JIS C 61300-2-22:2012 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－２２部：温度サイクル試験

                                                          C 61300-2-22 : 2012 (IEC 61300-2-22 : 2007)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 概要・・・・[1]
•  4 装置・・・・[2]
•  5 手順・・・・[2]
•  5.1 前処理・・・・[2]
•  5.2 初期試験及び初期測定・・・・[2]
•  5.3 試験・・・・[2]
•  5.4 後処理・・・・[3]
•  5.5 最終試験及び最終測定・・・・[3]
•  6 試験の厳しさの程度・・・・[3]
•  7 個別規格に規定する事項・・・・[3]

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C 61300-2-22 : 2012 (IEC 61300-2-22 : 2007)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)
及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があ
り,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61300の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61300-1 第1部 : 通則
    JIS C 61300-2-2 第2-2部 : 繰返しかん合試験
    JIS C 61300-2-12 第2-12部 : 落下衝撃試験
    JIS C 61300-2-14 第2-14部 : 光パワー損傷のしきい値試験
    JIS C 61300-2-17 第2-17部 : 低温試験
    JIS C 61300-2-18 第2-18部 : 高温試験
    JIS C 61300-2-19 第2-19部 : 高温高湿試験(定常状態)
    JIS C 61300-2-22 第2-22部 : 温度サイクル試験
    JIS C 61300-2-45 第2-45部 : 浸水試験
    JIS C 61300-2-46 第2-46部 : 湿熱サイクル試験
    JIS C 61300-2-47 第2-47部 : 熱衝撃試験
    JIS C 61300-2-48 第2-48部 : 温湿度サイクル試験
    JIS C 61300-3-2 第3-2部 : シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
    JIS C 61300-3-3 第3-3部 : 挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
    JIS C 61300-3-4 第3-4部 : 損失測定
    JIS C 61300-3-6 第3-6部 : 反射減衰量測定
    JIS C 61300-3-20 第3-20部 : 波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
    JIS C 61300-3-26 第3-26部 : 光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定
    JIS C 61300-3-28 第3-28部 : 過渡損失測定
    JIS C 61300-3-30 第3-30部 : 多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置
        測定
    JIS C 61300-3-31 第3-31部 : 光ファイバ光源の結合パワー比測定

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                    C 61300-2-22 : 2012
                                                                      (IEC 61300-2-22 : 2007)

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-22部 : 温度サイクル試験

Fiber optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 2-22: Tests-Change of temperature

序文

  この規格は,2007年に第2版として発行されたIEC 61300-2-22を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1 適用範囲

  この規格は,光ファイバ接続デバイス及び光受動部品の温度変化又は温度変化の繰返しに対する耐久性
を判定する手順について規定する。
    注記1 関連する基本試験及び測定手順の通則は,JIS C 61300-1に規定する。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
             IEC 61300-2-22:2007,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
                 measurement procedures−Part 2-22: Tests−Change of temperature(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 60068-2-14 環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
             temperature(IDT)
    JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部 : 通則
      注記 対応国際規格 : IEC 61300-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic
             test and measurement procedures−Part 1: General and guidance(IDT)

3 概要

  この試験方法は,JIS C 60068-2-14の試験Nbに従って行う。最初に,供試品を規定した時間,一方の温
度に放置する。次に,もう一方の温度に同じ期間放置する。

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C 61300-2-22 : 2012 (IEC 61300-2-22 : 2007)

4 装置

  試験槽は,JIS C 60068-2-14の試験Nbに規定する環境試験槽を用いる。
  温度の変化率は,1±0.2 ℃/minとする。

5 手順

  5.15.5の手順は,JIS C 60068-2-14の試験Nbの規定に従って行う。
  個別規格に規定がない場合,次の細別の規定に従う。
− 供試品に入出力光ファイバがある場合は,試験中にモニタするポートに接続した光ファイバは,1.5 m
    以上を試験槽の中に収納する。
− 個別規格に試験中の光学測定の要求がある場合は,測定はそれぞれの保持時間の終わりに,それぞれ
    の温度で(最低限の時間で)実行する。
− 測定に波長掃引を必要とする供試品は,測定を完全に実行するため,高温,室温又は低温における保
    持時間を長くしてもよい。

5.1 前処理

  別途規定がない場合,供試品を2時間以上JIS C 61300-1に規定の標準的環境条件に放置する。製造業者
の指示に従い,供試品の光コネクタなどの光結合部を清掃する。

5.2 初期試験及び初期測定

  個別規格に規定がある場合は,初期試験及び初期測定を行う。

5.3 試験

5.3.1  供試品を試験槽の通常の試験位置に置き,測定装置に接続する。
5.3.2  個別規格に規定がない場合は,図1の温度プロファイルを適用する。標準的環境条件で開始し,
1 ℃/minの割合で低温TAに下げる。
  時間t1は60分間以上,TAに保つ。1 ℃/minの割合で高温TBに上げる。時間t1は60分間以上の間,TB
に保つ。次に,温度をTAに下げ,要求するサイクル数でこのプロファイルを繰り返す。
     A : 第1サイクルの開始
                                     図1−温度プロファイル
  注記   測定を完全に実行するため,高温及び低温のいずれも,保持時間を長くしてもよい。
5.3.3  幾つかの性能区分においては,最初に高い温度に上げ,高温から低温の温度勾配の間に標準的環境
条件での保持時間を含めてもよい。この場合は,図2に示すプロファイルを適用する。

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                                                                                              3
                                                          C 61300-2-22 : 2012 (IEC 61300-2-22 : 2007)
  標準的環境条件から始めて高温TBまで1 ℃/minの割合で上げる。次に,時間t1は60分間以上,高温を
保持する。次に,1 ℃/minの割合で標準的環境条件まで下げる。時間t1は60分間以上,標準的環境条件
で保持する。低温TAまで1 ℃/minの割合で下げる。時間t1は60分間以上,その温度を保持する。1 ℃/min
の割合で標準的環境条件まで上げ,時間t1は60分間以上,保持する。引き続き同じパターンを繰り返す。
     A : 第1サイクルの開始
                                   図2−任意温度プロファイル

5.4 後処理

  供試品を2時間以上標準的環境条件に放置する。

5.5 最終試験及び最終測定

  個別規格に規定する最終試験及び最終測定を実施し,結果を記録する。個別規格に規定がない場合は,
最終測定の前に製造業者の指示に従い供試品を清掃する。

6 試験の厳しさの程度

  試験の厳しさの程度は,表1のとおり,低温TA,それに対応する高温TB及びサイクル数の組合せで決
まる。それらの組合せは,個別規格で規定する。
                                       表1−厳しさの程度
                    環境カテゴリ            低温TA         高温TB       サイクル数
                                              ℃             ℃
            屋内環境(カテゴリC)            −10            60             5
            屋外環境(カテゴリU)            −25            70            12
            劣悪環境(カテゴリE)            −40            85            12
            厳しい屋外環境(カテゴリO)      −40            75            21
            架空(カテゴリA)                −40            65            20
            地上(カテゴリG)                −40            65            20
            地下(カテゴリS)                −30            60            20

7 個別規格に規定する事項

  次の事項は,それぞれの事項の必要がある場合,個別規格に規定する。
− 厳しさの程度
− 初期試験項目及び初期測定項目並びに初期性能要求

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