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C 5201-9-1 : 2006 (IEC 60115-9-1 : 2004)
1.1 寸法,定格及び特性
表 1 寸法,定格及び特性の表示形式
形式 素子定格 ネットワ 素子最高 絶縁電圧 素子間の
電力* ーク定格 電圧 耐電圧 寸法 mm
(70 ℃)電力 (Vd.c.又
(70 ℃) はVa.c.の L W T A B P ...
実効値)
W W V V V
注* 個別規格には,定格電力を適用する条件を規定する。
抵抗値範囲** ... Ω... Ω
定格抵抗値の許容差 ±... %
耐候性カテゴリ −/−/−
安定性クラス ... %
抵抗値変化の限界 :
− 長期試験 ±(... %R+... Ω)
− 短期試験 ±(... %R+... Ω)
抵抗温度係数 α : ... 10-6 / K
注** 推奨値は,JIS C 5063のE24及びE96の標準数列。
参考 抵抗値の限界の“%R”のRは,各試験の試験前の抵抗値を示す。
1.1.1 負荷軽減 この規格を適用する抵抗器は,次の軽減曲線によって負荷を軽減する(適切な軽減曲線
は,個別規格に規定する。)。
備考 JIS C 5201-9の2.2.3(定格電力)による。
1.2 推奨する取付方法
JIS C 5201-9の1.4.2(取付け)による。
1.3 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
備考 IEC 60063:1963 Preferred number series for resistors and capacitors 並びにAmendment 1: 1967
及びAmendment 2: 1977からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5201-1 電子機器用固定抵抗器−第1部 : 品目別通則
備考 IEC 60115-1:1999 Fixed resistors for use in electronic equipment ― Part 1: Generic specification
からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5201-9 電子機器用固定抵抗器−第9部 : 品種別通則 : 個別測定可能な表面実装用固定ネッ
トワーク抵抗器
備考 IEC 60115-9:0000 Fixed resistors for use in electronic equipment ― Part 9: Sectional
specification: Fixed surface mount resistor networks with individually measurable resistorsからの引
用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型
――――― [JIS C 5201-9-1 pdf 6] ―――――
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C 5201-9-1 : 2006 (IEC 60115-9-1 : 2004)
抜取検査方式
備考 IEC 60410:1973 Sampling plans and procedures for inspection by attributesからの引用事項は,
この規格の該当事項と同等である。
1.4 表示
抵抗器及び包装への表示は,JIS C 5201-1の2.4(表示)及びJIS C 5201-9の1.4.5(表示)に
よる。
抵抗器及び包装への表示の詳細は,個別規格の規定による。
1.5 発注情報
この規格を適用する抵抗器を発注する場合には,少なくとも次の事項を明確に示すか,
又は記号の形で示す。
a) 素子定格抵抗値
b) 定格抵抗値の許容差
c) 個別規格の番号及び版又は発行年並びに形式
d) 包装形態
1.6 出荷対象ロットの成績証明書
要求するか,又は要求しない。
1.7 追加情報
(検査目的以外のもの)
1.8 品目別通則及び/又は,品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合だけに規定する。
2. 検査の要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証の手順は,JIS C 5201-9の3.2(品質認証)による。
2.1.2 品質確認検査のための試験計画(表2)には,抜取方法,周期,厳しさ及び要求事項を規定する。
検査ロットの構成は,JIS C 5201-9の3.3.1(検査ロットの構成)による。
下記の項目を,表2及び表3の試験計画に示す。
1) 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5201-1の規定による。ただし,抵抗値変化の要求事項は,
JIS C 5201-9の表3から適切に選択する。
2) 試料数(n)は,JIS Z 9015-1に規定の付表1の検査水準(IL)/ロットサイズで割り当てるサンプル文字
に従い,JIS Z 9015-1の付表2-Aのサンプル文字に対応する試料数とする。
3) この表で, p = 周期(月)
n = 試料数
c = 合格判定個数(許容不適合数)
D = 破壊検査
ND = 非破壊検査
IL = 検査水準
4) 100 %検査とは,工程で不適合品を取り除いた後に,ppmで示す出荷品質水準を監視するために,
抜取りによる副群A0の検査をすべて行うことをいう。抜取水準は,部品製造業者が設定する。ど
のような特性不適合も,不適合として扱い,不適合品のすべてを数える。ppm値は,これらの不適
合品の累計を用いて算出する。また,抜取試料中に1個以上の不適合品を発見した場合には,この
ロットは不合格とする。
5) 不適合品が1個発見された場合,新しい試料で副群すべての試験を再度行い,新たな不適合品が発
生しないとき,合格とする。再試験の間,製品の出荷は継続してもよい。
――――― [JIS C 5201-9-1 pdf 7] ―――――
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C 5201-9-1 : 2006 (IEC 60115-9-1 : 2004)
表 2 ロットごと品質確認検査のための試験計画
項目番号及び試験 D 試験条件 IL n c 要求性能
又は
[2.1.2の3) 参照]
[2.1.2の1) 参照] ND [2.1.2の1) 参照] [2.1.2の1) 参照]
群A検査
(ロットごと) 100 %
副群A0 ND [2.1.2の4) 参照]
4.5 抵抗値 4.5.2による。
副群A1 ND S-4 2.1.2 0
4.4.1 外観 の2) 4.4.1による。
4.4.2 寸法(ゲージ法) この規格の表1による。
群B検査
(ロットごと)
副群B1 ND 方法 : ... S-3 2.1.2 0 絶縁破壊又はフラッシ
4.7 耐電圧(絶縁形抵抗器だ の2) ュオーバーがない。
けに適用) 絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だ ≧100 MΩ
けに適用)
隣接する素子間の耐電 電圧 : ... V 絶縁破壊又はフラッシ
圧 ュオーバーがない。
副群B2 D S-3 2.1.2 0
4.17 はんだ付け性 エージング(適用する場合) の2) 4.17.4.5による。
副群B3 D S-3 2.1.2 0
4.31 取付け JIS C 5201-9の2.3.2(過負 の2)
荷)に規定する基板材質及
び個々の抵抗器の間隔。
4.13 過負荷(取り付けた状 定格電圧の2.5倍又は素子
態) 最高電圧の2倍のいずれか
小さい方。
印加時間 : 2 s
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+... Ω)
4.30 表示の耐溶剤性(適用 溶剤 : ... 表示は明りょうであ
する場合) 溶剤温度 : ... る。
方法1
ラビング材質 : 脱脂綿
後処理 : ...
――――― [JIS C 5201-9-1 pdf 8] ―――――
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C 5201-9-1 : 2006 (IEC 60115-9-1 : 2004)
表 3 定期的な品質確認検査のための試験計画
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
又は 合格判定個数
[2.1.2の1) 参照] ND [2.1.2の1) 参照] [2.1.2の3) 参照][2.1.2の1) 参照]
p n c
群C検査
(定期的)
副群C1 D 3 20 0
4.31 取付け 基板材質 : ...
4.33 耐プリント板曲げ性 抵抗値 ΔR≦±(... %R+...
たわみ量 : ... Ω)
4.33.6 最終測定 外観 外観の損傷がない。
副群C2 D 3 20 0
4.18 はんだ耐熱性 外観 4.18.3.4による。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+...
Ω)
4.29部品の耐溶剤性 溶剤 : ... 個別規格を参照。
溶剤温度 : ...
方法2
後処理 : ···
副群C3 D 3 20 0
4.31 取付け 基板材質 : ...
4.32 固着性 外観 外観の損傷がない。
4.19 温度急変 TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+...
4.23 一連耐候性 Ω)
−高温(耐熱性)
−温湿度サイクル(12+12
時間サイクル)最初のサイ
クル
−低温(耐寒性)
−温湿度サイクル(12+12時
間サイクル)残りのサイク
ル
−直流負荷
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+...
Ω)
――――― [JIS C 5201-9-1 pdf 9] ―――――
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C 5201-9-1 : 2006 (IEC 60115-9-1 : 2004)
副群C4 D 3 20 0
4.31 取付け 基板材質 : ...
JIS C 5201-9の2.3.2(過負
荷)に規定する個々の抵抗器
4.25.1 70 ℃での耐久性 の間隔。
試験時間 : 1 000 h
48 h,500 h及び1 000 hでの
検査 :
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+...
Ω)
表 3 定期的な品質確認検査のための試験計画(続き)
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
又は 合格判定個数
[2.1.2の1) 参照] ND [2.1.2の1) 参照] [2.1.2の3) 参照][2.1.2の1) 参照]
p n c
副群C5 ND 3 20 0
4.31 取付け 基板材質 : ...
4.8 温度による抵抗値変化 カテゴリ下限温度 / 20 ℃ ΔR / R≦... %
又は
α : ... 10-6 / K
20 ℃ / カテゴリ上限温度 ΔR / R≦... %
又は
α : ... 10-6 / K
群D検査 D
(定期的) 12 20 0
副群D1
4.31 取付け 基板材質 : ...
JIS C 5201-9の2.3.2(過負
荷)に規定する個々の抵抗器
の間隔。
4.24 高温高湿(定常) 成極の電圧[4.24.2.1のc) ]は
適用しない。
外観 外観の損傷がなく,表
示は明りょうである。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+... Ω)
副群D2 D 36 20 1
4.4.3 寸法(詳細) この規格の表1による。
4.31 取付け 基板材質 : ...
JIS C 5201-9の2.3.2(過負
荷)に規定する個々の抵抗器
の間隔。
4.25.3 カテゴリ上限温度で 試験時間 : 1 000 h
の耐久性 48 h,500 h及び1 000 hでの
検査 :
外観 外観の損傷がない。
抵抗値 ΔR≦±(... %R+... Ω)
JIS C 5201-9-1:2006の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-9-1:2003(IDT)
JIS C 5201-9-1:2006の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-9-1:2006の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5201-1:2011
- 電子機器用固定抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5201-9:2006
- 電子機器用固定抵抗器―第9部:品種別通則:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式