2021-05-10 / 2021-08-09JIS C 5381-321:2004 低圧サージ防護デバイス用アバランシブレークダウンダイオード（ＡＢＤ）の試験方法 | ページ 4この規格ページの目次JIS C 5381-321:2004の引用国際規格 ISO 一覧JIS C 5381-321:2004の国際規格 ICS 分類一覧JIS C 5381-321:2004の関連規格と引用規格一覧次のページJIS C 5381-321:2004の引用国際規格 ISO 一覧IEC 61643-321:2001(IDT)JIS C 5381-321:2004の国際規格 ICS 分類一覧31 : エレクトロニクス > 31.080 : 半導体装備 > 31.080.10 : ダイオードJIS C 5381-321:2004の関連規格と引用規格一覧規格番号規格名称< Prev JIS C 5381-312:2016 低圧サージ防護デバイNext > JIS C 5381-331:2006 低圧サージ防護デバイ