JIS C 5402-11-3:2005 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－３部：耐候性試験―試験１１ｃ：高温高湿（定常）

                                                           C 5402-11-3 : 2004 (IEC 60512-11-3 : 2002)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,
工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経
済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-11-3:2002,Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-3: Climatic tests - Test 11c: Damp heat, steady stateを基礎
として用いた。
  この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402の規格群は,JIS C 5402-1-100 : 試験一覧による。

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 5402-11-3 pdf 1] ―――――

C 5402-11-3 : 2004 (IEC 60512-11-3 : 2002)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 準備・・・・[2]
•  3.1 試料の準備・・・・[2]
•  3.2 試料の配線・・・・[2]
•  3.3 前処理・・・・[2]
•  4. 試験方法・・・・[2]
•  4.1 供試条件・・・・[2]
•  4.2 極性電圧・・・・[2]
•  5. 測定・・・・[2]
•  5.1 初期測定・・・・[2]
•  5.2 試験期間中の測定・・・・[2]
•  5.3 最終測定・・・・[2]
•  6. 個別規格に規定する事項・・・・[3]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 5402-11-3 pdf 2] ―――――

                                                                                JIS C 0068 : 1995
                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 5402-11-3 : 2004
                                                                      (IEC 60512-11-3 : 2002)

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-3部 : 耐候性試験―試験11c : 高温高湿(定常)

Connectors for electronic equipment -Tests and measurements - Part 11-3: Climatic tests -Test 11c: Damp heat, steady state

序文

 この規格は,2002年に第1版として発行されたIEC 60512-11-3,Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 11-3: Climatic tests - Test 11c: Damp heat, steady stateを翻訳し,技術的内容及び
規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格では点線の下線を施してある参考は,原国際規格にはない事項である。

1. 適用範囲

 この規格は,高い相対湿度条件下において,規定の方法により保存及び/又は機能する電
子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の能力を評価するための試験方法について規定する。この試
験方法は,類似の部品に用いてもよい。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 60512-11-3:2002,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-3:
              Climatic tests - Test 11c: Damp heat, steady state (IDT)

2. 引用規格

 次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構
成する。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定
を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,
その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 0022 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
        備考 IEC 60068-2-3:1969,Environmental Testing - Part 2: Tests - Test Ca: Damp heat steady stateがこ
              の規格と一致している。
    JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部 : 一般試験−試験1a : 外観
        備考 IEC 60512-1-1:2002,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1:
              General examination - Test 1a: Visual examinationがこの規格と一致している。
    JIS C 5402-2-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-1部 : 導通及び接触抵抗試験−試験2a : 接
        触抵抗−ミリボルトレベル法

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS C 5402-11-3 pdf 3] ―――――

C 5402-11-3 : 2004 (IEC 60512-11-3 : 2002)
        備考 IEC 60512-2-1:2002,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-1:
              Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2a: Contact resistance - Millivolt level
              methodがこの規格と一致している。
    JIS C 5402-3-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第3-1部 : 絶縁試験−試験3a : 絶縁抵抗
        備考 IEC 60512-3-1: 2003,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1:
              Insulation tests - Test 3a: Insulation resistanceがこの規格と一致している。
    IEC 60512-4-1:2003 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-1: Voltage stress
        tests−Test 4a: Voltage proofがこの規格と一致している。
    IEC 60512-7:1993 Electromechanical components for electronic equipment; basic testing procedures and
        measuring methods - Part 7: Mechanical operating tests and sealing tests

3. 準備

3.1 試料の準備

 標準のアクセサリを備えた試料を,個別規格の規定によって取り付ける。
  個別規格で要求する場合には,試験の前に試料を規定回数,挿入及び引抜きをする。
  各試験を行うに当たって個別規格には,コネクタの条件(例えば,結合又は非結合)を規定する。

3.2 試料の配線

 試料は,個別規格の規定によって配線する。
  極性電圧を印加する試料は互い違いのターミネーション同士を接続し,二つのグループを形成するよう
に配線する。

3.3 前処理

 前処理は,個別規格に規定がない場合には,少なくとも1時間行う。
    参考 前処理の内容は,JIS C 5401-1 電子機器用コネクタ−第1部 : 品目別通則−能力認証 4.1.2前
          処理の規定による。

4. 試験方法

4.1 供試条件

 この試験は,個別規格に規定する厳しさを用い,JIS C 0022 に従って行う。

4.2 極性電圧

 個別規格で規定する場合には,試験期間中,二つの試料に極性電圧を印加する。試料No.1
では,第1グループのターミネーションとハウジング(シェル)及び/又は取付け板に接続した第2グル
ープのターミネーションとの間に極性電圧を印加する。試料No.2では,第2グループのターミネーション
とハウジング(シェル)及び/又は取付け板に接続した第1グループのターミネーションとの間に極性電
圧を印加する。

5. 測定

5.1 初期測定

 初期測定は,個別規格の規定による。

5.2 試験期間中の測定

 個別規格が要求する場合にはこの試験の終了時,試料が個別規格で規定する高
湿度状態にある間に次の試験を行う。
−絶縁抵抗 JIS C 5402-3-1,試験 3a

5.3 最終測定

 試料は,個別規格に規定がない場合には次の試験を行い,個別規格に規定する要求条件
を満足しなければならない。
−絶縁抵抗 : JIS C 5402-3-1,試験 3a(後処理の直後)
−耐電圧 : IEC 60512-4-1,試験4a(後処理の直後)
−接触抵抗−ミリボルトレベル法 : JIS C 5402-2-1,試験 2a

(pdf 一覧ページ番号 4)

――――― [JIS C 5402-11-3 pdf 4] ―――――

−挿入力及び引抜力 : IEC 60512-7,試験 13b
−外観 : JIS C 5402-1-1,試験 1a

6. 個別規格に規定する事項

 個別規格には,次の事項を規定する。
a) 試料の取付方法及び配線方法
b) 供試条件の厳しさ(日数)
c) 極性電圧値(適用する場合)
d) 測定に対する要求事項
e) この試験方法との相違