JIS C 5402-23-4:2006 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２３－４部：スクリーニング及びフィルタリング試験―試験２３ｄ：時間領域での伝送線路の反射 | ページ 3

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                                                           C 5402-23-4 : 2006 (IEC 60512-23-4 : 2001)
                                                                     試験基板のZ0とTDRの
                                                                     Z0との不整合によって
                                                                     生じる反射波形成分
                                                        振幅
           ゼロ反射基準線
                                                      立上り時間
                                                      (10 %90 %)
        附属書A図1 ステップ信号の振幅及び立上り時間測定用伝送波形のタイムドメイン部分
                            (伝送形式の校正パターンを使用する場合)
                                              試験基板
             TDR及び試験ケーブルのレベル
                                                              振幅
                    試験基板のZ0≧TDRのZ0                          短絡回路レベル
                                                              立下り時間
                                                              (90 %10 %)
               TDR及び試験ケーブルのレベル
                                             試験基板
                                                               振幅
                    試験基板のZ0≦TDRのZ0                          短絡回路レベル
               附属書A図2 ステップ信号の振幅及び立下り時間測定用TDR波形部分
                            (短絡終端校正パターンを使用する場合)

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C 5402-23-4 : 2006 (IEC 60512-23-4 : 2001)
                            附属書B(参考)TDR適用指針
  この附属書は,本体及び附属書(規定)に関連する事柄を補足するもので,規定の一部ではない。
B.1   試験機器 タイムドメインリフレクトメータ(TDR)は,試験信号源として,また供試コネクタか
らの試験信号の電気的反射を測定する手段としての両方に使用することができる。同様に,試験信号源と
してパルス信号発生器を,また電気的反射を測定する機器としてオシロスコープを用いてもよい。 供試コ
ネクタから生じる反射電圧波形の最大振幅値(正方向及び負方向)を,試験条件及びテストフィクスチャ
に関する記述とともに記録する。
  コネクタ反射の大きさは,試験信号の立上り時間及び振幅によって大きく異なる。この理由から,測定
系の有効立上り時間及びステップ振幅を測定する場合には,試験機器及びテストフィクスチャの両方によ
る影響を含めることが必要である。また,試験機器は,コネクタの使用目的に沿った立上り時間と合致さ
せるために,その有効立上り時間を変える手段を備えていることが望ましい。
    備考 TDRの中には,モデルによって立上り時間が可変できる機能を備えているものもある。
B.2   ゼロ反射基準線 コネクタによる反射振幅最大値(正方向及び負方向)は,このゼロ反射基準線の
レベル(ρ=0)に,直接,依存する。
  コネクタによる反射振幅(正方向及び負方向)を測定するためのゼロ反射基準線は,供試コネクタと接
続している試験基板1のパターン部(又はケーブル対基板コネクタ若しくはケーブル対ケーブル・コネク
タの試験の場合には,試験用ケーブル)に該当する平たんな波形領域の平均レベルとすることが望ましい。
この領域は,附属書B図1では波形部分A(本体の図1では波形部分D)として表す。

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                                                           C 5402-23-4 : 2006 (IEC 60512-23-4 : 2001)
                      0.30
                       0.20
                  反    0.10
                  射    0.00
                  係
                  数   -0.10
                  ρ   -0.20
                       -0.30
                       -0.40
                           0.00 0.50  1.00 1.50  2.00 2.50 3.00 3.50  4.00 4.50  5.00
                                                     時間 ns
              A  ゼロ反射基準線であって,TDR波形のこの領域での平均レベルをいう。
              B  コネクタによる反射振幅の最大値(正方向)
              C  コネクタによる反射振幅の最大値(負方向)
 附属書B図 1 ゼロ反射基準線及びコネクタ反射の最大振幅(正方向及び負方向)を示す代表的な波形
B.3   信号の立上り時間を変更するための選択肢 試験機器の立上り時間(既定値)以外に,その立上り
時間を変更するための方法について事例を,次に示す。
a) 希望する立上り時間を備えたステップ信号発生器の使用
b) より高速なステップ信号発生器及び立上り時間を遅くするためのハードウェアフィルタの使用
c)   DRに組み込まれた信号処理ソフトウェア
d)   DR又はパルス信号発生器に外付けした信号処理ソフトウェア
e) 周波数ドメイン測定(デジタル信号処理によって時間領域に変換したもの)
f)  いずれの方法も使用しない(すなわち,既定の立上り時間だけを使用)。
    備考 データの報告が正確,かつ,ばらつきのないことを保証するためには,TDRの有効立上り時間
          を変更するごとに,本体の5.1(試験信号の校正)を繰り返す。