JIS C 5101-4-2:2010 電子機器用固定コンデンサ―第４－２部：ブランク個別規格：アルミニウム固体（ＭｎＯ２）電解コンデンサ―評価水準ＥＺ | ページ 3

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                                                             C 5101-4-2 : 2010 (IEC 60384-4-2 : 2007)
                              表5−品質確認検査の試験計画(続き)
     細分箇条番号     D          試験条件a)       試料数及び合格           要求性能a)
    及び試験項目a)   又は                            判定数b)
                     NDb)                         p    n    c
 4.9.2又は4.10.2 最終      外観                                 外観に損傷がない。
 測定
                           静電容量                             個別規格に規定がない場合
                                                                 4.7.1の測定値に対して
                                                                 |ΔC/C|≦5 %
 副群C1                D                          6    27 0
 (副群C1A及び副群
 C1Bの試料の組合せ)
 4.11 一連耐候性
 4.11.1 高温               温度 : カテゴリ上限温度
                           試験時間 : 16 h
 4.11.2 温湿度サイク
   ル(試験Db),最初
   のサイクル
 4.11.3 低温               温度 : カテゴリ下限温度
                           試験時間 : 2 h
 4.11.4 減圧(個別規格     気圧 : 8 kPa
   に規定がある場合。)
 4.11.4.3 要求性能         外観                                 絶縁破壊,フラッシオーバ又はケース
                                                                  の有害な変形がない。
 4.11.5 温湿度サイク
   ル(試験Db),残り
   のサイクル
 4.11.6 封止f)             方法 : ···
 4.11.7 最終測定           外観                                 外観に損傷がなく,表示は,明りょう
                                                                  とする。
                           漏れ電流                             4.3.1による。
                           静電容量                             適用する4.5.2,4.9.2又は4.10.2の値
                                                                  に対して|ΔC/C|は,
                                                                 長寿命等級≦5 %
                                                                 一般等級≦10 %
                           損失角の正接                         4.3.3の規定値の1.2倍以下
 副群C2                D                          6     9 0
 4.12 高温高湿(定常)
 4.12.1 初期測定           静電容量
 4.12.2 最終測定           外観                                 外観に損傷がなく,表示は,明りょう
                                                                  とする。
                           漏れ電流                             4.3.1による。
                           静電容量                             適用する4.12.1の値に対して
                                                                 長寿命等級
                                                                 |ΔC/C|≦5 %
                                                                 一般等級
                                                                 |ΔC/C|≦10 %
                           損失角の正接                         4.3.3の規定値の1.2倍以下
                           インピーダンスf)                     個別規格の規定値の1.2倍以下
                           外部絶縁の絶縁抵抗h)                 ≧100 MΩ
                           外部絶縁の耐電圧h)                   絶縁破壊又はフラッシオーバがない。

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C 5101-4-2 : 2010 (IEC 60384-4-2 : 2007)
                              表5−品質確認検査の試験計画(続き)
    細分箇条番号     D         試験条件a)       試料数及び合格判           要求性能a)
   及び試験項目a)   又は                             定数b)
                    NDb)                        p     n     c
副群C3                D                         3    21   0
4.13 耐久性                試験時間 : ··· h                        個別規格の規定による。
                           温度 : カテゴリ上限温
                             度
                           印加電圧 : ··· V
                           後処理時間 : 16 h以上
4.13.1 初期測定            静電容量
4.13.3 最終測定            外観                                  外観に損傷がなく,表示は,明りょう
                                                                   とする。
                           漏れ電流                              4.3.1による。
                           静電容量                              4.13.1の値に対して
                                                                  |ΔC/C|≦10 %
                           損失角の正接                          4.3.3の規定値の1.2倍以下
                           インピーダンスf)                      4.3.4の規定値の1.2倍以下
                           外部絶縁の絶縁抵抗h)                  ≧100 MΩ
                           外部絶縁の耐電圧h)                    絶縁破壊又はフラッシオーバがない。
副群C4A               D                         12    6 0
4.14 サージ               回数 : 1 000回
                          温度 : ··· ℃
                          充電電圧 : 
                          UR≦315 Vの場合
                           1.15UR又は1.15UC
                          315 V                           1.10UR又は1.10UC
                          充電時間 : 30 s
                          放置時間 : 5 min 30 s
4.14.1 初期測定           静電容量
4.14.3 最終測定           漏れ電流                               4.3.1による。
                          静電容量                               4.14.1の測定値に対して
                                                                  長寿命等級
                                                                  |ΔC/C|≦5 %
                                                                  一般等級
                                                                  |ΔC/C|≦10 %
                           損失角の正接                          4.3.3による。
副群C4B               D                         12    6   0 0
4.15 逆電圧f)              カテゴリ上限温度で
                             0.15UCの直流電圧を
                             逆方向に125 h印加
                             する。
                           引き続いて,UCの直流
                             電圧を正方向に125
                             h印加する。
4.15.1 初期測定            静電容量
4.15.3 最終測定            漏れ電流                              4.3.1による。
                           静電容量                              4.15.1の測定値に対して
                                                                  |ΔC/C|≦10 %
                           損失角の正接                          4.3.3による。

――――― [JIS C 5101-4-2 pdf 12] ―――――

                                                                                              9
                                                             C 5101-4-2 : 2010 (IEC 60384-4-2 : 2007)
                              表5−品質確認検査の試験計画(続き)
    細分箇条番号      D         試験条件a)      試料数及び合格判定          要求性能a)
   及び試験項目a)    又は                             数b)
                     NDb)                        p     n     c
 副群C5              ND                          6    12   0
 4.17 高温保存i)           温度 : カテゴリ上限温
                             度
                           時間 : 96 h±4 h
                           後処理時間 : 16 h以上
 4.17.1 初期測定           静電容量
 4.17.3 最終測定           外観                                    外観に損傷がない。
                           漏れ電流                                4.3.1による。
                           静電容量                                4.17.1の測定値に対して
                                                                    |ΔC/C|≦5 %
                           損失角の正接                            4.3.3による。
 副群C6               D                          6    15   0
 4.19 高温及び低温特       コンデンサを段階順に
   性                        測定する。
                           段階1 : 20 ℃
                           静電容量f)                              比較用に用いる。
                           損失角の正接f)                          比較用に用いる。
                           インピーダンス(段階
                             2と同じ周波数)
                           段階2 : カテゴリ下限
                             温度
                           静電容量f)                              4.15.1測定値に対し
                                                                    |ΔC/C|≦20 %
                           インピーダンス                          段階1の測定値に対する2倍以下
                           損失角の正接f)                          4.3.3の規定値の2倍以下
                           段階3 : カテゴリ上限
                             温度
                           漏れ電流                                4.3.1の規定値に対して
                                                                     125 ℃(UR) : ≦15倍
                                                                     125 ℃(UC) : ≦8倍
                                                                     105 ℃(UR) : ≦12.5倍以下
                                                                     85 ℃(UR) : ≦10倍以下
                           静電容量f)                              段階1に対する値に対して
                                                                    |ΔC/C|≦20 %
                           損失角の正接f)                          4.3.3による。
 4.20 充放電f)             温度 : 20 ℃
                           回数 : 
                           UR≦160 V : 106回
                           160 V 4.20.1 初期測定           静電容量
 4.20.3 最終測定           外観                                    外観に損傷がない。
                           静電容量                                4.20.1の測定値に対して
                                                                    |ΔC/C|≦5 %

――――― [JIS C 5101-4-2 pdf 13] ―――――

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C 5101-4-2 : 2010 (IEC 60384-4-2 : 2007)
                              表5−品質確認検査の試験計画(続き)
注a) 試験数及び要求性能は,JIS C 5101-4及びこの規格の箇条1による。
   b) この表の記号は,次による。
       IL=検査水準,n=試料数,c=合格判定数(許容不適合数),p=周期(月),D=破壊試験,ND=非破壊試験
   c) この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。
        抜取水準は部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppmで示す出荷品質水準を監視する
      ために抜取試料をすべて検査する。抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合
      格とするが,不適合品は,品質水準を算出するためにすべて数える。ppmで示す出荷品質水準は累積した検査
      データによって算出する。
   d) 試料数 (n) は,JIS Z 9015-1に規定する付表1の検査水準 (IL) とロットサイズとで割り当てるサンプル文字に
      従い,付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
   e) ねじ端子のコンデンサ又は個別規格にはんだ付けを意図しないことを規定している端子には適用しない。
   f) 個別規格に規定がある場合に適用する。
   g) いずれの試験を適用するか個別規格に規定する。
   h) 絶縁形コンデンサに適用する。
   i) 試験を副群B1で行う場合は適用されない。個別規格に規定がある場合に適用する。