この規格ページの目次
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C 5260-4-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
4.4.6 有効電気的操作範囲 有効電気的回転角度 最
無効回転角度(反時計方向)
無効回転角度(時計方向)
4.9 抵抗変化特性 (直線的変化特性以外の場合
は,個別規格に適切な試験条
件及び要求性能を規定する。)
直線的変化特性
有効電気的操作範囲の割合 :
(50±1) %
出力電圧比
群D検査(定期的)
副群D1 D 12 5 1
4.39 高温高湿(定常) 1) 4.39.2.1
第1のグループ : 試料数1個
第2のグループ : 試料数2個
第3のグループ : 試料数2個
2) 4.39.2.2
第1のグループ : 試料数2個
第2のグループ : 試料数3個
直流負荷(備考7.参照)
アイソレーション電圧(備考7. 4.39.4による。
による。)(取付方法は,この
規格の1.1及び備考8.によ
る。)
最終測定
外観 4.39.6.1による。
素子抵抗値 圀
△R≦± (...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧100 M 圀
だけに適用)(取付方法は,こ
の規格の1.1及び備考8.によ
る。)
始動トルク ...mN・m...mN・m
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だ 4.39.6.8による。
けに適用)(取付方法は,この
規格の1.1及び備考8.によ
る。)
副群D2 D 12 5 1
――――― [JIS C 5260-4-1 pdf 11] ―――――
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C 5260-4-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
4.40 機械的耐久性 操作サイクル数 : 5 000
操作速度 : 5サイクル/min10
サイクル/min又はしゅう動
接点の操作範囲を最大
80mm/s
外観 4.40.6による。
素子抵抗値 圀
△R≦± (...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧1 G 圀
だけに適用)(取付方法は,備考
8.による。)
始動トルク ...mN・m...mN・m
連続性 適用する場合4.5.1及び4.5.2に
よる。
操作軸の押し及び引張り
− 試料数2個
4.22.2連続性を適用 4.22.2による。
− 試料数3個
4.22.3出力電圧比を適用 Uab
Uac
≦...%
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だ 4.40.6による。
けに適用)(取付方法は,備考
8.参照。)
副群D3 ND 36 5 1
4.4.3 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
注(1) 原国際規格では,4.21.3と記載されているが,4.21.2の誤りであり訂正した。
注(2) 原国際規格では,温度を表す記号として び いているが,JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0025に
合わせてTA及びTBに変更した。
(3) IS C 5260-1で引用しているJIS C 0041に合わせて改正した。
注(4) IS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて改正した。
備考4. 適用できる場合は,半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。
5. バンプ試験及び衝撃試験は,いずれか一方を選択する。個別規格には,いずれの試験を適用
するかを規定する。
6. この試験は,耐候性カテゴリが25/−/−,40/−/−,55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適
用する。
7. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は,いずれか一方を選択する。個別規格には,
いずれの試験を適用するかを規定する。
8. 取付方法は,JIS C 5260-1の4.12(耐電圧)及び4.13(絶縁抵抗)の該当する方法によるほ
か,次による。
a) 本体で取り付けるように設計されているものは,JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されているものは,本体で取付孔があっても,端子でプリン
――――― [JIS C 5260-4-1 pdf 12] ―――――
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C 5260-4-1 : 2000
ト配線板に取り付けて試験する。
9. JIS C 5260-1の4.43.1(室温での電気的耐久性)の試験は,可変抵抗器を次の方法で取り付け
る。
各供試品は,可変抵抗器の取付ねじ又は操作軸(適切な)に対してすきまのある中心取付
孔をもつ厚さ4 mmの鋼板に取り付ける。鋼板は,可変抵抗器の本体径の4倍又は300 mm
の正方形で,どちらか小さい方以下とする。
感温プローブは,試験中取付ねじ又は操作軸の取付孔(適切な)の上に直接置く。温度は,
試験中いかなる場合もカテゴリ上限温度を超えてはならない。
関連規格 JIS C 0029 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
JIS C 0041 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
JIS C 0042 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
――――― [JIS C 5260-4-1 pdf 13] ―――――
C5
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附属書(参考) JISと対応する国際規格との対比表
60-
4-1:
電子機器用可変抵抗器−第4部 : ブランク個別規格 : 単
JIS C 5260-4-1 : 2000 電子機器用可変抵抗器−第4部 : ブランク個別規格 : 単回転電力形可
IEC 60393-4-1 : 1992
200
回転電力形可変抵抗器 評価水準E 変抵抗器 評価水準E
0
対比項目(I) ISの規定内容 (V) ISと国際規格との整合が困
(II) 国際規格番号 (III) 国際規格の規定内 (IV) ISと国際規格との相違点
規定項目 容 難な理由及び今後の対策
(1)適用範囲 IEC 60393-4-1 JISと同等。 IDT
(2)一般事項 Eシリーズ及び/又は1,2,5 IEC 60393-4-1Eシリーズとする。 MOD IECの規定値以外に市場 理由 : 市場で多く使用されている。
1.3 定格抵抗値の推奨値 シリーズとする。 /追加で多く使用されている1,今後の対策 : 改正提案予定
2,5シリーズを追加。
1.4 引用規格 JIS Z 9015-1 IEC 60415 MOD JIS Z 9015-1 対応国際規格が引用しているIEC
/変更 60415の改正によって,JIS Z 9015
が廃止され新たに,JIS Z 9015-0
3が制定された。整合させるため内
容的に類似のJIS Z 9015-1を採用
した。
(3)検査要求事項 IEC 60393-4-1 理由 : IEC 60115-1及びIEC 60384-1
4.37 衝撃 ピーク加速度 : 500 m/s2 ピーク加速度 : 490 m/s2 MOD490 m/s2を500 m/s2にが改訂され,また引用しているJIS
/変更変更 も改正されており,整合させるた
4.38 一連耐候性 減圧下 : 8 kPa 減圧下 : 8.5 kPa MOD 8.5 kPaを8 kPaに変更め改正内容を採用した。
/変更 今後の対策 : 改正提案予定
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
− IDT 技術的差異がない。
− MOD/追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− MOD/変更 国際規格の規定内容を変更している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
− MOD 国際規格を修正している。
――――― [JIS C 5260-4-1 pdf 14] ―――――
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C 5260-4-1 : 2000
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 平 山 宏 之 東京都立科学技術大学名誉教授
(委員) 吉 田 裕 道 東京都立産業技術研究所
寺 岡 憲 吾 防衛庁装備局
藤 倉 秀 美 財団法人電気安全環境研究所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明 富士テクノサーベイ株式会社
橋 本 進 財団法人日本規格協会
窪 田 明 通商産業省
橋 爪 邦 隆 通商産業省
福 原 隆 沖電気工業株式会社
村 上 昭 次 株式会社ケンウッド
山 本 克 巳 ソニー株式会社
西 林 和 男 株式会社東芝
新 井 謙 一 日本電気株式会社
中 野 武 松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明 松下電器産業株式会社
伊 高 篤 己 三菱電機株式会社
中 村 之 大 株式会社緑測器
松 本 眞 弓 セイデンテクノ株式会社
三 宅 邦 彦 松尾電機株式会社
江 口 正 則 東京コスモス電機株式会社
高 木 祐 司 アルプス株式会社
秦 考 生 松下電子部品株式会社
石 井 勝 第一電子工業株式会社
山 本 圭 一 進工業株式会社
山 名 法 明 株式会社村田製作所
尾 村 博 幸 日本ケミコン株式会社
佐 藤 広 志 TDK株式会社
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美 社団法人日本電子機械工業会
――――― [JIS C 5260-4-1 pdf 15] ―――――
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JIS C 5260-4-1:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-4-1:1992(MOD)
JIS C 5260-4-1:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-4-1:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5260-4:2000
- 電子機器用可変抵抗器―第4部:品種別通則:単回転電力形可変抵抗器
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式