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C 5260-3-1 : 2000
備考 JIS C 5260-3の2.2.3(定格電力)を参照。
1.4 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格のうちで,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の版だけがこの規格を
構成するものであって,その後の改正版・追補・Amendmentには適用しない。発効年又は発行年を付記し
ていない引用規格は,その最新版(追補・Amendmentを含む。)を適用する。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
備考 IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors並びにAmendment 1 : 1967
及びAmendment 2 : 1977が,この規格と一致している。
JIS C 5260-1 電子機器用可変抵抗器−第1部 : 品目別通則
備考 IEC 60393-1 : 1989, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1 : General specification
及びAmendment 1 : 1992からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5260-3 電子機器用可変抵抗器−第3部 : 品種別通則 : 回転形精密級可変抵抗器
備考 IEC 60393-3 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 3 : Sectional specification :
Rotary precision potentiometersからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
備考 IEC 60410 : 1973 Sampling plans and procedures for inspection by attributesからの引用事項は,こ
の規格の該当事項と同等である。
1.5 表示
可変抵抗器及び包装への表示は,JIS C 5260-3の1.5(表示)による。
備考 可変抵抗器及び包装への表示の詳細は,個別規格による。
1.6 発注時の情報
この規格を適用する可変抵抗器を発注する場合には,少なくとも次の事項を明確に
示すか,又は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値及びその許容差
b) 抵抗変化特性(直線形以外の場合)及び一致性
c) 個別規格の番号,発効年及び形状
d) 形状の情報で分からない場合には,操作軸及び取付ねじの寸法
1.7 出荷対象ロットの成績証明書
要求する,又は要求しない。
1.8 追加事
項(検査目的以外のもの) (個別規格には,内容をよく理解させるために回路図,軽減曲線,図面及び備考による情報を含めてもよい。)1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合だけに規定する。
第2章 検査要求事項
2. 検査及び要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証のための手順は,JIS C 5260-3の3.2(品質認証)による。
2.1.2 品質確認検査のための試験計画(表2)には,サンプリング,周期,厳しさ及び要求事項を規定す
る。検査ロットの構成は,JIS C 5260-3の3.3.1(検査ロットの構成)による。
品質確認検査では,承認された抵抗値範囲を代表するものを1年以内に検査する(群A,群B及び群C
――――― [JIS C 5260-3-1 pdf 6] ―――――
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C 5260-3-1 : 2000
だけ)。
備考 乾燥が要求される場合には,JIS C 5260-1の4.3(乾燥)の手順Iによる。
表2 品質確認検査のための試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5260-1による。ただし,環境試験の厳しさ及び抵抗値
又は出力電圧比の許容限界は,JIS C 5260-3の関連項目から選択する。
2. 検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015-1から選択する。
3. この表2で
Uab
参考 表中の Uac は,全印加電圧に対する百分率 (%) で表した出力電圧比の変化を表す。“ は抵
抗値の変化量を示す。“%R”は,定格抵抗値に対する百分率を示す。
表2 品質確認検査のための試験計画(続き)
項目番号及び試験 D 試験条件 IL AQL 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
群A検査(ロットごと)
副群A1 ND I 1.5%
4.6 素子抵抗値 4.6.3による。
副群A2 ND I 1.5%
4.4.1 外観 4.4.1による。
表示が明りょうで,この規格の
1.5による。
4.4.2 寸法(ゲージ法) 個別規格の規定による。
4.18 始動トルク 個別規格の規定による。
4.4.4 全機械的操作範囲 個別規格の規定による。
副群A3 ND S-2 4.0%
4.4.4 全機械的操作範囲 個別規格の規定による。
4.4.6 有効電気的操作範囲 有効電気的操作角度 最
無効操作角度(反時計方向)
無効操作角度(時計方向)
4.9 抵抗変化特性 (品種別通則の2.1.5から選択
した適切な試験方法及び性能
要求事項を個別規格に規定す
る。)
4.15 しゅう動雑音 方法B(巻線可変抵抗器だけに R≦...%R
適用)
...
4.29 出力平滑性 (非巻線抵抗器だけに適用) U≦...%Uac
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C 5260-3-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 IL AQL 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
4.12 耐電圧 (絶縁形可変抵抗器だけに適 4.12.5による。
用)
(取付方法は,この規格の1.1
及び備考11.による。)
大気圧下
副群A4 ND S-2 1.5%
4.32 はんだ付け性(適用する はんだ槽方式 端子は,はんだが良好に付着し
場合) 温度 : 235℃±5℃ ている。
時間 : 2s±0.5s
又は
方法2 : はんだこて法
はんだこて : サイズB
温度 : 350℃±10℃
時間 : 2s±0.5s
4.45 表示の耐溶剤性(適用す 溶剤 : ... 表示が,明りょうである。
る場合) 溶剤の温度 : ...
方法1
ラビング材質 : 脱脂綿
後処理 : ...
副群A5 ND S-2 2.5%
(この副群が適用されないような可変抵抗器の設計の場合は,個別規格ではこの副群は除く。)
4.23 操作軸の偏心(シャフト 半径方向の荷重 : ...N 全指示値 (l) : ≦...mm
ランアウト) 取付面からの操作軸の長さ
4.24 取付面の平たん度(ラテ (l) : ...mm
ラルランアウト) 半径方向の荷重 : ···N
操作軸方向の荷重 : ...N
4.25 取付ガイド円面の真円度 取付面の半径 (r) : ...mm 全指示値 (r) : ≦...mm
(スピゴットダイヤメータラ 半径方向の荷重 : ...N 全指示値 : ≦...mm
ンアウト)
4.26 操作軸の軸方向がた(シ A方向 全指示値 : ≦...mm
ャフトエンドプレイ) B方向 全指示値 : ≦...mm
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
副群B検査 : 適用しない
群C検査
(定期的)
副群C1 ND 3 5 0
4.20 回転止め強度 (全回転形可変抵抗器には適用
しない。)
外観 4.20.1による。
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C 5260-3-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
4.22 操作軸の押し及び引張 − 試料数3個
り(試験が副群A5で実施 4.22.2を適用
されている場合は適用しな 連続性 4.22.2による。
い) − 試料数2個
4.22.3を適用
Uab
出力電圧比 ≦...%
Uac
副群C2A D 3 2
副群C2の試料の一部
4.30 端子強度 端子の種類に適応した試験を行
う。
外観 4.30.8による。
素子抵抗値
(...%R+...
4.33はんだ耐熱性(適用する 試験Tb,方法1B
場合) 温度 : 350℃±10℃
時間 : 3.5s±0.5s
又は
方法2
はんだこて : サイズB
温度 : 350℃±10℃
時間 : 10s±1s
素子抵抗値 圀
(...%R+...
端子間抵抗値
端子aとbとの間の抵抗値 圀
R≦...
端子bとcとの間の抵抗値 圀
R≦...
適用する場合は,端子bと各 圀
R≦...
タップ端子間の抵抗値
4.4.4 本体の耐溶剤性 溶剤 : ...
(適用する場合) 溶剤の温度 : ...
方法2 個別規格に規定する
後処理 : ...
副群C2B D 3 3
副群C2の残りの部分
4.34 温度変化 備考5.による。
TA(1)=カテゴリ下限温度
TB(1)=カテゴリ上限温度
放置時間t1=30min
外観 4.34.5による。
Uab
出力電圧比(半固定可変抵抗器 ≦...%
Uac
だけに適用)
4.36 バンプ(又は4.37衝撃) 素子抵抗値 圀
(...%R+...
(備考6.参照) 取付方法 : この規格の1.1によ
る。
ピーク加速度 : 400 m/s2(2)
バンプ回数 : 4 000
外観 4.36.3による。
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C 5260-3-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
4.37 衝撃(又は4.36バンプ) 素子抵抗値 圀
(...%R+...
(備考6.参照) 取付方法 : この規格の1.1によ
る。
パルス波形 : 正弦半波
ピーク加速度 : ...m/s2
作用時間 : 11ms
外観 4.37.3による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
4.35 振動(正弦波) 取付方法 : この規格の1.1によ
(備考7.参照) る。
掃引耐久試験
振動数範囲 :
...Hz...Hz
振幅 : 0.75mm又は加速度
98m/s2(いずれかゆるい方を
適用)
総試験時間 : 6h
備考5.による。
試験中の測定
電気的連続性 100 譎 連続がない。
(4.35.4を適用)
最終測定
外観 4.35.5による。
Uab
出力電圧比(半固定可変抵抗 ≦...%
Uac
器だけに適用)
素子抵抗値 圀
(...%R+...
副群C2 D 3 5 1
副群C2A及びC2Bの全試
料
4.38 一連耐候性
− 高温(耐熱性) 外観 4.38.2.2による。
− 温湿度サイクル(12+12
時間サイクル)の最初の
サイクル
− 低温(耐寒性) 始動トルク ...mN・m...mN・m
− 減圧 8kPa(3) 4.38.5.3による。
(備考8.参照) 耐電圧(絶縁形可変抵抗器だ
けに適用)(取付方法は,こ
の規格の1.1及び備考11.
による。)
− 温湿度サイクル(12+12
時間サイクル)の残りの
サイクル
− 直流負荷 備考9.による。
――――― [JIS C 5260-3-1 pdf 10] ―――――
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JIS C 5260-3-1:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-3-1:1992(MOD)
JIS C 5260-3-1:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-3-1:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5260-3:2000
- 電子機器用可変抵抗器―第3部:品種別通則:回転形精密級可変抵抗器
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式