表2による。)
耐候性カテゴリ
定格温度
定格リプル電流(表3による。)
損失角の正接(表3による。)
注記 損失角の正接 (tan δ) の代わりに,等価直列抵抗ESRをJIS C 5101-4の4.3.3.2によって用い
てもよい。
漏れ電流(表3による。)
インピーダンス(個別規格に規定がある場合)(表3による。)
逆電圧(個別規格に規定がある場合)
絶縁抵抗(絶縁形コンデンサに適用する。)
表2−外形寸法に関連する公称静電容量及び電圧値
定格電圧
V
カテゴリ電圧a)
V
公称静電容量 外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号 外形寸法記号
注a) 定格電圧と異なる場合。
表3−漏れ電流,損失角の正接,インピーダンス及び定格リプル電流
UR CN 漏れ電流 損失角の正接 インピーダンス 定格リプル電流
V ··· ℃,··· V ··· ℃,··· Hz ··· ℃,··· Hz ··· ℃,··· Hz
··· Ω,··· 分 (個別規格に規定があ
る場合に適用する。) A
Ω
――――― [JIS C 5101-4-2 pdf 7] ―――――
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C 5101-4-2 : 2010 (IEC 60384-4-2 : 2007)
1.4 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 5101-1:2010 電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則
注記 対応国際規格 : IEC 60384-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:
Generic specification (IDT)
JIS C 5101-4:2010 電子機器用固定コンデンサ−第4部 : 品種別通則 : アルミニウム固体 (MnO2) 及
び非固体電解コンデンサ
注記 対応国際規格 : IEC 60384-4:2007,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 4:
Sectional specification−Aluminium electrolytic capacitors with solid (MnO2) nd non-solid
electrolyte (IDT)
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取方式
注記 対応国際規格 : IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)
1.5 表示
コンデンサの本体及び包装への表示は,JIS C 5101-4の1.6による。
コンデンサの本体及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定する。
1.6 発注情報
この規格に基づくコンデンサの発注情報は,明りょうな文字又は記号によって,少なくとも次の項目を
含む。
a) 公称静電容量
b) 公称静電容量許容差
c) 定格電圧
d) この規格の番号及び発行年並びにコンデンサの種類
1.7 出荷対象ロットの成績証明書
成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。
注記 顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。
1.8 追加情報(非検査目的)
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は,表4による。
注記 追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に規定する。
表4−その他の特性
この表は,JIS C 5101-4の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために用いる。
――――― [JIS C 5101-4-2 pdf 8] ―――――
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C 5101-4-2 : 2010 (IEC 60384-4-2 : 2007)
2 検査要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証の手順
品質認証の手順は,JIS C 5101-4の3.4による。
2.1.2 品質確認検査の試験計画
品質確認検査の試験計画(表5)は,抜取方法,周期,厳しさ及び要求性能を表す。検査ロットの構成
は,JIS C 5101-4の3.5.1による。
表5−品質確認検査の試験計画
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数及び合格判 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 定数b)
NDb) IL n c
群A検査(ロットごと)
副群A0 ND 100 % c)
4.21 大電流サージf)
d)
副群A1 ND S-3d) 0
4.2 外観 4.2による。
表示は,明りょうとし,この規格の
1.5による。
4.2 寸法(ゲージ法) この規格の表1による。
d)
副群A2 ND S-3d) 0
4.3.1 漏れ電流 保護抵抗 : ··· Ω 4.3.1.2による。
4.3.2 静電容量 周波数 : ··· Hz 許容差以下
4.3.3 損失角の正接 周波数 : ··· Hz 4.3.3.2による。
(tan δ) 又は等価直列抵
抗 (ESR)
4.3.4 インピーダンス 周波数 : ··· Hz 個別規格の規定値による。
f)
群B検査(ロットごと) D
d)
副群B1 S-3d) 0
4.6 はんだ付け性e) 方法 : ··· 端子にはんだが良好に付着してい
るか又は適用する個別規格の項
目を満足する。
d)
副群B2 ND S-3d) 0
4.19 高温及び低温特 静電容量は,各段階で
性 測定する。
段階1 : 20 ℃
インピーダンス(段
階2と同じ周波数)
段階2 : カテゴリ下限温
度
インピーダンスf) 段階1の値に対して2倍以下
――――― [JIS C 5101-4-2 pdf 9] ―――――
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C 5101-4-2 : 2010 (IEC 60384-4-2 : 2007)
表5−品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号 D 試験条件a) 試料数及び合 要求性能a)
及び試験項目a) 又は 格判定数b)
NDb) p n c
群C検査(定期的)
副群C1A D 6 9 0
(副群C1の試料の一部)
4.2 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.4.1 初期測定 静電容量
4.4 端子強度 外観 外観に損傷がない。
方法 : ···
厳しさ : ···
4.5 はんだ耐熱性e) 予備乾燥なし。
方法 : ···
4.5.2 最終測定f) 外観 外観に損傷がなく,表示
は,明りょうとする。
静電容量 4.4.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦5 %
副群C1B D 6 18 0
(副群C1の残りの試料)
4.7.1 初期測定 静電容量
4.7 温度急変 TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
5サイクル
時間t1=30 min又は3 h
後処理時間 : 16 h以上
4.7.3 最終測定 外観 外観に損傷がない。
漏れ電流 4.3.1による。
損失角の正接 4.3.3による。
インピーダンスf) 個別規格の規定値による。
4.8 振動 取付方法 : この規格の1.1による。
周波数囲 : ··· Hz··· Hz
振幅 : ··· mm又は加速度 : ··· m/s2
(いずれか小さい方)
総試験時間 : ··· h
4.8.2 最終測定 外観 外観に損傷がなく,表示
は,明りょうとする。
静電容量 個別規格に規定の場合,
4.7.1の測定値に対して
|ΔC/C|≦5 %
4.9 バンプ又は衝撃 取付方法 : この規格の1.1による。
(4.10参照)g) バンプ回数 : ···
ピーク加速度 : 400 m/s2
作用時間 : 6 ms
4.10 衝撃又はバンプ 取付方法 : この規格の1.1による。
(4.9参照)g) ピーク加速度 : ··· m/s2
作用時間 : ··· ms
――――― [JIS C 5101-4-2 pdf 10] ―――――
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JIS C 5101-4-2:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-4-2:2007(IDT)
JIS C 5101-4-2:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.50 : アルミニウム電解コンデンサ
JIS C 5101-4-2:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式