JIS C 60068-2-85:2020 環境試験方法―電気・電子―第2-85部:長時間時刻歴再現振動試験方法(試験記号:Fj) | ページ 3

           8
C 60068-2-85 : 2020 (IEC 60068-2-85 : 2019)
− 規定レベル(加速度の実効値)の−12 dB以下 : 時間無制限
− 規定レベル(加速度の実効値)の−12 dBから−6 dB : 規定の試験持続時間の1.5倍以下
− 規定レベル(加速度の実効値) の−6 dBから0 dBの間 : 規定試験持続時間の50 %以下
− −6 dBを超える予備加振の持続時間は,絶対最小値に維持する。ただし,時刻歴には複雑な性質があ
る可能性があるため,予備加振の時間が長くなる場合がある。このプロセスのパラメータは記録し,
試験報告書に記載する。
− 製品規格で規定のない限り,予備加振の持続時間は指定された試験持続時間に含めない。

8.4 供試品の機能試験

  製品規格で規定されている場合,試験中の供試品は指定された時間間隔で動作させ,その性能を確認す
る。

8.5 最終振動応答検査

  製品規格が初期振動応答検査を規定する場合,初期振動応答検査の後で変更又は故障が発生したかどう
かを確認するために,長時間時刻歴試験の完了時に,追加の振動応答検査が必要になることがある。最終
振動応答検査は,初期振動応答検査に使用したのと同じ方法で,同じ応答点で,同じパラメータを使用し
て実施する。振動応答の変化,例えば,臨界振動数の変化を使用するためのガイドラインは,JIS C 60068-
3-8に規定されている。製品規格には,二つの検査で異なる結果が得られた場合にとる措置を規定する。

9 後処理

  供試品の条件,例えば,温度のような条件を,初期測定のときと同じにするために,試験後と最終測定
との間に,一定の時間が必要な場合がある。製品規格には後処理のための条件を規定する。

10 最終検査及び機能検査

  製品規格の規定に従って,供試品の目視検査,寸法検査,機能検査及び規定されたその他の検査を実施
する。
製品規格に,供試品の合否判定基準を規定する。
振動応答結果の評価については,JIS C 60068-3-8を参照。

11 製品規格に規定すべき事項

  この試験を製品規格に規定する場合は,適用可能な限り,次の事項を規定する。なお,アスタリスク(*)
付きの事項は,必須である。
関連箇条番号
a) 制御点* A.2.2及びA.2.3
b) 計測点* 3.3
c) 基本動作* 4.2
d) 固定点* 3.2

――――― [JIS C 60068-2-85 pdf 11] ―――――

                                                                                             9
C 60068-2-85 : 2020 (IEC 60068-2-85 : 2019)
e) 横運動 4.3
f) 供試品取付け* 4.4
g) 大形又は大質量の供試品の振動許容差 4.3
h) 試験振動数範囲*
i) 必要な厳しさを達成するための諸要因を含む,指定時刻歴
j) 時刻歴の時間及び再現数,又は試験の総時間 A.3
k) 該当休止時間
l) 前処理 6
m) 初期測定値* 7
n) 推奨試験軸及び試験順序* 8.1
o) 初期及び最終振動応答検査 8.2及び8.5
p) 中間測定
q) 後処理 9
r) 最終測定値及び合否基準* 10
s) 測定システムの不確かさ
t) 性能及び機能の確認 10

12 試験報告書に記載する事項

  試験報告書には,少なくとも,次の事項を記載する。
1) 顧客 (名称及び所在地)
2) 試験所 (名称及び所在地)
3) 試験報告書の識別 (発行日及び識別番号)
4) 試験日
5) 試験の目的 (開発試験,認証試験など)
6) 試験規格,発行年 (関連試験手順)
7) 供試品の詳細 (初期状態,識別番号,数量,写真,図面など)
8) 供試品の取付け (取付具の識別番号,図面,写真など)
9) 試験装置の性能 (横運動など)
10) 測定系及びセンサの位置 (説明,図面,写真など。4.5も参照)
11) 測定系の不確かさ (全体的な不確かさ,校正データ,製品規格に規定されてい
る場合には校正実施日及び次回校正日)
12) 初期,中間又は最終測定
13) 文書による試験仕様 (測定点,指定された時刻歴ファイル名,識別番号,指定時
刻歴のファイル名又は識別番号,試験時間,繰り返し回数)
14) 試験結果(供試品の最終状態)
15) 試験中の観察事項及び実施した処置
16) 試験概要

――――― [JIS C 60068-2-85 pdf 12] ―――――

           10
C 60068-2-85 : 2020 (IEC 60068-2-85 : 2019)
17) 試験管理者(氏名及び署名)
18) 送付先(報告書の受領者リスト)
注記1 テストログには,例えば,テストパラメータ,テスト時の見解及び実行アクション,測定デー
タシートを含めてテスト実行順に記載する。テストログは,テストレポートに添付が可能であ
る。
注記2 JIS Q 17025 [9]も参照する。

――――― [JIS C 60068-2-85 pdf 13] ―――――

                                                                                            11
C 60068-2-85 : 2020 (IEC 60068-2-85 : 2019)
附属書A
(参考)
指針
A.1 一般事項
長時間時刻歴再現試験方法は,閉ループ制御下の加振器による試験場での試験で測定された時刻歴応答
データを利用する。複雑な時刻歴を詳細に再現する必要がある場合は,長時間時刻歴再現試験方法はラン
ダム振動又は衝撃応答スペクトル(SRS)によるアプローチよりも適している。長時間時刻歴再現試験に
よる損傷ポテンシャルの程度は,稼働中の環境,すなわち供試品の内部応力強度及びその他の内部荷重の
影響と最もよく一致することがその長所である。さらに,未知の影響を考慮し,信頼度に適切なマージン
をもたせる要因を時刻歴に含むことが比較的簡単であるという長所もある。
長時間時刻歴再現試験が加振器の性能内にあることを確認するためには,実測時刻歴に何らかの操作が
必ず必要となる。一般的に,二段階レベルの加振試験を採用するか,又はフィルタなどのデータ操作ツー
ルを使用する必要がある。
この試験方法に規定している試験要求事項を満たすことが可能な場合,他の振動誘導装置を使用しても
よい。
長時間時刻歴再現試験に使用されるデジタル振動制御装置の性能は類似していると考えられる。振動制
御装置の選択可能な幾つかのパラメータを使って,指定時刻歴と制御時刻歴との差を推定することが可能
である。これには,JIS Q 17025 [9]で定義されている他の不確かさの要因を考慮に入れていない。したが
って,これらのパラメータは相互に依存しているために,二つの時刻歴の最適な一致が得られるように選
択可能である。
指定時刻歴の等化には,制御ループの数回の繰り返しが必要で,ハードウェア構成系全体の伝達関数,
制御アルゴリズム,試験前に調整可能な試験パラメータなどの要素に影響される。
振動応答検査よって,供試品及び振動発生器の相互作用に関する必須の情報が得られる。例えば,この
検査では,試験取付具の極端な振動応答増幅,又は試験用取付具及び供試品の同時共振を明らかにするこ
とが可能である。したがって,再現性を高めるために最適な試験用取付具及びパラメータを選択すること
が可能となる。そのために,取付具に供試品を取り付ける前に取付具の動的応答の検査又はモーダル試験
を実施し,供試品に非現実的な負荷がかからないような修正が望ましい。
A.2 試験要求事項
A.2.1 1点制御
時刻歴加振は,特定の位置で試験中の供試品の振動運動をサンプリングすることで規定された範囲内で
制御される。この位置は,供試品の固定点(制御入力)若しくは供試品上の定義された点(制御応答),又
はそれらの近傍でもよい。長時間時刻歴再現試験のための振動動作は,一点でサンプリングされる(1点
制御)。
制御入力試験によって,装置の通常の取付位置一つで指定された範囲内で加振時刻歴が制御される。制
御応答試験は,指定時刻歴が供試品の応答となることを保証する。製品規格に規定された厳しさが実際の

――――― [JIS C 60068-2-85 pdf 14] ―――――

           12
C 60068-2-85 : 2020 (IEC 60068-2-85 : 2019)
稼働中の機器の応答を示す場合,両方の制御方法が適用可能である。制御応答試験では,機器及び取付具
の動特性が稼働中と類似していることが必要である。これには一般に装置及び取付具の動特性の知識が必
要で,それは試験によって評価可能である。
通常,長時間時刻歴再現試験では,稼働中のデータを取得するために使用される制御位置と一致した制
御位置を使用する必要がある。一致しない制御位置の場合,この試験方法の多くの利点がなくなる。ただ
し,この要求事項の達成が困難な場合,以下の手順が適用可能である。
A.2.2 制御入力試験
ガイダンスは,制御入力試験に適用される。制御点は次の基準で選択する必要がある。
1) 供試品の固定点が一つの場合は,制御点は固定点に隣接させる。
2) 供試品に複数の固定点があり,それらの固定点での時刻歴の厳しさが類似している場合,試験規格
において最も時刻歴試験の厳しさを生成する点を選択する必要がある。
どの場合でも,制御点は製品規格に規定する必要がある。
A.2.3 制御応答試験
ガイダンスは,制御応答試験に適用する。制御点は次の基準で選択する必要がある。
1) 測定データから制御位置を選択する場合,制御位置は供試品上の代表的で測定可能な位置を選択す
る必要がある。この位置は全体的な動的応答を最適化して動作条件を適切に再現するよう選択する
必要がある。
2) 供試品の過剰試験又は過小試験を避けるために,供試品の先端に追加の限界制御点を含める必要が
ある場合がある。
制御応答試験を実施するには,供試品の動的応答特性と試験装置との相互作用に関する知識が必要であ
る。そのような情報は前段階の試験から得られる。この試験を周囲温度以外の温度で実施する必要がある
場合,特性評価は製品規格に規定された寒暖差の大きな温度で実施する。
A.2.4 検証パラメータ
下記に記載する各検証方法は,時刻歴に関連する様々なパラメータに対応している。二つの時刻歴の類
似性を総合評価するには,記載された複数の方法を採用する必要がある。これらの方法は,試験仕様書作
成者に定量的及び定性的評価を提供し,検証プロセスに信用·信頼をもたらす。
次のパラメータを使用して,長時間の時刻歴再現試験を検証してもよい。ただし,検証方法には,何ら
かの制約がある。そのため,検証プロセスでは複数の検証方法を適用することを推奨する。
− 時刻歴波形の比較,差異と重ね合わせ
− 時刻歴エラーの実効値
− 瞬間的なピークレベル
− ピークホールドスペクトル
− 振幅の確率密度
− 最大応答スペクトル
− 疲労損傷スペクトル
− レベルクロッシング,レインフローなどのサイクルカウント方法

――――― [JIS C 60068-2-85 pdf 15] ―――――

次のページ PDF 16

JIS C 60068-2-85:2020の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60068-2-85:2019(IDT)

JIS C 60068-2-85:2020の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 60068-2-85:2020の関連規格と引用規格一覧