JIS C 5402-11-5:2005 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－５部：耐候性試験―試験１１ｅ：かびの成長

                                                           C 5402-11-5 : 2004 (IEC 60512-11-5 : 2002)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,
工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経
済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-11-5:2002,Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-5: Climatic tests - Test 11e: Mould growthを基礎として用
いた。
  この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402の規格群は,JIS C 5402-1-100 : 試験一覧による。

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――――― [JIS C 5402-11-5 pdf 1] ―――――

C 5402-11-5 : 2004 (IEC 60512-11-5 : 2002)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 準備・・・・[2]
•  3.1 試料の準備・・・・[2]
•  3.2 試料の配線・・・・[2]
•  3.3 前処理・・・・[2]
•  4. 試験方法・・・・[2]
•  4.1 供試条件・・・・[2]
•  5. 測定・・・・[2]
•  5.1 初期測定・・・・[2]
•  5.2 最終測定・・・・[2]
•  6. 個別規格に規定する事項・・・・[2]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 5402-11-5 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 5402-11-5 : 2004
                                                                      (IEC 60512-11-5 : 2002)

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-5部 : 耐候性試験―試験11e : かびの成長

Connectors for electronic equipment -Tests and measurements - Part 11-5: Climatic tests -Test 11e: Mould growth

序文

 この規格は,2002年に第1版として発行されたIEC 60512-11-5,Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 11-5: Climatic tests - Test 11e: Mould growthを翻訳し,技術的内容及び規格票の
様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考は,原国際規格にはない事項である。

1. 適用範囲

 この規格は、かびの繁殖を受けた電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の機能に
ついて,かびの成長の影響及びその範囲を評価するための試験方法について規定する。この試験方法は,
類似の部品に用いてもよい。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 60512-11-5:2002,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 11-5:
              Climatic tests - Test 11e: Mould growth (IDT)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構
成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,その
最新版(追補を含む。)を適用する。
    IEC 60068-2-10:1988 Environmental testing - Part 2: Tests - Test J and guidance: Mould growth
    JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部 : 一般試験−試験1a : 外観
        備考 IEC 60512-1-1:2002,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-1:
              General examination - Test 1a: Visual examinationが,この規格と一致している。
    JIS C 5402-3-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第3-1部 : 絶縁試験−試験3a : 絶縁抵抗
        備考 IEC 60512-3-1:2002,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1:
              Insulation tests - Test 3a: Insulation resistance が,この規格と一致している。

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C 5402-11-5 : 2004 (IEC 60512-11-5 : 2002)

3. 準備

3.1 試料の準備

 標準のアクセサリを備えた試料を,個別規格の規定によって取り付ける。
  個別規格で要求する場合には,試料を試験前に規定回数,挿入及び引抜きをする。
  各試験を行うに当たって,個別規格にはコネクタの条件(例えば,結合又は非結合)を規定する。

3.2 試料の配線

 試料は,個別規格の規定によって配線する。

3.3 前処理

 前処理は,個別規格に規定がない場合には少なくとも1時間は行う。
    参考 前処理の内容は,JIS C 5401-1 電子機器用コネクタ−第1部 : 品目別通則−能力認証 4.1.2前
          処理の規定による。

4. 試験方法

4.1 供試条件

 この試験は,IEC 60068-2-10に従って行う。
  暴露時間は,個別規格に規定する。

5. 測定

5.1 初期測定

−絶縁抵抗 : JIS C 5402-3-1,試験3a

5.2 最終測定

 試料は,個別規格に規定がない場合には次の試験を行い,個別規格で規定する要求事項
を満足しなければならない。
−絶縁抵抗 : JIS C 5402-3-1,試験3a
−外観 : JIS C 5402-1-1,試験1a

6. 個別規格に規定する事項

 個別規格には,次の事項を規定する。
a) 試料の取付方法及び配線方法
b) 暴露時間
c) 測定に対する要求事項
d) この試験方法との相違

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