JIS C 61280-2-2:2017 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第２－２部：光アイパターン，光波形及び消光比測定

                                                C 61280-2-2 : 2017 (IEC 61280-2-2 : 2012, Cor.1 : 2015)

pdf 目 次

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•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 試験装置・・・・[3]
•  4.1 一般事項・・・・[3]
•  4.2 基準受信器の仕様・・・・[3]
•  4.3 時間領域光検出システム・・・・[4]
•  4.4 総合的なシステム応答・・・・[6]
•  4.5 オシロスコープ同期システム・・・・[7]
•  4.6 パターン発生器・・・・[9]
•  4.7 光パワーメータ・・・・[9]
•  4.8 光減衰器・・・・[9]
•  4.9 試験コード・・・・[9]
•  5 被試験信号・・・・[9]
•  6 機器の設定及び被試験物の設定・・・・[9]
•  7 測定手順・・・・[10]
•  7.1 概要・・・・[10]
•  7.2 消光比測定・・・・[10]
•  7.3 アイ振幅・・・・[12]
•  7.4 方形波を使用した光変調振幅(OMA)測定・・・・[12]
•  7.5 コントラスト比(RZ信号用)・・・・[13]
•  7.6 ジッタ測定・・・・[13]
•  7.7 アイ幅・・・・[14]
•  7.8 デューティサイクルひずみ・・・・[14]
•  7.9 交点パーセント表示・・・・[15]
•  7.10 アイ高さ・・・・[16]
•  7.11 Q値/信号対雑音比・・・・[16]
•  7.12 上昇時間・・・・[16]
•  7.13 下降時間・・・・[17]
•  8 アイマスクを使用したアイパターン分析・・・・[17]
•  8.1 マスクヒットを許容しないアイマスク試験・・・・[17]
•  8.2 ヒット率を使用したアイマスク試験手法・・・・[18]
•  9 試験結果・・・・[20]
•  9.1 必要な情報・・・・[20]

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――――― [JIS C 61280-2-2 pdf 1] ―――――

C 61280-2-2 : 2017 (IEC 61280-2-2 : 2012, Cor.1 : 2015)

pdf 目次

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•  9.2 有益な情報・・・・[20]
•  9.3 具体的な情報・・・・[20]

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――――― [JIS C 61280-2-2 pdf 2] ―――――

                                                C 61280-2-2 : 2017 (IEC 61280-2-2 : 2012, Cor.1 : 2015)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産
業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
  これによって,JIS C 61280-2-2:2010は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61280の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61280-1-3 第1-3部 : 中心波長及びスペクトル幅測定
    JIS C 61280-2-1 受信感度及びオーバロード測定
    JIS C 61280-2-2 第2-2部 : 光アイパターン,光波形及び消光比測定
    JIS C 61280-2-3 第2-3部 : ジッタ及びワンダ測定
    JIS C 61280-2-8 Q値測定を用いた低ビット誤り率の決定法
    JIS C 61280-2-9 高密度波長分割多重システムの光信号対雑音比測定
    JIS C 61280-2-10 第2-10部 : レーザ送信器の時間分解チャープ及びアルファファクタ測定
    JIS C 61280-2-11 光信号品質評価のための強度ヒストグラム評価を用いた平均化Q値測定
    JIS C 61280-4-4 第4-4部 : ケーブル設備及びリンク−既設リンクの偏波モード分散測定

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――――― [JIS C 61280-2-2 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 61280-2-2 : 2017
                                                         (IEC 61280-2-2 : 2012,Cor.1 : 2015)

光ファイバ通信サブシステム試験方法−第2-2部 : 光アイパターン,光波形及び消光比測定

Fiber optic communication subsystem test procedures- Part 2-2: Optical eye pattern, waveform and extinction ratio measurement

序文

  この規格は,2012年に第4版として発行されたIEC 61280-2-2及びCorrigendum 1:2015を基に,技術的
内容及び構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,あらかじめ定められた波形マスクの整合性を確認するための試験手順,並びに光アイパタ
ーン,光波形のパラメータ[例えば,上昇時間(慣用的には“立ち上がり時間”ともいう。),下降時間(慣
用的には“立ち下がり時間”ともいう。),変調振幅]及び消光比を測定するための試験手順について規定
する。
    注記1 他の方法として,規定の光波形マスクに準拠して光波形を試験する場合もある。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61280-2-2:2012,Fibre optic communication subsystem test procedures−Part 2-2: Digital
                systems−Optical eye pattern, waveform and extinction ratio measurement及びCorrigendum
                1:2015(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 61280-2-3 光ファイバ通信サブシステム試験方法−第2-3部 : ジッタ及びワンダ測定
      注記 対応国際規格 : IEC 61280-2-3,Fibre optic communication subsystem test procedures−Part 2-3:
             Digital systems−Jitter and wander measurements

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
振幅ヒストグラム(amplitude histogram)

――――― [JIS C 61280-2-2 pdf 4] ―――――

2
C 61280-2-2 : 2017 (IEC 61280-2-2 : 2012, Cor.1 : 2015)
  波形の電力又は電圧の母集団分布を表示する図示手段。
3.2
コントラスト比(contrast ratio)
  RZ(ゼロ復帰)信号のときの,最大振幅と最小振幅(二つの隣接する論理1の中間でみられる,ゼロに
復帰した状態)との比。
3.3
デューティサイクルひずみ,DCD(duty cycle distortion)
  論理0ビットの時間幅と論理1ビットの時間幅とのバランスの尺度。アイパターンの平均又は50 %のレ
ベルにおける上昇エッジと下降エッジとの間の時間で示す。
3.4
消光比(extinction ratio)
  アイパターンの論理0レベルと論理1レベルとの比。
3.5
アイパターン(eye diagram)
  全ての標本を1単位間隔の幅の共通時間軸に重ね描きすることによってデジタル信号の主要な性能を示
す波形表示の形。
3.6
アイ高さ(eye height)
  1レベル(アイパターンの論理1レベルよりも3標準偏差下のレベル)と0レベル(アイパターンの論
理0レベルよりも3標準偏差上のレベル)との間の差。
3.7
アイマスク(eye mask)
  アイパターンが存在してはならない領域を定める多角形の配置。それによって伝送波形の許容形を事実
上定める。
3.8
アイ幅(eye width)
  アイパターンの二つのクロスポイントの広がりの間の時間差。ここで,クロスポイントの平均位置から
アイの中心方向へ3標準偏差分を広がりとする。
3.9
ジッタ(jitter)
  デジタル信号の理想的な時間位置からの論理遷移の偏差。クロスポイントの時間幅又は広がりとしてア
イパターン上に現れる。
3.10
観測ジッタ伝達関数,OJTF(observed jitter transfer function)
  実際のジッタと比較して表示又は測定されたジッタの比率。試験装置が測定信号に由来するクロックと
同期するとき,ジッタ周波数に対する関数になる。
3.11
基準受信器(reference receiver)
  試験装置の周波数及び位相特性を表示する基準器。概して,4次ベッセル・トムソン形低域通過フィル
タであり,試験装置が期待どおりの特性のときはいつでも一貫した結果を得る目的で,送信波形を分析す

――――― [JIS C 61280-2-2 pdf 5] ―――――

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