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C 5260-2 : 2000
掃引耐久試験
総試験時間 : 6h
適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2参照)。
2.3.3 バンプ
JIS C 5260-1の4.36(バンプ)及び次の条件を適用する。
ピーク加速度 : 400m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて変更した。
バンプ回数 : 合計4 000
適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2参照)。
2.3.4 衝撃
JIS C 5260-1の4.37(衝撃)及び次の条件を適用する。
パルス波形 : 正弦半波
ピーク加速度 : 500m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0041に合わせて変更した。
作用時間 : 11 ms
厳しさ : 試料の一方向当たり3連続。各方向ごとに別の試料を用いる。
適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2参照)。
2.3.5 減圧
JIS C 5260-1の4.38.5(減圧)及び次の条件を適用する。
気圧 : 8kPa
備考 JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。
2.3.6 温度変化
JIS C 5260-1の4.34(温度変化)及び次の条件を適用する。
低温及び高温に放置する時間は,30分間とする。
第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順
3.1 構造的に類似な可変抵抗器
構造的に類似な可変抵抗器とは,抵抗値及び温度特性が異なっていて
も,同様な工程及び材料で製造され,同一の形状,構造であり,同一の操作軸及び取付ねじをもつ可変抵
抗器とする。
3.2 品質認証
品質認証試験の手順は,JIS C 5260-1の3.4(品質認証手順)による。
ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証試験の計画は,この規格の3.3による。
定数抜取数の試験計画を用いた手順は,次の3.2.1及び3.2.2による。
3.2.1 定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取りの手順は,JIS C 5260-1の3.4.2のb)による。試料は,
認証を得ようとする抵抗値範囲を代表できるものとする。これは,個別規格に規定している全範囲でなく
てもよい。
試料は,認証を得ようとする定格抵抗値の最高値及び最低値をもつ試料で構成する。臨界抵抗値が認証
を受けようとする範囲の中にある場合には,その試料も含める。二つ以上の抵抗温度係数の認証を受ける
場合には,別々の抵抗温度係数を代表する試料を含める。同様にして,認証を受けようとする最も狭い許
容差の各抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は,製造業者の管理責
任者が提案する。IECQの場合は,国内監督検査機関 (NSI) の承認を必要とする。
予備の試料は,次の場合に使用する。
a) 群 “O” で許容不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個,各抵抗温度係数又は温度特性ごとに1
――――― [JIS C 5260-2 pdf 11] ―――――
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C 5260-2 : 2000
個。
b) 製造業者の責任でない事故による不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個,各抵抗温度係数又
は温度特性ごとに1個。
品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には,追加した試験群に必要な試料数を群 “O” に
追加する。
3.2.2 試験
個別規格に規定する可変抵抗器の認証のために,表IIIに規定する一連の試験を必要とする。
各群の試験は,記載の順で行う。
全試料について,群 “0” の試験を行い,その後にその他の群に分割する。
群 “O” の試験での不良品は,その他の群に使用してはならない。
1個の可変抵抗器が一つの群のすべて又は一部を満足しなかった場合には,“1個の不良”として数える。
不良品が各群又は各副群ごとに規定の合格判定個数及び総合格判定個数を超えなければ認証される。
備考 表IIIに定数抜取りの試験計画を示す。これは,各試験群ごとの抜取方法,合格判定個数及び
総合格判定個数の個別規定を含み,また,JIS C 5260-1の表4章(試験及び測定方法)及びこ
の規格の第2章に規定する個々の試験とともに試験条件の全体及び要求性能を示す。
表IIIは,試験方法,試験条件及び/又は要求性能について個別規格に規定するための選択
内容を示す。
定数抜取りの試験計画のための試験条件及び要求性能は,品質確認検査について個別規格に
規定する内容と同一とする。
表III 品質認証の試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5260-1による。ただし,環境試験の“厳しさ”の一部
及び抵抗値変化又は出力電圧比変化の許容限界は,この規格の関連項目による。
2. この表で,
n=試料数
c=合格判定個数(群当たりの許容不良数)。群2では,(1),(2)及び(3)でそれぞれ1個の不良は許
容されるが,群合計では2個以内とする。
t=総合格判定個数(一つ又は幾つかの連結された群,例えば,群0,群1,群27に対する許容
不良数)
D=破壊試験
ND=非破壊試験
ab は,全印加電圧に対する百分率で表した出力電圧比の変化を表す。
U”
参考 表中の “ 愀
U
表中の “ は,抵抗値の変化量を表す。
表中の “%R” は,定格抵抗値に対する百分率を表す。
――――― [JIS C 5260-2 pdf 12] ―――――
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C 5260-2 : 2000
表III 品質認証の試験計画(続き)
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び総合格 要求性能
(備考1.参照) 又 (備考1.参照) 判定個数 (備考1.参照)
は (備考2.参照)
ND n c t
群0 ND 46+3 1 1
4.4.1 外観 (備考 4.4.1による。
8.参照) 表示が明りょうで,個別規
格の規定による。
4.6 素子抵抗値 4.6.3による。
4.4.2 寸法 個別規格の規定による。
(ゲージ法)
4.7 端子間抵抗値 端子aとbとの間の抵抗値 R≦···圀
(最小抵抗値) 端子bとcとの間の抵抗値 R≦···圀
4.4.4 全機械的操作範囲 − ねじ駆動形 全機械的操作範囲の70%以
有効操作サイクル数 上
− 回転形 個別規格の規定による。
4.6 有効電気的操作範囲 − ねじ駆動形 測定された全機械的操作範
囲の70%以上
− 回転形 個別規格の規定による。
4.5 連続性 備考3.による。 4.5.2による。
4.15 しゅう動雑音 方法B, ··· R≦···圀
4.12 耐電圧 (絶縁形可変抵抗器だけに適用) 4.12.5による。
(取付方法 : 備考9.による。)
大気圧下
――――― [JIS C 5260-2 pdf 13] ―――――
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C 5260-2 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び総合格 要求性能
(備考1.参照) 又 (備考1.参照) 判定個数 (備考1.参照)
は (備考2.参照)
ND n c t
群1 D 8 1 1
4.18 始動トルク 個別規格の規定による。
4.32 はんだ付け性 はんだ槽法 端子は,はんだが良好に付
温度 : 235℃±5℃ 着している。
浸せき時間 : 2s±0.5s
4.45 表示の耐溶剤性(適用 溶剤 : ··· 表示が明りょうである。
する場合) 溶剤の温度 : ···
方法1
ラビングの材質 : 脱脂綿
後処理 : ···
4.14 抵抗温度特性 カテゴリ下限温度/20℃ 刀一映─
20℃/70℃ 刀一映─
20℃/カテゴリ上限温度 刀一映─
4.21 操作軸固定トルク 出力電圧比 Uab
愀
≦···%
(適用する場合) 外観 U
4.21.2による。
備考 原国際規格では,
4.21.3と記載され
ているが,4.21.2
の誤りであり訂正
した。
4.20 回転止め強度 − 回転止めを備えた形式 : 4.20.1による。
4.20.1を適用
始動トルクの上限の5倍以上(個
別規格に規定がない場合)
−クラッチ空転機構を備えた形式 : 4.20.2による。
4.20.2を適用
4.22 操作軸の押し及び引 押しだけを適用し,引張りは適用しない。
張り − 半数の試料 : 4.22.2を適用 4.22.2による。
連続性
− 残りの試料 : 4.22.3を適用 Uab
愀
≦···%
出力電圧比(参考参照) U
4.40 機械的耐久性(可変抵 操作サイクル数 : 200
抗器) 操作速度 :
− 回転形 : 5サイクル/min10サイクル
/min
− ねじ駆動形 : ··· 4.40.6による。
外観
素子抵抗値 (···%R+···圀
始動トルク ···mN・m···mN・m
しゅう動雑音
方法B, ··· R≦···圀
――――― [JIS C 5260-2 pdf 14] ―――――
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C 5260-2 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び総合格 要求性能
(備考1.参照) 又 (備考1.参照) 判定個数 (備考1.参照)
は (備考2.参照)
ND n c t
群2 D 13 2
(1) 試料数7 7 1
4.30 端子強度 端子の形式に適応した試験を行う。
外観 4.30.8による。
素子抵抗値 (···%R+···圀
4.33 はんだ耐熱性 − プリント配線板用の可変抵抗器の場
合 : 方法1A
− その他の可変抵抗器の場合 : 方法1B
素子抵抗値 (···%R+···圀
端子間抵抗値 :
端子aとbとの間の抵抗値 R≦···圀
端子bとcとの間の抵抗値 R≦···圀
溶剤 : ··· 個別規格の規定による。
4.44 本体の耐溶剤性(適用 溶剤の温度 : ···
する場合) 方法2
後処理 : ···
温度 : 85℃90℃ 4.31.3による。
4.31 封止
(適用する場合)
(2) 試料数6 6 1
4.34 温度変化 備考4による。
TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
備考 記号 び びTBに
変更した。
外観 4.34.5による。
出力電圧比 Uab
U
愀
≦···%
素子抵抗値
(···%R+···圀
――――― [JIS C 5260-2 pdf 15] ―――――
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JIS C 5260-2:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-2:1989(MOD)
JIS C 5260-2:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-2:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則