JIS C 5954-5:2019 光伝送用能動部品―試験及び測定方法―第５部：光トランシーバの光レセプタクル部の機械的外乱（ウィグル）による光出力変動

                                                                C 5954-5 : 2019 (IEC 62150-3 : 2015)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語,定義及び略語・・・・[2]
•  3.1 用語及び定義・・・・[2]
•  3.2 略語・・・・[2]
•  4 試験の概要・・・・[2]
•  4.1 試験方法・・・・[2]
•  4.2 ウィグル損失のメカニズム・・・・[3]
•  5 試験方法A・・・・[3]
•  5.1 試験装置・・・・[3]
•  5.2 Txインタフェースの試験手順・・・・[4]
•  5.3 Rxインタフェース及び光レセプタクルの試験手順・・・・[5]
•  6 試験方法B・・・・[6]
•  6.1 試験装置・・・・[6]
•  6.2 Txインタフェースの試験手順・・・・[7]
•  6.3 Rxインタフェース及び光レセプタクルの試験手順・・・・[8]
•  7 試験結果・・・・[9]
•  附属書A(規定)負荷仕様・・・・[10]
•  附属書B(規定)試験条件概要・・・・[11]
•  附属書C(規定)試験用光接続コード仕様・・・・[12]
•  附属書D(規定)フロート量・・・・[15]
•  附属書E(参考)試験方法Aにおける光コネクタ形による負荷差・・・・[16]
•  参考文献・・・・[17]

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――――― [JIS C 5954-5 pdf 1] ―――――

C 5954-5 : 2019 (IEC 62150-3 : 2015)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準原案を添えて日本産業規格を制定すべきとの申出
があり,日本産業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本産業規格である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本産業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5954の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5954-1 第1部 : 総則
    JIS C 5954-2 第2部 : ATM-PON用光トランシーバ
    JIS C 5954-3 第3部 : 単心直列伝送リンク用光送・受信モジュール
    JIS C 5954-4 第4部 : GPON用光トランシーバ
    JIS C 5954-5 第5部 : 光トランシーバの光レセプタクル部の機械的外乱(ウィグル)による光出力変
        動

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――――― [JIS C 5954-5 pdf 2] ―――――

                                       日本産業規格                             JIS
                                                                           C 5954-5 : 2019
                                                                          (IEC 62150-3 : 2015)

光伝送用能動部品−試験及び測定方法−第5部 : 光トランシーバの光レセプタクル部の機械的外乱(ウィグル)による光出力変動

Fiber optic active components and devices-Test and measurementprocedures-Part 5: Optical power variation induced by mechanicaldisturbance in optical receptacles and transceiver interfaces

序文

  この規格は,2015年に第2版として発行されたIEC 62150-3を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  光レセプタクル付き光トランシーバには,光ファイバコネクタとかん合している状態で光接続コードに
側面から力を加えられたとき,光接続コードによる応力に敏感なものがあり,結果として通過する光出力
に変動が生じることが知られている。この規格の目的は,そのような光接続(光接続コード及び光レセプ
タクル)においても仕様を満足しながら機能し続けることを保証するために,応力試験方法を規定するこ
とである。
  この規格は,光トランシーバの光レセプタクル部に機械的な外乱(ウィグル)を加えることによって,
光トランシーバの光出力の変動に対する感度に対し,光トランシーバとして認定するための試験の要求事
項及び手順について規定する。
  この規格は,光レセプタクル付き光伝送用能動部品に適用する。
  この規格は,2.5 mm又は1.25 mmフェルールのいずれかをもつ,シングルモード用コネクタとともに用
いられる光トランシーバの試験に関して説明する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 62150-3:2015,Fibre optic active components and devices−Test and measurement procedures−
              Part 3: Optical power variation induced by mechanical disturbance in optical receptacles and
              transceiver interfaces(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

――――― [JIS C 5954-5 pdf 3] ―――――

2
C 5954-5 : 2019 (IEC 62150-3 : 2015)
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5964(規格群) 光ファイバコネクタかん合標準
      注記 対応国際規格 : IEC 61754 (all parts),Fibre optic interconnecting devices and passive components
             −Fibre optic connector interfaces
    IEC 61753 (all parts),Fibre optic interconnecting devices and passive components−Performance standard
    IEC 61753-021-6,Fibre optic interconnecting devices and passive components performance standard−Part
        021-6: Grade B/2 single-mode fibre optic connectors for category O−Uncontrolled environment

3 用語,定義及び略語

3.1 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1.1
ウィグル(wiggle)
  光トランシーバの光レセプタクル部が光接続コードとかん合している場合に,光トランシーバの光出力
の変動の一因となる機械的な外乱。
3.1.2
ウィグル損失(wiggle loss)
  光トランシーバの光レセプタクル部が光接続コードとかん合している場合に,光出力が変動する量(コ
ネクタ部に負荷がかからない状態で,かつ,回転していない状態で測定した場合と比較する。)。

3.2 略語

  DUT 被試験品(device under test)
  LOS    入力信号断(設定した受信信号のしきい値レベルを下回った状態)(loss of signal)
  Rx     光トランシーバの受信部(receiver)
  Tx     光トランシーバの送信部(transmitter)

4 試験の概要

4.1 試験方法

  ウィグル損失の発生の仕組みは,事例A及び事例Bの2種類に分類できるため,この規格では,表1
にそれぞれの試験方法を規定する。試験方法A及び試験方法Bは,それぞれウィグル事例A及びウィグ
ル事例Bにおける光トランシーバの機械的耐久性を試験する場合に適用する。
                                     表1−2種類の試験方法
  試験方法                       適用条件                            試験に必要なものの例
  A         ウィグル事例A : 光ファイバコネクタかん合標準(JIS C 5964
                                                               試験手順,試験装置,試験用光接続コ
                                                               ード及び試験用負荷手段
            規格群)に適合した特別な試験用光接続コードと接続して行う
            光トランシーバの試験
  B         ウィグル事例B : 光ファイバコネクタかん合標準(JIS C 5964
                                                               試験手順,試験装置,試験用光接続コ
                                                               ード及び試験用負荷手段
            規格群)及び性能標準(IEC 61753規格群)のいずれにも適合
            した標準の光接続コードと接続して行う光トランシーバの試
            験

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                                                                                              3
                                                                C 5954-5 : 2019 (IEC 62150-3 : 2015)

4.2 ウィグル損失のメカニズム

4.2.1  ウィグル損失試験方法の理論的根拠
  光レセプタクル付き光トランシーバには,光ファイバコネクタとかん合している状態で光接続コードに
側面から力を加えられたとき,光接続コードによる応力に敏感なものがある。コネクタ構造に依存するが,
応力を加えた場合に二つの異なる作用点が光レセプタクル部にはあり,2種類のウィグル損失を引き起こ
す。
  試験方法Aの目的は,市場で流通している光ファイバコネクタ標準に適合した様々な光接続コードを使
用した場合に,光トランシーバの光レセプタクル部の設計がウィグルに対して十分な堅ろう(牢)性をも
っていることを保証するのを手助けすることにある。試験方法Bの目的は,仕様が分かっている光トラン
シーバを動作中及び取付け時に,光接続コードに側面から負荷が加えられた場合に対して,光トランシー
バの光レセプタクル部の設計が光トランシーバの性能を維持するのに十分な堅ろう(牢)性をもっている
ことを保証することである。
  光トランシーバの機械的な堅ろう(牢)性を保証するために,試験方法A及び試験方法Bの両方,又は
試験方法A若しくは試験方法Bのいずれかを適切に選ばなければならない。
4.2.2  事例A : フェルールの作用点
  コネクタハウジング及びフェルールの“フロート量”(附属書D参照)が不十分な場合,外部から光接
続コードの側面に力を加えると,フェルールの曲げモーメントによって光レセプタクル部のスリーブが変
形することがある。これによって,光トランシーバの送信光出力に変動が生じる。この場合,光トランシ
ーバの機械的な堅ろう(牢)性は,スリーブの設計,光レセプタクル部の設計及び光モジュールの設計に
依存する。光ファイバコネクタかん合標準ではフロート量を規定していないために,フェルールのフロー
ト量が不十分な光接続コードがある。
4.2.3  事例B : プラグ・ハウジングの作用点
  フェルールのフロート量が十分な場合,光接続コードに外力を加えると,プラグの曲げモーメントによ
って光レセプタクルのハウジングが変形する。これによって,光トランシーバの送信光出力に変動が生じ
る。この場合,光トランシーバの機械的な耐久性は,光レセプタクルのハウジング設計に依存する。附属
書Cの試験方法Bに規定している光接続コードの性能標準は,十分なフェルールのフロート量を保証する
ことができる。

5 試験方法A

5.1 試験装置

5.1.1  概要
  試験装置の例を,図1に示す。構成要素の詳細は,次の細分箇条で説明する。試験する波長は,光トラ
ンシーバの仕様書記載の波長と一致する。試験データは室温で測定する(試験条件概要は,附属書B参照)。
  試験装置の取付け部の正確な詳細は,DUT(被試験品)の形に依存する。例えば,光トランシーバを評
価している試験用ボードをウィグル試験装置に固定して使用することが可能である。この場合,360 °左
右対称に回転できるように,回転機構の軸の中心に固定する。
5.1.2  試験用光接続コード
  事例Aのウィグル損失の発生の仕組みを模擬試験するために,試験方法Aでは,特別に設計したウィグ
ル試験用光接続コードを用いる。ウィグル試験用光接続コードの詳細な仕様は,附属書Cに規定する。
  図1において,ウィグル試験用光接続コードを試験する光トランシーバに接続する。DUTの接続部分に

――――― [JIS C 5954-5 pdf 5] ―――――

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