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C 61280-2-1 : 2018 (IEC 61280-2-1 : 2010)
特に指定がない限り,50 %とし,その許容差は±0.1 dBであることが望ましい。
3.6 光試験コード
別段の合意がない限り,シングルモード光ファイバ又はマルチモード光ファイバの基準となる光試験コ
ードは,用途で必要な要求を満たす適切な光コネクタを付けて,使われなければならない。光コネクタを
含む光試験コードの光損失は1.0 dB以下とする。
3.7 光送信インタフェース
光送信インタフェースは,次の二つの特性のいずれも満たさなければならない。
a) 光出力パワーが光受信器の最大規定入力光パワーより2 dB以上である。
b) 規定された光ファイバ受信器で使う光送信インタフェースに類似した電気的特性及び光学的特性をも
つ。
4 被試験装置
被試験装置は,光ファイバ受信器,光増幅器,又は光再生器であり,通常の運用状態のシステムで使わ
れる全ての関連する信号調節装置,処理装置及び多重化装置を含む。システムの入出力の終端は,システ
ムユーザが一般的に使用するものでなければならない。
5 試験手順
試験は,次の手順で行う。
5.1 動作条件及び試験環境
特に指定がない限り,標準の動作条件を用いる。雰囲気又は基準となる温度及び湿度を規定しなければ
ならない。
被試験装置及び全ての試験装置を起動し,装置が安定した温度及び測定性能となるように,特に指定が
ない場合は,30分間待つ。必要であれば,被試験装置を特定な運用条件とする。
5.2 光コネクタ端面の清掃
光接続を変更した場合には,必ず光コネクタの端面を清掃する。清掃器材(器具,材料及び物質を含む。)
及び清掃方法は,光コネクタを清掃するために適切なものを選ぶ。特定の機器及び清掃方法の適性に関し,
疑義が生じた場合には,光コネクタの供給業者の説明書を参考にする。
5.3 受信感度測定
光増幅器又は光再生器を含まない光ファイバ受信器だけを試験するときには,図2のように機器を接続
する。光増幅器又は光再生器を試験する場合は,図3のように機器を接続し,特に指定がない場合は,223
−1のワード長の擬似ランダムビット列で試験するために,データ発生器及び誤りカウンタを接続する。
――――― [JIS C 61280-2-1 pdf 6] ―――――
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C 61280-2-1 : 2018 (IEC 61280-2-1 : 2010)
データ ビット誤り率試験装置 誤り
発生器 カウンタ
光試験 光試験 光試験
光送信 コード コード コード 被試験装置
可変光 光
インタ 光ファイバ
1 減衰器 2 カプラ 3
フェース 受信器
光試験 4
コード
光パワー
メータ
図2−光ファイバ受信器の受信感度測定構成
データ ビット誤り率試験装置 誤り
発生器 カウンタ
光ファイバ
受信器
光試験 光試験 光試験
光送信 コード コード コード 被試験装置
可変光 光
インタ 光増幅器/
減衰器 カプラ
フェース 1 2 3 光再生器
光試験 4
コード
光パワー
メータ
図3−光増幅器及び光再生器の受信感度測定構成
5.3.1 光入力パワー校正
校正は,次の手順で行う。
a) 光試験コード4の出力から光パワーメータを外し,被試験装置から光試験コード3の出力を外す。
b) 光試験コード3の出力に光パワーメータを接続する。
c) 可変光減衰器を0 dBに設定し,光パワーを測定する。
d) 光試験コード4の出力に光パワーメータを接続し,被試験装置に光試験コード3の出力を再接続する。
e) 光パワーを測定する。二つの測定値の違いを記録する。
5.3.2 ビット誤り率又はブロック誤り率の判定
次の手順で行う。
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a) 規定の最小光入力パワーよりも3 dB高い光パワーレベルになるように,可変光減衰器を調整する。
b) 最初にエラーが観測されるまで,減衰量を増やして可変光減衰器を調整する。誤りカウンタがビット
誤り率又はブロック誤り率を計算する機能をもつ場合,その結果及びパワーレベルを記録する。
c) そのような機能がない場合,表1の最短監視時間以上の監視時間内に発生したエラー数を数えて,次
の式で誤り率を計算する。
N BN
BER 又は EBR
DT DT
ここに, N : 監視時間内に観測されたビットエラー数
D : データ速度
T : 監視時間
B : ブロック内のデータのビット数
表1−最短監視時間
データ速度 最短監視時間
s/bit
1 Mb/s<データ速度<30 Mb/s (1/データ速度)×108
データ速度>30 Mb/s (1/データ速度)×1010
注記 ブロック誤り率を測定する場合,最短監視時間は,ブロック内のデータビット
数を乗ずることが望ましい。
d) 光パワーとともに算出したビット誤り率を記録する。
e) 装置が,規定された最大ビット誤り率に達するまで,1 dBステップで減衰量を増やし,光パワーレベ
ル及び測定又は計算されたビット誤り率を各ステップで記録する。規定された最大誤り率に近づくよ
うに,より小さいステップで減衰させる。
f) 観測した光入力パワーレベルは,その機器で規定されたビット誤り性能を満たす機器の受信感度又は
最低必要な光入力パワーレベルを表す。実際の光パワーと校正手順に従って得られた光パワーとの差
を考慮しなければならない。
g) 装置によっては,内部にビット誤り監視機能があり,指定されたビット誤り率に達したときに,入力
の喪失を示すために,システム出力に特殊信号を出力する点に注意することが望ましい。このような
場合は,入力感度は,特殊信号が発生した入力レベルとする。
5.4 オーバロードレベルの測定
5.4.1 通則
図4又は図5に示すように機器を接続し,特に指定がない場合は,223−1のワード長の擬似ランダムビ
ット列で動作するようにデータ発生器及び誤りカウンタを設定する。この試験では,光送信器は被試験装
置の受信インタフェースにおいて規定の最大光入力パワーよりも0.5 dB以上高い光信号パワーを供給可能
でなければならない。
5.4.2 パワーレベルの校正
次の手順で行う。
a) 被試験装置から光試験コード2の出力を外し,それを光パワーメータに接続する。
b) 装置の製造業者又は供給者が規定した最大光入力パワーよりも3 dB低い光出力パワーレベルになる
ように可変光減衰器を調整する。特に指定がない場合は,光入力パワーレベルを受信感度パワーレベ
ルに設定する。実際の光パワーと校正手順に従って得られた光パワーとの差を考慮しなければならな
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い。
c) 光出力レベル及び可変光減衰器の設定値を記録する。
d) 光パワーメータから光試験コード2の出力を外し,被試験装置に再接続する。
データ ビット誤り率試験装置 誤り
発生器 カウンタ
光試験 光試験
光送信 コード コード 被試験装置
可変光
インタ 光ファイバ
1 減衰器 2
フェース 受信器
光パワー
メータ
図4−受信端末装置のオーバロードレベル測定構成
データ ビット誤り率試験装置 誤り
発生器 カウンタ
光ファイバ
受信器
光試験 光試験
光送信 コード コード 被試験装置
可変光
インタ 光増幅器/
1 減衰器 2
フェース 光再生器
光パワー
メータ
図5−光増幅器及び光再生器のオーバロードレベル測定構成
5.4.3 オーバロードレベルの決定
a) 可変光減衰器を調整し,最初の数個のエラーが観測されるまで減衰量を減らす。誤りカウンタが誤り
率を直接計算する機能をもつ場合,その結果及び可変光減衰器の設定値を記録する。
b) 誤りカウンタの機能がない場合は,5.3.2に記載する手順によって誤り率を計算する。
c) 可変光減衰器の設定値を細かいステップで更に減らし,被試験装置で規定された最大誤り率に達する
まで誤り率を測定又は計算する。オーバロードレベルを示す可変光減衰器の設定値を記録する。
d) エラーがない状態又は非常に低い誤り率から非常に高い誤り率への遷移は,可変光減衰器の最小設定
精度よりも小さい光入力パワーの変化で起こる場合がある。
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e) 装置によっては内部に誤り監視機能をもっており,規定の誤り率に達すると特殊信号を出力する場合
がある。このような場合は,オーバロードレベルは,特殊信号の発生を観測した光入力レベルとする。
5.4.4 オーバロードレベルの算出
オーバロードレベルは,校正時の減衰量設定値からオーバロードレベル決定後の減衰量設定値を減じて,
光パワー測定値に加えることで,算出される。
Pmax A0 A1 P0 (dB表記)
ここに, Pmax : オーバロードレベル(dB表記)
A0 : 校正時の減衰量設定値(dB表記)
A1 : オーバロードレベル決定後の減衰量設定値(dB表記)
P0 : 校正時のパワーレベル(dB表記)
6 測定の不確かさ
受信感度及びオーバロードレベルの測定における次の不確かさ(作業者の誤りを除く。)を考慮する。
a) 可変光減衰器の校正(オーバロード測定だけ)。
b) 光パワーメータの校正。
c) 被試験装置と光パワーメータとの光コネクタ接続損失の差。この不確かさは基準品質の光コネクタを
装着した光試験コードを用いることで,最小化できる。
7 試験結果
試験結果は,必要な情報及び有益な情報を含む。
7.1 必要な情報
必要な情報を次に示す。
a) 被試験装置の特定
b) 試験の日付及び表題
c) 動作条件
d) 試験方法
e) 環境条件
f) 用いた手順
g) 試験結果
7.2 有益な情報
有益な情報を次に示す。
a) 使用した試験装置
b) 光試験コード及び光コネクタパラメータ
c) 光パワー測定の不確かさ
d) 試験者の名前
e) 供給電圧及び電流
f) データ速度及び入力信号特性
g) 光入力及び光出力測定条件 : 波長,受信感度,最大受光レベル
h) 推奨ウォーミングアップ時間(温度が安定するのに必要な時間)
i) 光パワーメータ及び可変光減衰器の校正の詳細情報
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JIS C 61280-2-1:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61280-2-1:2010(IDT)
JIS C 61280-2-1:2018の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.01 : 光ファイバシステム一般