この規格ページの目次
- 1.4.4 定格及び特性
- 1.4.5 表示
- 2. 推奨定格,特性及び試験の厳しさ
- 2.1 推奨特性
- 2.1.1 推奨耐候性カテゴリ
- 2.1.2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性
- 2.1.3 抵抗値変化の限界
- 2.2 推奨定格値
- 2.2.1 定格抵抗値(公称抵抗値)
- 2.2.2 定格抵抗値の許容差
- 2.2.3 定格電力
- 2.2.4 素子最高電圧
- 2.2.5 絶縁抵抗(取付金具付き及び絶縁形だけに適用)
- 2.2.6 アイソレーション電圧(絶縁形だけに適用)
- 2.3 推奨する試験の厳しさ
- 2.3.1 乾燥
- 2.3.2 振動(正弦波)
- 2.3.3 減圧
- 2.3.4 過負荷
- 2.3.5 抵抗体強度
- 2.3.6 バンプ
- 2.3.7 衝撃
- 3. 品質評価手順
- 3.1 構造的に類似な抵抗器
- 3.2 品質認証
- 3.2.1 定数抜取手順に基づく品質認証
- 3.2.2 試験
- JIS C 5201-5:1998の引用国際規格 ISO 一覧
- JIS C 5201-5:1998の国際規格 ICS 分類一覧
- JIS C 5201-5:1998の関連規格と引用規格一覧
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C 5201-5 : 1998
ない。
備考 形式の記号は,JIS C 5201-1の附属書1で規定する形名を用いてもよい。
1.4.4 定格及び特性
定格及び特性は,次の事項を含めこの規格の関連する項目による。
1.4.4.1 定格抵抗値の範囲 この規格の2.2.1による。推奨値はJIS C 5063のE標準数列とする。
備考 IECQの場合は,IECQの品質認証制度によって認定された個別規格の製品と,この規格の定
格抵抗値の範囲が異なる場合には,次の記述を追加する。
“各形式に有効な抵抗値範囲は,品質認証電子部品一覧表 (QPL) による。”
1.4.5 表示
個別規格に,抵抗器及び包装への表示の内容を規定する。JIS C 5201-1の2.4(表示)との
相違点があれば,それらを明記する。
第2章 推奨定格,特性及び試験の厳しさ
2. 推奨定格,特性及び試験の厳しさ
2.1 推奨特性
個別規格に規定する値は,次の中から選択することが望ましい。
2.1.1 推奨耐候性カテゴリ
この規格に含まれる抵抗器は,JIS C 0010の附属書Aに規定する一般原則
に基づいた耐候性カテゴリによって分類する。カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)
の試験時間は,次の中から選択する。
カテゴリ下限温度 : −55℃,−40℃,−25℃及び−10℃
カテゴリ上限温度 : +85℃,+100℃,+125℃及び+155℃
高温高湿(定常)の試験時間 : 4日,10日,21日及び56日
低温(耐寒性)及び高温(耐熱性)試験の厳しさは,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度
である。ある種の抵抗器は,その構造のため,これらの温度がJIS C 00試験規格群に規定する二つの推奨
温度と一致しないことがある。この場合には,抵抗器の実際の温度範囲内の最も近い推奨温度を厳しさと
して選択する。
2.1.2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性
抵抗温度特性試験での抵抗値変化の推奨限界を表Iに示す。表の
各欄は推奨温度係数,20℃70℃の範囲で対応する温度特性及びこの規格の2.1.1のカテゴリ温度範囲に基
づく抵抗温度特性の測定[JIS C 5201-1の4.8(温度による抵抗値変化)参照。]での抵抗値変化の限界を
規定する。
表I 抵抗温度特性
温度 温度特性 抵抗温度特性(抵抗値変化率の限界)%
係数 20℃/70℃ 基準温度 ℃/カテゴリ下限温度 ℃ 基準温度℃/カテゴリ上限温度℃
10−6/℃ % +20/−55 +20/−40 +20/−25 +20/−10 +20/+85* +20/+100 +20/+125 +20/+155
±25 ±0.125 ±0.188 ±0.15 ±0.113 ±0.075 ±0.162 ±0.2 ±0.262 ±0.338
±20 ±0.1 ±0.15 ±0.12 ±0.09 ±0.130 ±0.130 ±0.16 ±0.210 ±0.270
±15 ±0.075 ±0.113 ±0.09 ±0.068 ±0.068 ±0.098 ±0.12 ±0.158 ±0.203
±10 ±0.05 ±0.075 ±0.06 ±0.045 ±0.03 ±0.065 ±0.08 ±0.105 ±0.135
±5 ±0.025 ±0.038 ±0.03 ±0.023 ±0.015 ±0.03 ±0.04 ±0.053 ±0.068
注* カテゴリ上限温度85℃の抵抗器は,70℃での測定を行わない。
備考 上表以外の測定温度を追加する場合には,個別規格に規定する。
――――― [JIS C 5201-5 pdf 6] ―――――
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C 5201-5 : 1998
2.1.3 抵抗値変化の限界
表IIに各試験での抵抗値変化の推奨限界を示す。それらは,それぞれの安定
性クラスに対応して規定している。
備考 表IIの項目番号は,JIS C 5201-1による。
表II 抵抗値変化の限界
安定性クラス 長期試験 短期試験
% 4.23 一連耐候性 4.16 端子強度
4.24 高温高湿(定常) 4.18 はんだ耐熱
4.25.1 70℃での耐久性 性
4.25.3 カテゴリ上限温 4.19 温度急変
度での耐久性 4.20 バンプ
4.13 過負荷 4.21 衝撃
4.22 振動(正弦
波)
0.5 圀
±(0.5%+0.05 圀
±(0.1%+0.01
0.25 圀
±(0.25%+0.05 圀
±(0.05%+0.01
0.1 圀
±(0.1%+0.0l 圀
±(0.02%+0.0l
0.05 圀
±(0.05%+0.01 圀
±(0.01%+0.0l
2.2 推奨定格値
2.2.1 定格抵抗値(公称抵抗値)
JIS C 5201-1の2.2.7(定格抵抗値)による。
2.2.2 定格抵抗値の許容差
定格抵抗値の推奨許容差は,次による。
±1.0%,±0.5%,±0.25%,±0.1%,±0.05%,±0.025%,±0.01%又は±10m 地
2.2.3 定格電力
70℃での定格電力の推奨値は次による。
0.05W,0.063W,0.1W,0.125W,0.25W,0.5W,1W,2W及び3W。
70℃を超える温度での電力の軽減値は,次の曲線による。
上記の軽減曲線に示す推奨動作領域の全部が含まれている場合には,より広い動作領域を個別規格に規
定してもよい。この場合には,個別規格に70℃を超える温度での最高許容電力を規定する。ただし,曲線
上の折れ点 (Break points) を,試験によって確認しなければならない。
2.2.4 素子最高電圧
素子最高電圧の推奨値は,次による。
75V,100V,150V,200V,250V,350V,500V,750V及び1 000Vd.c.又はa.c.の実効値とする。
2.2.5 絶縁抵抗(取付金具付き及び絶縁形だけに適用)
個別規格に規定がない限り,絶縁抵抗は,高温
(耐熱性)試験後で1G 坎 上,耐湿性試験後で100M 坎 上とする。
――――― [JIS C 5201-5 pdf 7] ―――――
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C 5201-5 : 1998
2.2.6 アイソレーション電圧(絶縁形だけに適用)
個別規格に規定がない限りアイソレーション電圧は,
素子に印加できるピーク電圧以上とする。すなわち,素子最高電圧の1.42倍以上とする。
2.3 推奨する試験の厳しさ
個別規格に規定する試験の厳しさは,次の中から選択することが望ましい。
2.3.1 乾燥
JIS C 5201-1の4.3(乾燥)の手順Iを適用する。
2.3.2 振動(正弦波)
JIS C 5201-1の4.22[振動(正弦波)]及び次の条件を適用する。
振動周波数範囲 : 10Hz55Hz又は10Hz500Hz
振幅 : 0.75mm又は98m/s2(いずれか緩い方)
掃引耐久試験 : 総試験時間 : 6h
適用する取付方法を個別規格に規定する。リード線端子反対方向(アキシャルリード線端子)の抵抗器
でリード線だけで取り付けられる抵抗器の場合には,抵抗器本体と取付点との距離は,6mm±1mmとする。
2.3.3 減圧
JIS C 5201-1の4.23.5(減圧)及び次の条件を適用する。
気圧 : 8kPa
2.3.4 過負荷
JIS C 5201-1の4.13(過負荷)及び次の条件を適用する。
印加電圧 : 定格電圧の2.5倍又は素子最高電圧の2倍のどちらか小さい方の値で,個別規格に規定が
ない限り下表の印加時間を適用する。
印加時間 定格電力
3s <1W
5s ≧1W
2.3.5 抵抗体強度
JIS C 5201-1の4.15(抵抗体強度)及び次の条件を適用する。
荷重 : 100N±5N
2.3.6 バンプ
JIS C 5201-1の4.20(バンプ)及び次の条件を適用する。
ピーク加速度 : 400m/s2
バンプ回数 : 4 000
2.3.7 衝撃
JIS C 5201-1の4.21(衝撃)及び次の条件を適用する。
ピーク加速度 : 500m/s2
作用時間 : 11ms
パルス波形 : 正弦半波
適用する取付方法を個別規格に規定する。端子反対方向(アキシャルリード線端子)の端子の抵抗器で
リード線だけで取り付けられる抵抗器の場合には,抵抗器本体とリード線端子の取付点との距離は,6mm
±1mmとする。
第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順
3.1 構造的に類似な抵抗器
構造的に類似な抵抗器とは,抵抗値及び温度特性が異なっていても,同様
な工程及び材料で製造され,同一の公称寸法をもつ抵抗器とする。
3.2 品質認証
品質認証試験の手順は,JIS C 5201-1の3.4(品質認証手順)による。ロットごとの品質
確認検査及び定期的品質確認検査に基づく試験の計画は,この規格の3.3に規定する。
定数抜取数の試験計画を用いた手順は,次の3.2.1及び3.2.2による。
――――― [JIS C 5201-5 pdf 8] ―――――
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C 5201-5 : 1998
3.2.1 定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取りの手順は,JIS C 5201-1の3.4.2のb)による。試料は,
認証を得ようとする抵抗値範囲を代表できるものとする。これは,個別規格に規定している全範囲でなく
てもよい。
試料は,認証を得ようとする定格抵抗値の最高値及び最低値をもつ試料で構成する。臨界抵抗値が認証
を受けようとする範囲の中にある場合には,その試料も含める。二つ以上の抵抗温度係数の認証を受ける
場合には,別々の抵抗温度係数を代表する試料を含める。同様にして,認証を受けようとする最も狭い許
容差の各抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は,製造業者の品質保
証責任者によって提案される。IECQの場合は,国内監督検査機関 (NSI) の承認を必要とする。
予備の試料は,次の場合に使用する。
a) 群 “0” で許容不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個,各抵抗温度係数又は温度特性ごとに1
個。
b) 製造業者の責任ではない事故による不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個,各抵抗温度係数
又は温度特性ごとに1個。
品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には,追加した試験群に必要な試料を群 “0” に追加
する。
3.2.2 試験
個別規格に規定する抵抗器の認証のために,表IIIに規定する一連の試験を必要とする。各
群の試験は記載の順で行う。
全試料について,群 “0” の試験を行い,その後に他の群に分割する。絶縁形抵抗器は,群1の試験を群
2群7の試験の前に行う。群 “0” の試験での不良品は他の群に使用してはならない。1個の抵抗器が一
つの群のすべて又は一部を満足しなかった場合には,“1個の不良”として数える。不良品が各群又は各副
群ごとに規定の合格判定個数及び総合格判定個数を超えなければ認証される。
備考 表IIIに定数抜取りの試験計画を示す。これは,各試験群ごとの抜取方法,合格判定個数及び
総合格判定個数の個別規定を含み,また,JIS C 5201-1の第4章(試験及び測定方法)及びこ
の規格の第2章に規定する個々の試験とともに試験条件の全体及び要求性能を示す。
表IIIは,試験方法,試験条件及び要求性能について個別規格に規定するための選択内容を
示す。
定数抜取りの試験計画のための試験条件及び要求性能は,品質確認検査について個別規格に
規定する内容と同一とする。
――――― [JIS C 5201-5 pdf 9] ―――――
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C 5201-5 : 1998
表III 品質認証試験計画
備考1. 試験の項目番号及び性能要求は,JIS C 5201-1による。ただし,抵抗値変化の要求事項は,この規格の表I及
び表IIから適切に選択する。
2. この表で :
n = 試料数
c = 合格判定個数(群又は副群当たりの許容不良数)
t = 総合格判定個数(一つ又は幾つかの連結された群,例えば,群0A+群0B又は群1群7に対する
許容不良数)
D = 破壊試験
ND = 非破壊試験
参考 表中の要求事項の “%R” のRは,各試験の試験前の抵抗値を示す。
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (総)合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c t
群0A ND 125 1 2
4.4.1 外観 4.4.1による。
表示が明りょうで,個別規格
の規定による。
群0B ND 125 1
4.4.2 寸法(ゲージ法) ...mmのゲージ板を使用する。 個別規格の規定による。
4.5.2による。
4.5 抵抗値
群1 ND 50 1 4
4.7 耐電圧(絶縁形抵抗器だけに方法 : ... 4.7.3による。
適用)
群2 D 20 1
4.17 はんだ付け性 エージングなし 4.17.3.2による。
方法 : ..
この規格の2.3.4による。
4.13 過負荷
外観 4.13.3による。
抵抗値
(...%R+...
4.8 温度による抵抗値変化 カテゴリ下限温度/20℃ 刀一替 ...%又は
愀 6/℃
20℃/カテゴリ上限温度 刀一替 ...%又は
愀 6/℃
L/R≦...s又はL≦...mH
4.9 リアクタンス(適用する場 4.15.3による。
この規格の2.3.5による。
合)
4.15 抵抗体強度(適用する場合)
群3A D 10 1*
群3の試料の半分
4.16 端子強度 端子の種類に対応した引張り,曲げ
及びねじり試験
外観 4.16.6a)による。
抵抗値
(...%R+...
4.18 はんだ耐熱性 方法 : ...
外観 4.18.4による。
抵抗値
(...%R+...
――――― [JIS C 5201-5 pdf 10] ―――――
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JIS C 5201-5:1998の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-5:1982(MOD)
JIS C 5201-5:1998の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-5:1998の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5201-1:2011
- 電子機器用固定抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISZ9015:1980
- 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)