JIS C 5402-14-2:2016 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１４－２部：封止（気密性）試験―試験１４ｂ：封止（気密性）―微小エアリーク

                                                           C 5402-14-2 : 2016 (IEC 60512-14-2 : 2006)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 準備・・・・[2]
•  4.1 試料の準備・・・・[2]
•  4.2 装置・・・・[2]
•  4.3 潤滑剤又は封止材・・・・[2]
•  4.4 取付け及び器具類・・・・[2]
•  5 試験方法・・・・[3]
•  5.1 手順・・・・[3]
•  5.2 測定・・・・[3]
•  6 個別規格に規定する事項・・・・[3]
•  7 文書・・・・[3]

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C 5402-14-2 : 2016 (IEC 60512-14-2 : 2006)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402規格群の部編成は,JIS C 5402-1-100(第1-100部 : 一般−試験方法規格一覧)による。

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 5402-14-2 : 2016
                                                                      (IEC 60512-14-2 : 2006)

電子機器用コネクタ−試験及び測定−第14-2部 : 封止(気密性)試験−試験14b : 封止(気密性)−微小エアリーク

Connectors for electronic equipment-Tests and measurements- Part 14-2: Sealing tests-Test 14b: Sealing-Fine air leakage

序文

  この規格は,2006年に第1版として発行されたIEC 60512-14-2を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)に適用する。個別規格に規定がある場合に
は,類似の部品にも用いてよい。
  この規格は,ガスの圧力差に対する封止(seal)の有効性を評価するための標準の試験方法について規
定する。
    注記1 この試験は,二つの試験槽を使用して実施してもよい。これは,トレーサガスの検出及び低
            い大気圧(例えば,山岳地帯)での試験を容易にする。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 60512-14-2:2006,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 14-2:
                Sealing tests−Test 14b: Sealing−Fine air leakage(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部 : 一般試験−試験1a : 外観
      注記 対応国際規格 : IEC 60512-1-1,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
             Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination(IDT)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

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2
C 5402-14-2 : 2016 (IEC 60512-14-2 : 2006)
3.1
ガス(gas)
  空気を含んだ混合ガスを含む,一般的な意味で用いる気体。ガス及びコネクタで構成する物質間での,
腐食性,又は同様な化学的若しくは物理的反応の評価は,意図していない。
3.2
リーク率(leakage rate)
  ある温度における気体が単位時間当たりに漏れる量(Pa・cm3/s)。

4 準備

4.1 試料の準備

  試料は,個別規格に規定するターミネーションをもつコネクタとする。この試験を実施するために,コ
ネクタの加工を必要とする場合がある。その場合,いずれの加工も試験の妥当性に影響を与えていないこ
とが必要であり,加工した内容を試験報告書に記載する。
    注記 この加工は,コネクタの構造によっては,元の状態に戻せない加工となる場合がある。

4.2 装置

  この試験の実施には,高真空に耐える能力がある試験槽及び高真空を得られる真空ポンプを必要とする。
試験は,上記の性能を満たした装置を用いる。

4.3 潤滑剤又は封止材

  個別規格で要求する場合,規定する潤滑剤又は封止材を個別規格に規定する方法で適用する。潤滑剤又
は封止材には,使用するトレーサガスに適合しない物質が含まれていないか注意する。

4.4 取付け及び器具類

4.4.1  取付け
  試料は,供試封止機構(sealing system)の前面(低圧側の槽)及び後面(高圧側の槽)の圧力差が100 kPa
±5 kPaになるまで,排気が可能な試験槽の一部を構成する隔壁板に取り付ける。高圧側の槽は,トレーサ
ガスの濃度を制御できるように封止機構の後面を覆う(図0A参照)。その他の方法としては,同様な圧力
差を得るために,高圧試験槽を加圧してもよい。また,同様な圧力差の効果を得るために,加圧と真空と
の組合せを用いてもよい。
  個別規格は,高真空試験を要求する場合がある。この場合は,低圧側に高真空が必要となる。
                     a  試料
                     b  試験槽
                     c  隔壁板
                     d  低圧側の槽
                     e  高圧側の槽
                     f  トレーサガス
                     g  リーク検出器
                                     図0A−試料の取付け例

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4.4.2  器具類
  リーク検出器,例えば,質量分析器は,システムの低圧(真空)側に接続する。4.4.1に規定する試験槽
の圧力を記録する装置を準備する。

5 試験方法

5.1 手順

  トレーサガス(例えば,純粋ヘリウムガス若しくは質量分率10 %のヘリウムガス,又は純粋アルゴンガ
ス若しくは質量分率10 %のアルゴンガス)を高圧側試験槽に注入する。試料からのリークを,リーク検出
器によって検出する(4.4.2参照)。
  個別規格に規定がない場合,試験は室温で実施する。
    注記1 この方法は,圧力差100 kPaでリーク率が1 Pa・cm3/s未満のコネクタに適している。
    注記2 0.01 Pa・cm3/s未満のリーク率は,試料が試験前に超音波又はその他の方法で洗浄されていな
            い場合,試験は無効とする。

5.2 測定

5.2.1  初期測定
  試料は,JIS C 5402-1-1の規定によって外観検査を行う。試験の妥当性を損なうような不適合があって
はならない。
5.2.2  試験測定及び要求事項
  リーク率は,個別規格に規定する値以下とする。
    注記 個別規格において,“リークがないこと。”を要求する場合,使用する装置の検出限界の意味で
          あると判断することが望ましい。この場合,試験報告書には,その試験装置の適切な詳細を記
          載することが望ましい(箇条7参照)。
5.2.3  最終測定
  試料は,JIS C 5402-1-1の規定によって,10倍の拡大鏡を用いて外観検査を行う。コネクタの正常な機
能を損なうような不適合は,全て試験報告書に記録する。
    注記 拡大鏡の倍率は,コネクタの大きさを考慮して個別規格に記載することが望ましい。

6 個別規格に規定する事項

  個別規格には,次の事項を規定する。
a) 前処理(要求がある場合)
b) 適用する封止材及び/又は潤滑剤並びにその手段及び量,又は“封止材及び/又は潤滑剤は適用しな
    い。”旨の記載
c) 高真空での試験を要求する場合,要求する真空度
d) 最大許容リーク率,又は“リークがあってはならない。”旨の記載
      注記 “リークがあってはならない。”とは,検出装置の検出レベル未満又はノイズレベルであると
            判断することが望ましい。
e) この規格に規定する試験方法との相違

7 文書

  この試験に適合していることを記載する文書においては,試験装置の詳細,並びに使用した検出手段の

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