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C 5402-7-2 : 2019 (IEC 60512-7-2 : 2011)
参考文献 JIS C 60068-2-31 環境試験方法−電気・電子−第2-31部 : 落下試験及び転倒試験方法(試験
記号 : Ec)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-31,Environmental testing−Part 2-31: Tests−Test Ec: Rough
handling shocks, primarily for equipment-type specimens(IDT)
JIS C 5402-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1部 : 一般
注記 対応国際規格 : IEC 60512-1,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements
−Part 1: General(IDT)
JIS C 5402-1-100 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-100部 : 一般−試験方法規格一覧
注記 対応国際規格 : IEC 60512-1-100,Connectors for electronic equipment−Tests and
measurements−Part 1-100: General−Applicable publications(MOD)
JIS C 5402-7-2:2019の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60512-7-2:2011(IDT)
JIS C 5402-7-2:2019の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.01 : 電子及び通信設備用機構部品一般
JIS C 5402-7-2:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5402-1-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-1部:一般試験―試験1a:外観