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JIS C 61300-3-28:2009 規格概要
この規格 C61300-3-28は、光ファイバ及び光受動部品の製品寿命中に加わる機械的なストレスによって生じる高速の損失の変化を測定する方法について規定。
JISC61300-3-28 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C61300-3-28
- 規格名称
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第3-28部 : 過渡損失測定
- 規格名称英語訳
- Fiber optic interconnecting devices and passive components -- Basic test and measurement procedures -- Part 3-28:Examinations and measurements -- Transient loss
- 制定年月日
- 2009年7月20日
- 最新改正日
- 2019年10月21日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- IEC 61300-3-28:2002(IDT)
- 国際規格分類
ICS
- 33.180.20
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 電子 II-1 2020, 電子 II-2 2020, 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
- 改訂:履歴
- 2009-07-20 制定日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認
- ページ
- JIS C 61300-3-28:2009 PDF [6]
C 61300-3-28 : 2009 (IEC 61300-3-28 : 2002)
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1 適用範囲・・・・[1]
- 2 引用規格・・・・[1]
- 3 装置・・・・[2]
- 4 手順・・・・[2]
- 5 個別に規定する事項・・・・[3]
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS C 61300-3-28 pdf 1] ―――――
C 61300-3-28 : 2009 (IEC 61300-3-28 : 2002)
まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及び財
団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工
業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責
任はもたない。
JIS C 61300の規格群には,次に示す部編成がある。
JIS C 61300-1 第1部 : 通則
JIS C 61300-2-17 第2-17部 : 低温試験
JIS C 61300-2-18 第2-18部 : 高温試験
JIS C 61300-2-19 第2-19部 : 高温高湿試験(定常状態)
JIS C 61300-2-45 第2-45部 : 浸水試験
JIS C 61300-2-48 第2-48部 : 温湿度サイクル試験(予定)
JIS C 61300-3-3 第3-3部 : 挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
JIS C 61300-3-20 第3-20部 : 波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
JIS C 61300-3-28 第3-28部 : 過渡損失測定
JIS C 61300-3-31 第3-31部 : 光ファイバ光源の結合パワー比測定
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS C 61300-3-28 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
C 61300-3-28 : 2009
(IEC 61300-3-28 : 2002)
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-28部 : 過渡損失測定
Fiber optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 3-28:Examinations and measurements-Transient loss
序文
この規格は,2002年に第1版として発行されたIEC 61300-3-28を基に,技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
1 適用範囲
この規格は,光ファイバ及び光受動部品の製品寿命中に加わる機械的なストレスによって生じる高速の
損失の変化を測定する方法について規定する。
過渡損失測定によって,光ファイバに加わる高速の機械的な妨害の影響が明らかになる。このような妨
害は,例えば,落下,振動,衝撃又は光ファイバの操作など装置の様々な動作によって生じる。したがっ
て,通常,この測定は機械的試験にさらす機器に対して実施する。
この方法は,伝送システムの性能に影響を与える1ミリ秒未満の非常に速い過渡損失を測定する設計に
なっていない。構成品の性能標準で規定した試験で生じる機械的なストレスによる過渡損失を検出できる
ように最適化しており,その間隔は一般的に数十ミリ秒より長い。
注記1 関連する試験及び測定方法の通則は,JIS C 61300-1に規定する。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 61300-3-28:2002,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures−Part 3-28:Examinations and measurements−Transient loss (IDT)
なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21に基づき,一致していることを示
す。
2 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
IEC 61300-3-4,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
procedures−Part 3-4:Examinations and measurements−Attenuation
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C 61300-3-28 : 2009 (IEC 61300-3-28 : 2002)
3 装置
3.1 概要
試験装置には,ミリ秒から数秒までの範囲にわたる損失の変化を検出するため,アナログの電気出力を
取り出す高速な光検出器が必要となる。
測定系を図1に示す。
TJ
S 供試品 D
mf mf
DAS
図1−過渡損失測定系
3.2 光源(S) 入射条件は,IEC 61300-3-4による。光源は,測定中の安定度が0.05 dB以内の無偏光化
したLED(発光ダイオード)が望ましい。光源の出力パワーは,最低測定パワーレベルに対して20 dB以
上大きくなければならない。
3.3 光検出器(D) 光検出器への接続は,光ファイバを接続するアダプタ又は適切な光コネクタプラグ
を用いる。光検出器の選定パラメータは,IEC 61300-3-4による。光検出器は,更に0.5ミリ秒の過渡損失
を検出するため,2 kHz以上の帯域及びデータ収集装置への出力をもつものを用いる。
3.4 データ収集装置(DAS) 光検出器によってとらえた過渡的な損失の変化を記録するため,光検出
器の電気出力に接続した高速なデータ収集装置(DAS)を用いる。データ収集装置は,時間的な変化を検
出し表示するため,光検出器と同調した周波数でデータを蓄積できるものを用いる。
簡単なデータ収集装置は,光検出器で受光したトリガがしきい値を超えたときに,受光レベルを記憶す
ることのできるオシロスコープを用いて実現することができる。
3.5 テンポラリジョイント(TJ) テンポラリジョイントは,一時的に2本の光ファイバ端を安定に再
現性よく低損失に接続できる方法,機器又は機械的な保持手段である。標準的な光コネクタによって供試
品を測定系に直接接続することができない場合に用いる。例えば,精密なV溝,真空チャック,微動台,
融着接続,メカニカルスプライスなどを用いる。テンポラリジョイントは,測定中,dB単位で測定精度の
±10 %以下の安定性を実現しなければならない。テンポラリジョイントの安定性を改善するため,適切な
屈折率整合剤を用いてもよい。
3.6 光ファイバ 供試品に光源及び光検出器を接続するために用いる光ファイバの幾何学的形状及び光
学特性は,供試品の使用光ファイバと同一とする。
3.7 モードフィルタ(mf) 過渡的に発生する不要な高次モードを除去し,測定の不正確さを排除する
ためにモードフィルタ(mf)を用いる。モードフィルタの形式は,IEC 61300-3-4に記載する光ファイバに依
存する。
4 手順
a) 使用するデータ収集装置のタイプによって,検出対象となる最小の損失の変化に応じてしばしば検知
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C 61300-3-28 : 2009 (IEC 61300-3-28 : 2002)
しきい値を設定する必要がある。しきい値が低すぎると雑音によって頻繁にトリガがかかるため,し
きい値レベルは注意して設定しなければならない。デシベル表示で検出対象の光パワー変動の40 %
にトリガレベルを設定することが望ましい。例として,関連する設定内容とともにオシロスコープを
用いた測定結果を図2に示す。
注記 レーザのように強く偏光した光源を用いる場合は,トリガレベルは0.2 dB以上に設定するこ
とが望ましい。これより低いトリガレベルを設定した場合は,回路における雑音又はPDLに
よって頻繁にトリガがかかるおそれがある。偏光の程度が弱い光源(例えばLED)の場合に
は,0.1 dBの最小トリガレベルが望ましい。
連続モードで光検出器からのデータを取得し,試験終了時に分析する代替法によってもよい。
b) 図1に示すように,供試品を測定系に接続する。試験開始前に,光検出器によって光パワーレベルを
測定する。
c) 過渡損失変動を測定する試験(機械的試験,耐環境試験,その他)下に,供試品を置く。
d) 試験終了後,光パワーを測定する。
e) 試験前及び試験後の光レベルの変化並びに試験中の最大の変化を記録する。
注記 この例では,検出対象の変化は0.2 dB以上であるので,トリガレベルは初期レベル−20 log (VT/V1)に対して±
0.08 dBに設定している。電圧におけるデシベルの計算は,常に−20 log (V1/V2)というわけではない。O/E変換
器によっては,ワット表示の光パワーに比例した電圧を出力する。その場合は,デシベル計算には−10 log
(V1/V2)を用いる。デシベル変換において,−20 log (V1/V2)を用いるのか−10 log (V1/V2)を用いるのか確認す
ることが重要である。
図2−オシロスコープを用いた過渡損失変動の測定例
5 個別に規定する事項
次の事項は,必要に応じて個別に規定する。
a) 光源のピーク波長及びスペクトル幅
b) 光検出器の特性
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JIS C 61300-3-28:2009の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61300-3-28:2002(IDT)
JIS C 61300-3-28:2009の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備