JIS C 5402-15-1:2014 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－１部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ａ：インサート内のコンタクト保持

                                                           C 5402-15-1 : 2014 (IEC 60512-15-1 : 2008)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 準備・・・・[2]
•  3.1 試料の準備・・・・[2]
•  3.2 装置・・・・[2]
•  3.3 取付け・・・・[2]
•  4 試験方法・・・・[2]
•  4.1 手順・・・・[2]
•  4.2 測定・・・・[2]
•  5 個別規格に規定する事項・・・・[2]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 5402-15-1 pdf 1] ―――――

C 5402-15-1 : 2014 (IEC 60512-15-1 : 2008)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402の規格群の部編成は,JIS C 5402-1-100(第1-100部 : 一般−試験方法規格一覧)による。

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――――― [JIS C 5402-15-1 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 5402-15-1 : 2014
                                                                      (IEC 60512-15-1 : 2008)

電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15-1部 : コネクタ試験(機械的試験)−試験15a : インサート内のコンタクト保持

Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 15-1: Connector tests (mechanical)-Test 15a: Contact retention in insert

序文

  この規格は,2008年に第1版として発行されたIEC 60512-15-1を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1 適用範囲

  この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)に適用する。個別規格に規定がある場合に
は,類似の部品にも用いてよい。
  この規格は,通常使用するときに加わる軸方向の力に対して,コンタクト保持機構が耐えることを評価
するための試験方法について規定する。
  コンタクト保持機構は,コンタクトをインサートで保持するか又はコンタクトを直接ハウジングで保持
する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60512-15-1:2008,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 15-1:
              Connector tests (mechanical)−Test 15a: Contact retention in insert(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部 : 一般試験−試験1a : 外観
      注記 対応国際規格 : IEC 60512-1-1,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
             Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination(IDT)

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C 5402-15-1 : 2014 (IEC 60512-15-1 : 2008)

3 準備

3.1 試料の準備

  試料は,個別規格に規定するとおり結線したターミネーションをもつコネクタとする。コンタクト保持
機構を構成しないアクセサリは,取り外す。
  個別規格に規定する前処理を適用する。

3.2 装置

  軸方向の力を加えるため,力(強度,速度,時間)を制御できる装置(例えば,汎用材料試験機)を用
いる。
     注記 個別規格に試料の特別な前処理の要求がある場合には,供試条件を記述している関連文書に記
           載する全ての装置を必要とする。

3.3 取付け

  試料の取付けは,適用する場合,個別規格による。

4 試験方法

4.1 手順

  個別規格に規定がない場合には,3個のコネクタを試験する。
  個別規格に規定がない場合には,コンタクト数が6以下のコネクタについては,全てのコンタクトを試
験する。
  コンタクト数が6を超えるコネクタについては,コンタクト数の20 %(ただし,6以上かつ10以下と
する)を各試料で試験する。
  コンタクト数が6を超えるコネクタについては,試験するコンタクトは無作為に選定する。試験するコ
ンタクトは,インサート又はハウジングの外周周辺から及び中心周辺からそれぞれ1個以上を選定する。
  力は,25 mm/minを超えない一定の速度で,規定する力に達するまで加える。規定する力は10秒間保持
した後,解除する。
  上記の手順は,選定したコンタクトについて順番に適用する。

4.2 測定

4.2.1  試験前
  JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。
4.2.2  試験中
  コンタクトをコンタクト保持装置に固定した後,規定する力に起因する変位量を測定する。
  規定する力を取り除いた後,残留変位を測定する。
  それらの変位量は,記録する。
  各コンタクトの最大の軸方向変位量は,力を加えている間,測定し,記録する。
4.2.3  試験後
  JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。
  各コンタクトの最大の軸方向変位量は,力を加えた後,測定し,記録する。

5 個別規格に規定する事項

  個別規格には,次の事項を規定する。
a) 試料数(3個以外の場合)

――――― [JIS C 5402-15-1 pdf 4] ―――――

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                                                           C 5402-15-1 : 2014 (IEC 60512-15-1 : 2008)
b) 前処理(要求がある場合)
c) 試料の結線
d) 軸方向に加える力
e) 許容する変位量(試験中及び試験後)
f)  この規格で規定する試験方法との相違