JIS C 5402-5-2:2005 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第5-2部:電流容量試験―試験5b:電流・温度の軽減

JIS C 5402-5-2:2005 規格概要

この規格 C5402-5-2は、高温の周囲温度下における電子機器用コネクタの電流容量を評価するための試験方法について規定。類似部品にも用いてよい。

JISC5402-5-2 規格全文情報

規格番号
JIS C5402-5-2 
規格名称
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第5-2部 : 電流容量試験―試験5b : 電流・温度の軽減
規格名称英語訳
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 5-2:Current-carrying capacity tests -- Test 5b:Current-temperature derating
制定年月日
2005年3月20日
最新改正日
2019年10月21日
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対応国際規格

ISO

IEC 60512-5-2:2002(IDT)
国際規格分類

ICS

31.220.10
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
改訂:履歴
2005-03-20 制定日, 2009-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認
ページ
JIS C 5402-5-2:2005 PDF [7]
                                                             C 5402-5-2 : 2004 (IEC 60512-5-2 : 2002)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,
工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経
済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-5-2:2002,Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 5-2: Current-carrying capacity tests - Test 5b:
Current-temperature deratingを基礎として用いた。
この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は,JIS C 5402-1-100 : 試験一覧による。

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 5402-5-2 pdf 1] ―――――

C 5402-5-2 : 2004 (IEC 60512-5-2 : 2002)

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1. 適用範囲・・・・[1]
  •  2. 一般条件・・・・[1]
  •  2.1 電流容量曲線の決定・・・・[1]
  •  2.2 軽減曲線・・・・[2]
  •  2.3 電流容量曲線の適用・・・・[2]
  •  3. 試験の条件・・・・[3]
  •  3.1 試験の準備・・・・[3]
  •  3.2 温度測定条件・・・・[4]
  •  4. 試験方法・・・・[4]
  •  5. 個別規格に規定する事項・・・・[4]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 5402-5-2 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
C 5402-5-2 : 2004
(IEC 60512-5-2 : 2002)

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第5-2部 : 電流容量試験―試験5b : 電流・温度の軽減

Connectors for electronic equipment -Tests and measurements - Part 5-2: Current-carrying capacity tests -Test 5b: Current-temperature derating

序文

 この規格は,2002年に第1版として発行されたIEC 60512-5-2,Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 5-2: Current-carrying capacity tests - Test 5b: Current-temperature deratingを翻訳し,
技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1. 適用範囲

 この規格は,高温の周囲温度下における電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の
電流容量を評価するための試験方法について規定する。この試験方法は,類似の部品にも用いてよい。
備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
(修正している),NEQ(同等でない)とする。
IEC 60512-5-2:2002,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 5-2:
Current-carrying capacity tests - Test 5b: Current-temperature derating (IDT)

2. 一般条件

2.1 電流容量曲線の決定

 電流容量は,ハウジングの絶縁材料と同様にコンタクト及びターミナルに用
いる材料の熱特性にも依存する。したがって,電流容量は,自己発熱とコネクタが動作している場所の周
囲温度との関数である。
3.2の測定条件を用い,コネクタの測定点の温度tb(ほぼ最高温度点)及びその近傍の周囲温度tuを異な
った電流値で測定する。二つの温度差は,自己発熱によるものか,又は通電によって生じた上昇分である。
これは次の式で表すことができる。
tb tu t
電流,温度上昇及びコネクタの周囲温度の関係は,図1に示すような曲線で表される。個別規格に特に
規定がない場合には,温度上昇は三つの試料の平均電流値に基づいて決定する。これらの三つの試料の測
定値から得られた平均値を基礎曲線として用いる。基礎曲線は,少なくとも3点から作成する。
使用する材料の許容上限温度は,縦軸を電流I,横軸を温度tとする図1及び図2に示すグラフ上に垂直

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2
C 5402-5-2 : 2004 (IEC 60512-5-2 : 2002)
線として記入する。電流Inで決まる温度上昇Δt(三つの試料の平均値)を差し引く。
周囲温度Iuと温度上昇Δtとの和が材料の上限温度超えてはならないので,これから,負荷電流Inに対
する最大許容周囲温度Iuが得られる。
備考 上限温度の限界は物質的な考慮をして,曲線を切りつめてもよい。
図 1 基礎電流容量曲線の構成

2.2 軽減曲線

 2.1に従って求めた基礎曲線(図1参照)から得られる軽減曲線(図2参照)を,関連の
個別規格に規定する。この曲線は,測定器での温度測定による誤差だけでなく試料による変動をも考慮し
ている。
電流容量は,電線サイズ,負荷回路の不平衡分布などの外部因子によって更に制限される場合があるの
で軽減係数が必要である。これらの因子が,熱限界により予期できるもの以外に電流容量を制限する場合
には,修正値を適用する。

2.3 電流容量曲線の適用

 2.2に従って求めた軽減曲線は,この規格で定義するとおり公式の電流容量曲
線を表している。その曲線は,周囲温度の関数として最大許容電流を表しているので,真の軽減曲線であ
る。図2に示す陰影部分は,許容動作範囲を表す。
この軽減曲線は,同曲線において他に明確な規定がない場合には,基礎電流容量曲線の電流値に0.8の
軽減係数を乗じることによって得られる。
備考 個別規格に電流容量データを規定する場合には,この規格に示す電流容量曲線を引用する。
数値を表にしたい場合には,これらの数値は電流容量曲線と一致していることが望ましい。

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C 5402-5-2 : 2004 (IEC 60512-5-2 : 2002)
図 2 基礎曲線から得た軽減曲線

3. 試験の条件

3.1 試験の準備

囲い−測定はできる限り静穏な空気中で行う。したがって,試料は近傍の環境を外部気流から保護する囲
いの中に取り付けなければならない。囲いは熱反射のない材料で作るのが望ましい。囲いの側面は異なっ
たサイズの試料を入れるために可動できるほうがよい。側面は試料の端から200 mm以上離れていなけれ
ばならない。囲いは蓋を付けてもよい。ただし,試験中,試料の熱効果によって生じる周囲温度の上昇を
最小限にするため,ふたには換気口を設ける。
取付け−試料は,囲いの底面から50 mm,上面から下に少なくとも150 mm,各側面から等距離の位置で
囲いの中に水平に配置する。試料は,可能な限り自由懸垂に近い状態とする。これが不可能な場合には,2
W/mK以下の熱伝導率をもつ絶縁体を用いてもよい。ただし,断熱材と接触する試料の表面は20 %以下
とする。
配線−試料は,予想される最大電流又はターミネーションのサイズに適した断面積の電線で接続する。外
部熱放散を最小にするため,接続用電線は,少なくとも表1に示す長さが測定用の囲いの中に入っていな
ければならない。試料が多極コネクタの場合には,すべてのコンタクトを接続用電線と同じサイズの電線
で直列に接続する。直列に接続した電線の長さは,少なくとも表1に規定した最小長さの2倍とする。個
別規格に規定がない場合には,製造業者の推奨工具を用いる。
備考 可動コンタクト付試料の場合には,コンタクトが接続電線で動かされないよう注意する。
結合した1セットのコネクタは単一の試料とみなす。
表 1 各試料に対する最短電線長さ
電線サイズ 最短長さ
mm2 mm
< 0.5 200
0.5 5 500
>5 1400
備考 この表は熱伝導率を基準とし,電線が,それら
の断面積に比較して確実に長くなるよう設定し
ている。
試料がプリント配線板を用いる場合には,これ
らの特性は個別規格に規定する。

――――― [JIS C 5402-5-2 pdf 5] ―――――

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