JIS C 5381-331:2006 低圧サージ防護デバイス用金属酸化物バリスタ（ＭＯＶ）の試験方法 | ページ 3

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                                                            C 5381-331 : 2006 (IEC 61643-331 : 2003)
                    附属書A(規定)JIS C 5381-1のMOV試験
A.1 概要 JIS C 5381-1に適合するサージ防護デバイス(SPD)は,定義されたインパルス試験を一つ以
上満足することである。これらの試験は,クラスI試験,クラスII試験及びクラスIII試験と呼ばれる。こ
れらの試験は,通常のMOVの単一及び複数インパルス定格とは異なっている。全試験の詳細は,JIS C
5381-1にすべて規定されている。この附属書は,JIS C 5381-1のサージ防護デバイス(SPD)で使用する
MOV試験の概要を示すものである。
A.2 MOVの選択 JIS C 5381-1におけるSPDインパルス定格は,単一のMOV若しくはMOVを直列,
並列又はそれらを組み合わせて接続することによって合わせることができる。組合せで使用されるMOV
は,最低限,電流,電圧又はその両方に対してJIS C 5381-1が要求するSPD定格の一部分で評価する必要
がある。その定格の一部分は,回路の組合せ,MOVの許容差及びエージングによって変動する。SPDは
20 ℃±15 ℃の周囲温度において試験をしてもよいが,MOVの試験温度を選択する場合,SPD内部の局
所耐候性(microclimate)を考慮して選択する。
  この規格は,JIS C 5381-1としてのクラス試験について同一用語及び記号を用いているが,MOVが組合
せの一部である場合,MOVの定格値は,特定のSPDの選ばれた定格の一部分となる。
A.2.1 クラスI試験の前処理及び動作責務サイクル試験
A.2.1.1 クラスI試験の前処理 定格交流電圧Ucを印加し,インパルスを5回印加する試験を1群(バー
スト)とし,3群で計15回印加する。インパルス印加の間隔時間は5060秒間,群(バースト)の間隔
時間は2530分間である。冷却を助けるために群と群との間に交流電圧は印加しない。
  最初の群の最初のインパルスは,位相角0     から始まる。
  残る14個のインパルスは,位相角を30    のステップ(すなわち30  ,60    ,90     ,120    などから60    まで
で増大させて印加する。
  印加したインパルスは,1.2           頭長及び50              7      準                               
波形8/20の公称放電電流Inが流れる。
A.2.1.2 クラスI試験の動作責務サイクル試験 この試験で用いるインパルス電流Iimpは,電流ピーク値
Ipeak及び10 msの間積分された電荷Qによって定義する。IpeakとQとの間の関係は,Q/ Ipeak =0.5 msである。
このインパルスは,0.5 ms間継続するIpeakのく(矩)形パルスによって実現することができる。一般的に,
ピーク電流値Ipeak及び10/350の波形のインパルスが用いられている。
  前処理に続いて,0.1 Ipeak,0.25 Ipeak,0.5 Ipeak,0.75 Ipeak及びIpeakのインパルスを印加する。それぞれのイ
ンパルス試験は次の順序で行う : 
− 最大連続使用電圧Ucを印加する。
− 交流の正のピーク電圧で正インパルスを印加する。
− 熱的安定性を確認する間の30分間最大連続使用電圧を印加し続ける。
− 最大連続使用電圧の印加をやめ,MOVを室温まで冷却する。
  判定基準は,5回のインパルスのすべてに対してMOVが熱的に安定していることである。

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C 5381-331 : 2006 (IEC 61643-331 : 2003)
A.2.2 クラスII試験の前処理及び動作責務サイクル試験
A.2.2.1 クラスII試験の前処理 クラスII試験の前処理は,クラスI試験の前処理と同じである(A.2.1.1
参照)。
A.2.2.2 クラスII試験の動作責務サイクル試験 この試験で用いるインパルスによってMOVには,波形
8/20の最大放電電流Imaxが流れる(Imax>In)。
  前処理に続いて,0.1 Imax,0.25 Imax,0.5 Imax,0.75 Imax及びImaxのインパルスを印加する。それぞれのイ
ンパルス試験は,次の順序で行う。
− 最大連続使用電圧Ucを印加する。
− 交流の正のピーク電圧で正インパルスを印加する。
− 熱的安定性を確認する間の30分間最大連続使用電圧を印加し続ける。
− 最大連続使用電圧の印加をやめ,MOVを室温まで冷却する。
  判定基準は,5回のインパルスのすべてに対してMOVが熱的に安定していることである。
A.2.2.3 クラス              の動作責務サイクル試験 用いるコンビネーションインパルス発生器は,波形
1.2/50でピーク電圧UOCの開放回路電圧を発生する。短絡回路では,波形8/20でピーク電流ISCの電流が
流れる。UOCとISCとの関係は,UOC / ISC = 2  地      する。この発生器は,前処理及び動作試験の両方で用
いる。
  クラス            の前処理は,要求されたUOC値に設定した(1.2/50,8/20)コンビネーション発生器を用い
るクラスI試験の前処理と同じである(A.2.1.1参照)。
  前処理に続いて,0.1 UOC,0.25 UOC,0.5 UOC,0.75 UOC及び1.0 UOCのインパルスを印加する。
  それぞれのインパルス試験は次の順序で行う : 
− 最大連続使用電圧Ucを印加する。
− 交流の正のピーク電圧で正インパルスを印加する。
− 前の正のピーク電圧に続いて,負の交流ピーク電圧で負インパルスを印加する。
− 熱的安定性を確認する間の30分間最大連続使用電圧を印加し続ける。
− 最大連続使用電圧の印加をやめ,MOVを室温まで冷却する。
  判定基準は,5回のインパルスのすべてに対してMOVが熱的に安定していることである。