JIS C 5402-15-5:2014 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－５部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ｅ：インサート内のコンタクト保持，ケーブルの回転（ｎｕｔａｔｉｏｎ）

                                                           C 5402-15-5 : 2014 (IEC 60512-15-5 : 2008)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 準備・・・・[2]
•  3.1 試料・・・・[2]
•  3.2 装置・・・・[2]
•  3.3 取付け・・・・[3]
•  4 試験方法・・・・[3]
•  4.1 測定・・・・[3]
•  5 個別規格に規定する事項・・・・[3]

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――――― [JIS C 5402-15-5 pdf 1] ―――――

C 5402-15-5 : 2014 (IEC 60512-15-5 : 2008)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402の規格群の部編成は,JIS C 5402-1-100(一般−試験方法規格一覧)による。

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――――― [JIS C 5402-15-5 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 5402-15-5 : 2014
                                                                      (IEC 60512-15-5 : 2008)

電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15-5部 : コネクタ試験(機械的試験)−試験15e : インサート内のコンタクト保持,ケーブルの回転(nutation)

Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 15-5: Connector tests (mechanical)-Test 15e: Contact retention in insert, cable nutation

序文

  この規格は,2008年に第1版として発行されたIEC 60512-15-5を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1 適用範囲

  この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)に適用する。個別規格に規定がある場合に
は,類似の部品にも用いてよい。
  この規格は,コンタクトが外れる傾向にある動的な力に対するコンタクト保持機構の性能を検証するた
めの試験方法について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60512-15-5:2008,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 15-5:
              Connector tests (mechanical)−Test 15e: Contact retention in insert, cable nutation(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部 : 一般試験−試験1a : 外観
      注記 対応国際規格 : IEC 60512-1-1,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
             Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination(IDT)
    JIS C 5402-2-5 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-5部 : 導通及び接触抵抗試験−試験2e : コ
        ンタクトディスターバンス
      注記 対応国際規格 : IEC 60512-2-5,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−

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C 5402-15-5 : 2014 (IEC 60512-15-5 : 2008)
             Part 2-5: Electrical continuity and contact resistance tests−Test 2e: Contact disturbance(IDT)

3 準備

3.1 試料

  試料は,ターミネーションをもつコネクタとする。コンタクトシステムを構成しないアクセサリーは,
取り外してもよい。個別規格に規定する前処理を適用する。
  供試コンタクトは,図1に示す規定するおもりの質量を支えるのに十分であり,かつ,供試コンタクト
への取付けに適した径をもつ可とう鋼より線に取り付ける。
  個別規格に規定がある場合には,規定する銅又はその他のケーブルを用いてもよい。
    注記 試験中にケーブルがコンタクトから抜けるのを防ぐために,場合によっては,コンタクトに取
          り付ける前にケーブルの先端を広げる必要がある。
  4個以上のコンタクトをもつコネクタの場合,1個のコンタクトはインサート又はハウジングの中心近傍,
2個のコンタクトはその外周という条件で,3個のコンタクトを無作為に選択する。その他のコンタクトは,
全て取り付ける。相手側コネクタを使用する場合には,全てのコンタクトを取り付ける。

3.2 装置

  図1に示す試験装置を準備する。おもりの質量は,試験中の試料が変形しない範囲で,ケーブルに十分
な張力を与える大きさでなければならない。おもりの質量は,個別規格に規定がない場合,1.4 kg±0.02 kg
とする。
    注記1 個別規格に試料の特別な前処理の要求がある場合には,供試条件を記述している関連文書に
            記載する全ての装置を必要とする。
    注記2 IEC 60999-1の図1に示してある装置を使用することもできる。この装置を使用する場合に
            は,その角度は45°で,おもりの質量は,個別規格に規定がない場合,1.4 kgを用いる。
    注記3 この例では,コネクタは,取付面が回転しても,図1の中の軸X−Xが鉛直な位置を保持す
            るような方法で取り付けている。
      1 供試コネクタ
      2 自在滑車
      3 おもり
                                       図1−試験装置の例

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                                                                                              3
                                                           C 5402-15-5 : 2014 (IEC 60512-15-5 : 2008)

3.3 取付け

  適切な取付けフランジをもたないコネクタは,装置に取り付けた相手側の固定形コネクタに結合する。
  取付けフランジ及び適切な取付手段をもたないコネクタの場合,相手側コネクタを試験の妥当性に影響
がない方法で装置に固定する。
    注記 4.1.2の注記を参照。
  装置に取り付けたコネクタ,相手側コネクタ,又はインサートは,その軸方向についての回転を防止し
なければならない。

4 試験方法

  個別規格に規定がない場合には,3個のコネクタを試験する。
  コネクタは,箇条3の規定及び図1で示すように,装置に配置する。
  装置は,供試コネクタが360°回転するように操作する。この操作を1サイクルとする。このサイクル
は,1分間に1020サイクルの割合で実施し,合計100サイクル繰り返す。
  この手順は,その他のコンタクトに対しても繰り返す。

4.1 測定

4.1.1  試験前
  JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。
4.1.2  試験中
  コンタクトは,一時的又は永久的のいずれであっても,正常な位置から部分的又は完全に外れてはなら
ない。
  個別規格に要求がある場合,導通を監視する。その場合には,JIS C 5402-2-5によって監視する。
    注記 導通を監視する場合,コネクタが規定する取付方法の種類にかかわりなく,供試コネクタ及び
          その相手側コネクタの両方を取り付ける必要がある。
4.1.3  試験後
  JIS C 5402-1-1によって,外観検査を行う。

5 個別規格に規定する事項

  個別規格には,次の事項を規定する。
a) 試料数(3個以外の場合)
b) 前処理(要求がある場合)
c) 試料の結線(箇条3に規定する可とう鋼より線以外の場合)
d) 導通監視(要求がある場合)
e) 不導通時間[d)を規定する場合]
f)  電圧及び電流の要求事項
g) おもりの質量(1.4 kg以外の場合)
h) この規格に規定する試験方法との相違
参考文献 IEC 60999-1:1999,Connecting devices−Electrical copper conductors−Safety requirements for
              screw-type and screwless-type clamping units−Part 1: General requirements and particular
              requirements for clamping units for conductors from 0.2 mm2 up to 35 mm2 (included)