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JIS C 61300-3-24:2012 規格概要
この規格 C61300-3-24は、偏波面保存光ファイバ(PMF)付き光ファイバコネクタのキー位置精度を測定する手順について規定。
JISC61300-3-24 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C61300-3-24
- 規格名称
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-24部 : 偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定
- 規格名称英語訳
- Fiber optic interconnecting devices and passive components -- Basic test and measurement procedures -- Part 3-24:Keying accuracy of optical connectors for polarization maintaining fiber
- 制定年月日
- 2012年11月20日
- 最新改正日
- 2017年10月20日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- IEC 61300-3-24:2006(IDT)
- 国際規格分類
ICS
- 33.180.20
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 電子 II-1 2020, 電子 II-2 2020, 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
- 改訂:履歴
- 2012-11-20 制定日, 2017-10-20 確認
- ページ
- JIS C 61300-3-24:2012 PDF [9]
C 61300-3-24 : 2012 (IEC 61300-3-24 : 2006)
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1 適用範囲・・・・[1]
- 2 概要・・・・[1]
- 3 装置・・・・[2]
- 4 手順・・・・[2]
- 5 個別規格に規定する事項・・・・[3]
- 附属書A(参考)PMFのキー位置精度・・・・[4]
- 附属書B(参考)消光比の理論値及び実測値・・・・[5]
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C 61300-3-24 : 2012 (IEC 61300-3-24 : 2006)
まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
JIS C 61300の規格群には,次に示す部編成がある。
JIS C 61300-1 第1部 : 通則
JIS C 61300-2-1 第2-1部 : 正弦波振動試験
JIS C 61300-2-2 第2-2部 : 繰返しかん合試験
JIS C 61300-2-9 第2-9部 : 衝撃試験
JIS C 61300-2-12 第2-12部 : 落下衝撃試験
JIS C 61300-2-14 第2-14部 : 光パワー損傷のしきい値試験
JIS C 61300-2-15 第2-15部 : 結合部ねじり試験
JIS C 61300-2-17 第2-17部 : 低温試験
JIS C 61300-2-18 第2-18部 : 高温試験
JIS C 61300-2-19 第2-19部 : 高温高湿試験(定常状態)
JIS C 61300-2-21 第2-21部 : 混合温湿度サイクル試験
JIS C 61300-2-22 第2-22部 : 温度サイクル試験
JIS C 61300-2-45 第2-45部 : 浸水試験
JIS C 61300-2-46 第2-46部 : 湿熱サイクル試験
JIS C 61300-2-47 第2-47部 : 熱衝撃試験
JIS C 61300-2-48 第2-48部 : 温湿度サイクル試験
JIS C 61300-3-2 第3-2部 : シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
JIS C 61300-3-3 第3-3部 : 挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
JIS C 61300-3-4 第3-4部 : 損失測定
JIS C 61300-3-6 第3-6部 : 反射減衰量測定
JIS C 61300-3-7 第3-7部 : シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定
JIS C 61300-3-15 第3-15部 : 球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定
JIS C 61300-3-16 第3-16部 : 球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定
JIS C 61300-3-20 第3-20部 : 波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
JIS C 61300-3-24 第3-24部 : 偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定
JIS C 61300-3-26 第3-26部 : 光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定
JIS C 61300-3-27 第3-27部 : 多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定
JIS C 61300-3-28 第3-28部 : 過渡損失測定
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C 61300-3-24 : 2012 (IEC 61300-3-24 : 2006)
JIS C 61300-3-30 第3-30部 : 多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置
測定
JIS C 61300-3-31 第3-31部 : 光ファイバ光源の結合パワー比測定
JIS C 61300-3-34 第3-34部 : ランダム接続時の挿入損失
JIS C 61300-3-36 第3-36部 : 光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定
JIS C 61300-3-43 第3-43部 : 光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定
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日本工業規格(日本産業規格) JIS
C 61300-3-24 : 2012
(IEC 61300-3-24 : 2006)
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-24部 : 偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定
Fiber optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 3-24: Keying accuracy of optical connectorsfor polarization maintaining fiber
序文
この規格は,2006年に第2版として発行されたIEC 61300-3-24を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
1 適用範囲
この規格は,偏波面保存光ファイバ(PMF)付き光ファイバコネクタのキー位置精度を測定する手順に
ついて規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 61300-3-24:2006,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures−Part 3-24: Examinations and measurements−Keying accuracy of
optical connectors for polarization maintaining fibre(IDT)
なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
とを示す。
2 概要
偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタは,接続する二つの光ファイバの偏波軸に合わせて調心
する必要があり,高消光比でのPMF接続を実現するためには,偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネ
クタのキー位置精度(附属書A参照)を規定しなければならない。一般的に数メートルの光ファイバでは,
PMF自体の消光比は,40 dBを超える。
光ファイバコネクタで接続したPMFは,通常,PMF自体がもつ消光比よりも小さくなる。それは,次
の理由による。
a) MFをフェルールに接着した後の残留応力
b) 光ファイバコネクタ接続時の偏波軸の角度ずれ
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2
C 61300-3-24 : 2012 (IEC 61300-3-24 : 2006)
b)の光ファイバコネクタ接続時の偏波軸の角度ずれによる影響を測定する場合,光ファイバコネクタの
キー位置精度及び消光比の測定は,非常に重要である(附属書B参照)。
3 装置
この規格で用いる測定系を,図1に示す。また,この測定系に必要な装置を次に示す。
a) 特性(波長,スペクトル幅など)が既知の光源S及び対応する検出器D。この測定においては,光源
Sは,ファブリペロレーザ,又はSLD(SLD : Super Luminescence Diode)などの低コヒーレンス性の
光源が適している。
b) 1及びL2の二つのレンズで形成する平行ビーム内に配列した偏光子P1,四分の一波長板及び偏光子
P2によって構成した偏光光学系。四分の一波長板は,直線偏波を円偏波へ,又は円偏波を直線偏波へ
変換する。この光学系では,光源の偏波面の違いによらず,均一な光量分布をもった直線偏波を出射
することができる。
注記 LEDのように偏光していない光源の場合,P1及び四分の一波長板は,不要である。
c) 二つのレセプタクルRe
d) 消光比測定用の検光子A
e) 計測値よりも5 dBを超える広いダイナミックレンジをもつ測定系
f) 0.1 dB/dec以上の高い直線性をもつ検出器
g) 計測値よりも5 dB以上高い消光比をもつ偏光子P2及び検光子A
L1 L2 Re Re D
S
シングルモード 供試パッチコード
光ファイバ P1 P2 A
四分の一波長板
図1−キー位置精度及び消光比測定系
4 手順
4.1 レンズL2の出射面において,全ての面内角度に対して均一な直線偏波を発生させる系を,図2に示
す。
S L1 L2 D
シングルモード
光ファイバ
P1 P2
四分の一波長板
図2−測定の準備
測定の準備は,次による。
a) 偏光子P2を取り外した状態で偏光子P1を調整し,光パワーメータでの光量を最大にする。
b) 偏光子P2を配置し,P2の全角度方向において,光パワーメータで一定の光量となるように四分の一
波長板を調整する。
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JIS C 61300-3-24:2012の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61300-3-24:2006(IDT)
JIS C 61300-3-24:2012の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備