JIS C 5402-10-4:2006 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１０－４部：インパクト試験（可動形部品），静的負荷試験（固定形部品），耐久試験及び過負荷試験―試験１０ｄ：電気的過負荷（コネクタ）

                                                           C 5402-10-4 : 2006 (IEC 60512-10-4 : 2003)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報
技術産業協会(JEITA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申出があり,日本工業標
準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 5402-10-4:2002は改正され,この規格に置き換えられる。
  改正に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-10-4:2003,Connectors for
electronic equipment ― Tests and measurements ― Part 10-4: Impact tests (free components), static load tests
(fixed components), endurance tests and overload tests ― Test 10d: Electrical overload (connectors)を基礎として
用いた。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402-10-4には,次に示す附属書がある。
    附属書A(参考)測定の基礎的検討事項及び過負荷電流のプロット
  JIS C 5402の規格群は,JIS C 5402-1-100  第1-100部 : 一般―試験一覧による。

(pdf 一覧ページ番号 1)

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C 5402-10-4 : 2006 (IEC 60512-10-4 : 2003)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲及び目的・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[2]
•  3. 試料の準備・・・・[2]
•  4. 試験方法・・・・[2]
•  5. 測定及び要求事項・・・・[2]
•  6. 個別規格に規定する事項・・・・[2]
•  附属書A(参考)測定の基礎的検討事項及び過負荷電流曲線の作成・・・・[4]

――――― [JIS C 5402-10-4 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 5402-10-4 : 2006
                                                                      (IEC 60512-10-4 : 2003)

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第10-4部 : インパクト試験(可動形部品),静的負荷試験(固定形部品),耐久試験及び過負荷試験―試験10d : 電気的過負荷(コネクタ)

Connectors for electronic equipment ― Tests and measurements ―Part 10-4: Impact tests (free components), static load tests(fixed components), endurance tests and overload tests ―Test 10d: Electrical overload (connectors)

序文

 この規格は,2003年に第2版として発行されたIEC 60512-10-4,Connectors for electronic equipment ―
Tests and measurements ― Part 10-4: Impact tests (free components), static load tests (fixed components),
endurance tests and overload tests ― Test 10d: Electrical overload (connectors)を翻訳し,技術的内容及び規格票
の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1. 適用範囲及び目的

 この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の結合した複数のコ
ンタクトに,100 msから20 sまでの規定する時間に過負荷電流が流れたときの能力を評価するための試験
方法について規定する。
  試験手順は,過負荷電流をコンタクトに流したときに規定する時間,温度上昇を測定する。
  時間の経過による温度上昇は,定格電流の整数倍とする過負荷電流に対して測定する。そして,過負荷
電流の経過時間対温度上昇の図表を作成する。
    備考1. 実際には,限られた時間内で接触部分に損傷がなく,コンタクトに最大許容電流の数倍の電
            流を流すことができる。
        2. この規格の対応国際規格を,次に示す。
              なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
            (修正している),NEQ(同等でない)とする。
            IEC 60512-10-4:2003,Connectors for electronic equipment −Tests and measurements − Part
                10-4: Impact tests (free components), static load tests (fixed components), endurance tests and
                overload tests − Test 10d: Electrical overload (connectors) (IDT)

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C 5402-10-4 : 2006 (IEC 60512-10-4 : 2003)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構
成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,その
最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部 : 一般試験−試験1a : 外観
        備考 IEC 60512-1-1:2002,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 1-1:
              General examination−Test 1a: Visual examinationが,この規格と一致している。
    JIS C 5402-2-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-1部 : 導通及び接触抵抗試験−試験2a : 接
        触抵抗−ミリボルトレベル法
        備考 IEC 60512-2-1:2002,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 2-1:
              Electrical continuity and contact resistance tests−Test 2a: Contact resistance−Millivolt level
              methodが,この規格と一致している。
    JIS C 5402-13-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第13-1部 : 機械的動作試験−試験13a : 結合
        力及び離脱力
        備考 IEC 60512-13-1:2002,Connectors for electronic equipment - Basic testing and measurements: Part
              13-1: Test 13a: Engaging and separating forcesが,この規格と一致している。
    IEC 60512-7:1993 Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and
        measuring methods−Part 7: Mechanical operating tests and sealing tests

3. 試料の準備

 コネクタは,コンタクトに対して最大サイズの電線で,かつ,個別規格に規定がない場
合には,コンタクト配列に適合する可能な限り最短長さの電線で配線する。
  コネクタ内の同じサイズのコンタクトを直列に配線する。
  3個以上の結合したコネクタを試験する。

4. 試験方法

 過負荷電流は,個別規格に規定する定格電流の整数倍とする。この過負荷電流は,一定時
間流し,温度が個別規格に規定する上限温度に到達した時点で,直ちにスイッチを切る。
  次のサイクルを実施する前に,試料は,室温に戻す。
  試験は,附属書A図A.1に示す温度対時間曲線を作成するために,異なる過負荷電流で繰り返し行う。
附属書A図A.2の曲線を作成するために,100 msから20 sまでの時間の範囲で5種類以上の異なった過負
荷電流対時間の値を選ばなければならない。
  3個以上の供試品を試験する。また,過負荷電流の曲線を作成するために,最も速い温度上昇率を示す
供試品を選定する。

5. 測定及び要求事項

 供試品は,個別規格に規定がない場合には,次の測定を行う。
− 接触抵抗 JIS C 5402-2-1
− 結合力及び離脱力 JIS C 5402-13-1又はIEC 60512-7
− 外観 JIS C 5402-1-1
  コンタクト表面及びハウジングの劣化の兆候又は個別規格に規定する事項に注意を払う。

――――― [JIS C 5402-10-4 pdf 4] ―――――

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                                                           C 5402-10-4 : 2006 (IEC 60512-10-4 : 2003)

6. 個別規格に規定する事項

 個別規格には,次の事項を規定する。
a) 試料及びコンタクト数
b) 使用する電線のタイプ及びサイズ
c) 温度の測定箇所及び測定方法(熱電対)
d) 上限温度
e) 試料の定格電流及び過負荷電流
f)  測定及び要求事項
g) この試験方法との相違

――――― [JIS C 5402-10-4 pdf 5] ―――――

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