JIS C 5402-8-1:2016 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第８－１部：静的な力試験（固定形コネクタ）―試験８ａ：静的な力，横方向

                                                             C 5402-8-1 : 2016 (IEC 60512-8-1 : 2010)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 試料の準備・・・・[1]
•  4 試験方法・・・・[2]
•  5 最終測定・・・・[2]
•  6 要求事項・・・・[2]
•  7 個別規格に規定する事項・・・・[2]

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C 5402-8-1 : 2016 (IEC 60512-8-1 : 2010)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402規格群の部編成は,JIS C 5402-1-100(第1-100部 : 一般−試験方法規格一覧)による。

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                        C 5402-8-1 : 2016
                                                                       (IEC 60512-8-1 : 2010)

電子機器用コネクタ−試験及び測定−第8-1部 : 静的な力試験(固定形コネクタ)−試験8a : 静的な力,横方向

Connectors for electronic equipment-Tests and measurements- Part 8-1: Static load tests (fixed connectors)-Test 8a: Static load, transverse

序文

  この規格は,2010年に第1版として発行されたIEC 60512-8-1を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1 適用範囲

  この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)に適用する。個別規格に規定がある場合に
は,類似の部品にも用いてよい。
  この規格は,横方向の静的な力を受けるアプリケーションに用いる固定形コネクタの適合性を評価する
ための標準の試験方法について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60512-8-1:2010,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 8-1: Static
              load tests (fixed connectors)−Test 8a: Static load, transverse(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部 : 一般試験−試験1a : 外観
      注記 対応国際規格 : IEC 60512-1-1,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
             Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination(IDT)

3 試料の準備

  試料は,配線しない。ただし,個別規格で要求する場合,アクセサリを取り付ける。他に規定がない場
合,試料は個別規格に規定する通常のパネル又はシャシのカットアウトを用いて,通常の方法で取り付け
る。
    注記 パネル又はシャシは,加える力に耐える強さであることが望ましい。パネル又はシャシの長さ

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C 5402-8-1 : 2016 (IEC 60512-8-1 : 2010)
          及び幅は,試料の外形よりも大きいことが望ましい。

4 試験方法

  試料には,個別規格に規定する方向及び点で,規定する力を加える。この力は,個別規格に規定する速
さで規定値まで増加する。個別規格に規定がない場合,1分間保持する。この力は,個別規格に規定がな
い場合,取付けパネル又はシャシと平行な方向に加えなければならない。

5 最終測定

  最終測定は,次による。
a) 外観検査(JIS C 5402-1-1,試験1a)
b) 適用可能な動作特性
    注記 適用可能な場合,個別規格はJIS C 5402-14規格群に規定する封止(気密性)試験,又はJIS C
          0920に規定する保護等級試験を要求してもよい。

6 要求事項

  正常な動作を損なう損傷があってはならない。

7 個別規格に規定する事項

  個別規格には,次の事項を規定する。
a) パネルカットアウトの寸法を含む試料の取付け
b) アクセサリのタイプ(要求がある場合)
c) 力の大きさ及び増加する速さ
d) 力を加える位置,方向及び時間
e) 力を加えるために用いる取付具又は工具の形状
f)  最終測定の要求事項
g) この規格に規定する試験方法との相違
参考文献
  JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
    注記 対応国際規格 : IEC 60529,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)(IDT)
  JIS C 5402-14(規格群) 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第14部 : 封止(気密性)試験
    注記 対応国際規格 : IEC 60512-14 (all parts),Connectors for electronic equipment−Tests and
          measurements−Part 14: Sealing tests