この規格ページの目次
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C 5101-9-1 : 2008 (IEC 60384-9-1 : 2005)
[7] 互換性のうえで重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内規格若しくは国際規格
の引用。この図は,個別規格の附属書としてもよい。
[8] 適用範囲若しくは適用グループの範囲及び/又は評価水準
個別規格に規定する評価水準は,品種別通則JIS C 5101-9の3.5.4から選定する。
このブランク個別規格の試験の群構成と同じである場合には,個別規格に複数の評価水準を規定して
もよい。
[9] 重要な特性に関する参照データ
例 社団法人電子情報技術産業協会 [1] 個別規格番号 [2]
例 電子機器用固定コンデンサ [3] 例 JIS C 5101-9-1(ブランク個別規格番号)[4]
第1部 : 品目別通則
JIS C 5101-1 : 1998
例 固定磁器コンデンサ 種類2 [5]
外形図(表1参照) [7]
(第三角法)
構造の説明 [6]
評価水準 : EZ [8]
(規定寸法内であれば外形は,異なってもよい。)
この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は,品
質認証電子部品一覧表(QPL)に示されている。a)
[9]
注a) この記載は,IEC電子部品品質認証制度(IECQ)の場
合に適用する。
1 一般事項
1.0A 適用範囲
この規格は,JIS C 5101-9を品種別通則とするブランク個別規格で,電子機器用固定磁器コンデンサ種
類2 評価水準EZについて規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60384-9-1:2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 9-1: Blank detail
specification : Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 2−Assessment level EZ (IDT)
なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21に基づき,一致していることを示す。
1.1 推奨する取付方法(プリント配線板用)
取付けは,JIS C 5101-9の1.4.2による。
1.2 寸法
寸法は,表1による。
――――― [JIS C 5101-9-1 pdf 6] ―――――
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C 5101-9-1 : 2008 (IEC 60384-9-1 : 2005)
表1−外形寸法記号及び寸法
寸法 mm
外形寸法記号
L H d ...
注記1 外形寸法記号がない場合は,表1は削除し,寸法は表2に記載して,それを表1とする。
注記2 寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。
1.3 定格及び特性
定格及び特性は,次による。
定格静電容量範囲 (表2による。)
定格静電容量許容差
定格電圧 (表2による。)
耐候性カテゴリ
定格温度
誘電正接
絶縁抵抗
静電容量温度特性 (表3による。)
表2−外形寸法並びにそれに対応する定格静電容量値及び定格電圧の値
定格電圧
定格静電容量 許容差 外形寸法 外形寸法 外形寸法 外形寸法
pF及び/又はnF %
表3−静電容量の温度特性
温度範囲 静電容量変化の許容値
電圧印加なし 定格電圧印加
−··· ℃/ +···℃ +··· % / −··· % +··· % / −··· %
1.4 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。
これらの引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追
補を含む。)には適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 5101-9:2008 電子機器用固定コンデンサ−第9部 : 品種別通則 : 固定磁器コンデンサ 種類2
注記 対応国際規格 : IEC 60384-9:2005,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 9:
Sectional specification: Fixed capacitors of ceramic dielectric, Class 2 (IDT)
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
注記 対応国際規格 : IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)
――――― [JIS C 5101-9-1 pdf 7] ―――――
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C 5101-9-1 : 2008 (IEC 60384-9-1 : 2005)
1.5 表示
コンデンサ及び包装への表示は,JIS C 5101-9の1.6による。
コンデンサ及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定する。
1.6 発注情報
この規格のコンデンサの発注情報には,少なくとも次の事項を,明りょうな文字又は記号によって示す。
a) 定格静電容量
b) 定格静電容量許容差
c) 定格電圧
d) 静電容量の温度特性
e) 製造業者の形名又は個別規格に記載する形名
1.7 出荷対象ロットの成績証明書
成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。
注記 顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。
1.8 追加情報(非検査目的)
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項
追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に限定し,表4による。
表4−その他の特性
この表は,品種別通則JIS C 5101-9の規定への追加,又はより
厳しい特性を規定するために使用する。
2 検査要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証の手順は,JIS C 5101-9の3.4による。
2.1.2 品質確認検査の試験計画(表5)は,サンプリング,周期,厳しさ及び要求性能を示す。
検査ロットの構成は,JIS C 5101-9の3.5.1による。
――――― [JIS C 5101-9-1 pdf 8] ―――――
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C 5101-9-1 : 2008 (IEC 60384-9-1 : 2005)
表5−ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画
細分箇条番号及び D又は 試験条件a) 試料数(n)及び 要求性能a)
試験項目a) NDb) 合格判定数(c) )
IL n c
群A検査(ロットごと)
副群A0 ND 100 %c)
4.3.1静電容量 周波数 : ...kHz 規定の許容差以内。
測定電圧 : ...V
4.3.2誘電正接 周波数及び測定電圧は,4.3.1 4.3.2.3による。
による。
4.3.3絶縁抵抗(端子間) 方法 : ... 4.3.3.2による。
4.3.4耐電圧(端子間) 方法 : ... 絶縁破壊又はフラッシ
オーバがない。
d)
副群A1 ND S-4 0
4.2 外観 4.2による。
表示は,明りょうで,こ
の規格の1.5による。
d)
副群A2 ND S-3 0
4.2 寸法(ゲージ)e) この規格の表1による。
群B検査(ロットごと)
d)
副群B1 D S-3 0
4.7 はんだ付け性 方法 : ... 端子にはんだが良好に
付着しているか,又はは
んだ小球法の場合は,...
s以内にはんだが流れ
る。
4.16表示の耐溶剤性 溶剤 : ... 表示は,明りょうとす
(適用する場合) 溶剤の温度 : ... る。
方法1
ラビングの材料 : 脱脂綿
後処理 : ...
d)
副群B2 g) ND S-2 0
4.4静電容量の温度特性 特殊な前処理は,4.1による。
静電容量 ΔC/Cは,4.4.3による。
――――― [JIS C 5101-9-1 pdf 9] ―――――
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C 5101-9-1 : 2008 (IEC 60384-9-1 : 2005)
表5−ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の試験計画(続き)
細分箇条番号及び D又は 試験条件a) 試料数(n)及び 要求性能a)
試験項目a) NDb) 合格判定数(c) )
p n c
群C検査(定期的)
副群C1A D 6 9 0 f)
副群C1の試料の一部
4.2 寸法(詳細) この規格の表1による。
4.5端子強度 外観 損傷がない。
4.6.2初期測定 静電容量
4.6 はんだ耐熱性 特殊な前処理は,4.1による。
方法 : ...
4.6.4最終測定 外観 異常がない。
表示は,明りょうとする。
静電容量 ΔC/Cは,4.6.4による。
4.15 部品の耐溶剤性 溶剤 : ...
(適用する場合) 溶剤の温度 : ...
方法2
後処理 : ...
副群C1B D 6 18 0 f)
副群C1の残りの試料
4.8温度急変 特殊な前処理は,4.1による。
4.8.2初期測定 静電容量
TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
5サイクル
時間t1=30 min
後処理 : 24 h±2 h
外観 異常がない。
4.9 振動 取付方法 : この規格の1.1によ
る。
周波数範囲 : ...Hz...Hz
振幅 : 0.75 mm又は加速度100
m/s2(いずれか緩い方)
総試験時間 : 6 h
4.9.2中間測定 外観 異常がない。
4.10 バンプ(又は4.11 取付方法 : この規格の1.1によ
衝撃) る。
バンプ回数 : ...
ピーク加速度 : ...m/s2
作用時間 : ...ms
4.11 衝撃(又は4.10 バ 取付方法 : この規格の1.1によ
ンプ) る。
ピーク加速度 : ...m/s2
作用時間 : ...ms
4.10.3又は4.11.3 外観 異常がない。
最終測定 表示は,明りょうとする。
静電容量 ΔC/Cは,4.11.3による。
――――― [JIS C 5101-9-1 pdf 10] ―――――
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JIS C 5101-9-1:2008の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-9-1:2005(IDT)
JIS C 5101-9-1:2008の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.20 : 磁器コンデンサ及びマイカコンデンサ
JIS C 5101-9-1:2008の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式