JIS C 5750-3-1:2006 ディペンダビリティ管理―第３－１部：適用の指針―ディペンダビリティ解析手法の指針

                                                             C 5750-3-1 : 2006 (IEC 60300-3-1 : 2003)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準
原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大
臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
   制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60300-3-1: 2003,Dependability
management−Part 3-1 : Application guide−Analysis techniques for dependability  Guide on methodologyを基礎
として用いた。
   この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。
JIS C 5750-3-1には,次に示す附属書がある。
    附属書A(参考) 解析技法の概要説明
JIS C 5750の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5750-1    第1部 : ディペンダビリティプログラム管理
    JIS C 5750-2    第2部 : ディペンダビリティプログラム要素及びタスク
    JIS C 5750-3-1   第3-1部 : 適用の指針−ディペンダビリティ解析手法の指針
    JIS C 5750-3-4  第3-4部 : 適用の指針−ディペンダビリティ要求事項仕様書作成の指針
    JIS C 5750-3-5 第3-5部 : 適用の指針−信頼性試験条件及び統計的方法に基く試験原則
    JIS C 5750-3-6    第3-6部 : 適用の指針−ディペンダビリティにおけるソフトウェアの側面
    JIS C 5750-3-7   第3-7部 : 適用の指針−電子ハードウェアの信頼性ストレススクリーニング
    JIS C 5750-4-2    第4-2部 : 適用の指針−ソフトウェアライフサイクルプロセスにおけるソフトウェ
        アディペンダビリティ

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C 5750-3-1 : 2006 (IEC 60300-3-1 : 2003)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[2]
•  3. 定義・・・・[2]
•  4. 基本的なディペンダビリティ解析手順・・・・[3]
•  4.1 一般的な手順・・・・[3]
•  4.2 ディペンダビリティ解析手法・・・・[5]
•  4.3 ディペンダビリティの配分・・・・[7]
•  4.4 ディペンダビリティ解析・・・・[8]
•  4.5 保全及び修理解析並びに配慮・・・・[9]
•  5. 適切な解析手法の選択・・・・[9]
•  附属書A(参考)解析技法の概要説明・・・・[12]
•  参考文献・・・・[49]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                        C 5750-3-1 : 2006
                                                                        (IEC 60300-3-1 : 2003)

ディペンダビリティ管理−第3-1部 : 適用の指針−ディペンダビリティ解析手法の指針

Dependability management - Part 3-1: Application guide - Analysis techniques for dependability - Guide on methodology

序文

 この規格は,2003年に第2版として発行されたIEC 60300-3-1,Dependability management−Part 3-1:
Application guide−Analysis techniques for dependability−Guide on methodologyを翻訳し,技術的内容及び規
格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。
  この規格の中で規定する解析手法は,アイテムの信頼性,アベイラビリティ,保全性の予測,レビュー
及び改善に用いられる。
  これらの解析は,構想と仕様決定段階との間,設計と開発段階との間,また,運用と保守段階との間で,
アイテムの信頼性尺度を評価し,決定し改善するために,様々なシステムレベル及び詳細さで実行される。
それら解析手法はまた,仕様上の要求と解析結果とを比較するときに適用することができる。
  加えて,これらの解析は,保全及び部品交換の頻度を推定して補給及び保全計画の立案のときにも使わ
れる。推定された結果は,しばしばライフサイクルコストの主要な要因を決定することになる。また,ラ
イフサイクルコスト及び代替案の検討において注意深く適用することが望ましい。
  さらに,有益な結果を得るために,これらの解析は,ハードウェア,ソフトウェア,同様に人的要因と
組織的側面とを含んでのシステムのディペンダビリティに可能な限りの貢献ができるようにすることが望
ましい。

1. 適用範囲

 この規格は,通常使用される信頼性解析手法の一般的な指針について規定する。また,こ
の規格は,様々な手法を使ううえでの代表的な方法論,それらの利点及び不利な点並びに必要な入力情報
及びその他の条件について規定する。
  この規格は,選択した手法を紹介し,最も適切な解析手法を選ぶうえでの必要な情報の提供を意図して
いる。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 60300-3-1:2003,Dependability management−Part 3-1 : Application guide−Analysis techniques
              for dependability−Guide on methodology (IDT)

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2
C 5750-3-1 : 2006 (IEC 60300-3-1 : 2003)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格
の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規
格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5750-3-4 ディペンダビリティ管理−第3-4部 : 適用の指針−ディペンダビリティ要求事項仕様
        書作成の指針
      備考 IEC 60300-3-4:1996,Dependability management−Part 3: Application guide−Section 4: Guide to
             the specification of dependability requirementsからの引用事項は,この規格の該当事項と同等で
             ある。
    JIS C 5750-3-5 ディペンダビリティ管理−第3-5部 : 適用の指針−信頼性試験条件及び統計的方法に
        基づく試験原則
      備考 IEC 60300-3-5:2001,Dependability management−Part 3-5: Application guide−Reliability test
             conditions and statistical test principles が,この規格と一致している。
    JIS Q 9000:2000 品質マネジメントシステム−基本及び用語
      備考 ISO 9000:2000,Quality management systems−Fundamentals and vocabularyが,この規格と一致
             している。
    JIS Z 8115:2000 ディペンダビリティ(信頼性)用語
      備考 IEC 60050(191):1990,International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 191: Dependability
             and quality of serviceからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    IEC 60300-3-2:1993,Dependability management−Part 3: Application guide−Section 2: Collection of
        dependability data from the field
    IEC 60300-3-10:2001,Dependability management−Part 3-10: Application guide−Maintainability
    IEC 60706-1:1982,Guide on maintainability of equipment−Part 1: Sections One,Two and Three−
        Introduction,requirements and maintainability programme
    IEC 60706-2:1990,Guide on maintainability of equipment−Part 2: Section Five−Maintainability studies
        during the design phase
    IEC 60812:1985,Analysis techniques for system reliability−Procedure for failure mode and effects analysis
        (FMEA)
    IEC 61078:1991,Analysis techniques for dependability−Reliability block diagram method
    IEC 61165:1995,Application of Markov techniques
    IEC 61709:1996,Electronic components−Reliability−Reference conditions for failure rates and stress models
        for conversion
    IEC 61882:2001,Hazard and operability studies (HAZOP studies)−Application guide

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS Z 8115: 2000によるほか,次による。
3.1   アイテム (item,entity) ディペンダビリティの対象となる部品,構成品,デバイス,装置,機能ユ
ニット,サブシステム,システムなどの総称又はいずれか。
    備考 アイテムは,ハードウェア,ソフトウェア,又は両方から構成される。さらに,特別な場合は,
          人間も含む[JIS Z 8115のG1]。
3.2   システム (system) 相互関係がある又は相互に作用している要素の集合体 [JIS Q 9000:2000]。

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                                                             C 5750-3-1 : 2006 (IEC 60300-3-1 : 2003)
    備考1. ディペンダビリティの分野では,次のような特徴がある。
        a) 目的が定義され,それが要求される機能で表現する。
        b) 使用する条件が明らかである。
        2. システムの概念が階層をもっている。
3.3   コンポ−ネント (component) 解析における最下位レベルのアイテム。
3.4   配分 (allocation) 与えられた基準に従って,アイテムの性能尺度に対する要求を,そのサブアイテ
ムに配分するために設計段階で行われる手続き。
3.5   故障 (failure) アイテムが要求機能達成能力を失うこと。
    備考1. アイテムは故障の後,フォールトとなる。
        2. “故障”は事象であり,状態である“フォールト”と区別される[JIS Z 8115のF1]。
3.6   フォールト (fault) ある要求された機能を遂行不可能なアイテムの状態。ただし,予防保全又はそ
の他の計画された活動による場合,若しくは外部からの供給不足による場合を除く。
    備考 フォールトはアイテム自体の故障の結果であるが,先行する故障がなくても存在することがあ
          る[JIS Z 8115のFS1]。

4. 基本的なディペンダビリティ解析手順

4.1 一般的な手順

 一般的なディペンダビリティ解析手順は,図1に示すように,次のタスクで構成す
る(適用可能な場合)。

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