JIS C 5974:1998 F05形単心光ファイバコネクタ | ページ 2

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C 5974 : 1998
番号 項目 試験方法 適用条件 性能
(JIS C 5961)
ル)] 的損傷 挿入損失(最終測定値) : 表5による。
機械的損傷 : 変形,き裂,緩みなど
の有害な損傷がないこと。
14 耐熱性 8.5(耐熱性) 試験温度 : 70℃ 挿入損失(初期測定値) : 表2及び表
試験時間 : 240時間 3による。
初期測定の項目 : 挿入損失 挿入損失(最終測定値) : 表5による。
機械的損傷 : 変形,き裂,緩みなど
最終測定の項目 : 挿入損失及び機械
的損傷 の有害な損傷がないこと。
15 耐寒性 8.6(耐寒性) 試験温度 : −25℃ 挿入損失(初期測定値) : 表2及び表
試験時間 : 240時間 3による。
初期測定の項目 : 挿入損失 挿入損失(最終測定値) : 表5による。
機械的損傷 : 変形,き裂,緩みなど
最終測定の項目 : 挿入損失及び機械
的損傷 の有害な損傷がないこと。
表5 試験後の挿入損失
等級 挿入損失(最終測定値)dB(8)
OFC2.2-Y-RSI-200/230OFC2.2-PSI-980/1 000
OFC2.2-Y-RSI-200/300
L 2.5以下 −
N − 2.5以下
Q − 3.5以下
X 規定しない
注(8) マスタ光コネクタと接続したときの値を示す。
6. 構造,形状及び寸法 光コネクタの結合部の構造,形状及び寸法は,図14のとおりとする。個別の
寸法は,表1で規定した付図16による。ただし,同一箇所の寸法が図14及び付図16に規定され
ている場合は,付図16を優先する。
金属部分の寸法は,表面処理後の寸法とする。寸法試験は,JIS C 5961の5.(寸法試験)の規定による。
なお,寸法の規定がない箇所の構造及び形状は,参考のために例示した。
また,寸法許容差の規定がない箇所の寸法許容差は,JIS C 5962の5.1(構造,形状及び寸法)の規定に
よる。

――――― [JIS C 5974 pdf 6] ―――――

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C 5974 : 1998
図1 光コネクタ結合部(アダプタ)
注(10) 機械的基準面1は,プラグ結合部(図3)の機械的基準面3に,機械的基準面2は,プラグ結合部
(図4)の機械的基準面4に対応する。
(11) この寸法は,プラグと結合され,光学的接続状態での機械的基準面からアダプタ内のフェルー
ル端面までの設計上の距離であり,測定の対象としない。

――――― [JIS C 5974 pdf 7] ―――――

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C 5974 : 1998
図2 光コネクタ結合部(レセプタクル)
注(12) 機械的基準面1は,プラグ結合部(図3)の機械的基準面3に,機械的基準面2は,プラグ結合部
(図4)の機械的基準面4に対応する。
(13) この寸法は,プラグと結合され光学的接続状態での機械的基準面からレセプタクル内のフェル
ール端面までの設計上の距離であり,測定の対象としない。

――――― [JIS C 5974 pdf 8] ―――――

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C 5974 : 1998
図3 光コネクタ結合部(プラグ : レバーロック構造)
注(14) フェルールは,弾性力に抗して図の左方向に変位できる構造となっていること。
(15) この寸法は,相手方光コネクタ又はレセプタクルと結合され,光学的接続状態での機械的基準
0.20
+mmは
面からフェルール端面までの設計上の距離であり,測定の対象としない。ただし,7.3−0.15
0.28
+mmはレセプタクルと結合した場合の各々の寸法を
相手方光コネクタと結合した場合,7.25−0.35
示す。
(16) この寸法は,フェルール端面研磨後の必要最小寸法で,測定の対象としない。
(17) レバーを表す。

――――― [JIS C 5974 pdf 9] ―――――

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C 5974 : 1998
図4 光コネクタ結合部(プラグ : フリクションロック構造)
注(18) フェルールは,弾性力に抗して図の左方向に変位できる構造とできない構造の2種類がある。
(19) この寸法は,相手方光コネクタ又はレセプタクルと結合され,光学的接続状態での機械的基
0.20
+mm
準面からフェルール端面までの設計上の距離であり,測定の対象としない。ただし,6.8−0.15
+mmはレセプタクルと結合した場合の各々の寸法
0.2
は相手方光コネクタと結合した場合,6.6−0.3
を示す。
(20) この寸法は,フェルール端面研磨後の必要最小寸法で,測定の対象としない。
(21) この寸法は,フェルールが変位できる構造のもので,変位できないものは6.65mm(20)とする。
(22) この寸法は,フェルールが変位できる構造のもので,変位できないものは2.4mm以上とする。
7. 試験 試験は,次の規定による。ただし,等級Xについては,受渡当事者間の協定による。
(1) 試験場所の標準状態 試験場所の標準状態は,JIS C 5962の6.1(試験場所の標準状態)の規定による。
(2) 試験項目 試験項目は,JIS C 5962の6.3(試験項目)の規定に基づき,付表1による。
8. 表示 表示は,JIS C 5962の7.(表示)の規定による。

――――― [JIS C 5974 pdf 10] ―――――

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JIS C 5974:1998の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60874-17:1995(MOD)

JIS C 5974:1998の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5974:1998の関連規格と引用規格一覧