JIS C 61280-2-1:2018 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第２－１部：受信感度及びオーバロード測定

                                                            C 61280-2-1 : 2018 (IEC 61280-2-1 : 2010)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 用語及び定義・・・・[2]
•  3 試験装置・・・・[3]
•  3.1 通則・・・・[3]
•  3.2 ビット誤り率試験装置・・・・[3]
•  3.3 光パワーメータ・・・・[3]
•  3.4 可変光減衰器・・・・[3]
•  3.5 光カプラ・・・・[3]
•  3.6 光試験コード・・・・[4]
•  3.7 光送信インタフェース・・・・[4]
•  4 被試験装置・・・・[4]
•  5 試験手順・・・・[4]
•  5.1 動作条件及び試験環境・・・・[4]
•  5.2 光コネクタ端面の清掃・・・・[4]
•  5.3 受信感度測定・・・・[4]
•  5.4 オーバロードレベルの測定・・・・[6]
•  6 測定の不確かさ・・・・[8]
•  7 試験結果・・・・[8]
•  7.1 必要な情報・・・・[8]
•  7.2 有益な情報・・・・[8]

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――――― [JIS C 61280-2-1 pdf 1] ―――――

C 61280-2-1 : 2018 (IEC 61280-2-1 : 2010)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産
業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
  これによって,JIS C 61280-2-1:2010は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61280の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61280-1-3 第1-3部 : 中心波長及びスペクトル幅測定
    JIS C 61280-2-1 第2-1部 : 受信感度及びオーバロード測定
    JIS C 61280-2-2 第2-2部 : 光アイパターン,光波形及び消光比測定
    JIS C 61280-2-3 第2-3部 : ジッタ及びワンダ測定
    JIS C 61280-2-8 Q値測定を用いた低ビット誤り率の決定法
    JIS C 61280-2-9 高密度波長分割多重システムの光信号対雑音比測定
    JIS C 61280-2-10 第2-10部 : レーザ送信器の時間分解チャープ及びアルファファクタ測定
    JIS C 61280-2-11 光信号品質評価のための強度ヒストグラム評価を用いた平均化Q値測定
    JIS C 61280-4-4 第4-4部 : ケーブル設備及びリンク−既設リンクの偏波モード分散測定

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――――― [JIS C 61280-2-1 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 61280-2-1 : 2018
                                                                       (IEC 61280-2-1 : 2010)

光ファイバ通信サブシステム試験方法−第2-1部 : 受信感度及びオーバロード測定

Fiber optic communication subsystem test procedures- Part 2-1: Receiver sensitivity and overload measurement

序文

  この規格は,2010年に第2版として発行されたIEC 61280-2-1を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1 適用範囲

  この規格は,デジタル光ファイバ通信システムに使用する試験の方法について規定する。
  この試験方法の第一の目的は,光システム受信器の光コネクタ入力ポートにおける,規定したビット誤
り率を満足する最小の光入力パワー及び許容できる最大の光入力パワーを,測定することである。第二の
目的は,端末装置製造業者が指定した最小及び最大光入力パワーにおいて,保証したビット誤り率特性で
あることを確認することである。
  図1に,光ファイバシステムと関連する典型的な要素を示す。光増幅器又は光再生器を長距離通信シス
テムで使うことがあるが,イーサネットなどのデータ転送システムでは通常,用いない。双方向のシステ
ムでは,光送信器と,それに対応する光受信器とは,通常,点線で示すように,同じ場所にある。この規
格は,光受信器,光増幅器,又は光再生器の光入力インタフェースの特性に関連する。
                   光受信  光ファイバリンク  光増幅  光ファイバリンク  光送信
                   インタ                    器/光                    インタ
システム          フェース                   再生器                   フェース       システム
出力信号                                                                             入力信号
                受信装置                                                送信装置
                   光送信  光ファイバリンク  光増幅  光ファイバリンク  光受信
                   インタ                    器/光                    インタ
システム          フェース                   再生器                   フェース       システム
入力信号                                                                             出力信号
                送信装置                                                受信装置
                                    測定点                    測定点
                                    図1−光ファイバシステム

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2
C 61280-2-1 : 2018 (IEC 61280-2-1 : 2010)
  光ファイバ受信器の特性は,信号フォーマットによって異なることに注意することが望ましい。このた
め,実際の動作条件に相当する信号フォーマットを使う必要がある。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 61280-2-1:2010,Fibre optic communication subsystem test procedures−Part 2-1: Digital systems
              −Receiver sensitivity and overload measurement(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
2.1
ビット誤り率,BER(bit error ratio)
  ある規定された時間周期での,誤りビット数を全ビット数で除した値。
  (IEC/TR 61931の2.9.33)
2.2
ビット列(bit sequence)
  デジタル信号の1及び0で定義されたデータ列。
2.3
ビットパターン(bit pattern)
  等間隔で繰り返されるデジタル信号における1及び0の規定のデータ列。
2.4
ブロック誤り率,EBR(errored block ratio)
  規定された時間周期内に,誤りが発生したブロック(規定の桁数をもつ)数を受信したブロック総数で
除した値。誤りブロックは,複数の誤りを含むことがある。
2.5
オーバロードレベル(overload level)
  規定された性能品質を満たせなくなる最大光入力パワー。
2.6
擬似ランダムビット列(pseudo random bit sequence)
  1及び0のランダムなパターンを模擬した繰返しのビット列。nビット配列のr番目の桁に加えて,n個
の0(又はn個の1)の配列を発生させないことで,生成する。パターンは,2n−1ビットごとに繰り返す。
2.7
受信感度(receiver sensitivity)
  規定された性能品質を満たすために必要とされる最小光パワー。
  (IEC/TR 61931の2.7.58を修正)
2.8
システム入力信号(system input signal)
  この規格の目的のために用いる,外部の装置とのインタフェースとなるシステムへの入力信号。この信
号は,その用途に合わせた特定のフォーマットであり,電気又は光である。この信号は,その装置に特有
の物理的なインタフェースを通じてアクセスする。

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                                                                                              3
                                                            C 61280-2-1 : 2018 (IEC 61280-2-1 : 2010)
2.9
システム出力信号(system output signal)
  この規格の目的のために用いる,外部の装置とのインタフェースとなるシステムへの出力信号。この信
号は,その用途に合わせた特定のフォーマットであり,電気又は光である。この信号は,その装置に特有
の物理的なインタフェースを通じてアクセスする。

3 試験装置

3.1 通則

  試験環境を図2に示す。光試験コード3と光試験コード4とは,類似するものを用い,同じ長さにする
ことが重要である。

3.2 ビット誤り率試験装置

  ビット誤り率試験装置は,次の構成要素で実現する。
3.2.1  データ発生器
  ビット誤り率試験装置のデータ発生器は,被試験装置のシステム入力インタフェースの要求に合う信号
フォーマット(パルス形状,振幅など)をもつ,擬似ランダムビット列又は特定のビットパターンの,シ
ステムに入力するデータを供給する機能をもたなければならない。
  最低限,データ発生器は,次の出力データフォーマットを供給できなければならない。システムからの
要求に応じて,ほかのデータフォーマットを使うことがある。
− 223−1擬似ランダムビット列
− 全て1のデータ列
− 1個の“1”及び15個の“0”のデータ列
  試験信号のフォーマット(パルス形状,振幅など)は,光送信入力インタフェースで規定するフォーマ
ットに適合しなければならない。また,デジタル誤りを測定するため,試験測定器の受信部は,システム
出力と接続できなければならない。
3.2.2  誤りカウンタ
  ビット誤り率試験装置の誤りカウンタは,被試験装置の出力と接続する。被試験装置のシステム出力イ
ンタフェースのデータ速度で,単発誤り又は誤ったブロックを数えられなければならない。誤りカウンタ
は,ビット誤り率又はブロック誤り率を計算する機能をもつ場合,10−12の低いレベルまで計算できなけれ
ばならない。

3.3 光パワーメータ

  使用する光パワーメータは,少なくとも0.1 dBの分解能をもち,データフォーマット及びビットレート
に依存せず,被試験装置を試験する波長及びパワー範囲で校正されていなければならない。全ての測定結
果は,dBで記録する。

3.4 可変光減衰器

  可変光減衰器は,0.25 dB以下のステップで減衰できなければならない。試験時に光受信器の規定入力範
囲より少なくとも5 dB以上大きい減衰量をもつことが望ましい。光送信器への後方反射を回避するように
注意することが望ましい。

3.5 光カプラ

  光カプラは,1入力,2出力で,適切な光コネクタが付いていなければならない。出力ポートの分岐比は,

――――― [JIS C 61280-2-1 pdf 5] ―――――

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