JIS C 5954-5:2019 光伝送用能動部品―試験及び測定方法―第５部：光トランシーバの光レセプタクル部の機械的外乱（ウィグル）による光出力変動 | ページ 2

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C 5954-5 : 2019 (IEC 62150-3 : 2015)
ウィグル試験用光接続コードの端部から応力を加えるために,ウィグル試験用光接続コードにおもりを取
り付ける。ウィグル試験用光接続コードの他端を,送信光出力の変動量を記録するために,光パワーメー
タに接続する。
5.1.3  光パワーメータ
  光パワーメータは,DUTの光出力の変動の測定に使用する。はじめに無負荷の状態で測定した光出力を
基準値として,光出力の最大偏差が記録できるように設定する。試験方法Aの場合,次の測定方法を推奨
する。回転機構(例えば,ステッピングモータ)及び光パワーメータのいずれも,制御及びデータ取得の
ためにコンピュータに接続する。理想的には,制御ソフトウェアは,ステッピングモータの回転方向,速
度及び増量を操作できるようにする。360 °連続回転している間,計測器は2.5 °回転当たり最低1回はデ
ータを取得できることが望ましい。1回のデータ測定時間は,測定器の反応時間である100 ms以下に設定
する。
5.1.4  試験用負荷
  試験用負荷手段又はおもりは,ウィグル試験用光接続コードの端部に取り付けることが望ましい。試験
用負荷は,附属書Aに規定する。コネクタ種別による負荷の差の根拠については,附属書Eを参照。

5.2 Txインタフェースの試験手順

5.2.1  試験手順
  試験は,図1に示すような適切な試験装置で行う。図1は,1.25 mmフェルールコネクタを用いた例で
ある。この例では,Txポート又は光源に接続しているコネクタ部を使用する。ウィグル試験用光接続コー
ドは,試験装置が回転している間でも,DUTのコネクタの入口部分に応力が加わるようにおもりを取り付
けてある。試験は,次のとおり実施する。
5.2.2  構成
  図1に示すように,DUTの光モジュールを試験装置に固定する。Txポートと光パワーメータとをウィ
グル試験用光接続コードで接続する。DUTとして一つ以上のコネクタがある場合(例えば,Txポート及
びRxポート),一つずつコネクタを分析するのがよい。そのため,どの時点でも光トランシーバに接続し
ているウィグル試験用光接続コードは,一つであることが望ましい。
5.2.3  初期測定
  DUTを試験装置に固定した後,試験装置に負荷を加えないで,かつ,無回転の状態で,光出力値を測定
し記録する。全ての測定値がこの光出力値を基準とするように,この測定値で光パワーメータの目盛をリ
セット(又は再設定)することが望ましい。
5.2.4  おもりの装着及び回転
  図1に示すように,ウィグル試験用光接続コードに適切なおもりを取り付ける。
  おもりが取り付けられたDUT及び試験装置は,時計回りと反時計回りとに回転できなければならない。
おもりを取り付けた後又は中断した後,及びそれぞれの方向への回転前後には,測定開始まで10秒の設定
時間を見込む。
  回転速度は,毎分4回転以下で,時計回り及び反時計回りに360 °回転している間,光パワーメータの
出力値を記録する。
5.2.5  ウィグル損失
  ウィグル損失は,5.2.3の初期測定を含む5.2.4で測定した光出力変動の最大値と定義する。

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注記 負荷の位置の詳細は,附属書Cを参照。
                      図1−Txインタフェースに関する試験方法Aの機器構成

5.3 Rxインタフェース及び光レセプタクルの試験手順

5.3.1  試験手順
  Rxインタフェース又は光レセプタクルの場合(例えば,Rxコネクタ試験又はDUTが光源をもっていな
い場合),図2に記載する試験装置にDUTを固定する。次に規定する試験方法のいずれかを適用する。図
2は,1.25 mmフェルールコネクタの例である。
5.3.2  LOSの検知による方法
  手順は,次のとおりである。
a) 光レセプタクルに光を入れて,LOS(入力信号断)を検知するしきい値になるように光出力を調整す
    る。
b) 入力光出力を1.5 dB増加させる。
c) 表A.1で規定している適切な負荷を加える。時計回りと反時計回りとに0 °から360 °まで試験装置
    を連続動作で回転させる。
d)   OSを検知した場合,DUTは,不合格とする。LOSを検知しない場合,DUTは,合格とする。
5.3.3  光トランシーバ受信部の光パワーモニタによる方法
  デジタル診断モニタリング(Digital Diagnostic Monitoring)がある光トランシーバ又は光レセプタクルに
は,受光量を監視する機能が実装してある。ウィグルに対するコネクタの強度は,デジタル診断モニタリ
ングの光出力変動によって決定する。手順を,次に示す。
a) 受信部の光モニタが最も精度のよいところになるように,受光量を設定する。
b) 表A.1で規定している適切な負荷を加える。受光量をデジタル診断モニタリングで監視しながら時計
    回りと反時計回りとに0 °から360 °まで試験装置を連続的に回転させる。
c) 受光量の最大変化値をdB単位で記録する。すなわち,ウィグル損失は,手順a)から手順b)までに測
    定した光出力変動の最大値と定義する。

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C 5954-5 : 2019 (IEC 62150-3 : 2015)
注記 負荷の位置の詳細は,附属書Cを参照。
             図2−Rxインタフェース及び光レセプタクルに関する試験方法Aの機器構成

6 試験方法B

6.1 試験装置

6.1.1  概要
  試験装置の例を,図3に示す。構成要素の詳細は,次の細分箇条で説明する。試験する波長は,光トラ
ンシーバの仕様書記載の波長と一致する。試験データは,室温で測定する(試験条件概要は,附属書B参
照)。
6.1.2  試験装置及び回転機構
  試験装置の取付け部の正確な詳細は,DUTの形に依存する。例えば,光トランシーバを評価している試
験用ボードをウィグル試験装置に固定して使用することが可能である。この場合,回転機構の軸の中心に
固定して,0 °から360 °まで軸対称で回転できるようにする。試験方法Bにおいては,試験装置が回転
軸に対して90 °ごと(0 °,90 °,180 °及び270 °)に測定が可能ならば,試験装置に回転機構は必ず
しも必要ない。
6.1.3  試験用光接続コード
  試験方法Bでは,事例Bのウィグル損失機構を模擬試験するために,光ファイバコネクタのかん合標準
(JIS C 5964規格群参照)及び性能標準(IEC 61753規格群参照)のいずれも満足する標準の光接続コー
ドを使用する。
  図3において,前述の光接続コードをDUTである光トランシーバに接続する。DUTのコネクタ接続部
分に応力を加えるために,光接続コードにおもりを取り付ける。光接続コードの他端は,送信光出力変動
量を記録するために光パワーメータに接続する。
6.1.4  光パワーメータ
  光パワーメータは,DUTの光出力変動を測定するのに使用する。はじめに負荷を加えないで測定した光
出力を基準値にして,光出力の最大偏差が記録できるように設定する。

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6.1.5  試験用負荷
  光接続コードの端部に試験用負荷手段又はおもりを取り付けなければならない。試験用負荷は,附属書
Aで定義する。

6.2 Txインタフェースの試験手順

6.2.1  試験手順
  試験は,図3に示すように,DUTを適切に固定した試験装置を用いて行う。図3は,1.25 mmフェルー
ルコネクタを用いた例である。この例では,DUTの送信部又は光源に接続しているコネクタ部を使用する。
標準の光接続コードには,試験装置が回転している間でも,DUTのコネクタの入口部分に応力が加わるよ
うにおもりを取り付けてある。試験装置が回転軸に対して90 °ごと(0 °,90 °,180 °及び270 °)に
測定が可能ならば,試験装置が連続して回転する機構は,必ずしも必要ない。試験は,次のとおり実施す
る。
6.2.2  構成
  図3に示すように,DUTを試験装置に取り付ける。DUTの送信部と光パワーメータとを標準の光接続
コードで接続する。DUTに一つ以上のコネクタがある場合(例えば,光トランシーバのTxポート及びRx
ポート),一つずつコネクタを分析するのがよい。そのため,どの時点でも光トランシーバに接続している
標準の光接続コードは,一つとするのが望ましい。
6.2.3  初期測定
  DUTを試験装置に固定した後,試験装置に負荷を加えないで,かつ,無回転の状態で,出力光量を測定
し記録する。全ての測定値がこの光出力値を基準とするように,この測定値で光パワーメータの目盛をリ
セット(又は再設定)することが望ましい。
6.2.4  負荷印加
  図3に示す標準の光接続コードに,表A.2で規定している適切な負荷を加える。
6.2.5  測定
  試験装置の角度を90 °ごと(0 °,90 °,180 °及び270 °)に位置を変えた後,光パワーメータの出
力値を記録する。
6.2.6  ウィグル損失
  ウィグル損失は,6.2.36.2.5で測定した光出力変動の最大値と定義する。

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C 5954-5 : 2019 (IEC 62150-3 : 2015)
                      図3−Txインタフェースに関する試験方法Bの機器構成

6.3 Rxインタフェース及び光レセプタクルの試験手順

6.3.1  試験手順
  Rxインタフェース又は光レセプタクルの場合(例えば,Rxコネクタ試験又はDUTが光源をもっていな
い場合),図4に示す試験装置にDUTを固定する。次に規定する試験方法のいずれかを適用する。図4は,
1.25 mmフェルールコネクタの例である。
6.3.2  LOSの検知による方法
  手順は,次のとおりである。
a) 光レセプタクルに光を入れて,LOSを検知するしきい値になるように光出力を調整する。
b) 入力光出力を1.5 dB増加させる。
c) 表A.2で規定している適切な負荷を加える。試験装置の角度を0 °,90 °,180 °及び270 °に回転
    させる。
d)   OSを検知した場合,DUTは,不合格とする。LOSを検知しない場合,DUTは,合格とする。
6.3.3  光トランシーバ受信部の光パワーモニタによる方法
  デジタル診断モニタリングがある光トランシーバ又は光レセプタクルには,受光量を監視する機能が実
装してある。ウィグルに対するコネクタの強度は,デジタル診断モニタリングの光出力変動によって決定
する。手順を,次に示す。
a) 受信部の光モニタが最も精度のよいところになるように,受光量を設定する。
b) 表A.2で規定している適切な負荷を加える。受光量をデジタル診断モニタリングで監視しながら試験
    装置の角度を0 °,90 °,180 °及び270 °に回転させる。
c) 受光量の最大変化値をdB単位で記録する。ウィグル損失は,手順a)から手順b)までに測定した光出
    力変動の最大値と定義する。

――――― [JIS C 5954-5 pdf 10] ―――――

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