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C 5260-2 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び総合格 要求性能
(備考1.参照) 又 (備考1.参照) 判定個数 (備考1.参照)
は (備考2.参照)
ND n c t
4.36 バンプ(又は4.37衝 取付方法 : 個別規格の規定による。
撃)(備考5.参照) ピーク加速度 : 400m/s2
(この規格の2.3.3参照)
パンプ回数 : 4 000
外観 4.36.3による。
素子抵抗値 (···%R+···圀
4.37 衝撃(又は4.36バン 取付方法 : 個別規格の規定による。
プ)(備考5.参照) パルス波形 : 正弦半波
ピーク加速度 : 500m/s2
(この規格の2.3.4参照)
作用時間 : 11ms
外観 4.37.3による。
素子抵抗値 (···%R+···圀
4.35 振動(正弦波) 取付方法 : 個別規格の規定による。
(備考6.参照) 掃引耐久試験
振動数範囲 : ···Hz···Hz
振幅 : 0.75mm又は加速度98m/s2(どちら
か緩い方)
総試験時間 : 6h
備考4.による。
試験中の測定
電気的連続性 100 譎 連続がな
(4.35.4を適用) い。
最終測定
外観 4.35.5による。
出力電圧比 Uab
愀
≦···%
素子抵抗値 U
(···%R+···圀
――――― [JIS C 5260-2 pdf 16] ―――――
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C 5260-2 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び総合格 要求性能
(備考1.参照) 又 (備考1.参照) 判定個数 (備考1.参照)
は (備考2.参照)
ND n c t
(3) すべての試料 13 1 2
4.38 一連耐候性
−高温(耐熱性) 外観 4.38.2.2による。
−温湿度サイクル
(12+12時間サイクル)
の最初のサイクル
−低温(耐寒性) 始動トルク ···mN・m···mN・m
−減圧 8kPa(この規格の2.3.5参照)
−温湿度サイクル 耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけに適用) 4.38.5.3による。
(12+12時間サイクル) (取付方法 : 備考9.による。)
の残りのサイクル
−直流負荷 備考7.による。
−アイソレーション電圧 備考7.による。 4.38.8による。
−最終測定 外観 4.38.10.1による。
素子抵抗値 圀
(···%R+···
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だけに適用) R≧100M 圀
(取付方法 : 備考9.による。)
連続性 4.5.1による。
始動トルク ···mN・m···mN・m
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけに適用) 4.38.10.7による。
(取付方法 : 備考9.による。)
群3 D 8 1
4.43.2 70℃での電気的耐久 試験時間 : 1 000h
性 − 端子aとcとの間に負荷 : 48h,500h
及び1 000hでの
検査 :
外観 4.43.2.6 a)による。
素子抵抗値 圀
(···%R+···
− 端子aとbとの間に負荷 : 48h,500h
及び1 000hでの
検査 :
外観 4.43.2.6 a)による。
端子aとbとの間の抵抗値 圀
(···%R+···
素子抵抗値 圀
(···%R+···
すべての試料
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だけに適 R≧1G 圀
用)(取付方法 : 備考9.による。)
しゅう動雑音
方法B, ··· R≦···圀
群4 ND 8 1
4.4.3 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
――――― [JIS C 5260-2 pdf 17] ―――――
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C 5260-2 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び総合格 要求性能
(備考1.参照) 又 (備考1.参照) 判定個数 (備考1.参照)
は (備考2.参照)
ND n c t
群5 D 1) 4.39.2.1 8 1
4.39 高温高湿 第1のグループ : 試料数2
(定常) 第2のグループ : 試料数3
第3のグループ : 試料数3
2) 4.39.2.2
第1のグループ : 試料数4
第2のグループ : 試料数4
直流負荷(備考7.による。)
アイソレーション電圧(備考7.に 4.39.4による。
よる。取付方法 : 備考9.による。)
最終測定
外観 4.39.6.1による。
素子抵抗値 圀
(···%R+···
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だけに適 R≧100M圀
用)(取付方法 : 備考9.による。)
連続性 4.5.1による。
始動トルク ···mN・m···mN・m
しゅう動雑音
方法B, ··· R≦···圀
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけに適用) 4.39.6.8による。
(取付方法 : 備考9.による。)
群6 D 試験時間 : 1 000h 8 1
4.43.3 カテゴリ上限温度で − 端子aとcとの間に負荷 : 48h,500h
の電気的耐久性 及び1 000hでの
検査 :
外観 4.43.3.7 a)による。
素子抵抗値 圀
(···%R+···
− 端子aとbとの間に負荷 : 48h,
500h及び1 000hでの
検査 :
外観 4.43.3.7 a)による。
端子aとbとの間の抵抗値 圀
(···%R+···
素子抵抗値 圀
(···%R+···
すべての試料
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だけに適 R≧1G圀
用)(取付方法 : 備考9.による。)
――――― [JIS C 5260-2 pdf 18] ―――――
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C 5260-2 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び総合格 要求性能
(備考1.参照) 又 (備考1.参照) 判定個数 (備考1.参照)
は (備考2.参照)
ND n c t
群7 D 8
(この群は,この規格の2.2.3に規定する 1
4.43 70℃以外の温度での ものと異なる軽減曲線を個別規格で規定
電気的耐久性(適用する場 する場合だけに適用する。)
合) 試験時間 : 1 000h
− 端子aとcとの間に負荷 : 48h,500h
及び1 000hでの
検査 :
外観 4.43.1.6 a)による。
素子抵抗値 圀
(···%R+···
− 端子aとbとの間に負荷 : 48h,500h (群3と同じ)
及び1 000hでの
検査 :
外観 4.43.1.6 a)による。
端子aとbとの間の抵抗値 圀
(···%R+···
(群3と同じ)
素子抵抗値 圀
(···%R+···
すべての試料
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だけに適用) R≧1G 圀
(取付方法 : 備考9.による。)
備考3. 連続性の試験は,有効電気的操作範囲の試験中に行ってもよい。
4. 試験方法は,半固定可変抵抗器についての要求事項を適用する。
5. バンプ試験及び衝撃試験は,どちらか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に規定する。
6. この試験は,耐候性カテゴリが25/-/-,40/-/-,55/-/-及び65/-/-の可変抵抗器に適用する。
7. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は,どちらか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規
格に規定する。
8. 群 “7” を適用する場合は,群 “0” の試料数を8個増やす。
9. 取付方法は,JIS C 5260-1の4.12(耐電圧)及び4.13(絶縁抵抗)の該当する方法によるほか,次による。
a) 本体で取り付けるように設計されている可変抵抗器は,JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されている可変抵抗器は,本体で取り付ける穴があっても,端子でプリント配
線板に取り付けて試験する。
参考 原国際規格では,出力電圧比 (Output ratio) が記載されていないが,記載漏れであり追加した。
3.3 品質確認検査
3.3.1 検査ロットの構成
検査ロットは,同一形状で構造的に類似な可変抵抗器(3.1参照)で構成し,
次による。
a) 群A及び群B : 製造された抵抗値を代表するものとする。
b) 群C :
1) 試料は,13週にわたって集める。
2) 試料は,期間中に製造した抵抗値範囲を代表するものとする。
c) 群D : 群Cと同じとする。ただし,試料は,検査対象期間の最後の13週から集める。
抜き取った試料は,高抵抗値,低抵抗値及び臨界抵抗値の釣り合いが十分にとれているものとする。
3.3.2 試験計画
品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は,ブ
ランク個別規格JIS C 5260-2-1及びJIS C 5260-2-2の第2章(検査の要求事項)の表IIに示す。
備考 1992年にIEC 60393-2-2(評価水準F)が制定されたため,JIS C 5260-2-2として追加した。
――――― [JIS C 5260-2 pdf 19] ―――――
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C 5260-2 : 2000
3.3.3 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,次の表IVA及び表IVBから選択することが
望ましい。
表IVA 評価水準とロットごとの品質確認検査
検査副群** D* E F*** G*
IL AQL IL AQL IL AQL IL AQL
% % % %
A1 II 4.0 S-3 4.0
A2 II 1.0 S-3 1.5
A3 S-2 4.0 S-3 2.5
A4 S-3 1.0
Bl S-2 1.5 S-2 1.5
B2 S-2 1.5
IL =検査水準
AQL=合格品質水準
表IVB 評価水準と定期的品質確認検査
検査副群** D* E F*** G*
p n c p n c p n c p n c
C1 3 8 1 3 5 1
C2 3 13 2 3 5 1
C3 3 8 1 6 8 1
C4 3 8 1
D1 12 8 1 12 5 1
D2 36 8 1 12 8 1
D3 36 8 1 12 5 1
D4A 24 4 1
D4B 24 4 1
D4 36 8 1 24 8 2
D5 24 5 1
p=周期(月)
n=試料数
c=合格判定個数
表IVA及び表IVBについての備考
*
評価水準D及びGは,検討中。
**
検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の第2章(検査の要求事項)に規定する。
*** 1992年にIEC 60393-2-2(評価水準F)が制定されたため,表IVA及び表IVBの評価水準Fに
追加した。
3.4 長期保管後の出荷
検査水準をS-2に緩めてJIS C 5260-1の3.5.2(長期保管後の出荷)の規定を適
用する。
関連規格 JIS C 5260-2-1 電子機器用可変抵抗器−第2部 : ブランク個別規格 : ねじ駆動形及び回転形半
固定可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-2-2 電子機器用可変抵抗器−第2部 : ブランク個別規格 : ねじ駆動形及び回転形半
固定可変抵抗器 評価水準F
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指
標型抜取検査方式
――――― [JIS C 5260-2 pdf 20] ―――――
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JIS C 5260-2:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-2:1989(MOD)
JIS C 5260-2:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-2:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則