JIS C 61300-3-30:2010 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－３０部：多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置測定

                                                          C 61300-3-30 : 2010 (IEC 61300-3-30 : 2003)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 概要・・・・[1]
•  4 装置・・・・[2]
•  4.1 フェルールホルダ・・・・[2]
•  4.2 微動台・・・・[2]
•  4.3 三次元干渉計表面解析装置・・・・[2]
•  5 手順・・・・[3]
•  5.1 測定領域・・・・[3]
•  5.2 測定手順・・・・[4]
•  6 個別規格に規定する事項・・・・[6]
•  附属書A(参考)二次曲線近似による多心光ファイバコネクタの端面幾何形状の計算方法・・・・[7]
•  附属書B(規定)表面角度規定法・・・・[8]
•  附属書C(規定)光ファイバ配列順序・・・・[9]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 61300-3-30 pdf 1] ―――――

C 61300-3-30 : 2010 (IEC 61300-3-30 : 2003)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及
び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,
日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責
任はもたない。
  JIS C 61300の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61300-1 第1部 : 通則
    JIS C 61300-2-17 第2-17部 : 低温試験
    JIS C 61300-2-18 第2-18部 : 高温試験
    JIS C 61300-2-19 第2-19部 : 高温高湿試験(定常状態)
    JIS C 61300-2-45 第2-45部 : 浸水試験
    JIS C 61300-2-48 第2-48部 : 温湿度サイクル試験
    JIS C 61300-3-3 第3-3部 : 挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
    JIS C 61300-3-20 第3-20部 : 波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
    JIS C 61300-3-28 第3-28部 : 過渡損失測定
    JIS C 61300-3-30 第3-30部 : 多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置
        測定
    JIS C 61300-3-31 第3-31部 : 光ファイバ光源の結合パワー比測定

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 61300-3-30 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                               JIS
                                                                    C 61300-3-30 : 2010
                                                                      (IEC 61300-3-30 : 2003)

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-30部 : 多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置測定

Fiber optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 3-30: Examinations and measurements-Polish angle and fiber position on single ferrule multifiber connectors

序文

  この規格は,2003年に第1版として発行されたIEC 61300-3-30を基に,技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1 適用範囲

  この規格は,ガイドピンで位置決めする多心光ファイバコネクタ用フェルール及び光コネクタの表面幾
何形状の測定手順について規定する。この測定手順では,端面での光ファイバの突出し量及び引込み量,
ガイドピン穴に対する端面角度などを規定している。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 61300-3-30:2003,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
              measurement procedures−Part 3-30: Examinations and measurements−Polish angle and fibre
              position on single ferrule multifibre connectors(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  (なし)

3 概要

  ガイドピンで位置決めする多心光コネクタは,一般的には,光コネクタの長尺方向と短尺方向とに対し
て垂直な端面をもち,その端面は,理想的には,全面において光ファイバがわずかに突き出し,かつ,平
たんな研磨が望ましい。実際には,端面は長尺方向と短尺方向とで異なった曲率半径である。接続時には
ピンとガイド穴とによって位置決めされるため,フェルールの端面は接触しているときにはガイド穴に対

――――― [JIS C 61300-3-30 pdf 3] ―――――

2
C 61300-3-30 : 2010 (IEC 61300-3-30 : 2003)
して(X方向及びY方向の角度で)適切に方向付けされて接触する。X方向の端面角度及びY方向の端面
角度は,測定対象範囲の最高点の割合に基づくベストフィット面を見つけることによって測定する。一般
的には,最高点は干渉光学的に一番密になっている部分である。このような測定は,非常に手間がかかり,
異なる干渉計での高精度な再現性が求められる。ベストフィット面の角度は,各々のガイド穴の軸に垂直
な参照面と比較することによって求める。光ファイバの突出し量(+p)及び引込み量(−p)は,光ファ
イバ端面とベストフィット表面との間の距離として定義する面上の高さである。
  この試験では,一つの方法,すなわち,三次元干渉計表面解析装置を用いて端面を解析する方法を規定
する。

4 装置

  干渉計による三次元表面解析法では,図1に示すように,装置は,フェルールホルダ,微動台及び表面
粗さ又は高さ成分について解析できる三次元干渉計表面解析装置で構成する。
                                       図1−測定系の構成

4.1 フェルールホルダ

  フェルールホルダは,垂直方向,水平方向及び斜め研磨フェルールの場合では,傾けた位置にフェルー
ルを固定するためのジグである。各々のガイド穴軸及びガイド穴に対する平均的な垂直角は,理想的な端
面角に相当する。平均的な垂直角は,ガイド穴に挿入するガイドピン又はそれに類似したもので各々のガ
イド穴軸を測定可能な表面角度に置き換えられるものを使用する。

4.2 微動台

  微動台は,フェルールホルダを固定し,フェルールホルダを任意の位置に移動できなければならない。
微動台は,フェルール端面を要求精度で測定するために,十分な機械的安定性がなければならない。

4.3 三次元干渉計表面解析装置

  三次元干渉計表面解析装置は,フェルール端面上の光ファイバの高さを±50 nmの精度で測定でき,顕
微鏡部,表面測定データ処理部及びモニタで構成する。
  顕微鏡部は,干渉顕微鏡,位相シフトアクチュエータ,画像検出器及び画像取込器で構成する。対物レ

――――― [JIS C 61300-3-30 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                          C 61300-3-30 : 2010 (IEC 61300-3-30 : 2003)
ンズ付き干渉顕微鏡では,フェルール端面を映し出せるようになっている。
  表面測定データ処理部は,測定表面の高さ情報を処理し,X軸方向及びY軸方向の曲率半径,端面角度
並びにベストフィットした平面上の表面からの光ファイバの突出し量及び引込み量の測定を行う。平たん
度は,光コネクタ表面が平面とみなせる程度の曲率半径をもつかどうかを決定するために算出する。
  モニタは,各々の軸に対する測定結果及び算出した表面プロファイルを表示する。

5 手順

5.1 測定領域

  測定領域は,測定対象のフェルール端面上を次に示す領域に分けて定義する。
a) 対象領域 対象領域は,フェルールを接続したときにフェルールの接触面を包含するような長尺(X
    軸)方向の長さL及び短尺(Y軸)方向の長さHの長方形の領域とする。対象領域の中には光ファイ
    バアレイがあり,その各光ファイバは平均化領域の中心に位置する(図2参照)。コネクタの種類によ
    る測定領域を,表1に示す。
                                  図2−フェルール上の測定領域
b) 抜粋領域 抜粋領域には,光ファイバ端面領域及び付随する接着層領域を含み,各々の光ファイバの
    中心から直径Eの円状領域とする。
c) フィッティング領域 フィッティング領域は,抜粋領域を除く対象領域とし,フェルール表面形状を
    算出するデータセット領域とする。通常,フィッティング領域外のフェルール上の表面測定点は,フ
    ィッティング領域内の表面測定点よりも低い位置にある。
d) 平均化領域 平均化領域は,光ファイバの高さを求めるための光ファイバ表面部分であり,直径Fの
    円状領域とする。平均化領域は,シングルモード(SM)光ファイバとマルチモード(MM)光ファイ
    バとでは異なる。
e)   M光ファイバでのコアのくぼみを評価するときには,二つの平均化領域を使用する。一つ目は直径

――――― [JIS C 61300-3-30 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6