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C 5201-5 : 1998
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (総)合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c t
群3B D 10 1*
群3の試料の残り半分
4.19 温度急変 カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
外観 4.19.3による。
抵抗値
(...%R+...
4.20 バンプ(又は4.21衝撃) 取付方法 : 個別規格の規定による。
ピーク加速度 : 400m/s2
バンプ回数 : 4 000
外観 4.20.4による。
抵抗値
(...%R+...
4.21 衝撃(又は4.20バンプ) 取付方法 : 個別規格の規定による。
ピーク加速度 : 500m/s2
作用時間 : 11ms
パルス波形 : 正弦半波
外観 4.21.5による。
抵抗値
(...%R+...
4.22 振動(正弦波) 取付方法 : 個別規格の規定による。
掃引耐久試験
振動数範囲 : ...Hz...Hz
振幅 : 0.75mm又は98m/s2のどちら
か緩い方
総試験時間 : 6h
外観 4.22.4による。
抵抗値
(...%R+...
群3 D 20 1*
群3の全試料
4.23 一連耐候性
− 高温(耐熱性)
− 温湿度サイクル(12+12時間
サイクル)
最初のサイクル
− 低温(耐寒性)
− 減圧 8kPa
− 温湿度サイクル(12+12時間
サイクル)
残りのサイクル
− 直流負荷(非巻線形だけに適
用) 外観 4.23.8による。
抵抗値
(...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形だけに適用) R≧100 M圀
――――― [JIS C 5201-5 pdf 11] ―――――
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C 5201-5 : 1998
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (総)合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c t
群4 D 20 1
4.25.1 70℃での耐久性 試験時間 : 1 000h
48h,500h,及び1 000hでの検査 :
外観 4.25.1.7による。
抵抗値
(...%R+...
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗 R≧1G 圀
(絶縁形だけに適用)
個別規格で要求がある場合は,
8 000hまで延長する。
2 000h,
4 000h及び8 000hでの検
(...%R+...要求事
査 : 項を個別規格に規定する(結
抵抗値 果は情報としてだけに扱
う。)
群5 D 20 1
4.24 高温高湿(定常) 1)4.24.2.1:
第1のグループ : 試料数6
第2のグループ : 試料数7
第3のグループ : 試料数7
2) 4.24.2.2:
第1のグループ : 試料数10
第2のグループ : 試料数10
外観 4.24.4による。
抵抗値
(...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形だけに適用) R≧100 M圀
群6 D 20 1
4.4.3 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
試験時間 : 1 000h
4.25.3 カテゴリ上限温度での耐
48h,500h及び1 000hでの検査 :
久性
外観 4.25.3.7による。
抵抗値
(...%R+...
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形だけに適用) R≧1G 圀
群7 D 20 1
4.25 他の温度での耐久性(適用 (この群は,この規格に規定するも
のと異なる軽減曲線を個別規格で
する場合)
規定する場合だけに適用する。)
試験時間 : 1 000h
48h,500h及び1 000hでの検査 :
外観 4.25.1.7による。
抵抗値
(...%R+...
(群4と同じ)
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形だけに適用) R≧1G 圀
注* 群3A及び群3Bを含めた群3の総合格判定個数は1個とする。
――――― [JIS C 5201-5 pdf 12] ―――――
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C 5201-5 : 1998
3.3 品質確認検査
3.3.1 検査ロットの構成
検査ロットは,同一形状で構造的に類似な抵抗器(3.1参照)で,構成する。
これは,検査の期間中に製造された抵抗値範囲を代表するものとする。期間中に製造される各形状は同一
公称寸法であれば,異なった抵抗温度特性のものを一括してもよい。ただし,抵抗温度特性の試験を含む
副群用の試料は除く。IECQの場合は,認証された抵抗器の下限,上限及び/又は臨界抵抗値並びに認証
された抵抗温度特性のものは,国内監督検査機関によって承認された期間の間に検査する(備考参照)。
群“C”及び群“D”の試料は,検査対象期間の最後の13週にわたって集める。
備考 “下”限値は,製造中の最低の認証抵抗値(又は認証範囲内での製造された最低抵抗値)の0%
200%の間とする。
“上”限値は,製造中の最高の認証抵抗値(又は認証範囲内での製造された最高抵抗値)の
−30%0%の間とする。
“臨界”抵抗値は,計算値の−20%0%の間とする。
3.3.2 試験計画
品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は,ブ
ランク個別規格の第2章(検査の要求事項)の表IIに示す。
3.3.3 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,次の表IV A及び表IV Bから選択することが
望ましい。
表IV A 評価水準とロットごとの品質確認検査
検査副群** D* E F G*
IL AQL IL AQL IL AQL IL AQL
% % % %
A1 S-4 1.0 II 1.0
A2 S-4 1.0 II 0.25
B1 S-3 1.0 S-3 1.0
B2 S-3 2.5 S-3 2.5
B3 S-3 2.5 − −
IL=検査水準
AQL=合格品質水準
表IV B 評価水準と定期的品質確認検査
検査副群** D* E F G*
p n c p n c p n c p n c
C1 3 20 1 − − −
C2 3 20 1 − − −
C3 3 20 1 − − −
D1 12 20 1 6 13 1
D2 36 20 1 6 13 1
D3 36 20 1 12 13 1
D4 36 13 1 36 13 1
D5 − − − 24 13 1
D6 − − − 24 13 1
P=周期(月)
n=試料数
c=合格判定個数
注* 表IV A及び表IV Bの評価水準D及びGは,検討中。
** 検査副群の内容は,関連のブランク個別規格の第2章に規定する。
――――― [JIS C 5201-5 pdf 13] ―――――
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C 5201-5 : 1998
参考 原国際規格には,評価水準Fは,検討中とされていたが,ブランク個別規格 (IEC 60115-5-2) に
規定されていたため,この規格に追加した。
――――― [JIS C 5201-5 pdf 14] ―――――
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C 5201-5 : 1998
電子部品JIS原案作成第1委員会構成表
氏名 所属
(委員長) 平 山 宏 之 東京都立科学技術大学
(委員) 吉 田 裕 道 都立工業技術センター
中 西 忠 雄 防衛庁装備局
藤 倉 秀 美 財団法人日本電気用品試験所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
松 永 荘 一 通商産業省機械情報産業局電子機器課
兼 谷 明 男 通商産業省工業技術院標準部情報電気規格課
福 原 隆 沖電気工業株式会社
勝 田 明 彦 株式会社ケンウッド
山 本 克 己 ソニー株式会社
西 林 和 男 株式会社東芝
中 島 眞 人 日本電気株式会社
中 野 武 松下通信工業株式会社
山 本 佳 久 三菱電機株式会社
高 久 侑 也 エルナ株式会社
山 名 法 明 株式会社村田製作所
三 宅 邦 彦 松尾電機株式会社
小 嶋 敏 博 KOA株式会社
曽我部 浩 二 株式会社村田製作所
会 田 洋 東光株式会社
中 山 孝 之 北陸電気工業株式会社
岡 村 郁 生 セイデンテクノ株式会社
山 本 圭 一 進工業株式会社
桃 野 英 治 釜屋電機株式会社
秦 考 生 松下電子部品株式会社
江 口 正 則 東京コスモス電機株式会社
尾 村 博 幸 日本ケミコン株式会社
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美 社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5201-5分科会 構成表
氏名 所属
(主査) 山 本 圭 一 進工業株式会社
(委員) 小 嶋 敏 博 KOA株式会社
中 山 孝 之 北陸電気工業株式会社
岡 村 郁 生 セイデンテクノ株式会社
桃 野 英 治 釜屋電機株式会社
秦 考 生 松下電子部品株式会社
笹 川 敞 雄 理研電具製造株式会社
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美 社団法人日本電子機械工業会
(文責 山本圭一)
JIS C 5201-5:1998の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-5:1982(MOD)
JIS C 5201-5:1998の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-5:1998の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5201-1:2011
- 電子機器用固定抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISZ9015:1980
- 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)