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C 5402-12-1 : 2016
C5
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附属書JA
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(参考)
2-
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JISと対応国際規格との対比表
-1 : 2016
IEC 60512-12-1:2006,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
JIS C 5402-12-1:2016 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第12-1部 : はんだ
付け試験−試験12a : はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだ槽法Part 12-1: Soldering tests−Test 12a: Solderability, wetting, solder bath method
(I) JISの規定 (II)国際 (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
規格番号 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 番号 の評価
3 準備 3.0 一般事項の細 3 JISとほぼ同じ。 追加 箇条3の内容を細分箇条を新設し ぶら下がり段落を防止するため,
分箇条の新設 てまとめた。 細分箇条の一般を新設した。
変更 JIS C 60068-2-20:2010に整合し,引
鉛フリーはんだに対応するため,
用規格の箇条番号を変更した。 最新版のJISを採用したことから
はんだの種類の追加によって記載 変更した。
を変更した。
変更 JIS C 5402-12-2と合わせて引用先
JIS C 60068-2-20の改正による引用
先箇条の変更だけで内容の変更は を附属書から,より具体的記載の
ない。 ある本文4.2.2に変更した。
3.1 試料の準備 3.1 JISとほぼ同じ。 変更 3.0と同じ。 3.0と同じ。
3.2 前処理条件 3.2 JISとほぼ同じ。 変更 3.0と同じ。 3.0と同じ。
変更 3.0と同じ。 3.0と同じ。
――――― [JIS C 5402-12-1 pdf 6] ―――――
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C 5402-12-1 : 2016
(I) JISの規定 (II)国際 (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
規格番号 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 番号 の評価
4 方法 4.1 手順 4.1 JISとほぼ同じ。 変更 3.0と同じ。 3.0と同じ。
変更 3.0と同じ。
はんだの種類が追加され,温度及び
時間が増え,それぞれの条件を文章
で記載するよりも表で示す方が簡
潔であるため表1を追加した。
追加 鉛入りはんだを適用する場合につ 3.0と同じ。
いて,ただし書きを追加した。
4.2.2 最終測定 4.2.2 JISとほぼ同じ。 追加 範囲の定義を明確化した。
規定内容及び文脈から“95 %”に“以
上”を追加した。
追加 次回のIEC規格の見直しのとき,
JIS C 5402-1-1において,拡大鏡の
倍率はコネクタの大きさを考慮し この修正を提案する。
て,個別規格に規定することとなっ
ているため,注記を追加した。
5 個別規格に規定す 5 JISとほぼ同じ。 追加 はんだの種類を追加した。 3.0と同じ。
る事項
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60512-12-1:2006,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD 国際規格を修正している。
C5 402-
12-1 : 2016
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JIS C 5402-12-1:2016の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60512-12-1:2006(MOD)
JIS C 5402-12-1:2016の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ
JIS C 5402-12-1:2016の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5402-1-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-1部:一般試験―試験1a:外観