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JIS C 5402-1-100:2014 規格概要
この規格 C5402-1-100は、電子機器用コネクタの試験規格群の構成について規定。
JISC5402-1-100 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C5402-1-100
- 規格名称
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-100部 : 一般―試験方法規格一覧
- 規格名称英語訳
- Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 1-100:General -- Applicable publications
- 制定年月日
- 2002年3月20日
- 最新改正日
- 2019年10月21日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- IEC 60512-1-100:2012(MOD)
- 国際規格分類
ICS
- 31.220.10
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
- 改訂:履歴
- 2002-03-20 制定日, 2005-12-20 改正日, 2010-10-01 確認日, 2014-06-20 改正日, 2019-10-21 確認
- ページ
- JIS C 5402-1-100:2014 PDF [9]
C 5402-1-100 : 2014
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1 適用範囲・・・・[1]
- 2 試験方法規格一覧・・・・[1]
- 附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[7]
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS C 5402-1-100 pdf 1] ―――――
C 5402-1-100 : 2014
まえがき
この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子
情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって,JIS C 5402-1-100:2005は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
JIS C 5402の規格群の部編成は,この規格による。
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS C 5402-1-100 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
C 5402-1-100 : 2014
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-100部 : 一般−試験方法規格一覧
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements- Part 1-100: General-Applicable publications
序文
この規格は,2012年に第3版として発行されたIEC 60512-1-100を基とし,理解を助成するための補足
及び表形式の編集をして作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。
1 適用範囲
この規格は,電子機器用コネクタの試験規格群の構成について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 60512-1-100:2012,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 1-100:
General−Applicable publications(MOD)
なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
ことを示す。
2 試験方法規格一覧
試験方法規格一覧は,表1による。
注記 表1において,“従来からのJIS”は,JIS C 5402の追補1によって,“新たに制定したJIS”に
順次置き換え,対応する“従来からのJIS”にそれぞれ優先して用いる。また,“新たに制定し
たJIS”を全て制定した後に,従来からのJIS C 5402は廃止する予定である。
表1−試験方法規格一覧
JIS
試験 IEC
従来からの 試験名称
新たなJIS 番号 規格番号
JIS及び箇条番号
− C 5402 − 電子機器用コネクタ試験方法 −
C 5402
− − 電子機器用コネクタ試験方法 −
追補1
C 5402-1 − − 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1部 : 一般 60512-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-100部 :
C 5402-1-100 − − 60512-1-100
一般−試験方法規格一覧
――――― [JIS C 5402-1-100 pdf 3] ―――――
2
C 5402-1-100 : 2014
表1−試験方法規格一覧(続き)
JIS
試験 IEC
従来からの 試験名称
新たなJIS 番号 規格番号
JIS及び箇条番号
第1部 : 一般試験(検査)
C 5402-1-1 C 5402の4.1 1a 外観 60512-1-1
C 5402-1-2 C 5402の4.2 1b 寸法及び質量 60512-1-2
C 5402-1-3 − 1c 電気的接触長 60512-1-3
C 5402-1-4 − 1d コンタクトの保護効果(スクーププルーフ) 60512-1-4
第2部 : 導通及び接触抵抗試験
C 5402-2-1 C 5402の5.4 2a 接触抵抗−ミリボルトレベル法 60512-2-1
C 5402-2-2 C 5402の5.3 2b 接触抵抗−規定電流法 60512-2-2
C 5402-2-3 C 5402の5.7 2c 接触抵抗の変動 60512-2-3
− − 2d (空き) −
C 5402-2-5 C 5402の5.5 2e コンタクトディスターバンス 60512-2-5
C 5402-2-6 C 5402の5.8 2f ハウジング(シェル)の導通性 60512-2-6
− − 2g (空き) −
第3部 : 絶縁試験
C 5402-3-1 C 5402の5.2 3a 絶縁抵抗 60512-3-1
第4部 : 電圧ストレス試験
C 5402-4-1 C 5402の5.1 4a 耐電圧 60512-4-1
C 5402-4-2 C 5402の5.9 4b 部分放電 60512-4-2
C 5402-4-3 − 4c 耐電圧(絶縁被覆付クリンプバレル) 60512-4-3
第5部 : 電流容量試験
C 5402-5-1 C 5402の5.10 5a 温度上昇 60512-5-1
C 5402-5-2 C 5402の5.13 5b 電流・温度の軽減 60512-5-2
第6部 : 動的ストレス試験
C 5402-6-1 − 6a 加速度(定常) 60512-6-1
C 5402-6-2 C 5402の6.32 6b バンプ 60512-6-2
C 5402-6-3 C 5402の6.2 6c 衝撃 60512-6-3
C 5402-6-4 C 5402の6.1 6d 正弦波振動 60512-6-4
− − 6e ランダム振動 60512-6-5
第7部 : 衝撃試験(可動形コネクタ)
C 5402-7-1 c) 5402の6.10 7a 自由落下(繰返し) 60512-7-1
− − 7b 機械的強度衝撃 60512-7-2
第8部 : 静的な力試験(固定形コネクタ)
C 5402-8-1 c) 5402の6.14 8a 静的な力,水平方向 60512-8-1
− − 8b 静的な力,軸方向 60512-8-2
C 5402-8-3 c) 5402の6.13 8c 操作レバーの強度 60512-8-3
第9部 : 耐久性試験
C 5402-9-1 c) 5402の6.3 9a 機械的動作 60512-9-1
− − 9b 電気的負荷及び温度 60512-9-2
− − 9c 電気的負荷を伴う機械的動作 60512-9-3
コンタクト保持機構及びシールの耐久性(メンテナ
− − 9d 60512-9-4
ンス,エージング)
− − 9e 電流負荷サイクル 60512-9-5
――――― [JIS C 5402-1-100 pdf 4] ―――――
3
C 5402-1-100 : 2014
表1−試験方法規格一覧(続き)
JIS
試験 IEC
従来からの 試験名称
新たなJIS 番号 規格番号
JIS及び箇条番号
第10部 : 過負荷試験
− − 10a 廃止 −
− − 10b 廃止 −
− − 10c (空き) −
C 5402-10-4 C 5402の5.11 10d 電気的過負荷(コネクタ) 60512-10-4
第11部 : 耐候性試験
C 5402-11-1 C 5402の7.10 11a 一連耐候性 60512-11-1
C 5402-11-2 − 11b 低温・減圧・湿度複合シーケンス 60512-11-2
C 5402-11-3 C 5402の7.3 11c 高温高湿(定常) 60512-11-3
C 5402-11-4 C 5402の7.2 11d 温度急変 60512-11-4
C 5402-11-5 − 11e かびの成長 60512-11-5
C 5402-11-6 C 5402の7.1 11f 腐食,塩水噴霧 60512-11-6
C 5402-11-7 − 11g 混合ガス流腐食 60512-11-7
C 5402-11-8 − 11h 砂じん 60512-11-8
C 5402-11-9 C 5402の7.8 11i 高温 60512-11-9
C 5402-11-10 C 5402の7.9 11j 低温 60512-11-10
C 5402-11-11 C 5402の7.7 11k 減圧 60512-11-11
− − 11l (使用禁止) −
C 5402-11-12 C 5402の7.4 11m 温湿度サイクル 60512-11-12
C 5402-11-13 − 11n ガスタイト・無はんだラッピング接続 60512-11-13
− − 11o (使用禁止) −
C 5402-11-14 − 11p 単一ガス流腐食 60512-11-14
第12部 : はんだ付け試験
はんだ付け性,はんだぬれ性(ウェッティング),
C 5402-12-1 c) 5402の7.11 12a 60512-12-1
はんだ槽法
はんだ付け性,はんだぬれ性(ウェッティング),
C 5402-12-2 c) 5402の7.11 12b 60512-12-2
はんだごて法
はんだ付け性,はんだはじき(ディウェッティン
− − 12c 60512-12-3
グ)
C 5402-12-4 c) 5402の7.12 12d はんだ耐熱性,はんだ槽法 60512-12-4
C 5402-12-5 c) 5402の7.12 12e はんだ耐熱性,はんだごて法 60512-12-5
自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に
C 5402-12-6 − 12f 60512-12-6
対する封止
C 5402-12-7 − 12g はんだ付け性,平衡法 60512-12-7
第13部 : 機械的動作試験
C 5402-13-1 C 5402の6.12 13a 結合力及び離脱力 60512-13-1
C 5402-13-2 C 5402の6.6 13b 挿入力及び引抜力 60512-13-2
− − 13c 廃止 −
− − 13d 廃止 −
C 5402-13-5 C 5402の6.11 13e 極性及びキーイング 60512-13-5
――――― [JIS C 5402-1-100 pdf 5] ―――――
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JIS C 5402-1-100:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60512-1-100:2012(MOD)
JIS C 5402-1-100:2014の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ