この規格ページの目次
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C 5260-3-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
− アイソレーション電圧最 備考9.による。 4.38.8による。
終測定 外観 4.38.10.1による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧100M 圀
だけに適用)(取付方法は,この
規格の1.1及び備考11. によ
る。)
連続性 適用する場合4.5.1及び4.5.2に
始動トルク よる。
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけ ...mN・m...mN・m
に適用)(取付方法は,この規 4.38.10.7による。
格の1.1及び備考11.による。)
副群C3 D 3 5 1
4.43.2 70℃での電気的耐久 試験時間 : 1 000h
性 − 試料数3個
端子aとcとの間に負荷
48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 4.43.2.6a)による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
− 試料数2個
端子aとbとの間に負荷
48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 4.43.2.6a)による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
− 全試料
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧1G 圀
だけに適用)(取付方法は,
この規格の1.1及び備考11.
による。)
しゅう動雑音 R≦...%R
方法B(巻線可変抵抗器だけに
適用),
...
出力平滑性(非巻線可変抵抗 U≦...%Uac
器だけに適用)
別規格に要求がある場合に
は,試験時間を8 000hまで
延長する。
2 000h,4 000h及び8 000hで
の検査 :
素子抵抗値 圀
(...%R+...
測定結果は情報としてだけ扱
う。
――――― [JIS C 5260-3-1 pdf 11] ―――――
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C 5260-3-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
副群C4 D 6 5 1
4.40 機械的耐久性 操作サイクル数 : ...
(備考4参照) 操作軸回転速度 : ...min−1
外観 40.6による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
端子間抵抗値(最小抵抗値)
端子aとbとの間の抵抗値 圀
R≦...
端子bとcとの間の抵抗値 圀
R≦...
適用する場合は,端子bと各 圀
R≦...
タップ端子間の抵抗値
絶縁抵抗値(絶縁形可変抵抗器 R≧1G 圀
だけに適用),(取付方法は,
この規格の1.1及び備考11.
による。)
始動トルク ...mN・m...mN・m
連続性 4.5.1による。
操作軸の押し及び引き(備考4.
による。)
A方向 全指示値 : ≦...mm
B方向 全指示値 : ≦...mm
操作軸の押し及び引き(備考4.
による。)
− 試料数3個
4.22.2連続性の規定による。 4.22.2による。
− 試料数2個
Uab
4.22.3出力電圧比の規定によ ≦...%
Uac
る。
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけ 4.40.6による。(備考8.参照)
に適用),(取付方法は,この
規格の1.1及び備考11. によ
る。)
しゅう動雑音 R≦...%
方法B(巻線可変抵抗器だけに
適用),
... U≦...%Uac
出力平滑性(非巻線可変抵抗器
だけに適用)
――――― [JIS C 5260-3-1 pdf 12] ―――――
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C 5260-3-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
群D検査
(定期的)
副群D1 D 12 5 1
4.39 高温高湿 1) 4.39.2.1
(定常) 第1のグループ : 試料数2個
第2のグループ : 試料数2個
第3のグループ : 試料数1個
2) 4.39.2.2
第1のグループ : 試料数3個
第2のグループ : 試料数2個
直流負荷(備考9.による。)
アイソレーション電圧 4.39.4による。
(備考9.による。)
(取付方法は,この規格の1.1
及び備考11.による。)
最終測定
外観 4.39.6.1による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧100M 圀
だけに適用)
(取付方法は,この規格の1.1
及び備考11.による。)
始動トルク ...mN・m...mN・m
しゅう動雑音
方法B(巻線可変抵抗器だけ R≦...%R
に適用),
...
出力平滑性(非巻線可変抵抗 U≦...%Uac
器だけに適用)
副群D2 ND 12 5 0
R
4.14 抵抗温度特性 カテゴリ下限温度/20℃ R ≦...%
(備考10.参照) R
20℃/70℃ R ≦...%
R
20℃/カテゴリ上限温度 R ≦...%
副群D3 D 12 5 1
4.28 ディザ(非巻線可変抵抗 サイクル数 : ...
器だけに適用) 接続時間 : ...h
外観 4.28.3による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
出力平滑性(非巻線可変抵抗器 U≦...%Uac
だけに適用)
――――― [JIS C 5260-3-1 pdf 13] ―――――
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C 5260-3-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
副群D4 D 36 5 1
4.43 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.43.3 カテゴリ上限温度で 試験時間 : 1 000h
の電気的耐久性 − 試料数3個
端子aとcとの間に負荷 :
48h,500h及び1000hでの検
査 :
外観 4.43.3.7a)による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
− 試料数2個
端子aとbとの間の負荷
48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 4.43.3.7a)による。
端子aとbとの間の抵抗値 圀
(...%R+...
素子抵抗値 圀
(...%R+...
− すべての試料
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧1G 圀
だけに適用)(取付方法は,
この規格の1.1及び備考11.
による。)
副群D5 D 36
(この副群は,この規格の2.2.3 5 1
4.4.3 70℃以外の温度での耐 に示した以外の軽減曲線を規定
久性(適用する場合) した場合だけに適用する。)
試験時間 : 1 000h
− 試料数3個
端子aとcとの間に負荷 :
48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 4.43.1.6a)による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
(副群C3と同じ)
− 試料数2個
端子aとbとの間の負荷
48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 4.43.1.6a)による。
端子aとbとの間の抵抗値 圀
(...%R+...
(副群C3と同じ)
素子抵抗値 圀
(...%R+...
− すべての試料
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧1G 圀
だけに適用)(取付方法は,
この規格の1.1及び備考11.
による。)
――――― [JIS C 5260-3-1 pdf 14] ―――――
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C 5260-3-1 : 2000
注(1) 原国際規格では,温度を表す記号として び いているが,JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0025に
合わせてTA及びTBに変更した。
(2) IS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて変更した。
注(3) IS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。
備考4. 副群A5が試験計画に含まれている場合は,操作軸の軸方向がた試験を,操作軸の押し及び引
張試験の代わりに実施する。
5. 適用できる場合は,半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。
6. バンプ試験及び衝撃試験は,いずれか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に
規定する。
7. この試験は,耐候性カテゴリが25/−/−,40/−/−,55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適
用する。
8. この試験は,JIS C 5260-1の4.38.5.1に規定した事項を追加して,65/−/−の可変抵抗器に適
用する。
――――― [JIS C 5260-3-1 pdf 15] ―――――
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JIS C 5260-3-1:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-3-1:1992(MOD)
JIS C 5260-3-1:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-3-1:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5260-3:2000
- 電子機器用可変抵抗器―第3部:品種別通則:回転形精密級可変抵抗器
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式