JIS C 5260-2:2000 電子機器用可変抵抗器―第２部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器

C 5260-2 : 2000

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本電子機械工業会 (EIAJ) /財団
法人日本規格協会 (JSA) から工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業
標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権(平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。)又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す
る可能性があることに注意を喚起する。
  通商産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,
実用新案権,又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  部編成規格 この規格の部編成規格は,次による。
    JIS C 5260群 電子機器用可変抵抗器
    JIS C 5260-1 第1部 : 品目別通則
    JIS C 5260-2 第2部 : 品種別通則 : ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
    JIS C 5260-2-1 第2部 : ブランク個別規格 : ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E
    JIS C 5260-2-2 第2部 : ブランク個別規格 : ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F
    JIS C 5260-3 第3部 : 品種別通則 : 回転形精密級可変抵抗器(予定)
    JIS C 5260-3-1 第3部 : ブランク個別規格 : 回転形精密級定可変抵抗器 評価水準E(予定)
    JIS C 5260-4 第4部 : 品種別通則 : .単回転電力形可変抵抗器(予定)
    JIS C 5260-4-1 第4部 : ブランク個別規格 : 単回転電力形可変抵抗器 評価水準E(予定)
    JIS C 5260-4-2 第4部 : ブランク個別規格 : 単回転電力形可変抵抗器 評価水準F(予定)
    JIS C 5260-5 第5部 : 品種別通則 : 単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
    JIS C 5260-5-1 第5部 : ブランク個別規格 : 単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
    JIS C 5260-5-2 第5部 : ブランク個別規格 : 単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F

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pdf 目次

ページ

•  序文・・・・[1]

                                        第1章 一般事項

•  1. 一般事項・・・・[1]
•  1.1 適用範囲・・・・[1]
•  1.2 目的・・・・[1]
•  1.3 引用規格・・・・[2]
•  1.4 個別規格に規定する事項・・・・[2]
•  1.4.1 外形図及び寸法・・・・[2]
•  1.4.2 取付け・・・・[2]
•  1.4.3 形状・・・・[3]
•  1.4.4 抵抗変化特性・・・・[3]
•  1.4.5 定格及び特性・・・・[3]
•  1.4.5.1 定格抵抗値の範囲・・・・[3]
•  1.4.5.2 バンプ及び衝撃・・・・[3]
•  1.4.6 表示・・・・[3]
•  1.4.7 発注情報・・・・[3]
•  1.4.8 追加情報・・・・[3]
•  1.5 表示・・・・[3]
•  1.5.1 一般事項・・・・[3]

                            第2章 推奨定格,特性及び試験の厳しさ

•  2. 推奨定格,特性及び試験の厳しさ・・・・[4]
•  2.1 推奨特性・・・・[4]
•  2.1.1 推奨耐候性カテゴリ・・・・[4]
•  2.1.2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性・・・・[4]
•  2.1.3 抵抗値又は出力電圧比変化の限界・・・・[6]
•  2.1.4 全機械的操作範囲・・・・[6]
•  2.2 推奨定格値・・・・[6]
•  2.2.1 定格抵抗値・・・・[6]
•  2.2.2 定格抵抗値の許容差・・・・[6]
•  2.2.3 定格電力・・・・[6]
•  2.2.4 素子最高電圧・・・・[7]
•  2.2.5 アイソレーション電圧・・・・[7]
•  2.2.6 絶縁抵抗・・・・[7]

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C 5260-2 : 2000

pdf 目次

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•  2.3 推奨する試験の厳しさ・・・・[7]
•  2.3.1 乾燥・・・・[7]
•  2.3.2 振動(正弦波)・・・・[7]
•  2.3.3 バンプ・・・・[8]
•  2.3.4 衝撃・・・・[8]
•  2.3.5 減圧・・・・[8]
•  2.3.6 温度変化・・・・[8]

                                     第3章 品質評価手順

•  3. 品質評価手順・・・・[8]
•  3.1 構造的に類似な可変抵抗器・・・・[8]
•  3.2 品質認証・・・・[8]
•  3.2.1 定数抜取手順に基づく品質認証・・・・[8]
•  3.2.2 試験・・・・[9]
•  3.3 品質確認検査・・・・[16]
•  3.3.1 検査ロットの構成・・・・[16]
•  3.3.2 試験計画・・・・[16]
•  3.3.3 評価水準・・・・[17]
•  3.4 長期保管後の出荷・・・・[17]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                         C 5260-2 : 2000

電子機器用可変抵抗器−第2部 : 品種別通則 : ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器

Potentiometers for use in electronic equipment−Part 2 : Sectional specification : Lead-screw actuated and rotary preset potentiometers

序文

 この規格は,1989年に第2版として発行されたIEC 60393-2, Potentiometers for use in electronic
equipment−Part 2 : Sectional specification : Lead-screw actuated and rotary preset potentiometersを元に,規格票
の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)であるが,技術的内容については,製品の現状に即して
変更している。
なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。また,IEC規格番号
は,1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり,これより前に発行された規格に
ついても,規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。これは,番号だけの切替えであり,内容は同一
である。
                                        第1章 一般事項

1. 一般事項

1.1 適用範囲

 この規格は,JIS C 5260-1を品目別通則とする品種別通則で,電子機器に使用する巻線及
び非巻線のねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器(以下,可変抵抗器という。)について規定する。これ
らの可変抵抗器は,調整を必要とする頻度が少なく微調整を目的とする回路に用いることを意図したもの
である。
    備考 対応国際規格を,次に示す。
          IEC 60393-2 : 1989, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 2 : Sectional specification : 
              Leads-crew actuated and rotary preset potentiometers

1.2 目的

 この規格の目的は,推奨定格及び推奨特性を規定し,JIS C 5260-1から適切な品質評価手順,
試験及び測定方法を選択し,この規格の可変抵抗器の一般的要求性能を規定することである。この規格に
基づく個別規格に規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格の要求性能と同等又はそれ以上の水準
とする。

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2
C 5260-2 : 2000

1.3 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格のうち,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格
の規定を構成するものであって,その後の改正版・Amendment・追補には適用しない。発効年又は発行年
を付記していない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 00100095 環境試験方法
      備考 IEC 60068, Basic environmental testing proceduresからのすべての引用事項は,この規格の該当
                事項と同等である。
    JIS C 0010 : 1993 環境試験方法−電気・電子−通則
      備考 IEC 60068-1 : 1978, Basic environmental testing procedures−Part 1 : Generalからのすべての引用
                事項は,この規格の該当事項と同等である。
             なお,JIS C 0010 : 1993は,IEC 60068-1 : 1988及びAmendment 1 : 1992と一致している。
    JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
      備考 IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors. Second edition並びに
                Amendment 1 : 1967及びAmendment 2 : 1977が,この規格と一致している。
    JIS C 5260-1 電子機器用可変抵抗器−第1部 : 品目別通則
      備考 IEC 60393-1 : 1989, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1 : Generic specification
                及びAmendment 1 : 1992からのすべての引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
             IEC QC 001001 : 1986, Basic rules of the IEC Quality assessment system for electronic components
                  (IECQ)   mendment 2 : 1994
             IEC QC 001002 : 1986, Rules of procedures of the IEC Quality assessment system for electronic
                  components (IECQ)
                  Amendment 2 : 1994

1.4 個別規格に規定する事項

 個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。
  個別規格は,JIS C 5260-1及びこの規格又はブランク個別規格の要求事項よりも緩い要求事項を規定し
てはならない。より厳しい要求事項を規定する場合は,その内容を個別規格の1.9(備考2.参照)に規定し,
例えば,アステリスク (*) を付けて試験計画の中に明示する。
  個別規格には,次の事項を規定し,それぞれの規定値をこの規格の該当する項目から選択する。
    備考1. この規格の1.4.1及び1.4.3に規定する事項は,一覧表で示してもよい。
         2. 原国際規格では1.8と記載されているが,1.9の誤りであり訂正した。

1.4.1 外形図及び寸法

 個別規格には,規定する可変抵抗器を図示する。検査に必要な詳細寸法を示すの
に紙面が不足する場合は,附属書を設けて,そこに図面及び寸法を示す。
  すべての寸法は,ミリメートルで示す。ただし,元の寸法がインチで示されている場合は,ミリメート
ルに換算した寸法を追記する。
  可変抵抗器がプリント配線板用として設計されていない場合には,このことを個別規格に明記する。

1.4.2 取付け

 個別規格には,耐電圧及び絶縁抵抗の試験に適用する取付方法,並びに振動及びバンプ又
は衝撃の試験に適用する取付方法を規定する。可変抵抗器は,通常の方法で取り付ける。可変抵抗器の設
計上特別な取付具を必要とする場合には,個別規格にその取付具を規定し,耐電圧及び絶縁抵抗の試験,
並びに振動及びバンプ又は衝撃の試験に使用する。試験中に寄生振動がないように取り付ける。

――――― [JIS C 5260-2 pdf 5] ―――――

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