JIS C 61300-3-38:2015 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－３８部：群遅延，波長分散及び位相リップルの測定

                                                          C 61300-3-38 : 2015 (IEC 61300-3-38 : 2012)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 略語・・・・[2]
•  4 一般事項・・・・[2]
•  5 測定装置・・・・[3]
•  5.1 変調位相シフト法・・・・[3]
•  5.2 波長掃引干渉法・・・・[6]
•  5.3 偏光位相シフト法・・・・[8]
•  6 測定手順・・・・[9]
•  6.1 変調位相シフト法・・・・[9]
•  6.2 波長掃引干渉法・・・・[12]
•  6.3 偏光位相シフト法・・・・[15]
•  6.4 各波長における測定範囲(全ての測定方法に対しての共通事項)・・・・[16]
•  7 解析・・・・[18]
•  7.1 群遅延測定の雑音低減・・・・[18]
•  7.2 位相変化の線形性・・・・[18]
•  7.3 波長分散・・・・[19]
•  7.4 位相リップル・・・・[21]
•  8 測定例・・・・[22]
•  8.1 50 GHzバンドパス薄膜フィルタ・・・・[22]
•  8.2 平面導波路フィルタ部品・・・・[22]
•  8.3 可変分散補償器[ファイバブラッググレーティング(FBG)]・・・・[23]
•  8.4 ランダム偏光モード結合デバイス・・・・[24]
•  9 個別に規定する事項・・・・[25]
•  附属書A(参考)群遅延差の算出・・・・[26]

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C 61300-3-38 : 2015 (IEC 61300-3-38 : 2012)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61300の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61300-1 第1部 : 通則
    JIS C 61300-2-1 第2-1部 : 正弦波振動試験
    JIS C 61300-2-2 第2-2部 : 繰返しかん合試験
    JIS C 61300-2-4 第2-4部 : 光ファイバクランプ強度試験(軸方向引張り)
    JIS C 61300-2-5 第2-5部 : 光ファイバクランプ強度試験(ねじり)
    JIS C 61300-2-6 第2-6部 : かん合部締結強度試験(軸方向引張り)
    JIS C 61300-2-7 第2-7部 : かん合部締結強度試験(曲げモーメント)
    JIS C 61300-2-9 第2-9部 : 衝撃試験
    JIS C 61300-2-11 第2-11部 : 光ファイバクランプ強度試験(軸方向圧縮)
    JIS C 61300-2-12 第2-12部 : 落下衝撃試験
    JIS C 61300-2-14 第2-14部 : 光パワー損傷のしきい値試験
    JIS C 61300-2-15 第2-15部 : 結合部ねじり試験
    JIS C 61300-2-17 第2-17部 : 低温試験
    JIS C 61300-2-18 第2-18部 : 高温試験
    JIS C 61300-2-19 第2-19部 : 高温高湿試験(定常状態)
    JIS C 61300-2-21 第2-21部 : 混合温湿度サイクル試験
    JIS C 61300-2-22 第2-22部 : 温度サイクル試験
    JIS C 61300-2-26 第2-26部 : 塩水噴霧試験
    JIS C 61300-2-27 第2-27部 : ダスト試験(層流)
    JIS C 61300-2-40 第2-40部 : SM調心円筒形斜めPC端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失スク
        リーニング試験
    JIS C 61300-2-41 第2-41部 : SM調心円筒形直角PC端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失スク
        リーニング試験
    JIS C 61300-2-44 第2-44部 : 光ファイバクランプ強度試験−繰返し曲げ
    JIS C 61300-2-45 第2-45部 : 浸水試験
    JIS C 61300-2-46 第2-46部 : 湿熱サイクル試験
    JIS C 61300-2-47 第2-47部 : 熱衝撃試験
    JIS C 61300-2-48 第2-48部 : 温湿度サイクル試験

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                                                          C 61300-3-38 : 2015 (IEC 61300-3-38 : 2012)
    JIS C 61300-3-1 第3-1部 : 外観検査及び機械的検査
    JIS C 61300-3-2 第3-2部 : シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
    JIS C 61300-3-3 第3-3部 : 挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
    JIS C 61300-3-4 第3-4部 : 損失測定
    JIS C 61300-3-6 第3-6部 : 反射減衰量測定
    JIS C 61300-3-7 第3-7部 : シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定
    JIS C 61300-3-11 第3-11部 : 結合力及び離脱力測定
    JIS C 61300-3-15 第3-15部 : 球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定
    JIS C 61300-3-16 第3-16部 : 球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定
    JIS C 61300-3-17 第3-17部 : 斜め研磨光ファイバコネクタのフェルールの端面角度測定
    JIS C 61300-3-20 第3-20部 : 波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定
    JIS C 61300-3-22 第3-22部 : フェルール押圧力測定
    JIS C 61300-3-23 第3-23部 : フェルール端面からの光ファイバ引込み量測定
    JIS C 61300-3-24 第3-24部 : 偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定
    JIS C 61300-3-25 第3-25部 : フェルール及び光ファイバ取付け直角PC端面フェルールの同心度測定
    JIS C 61300-3-26 第3-26部 : 光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定
    JIS C 61300-3-27 第3-27部 : 多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定
    JIS C 61300-3-28 第3-28部 : 過渡損失測定
    JIS C 61300-3-30 第3-30部 : 多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置
        測定
    JIS C 61300-3-31 第3-31部 : 光ファイバ光源の結合パワー比測定
    JIS C 61300-3-32 第3-32部 : 光受動部品の偏波モード分散測定
    JIS C 61300-3-33 第3-33部 : ピンゲージを用いた割りスリーブのフェルール引抜力測定
    JIS C 61300-3-34 第3-34部 : ランダム接続時の挿入損失
    JIS C 61300-3-36 第3-36部 : 光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定
    JIS C 61300-3-38 第3-38部 : 群遅延,波長分散及び位相リップルの測定
    JIS C 61300-3-40 第3-40部 : 偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタプラグの偏波消光比測
        定
    JIS C 61300-3-43 第3-43部 : 光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                    C 61300-3-38 : 2015
                                                                      (IEC 61300-3-38 : 2012)

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-38部 : 群遅延,波長分散及び位相リップルの測定

Fiber optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement procedures-Part 3-38: Examinations andmeasurements-Group delay, chromatic dispersion and phase ripple

序文

  この規格は,2012年に第1版として発行されたIEC 61300-3-38を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,光受動部品及び光ダイナミックモジュールの群遅延特性の測定方法について規定する。こ
の規格で規定する測定方法によって,群遅延リップル,線形位相偏差,波長分散,波長分散スロープ及び
位相リップルを求めることができる。偏光に基づいて,これらの光特性を測定することによって,JIS C
61300-3-32で規定する測定方法の代替として,群遅延差を測定することができる。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 61300-3-38:2012,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
              measurement procedures−Part 3-38: Examinations and measurements−Group delay, chromatic
              dispersion and phase ripple(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    IEC 60050-731,International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 731: Optical fibre communication
    IEC 61300-3-29,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement
        procedures−Part 3-29: Examinations and measurements−Spectral transfer characteristics of DWDM
        devices

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2
C 61300-3-38 : 2015 (IEC 61300-3-38 : 2012)

3 略語

  この規格で用いる略語は,IEC 60050-731及びIEC 61300-3-29によるほか,次による。
APC       斜めPC(angled physical contact)
CD        波長分散(chromatic dispersion)
D         受光装置(detector)
DGD       群遅延差(differential group delay)
DUT       供試品(device under test)
DWDM      高密度波長分割多重(dense wavelength division multiplexing)
FBG       ファイバブラッググレーティング(fiber Bragg grating)
δ        波長可変光源の波長掃引ステップ幅(step size of the VWS during a wavelength swept measurement)
fRF       変調周波数(modulation frequency)
GD        群遅延(group delay)
GDR       群遅延リップル(group delay ripple)
LN        ニオブ酸リチウム(LiNbO3)
MPS       変調位相シフト(modulation phase shift)
PBS       偏光ビームスプリッタ(polarizing beam splitter)
PDL       偏光依存性損失(polarization dependent loss)
PMD       偏波モード分散(polarization mode dispersion)
PPS       偏光位相シフト(polarization phase shift)
PSP       主偏光状態(principal states of polarization)
RBD       基準光ブランチングデバイス(reference branching device)
SOP       偏光状態(state of polarization)
SSE       光源の自然放出光(source spontaneous emission)
SWI       波長掃引干渉(swept wavelength interferometry)
Δθ      位相リップル(phase ripple)
TJ        テンポラリジョイント(temporary joint)
VWS       波長可変光源(variable wavelength source)

4 一般事項

  この規格は,光受動部品及び光ダイナミックモジュールの群遅延特性の測定に適用する。群遅延特性を
求めるために,振幅スペクトル分布を測定する必要がある。そのため,正しい波長分散測定値が得られる
よう,振幅スペクトル分布測定の波長範囲を包含する波長範囲で,光損失を測定する必要がある。
  この規格では,例としてCバンドにおける測定を記載しているが,この規格に記載する測定方法は,C,
L,Oバンドなど,任意の波長帯域に適用可能である。
  この規格は,測定方法及び測定データ分析の二つの部分によって構成する。測定方法として,変調位相
シフト(MPS)法,波長掃引干渉(SWI)法及び偏光位相シフト(PPS)法を規定する。波長ごとの測定結
果を得ることができるため,これらの測定方法を選択する。これらの中で,MPS法は基準測定方法である。
波長ごとの測定結果は,光受動部品,特に波長選択性のある部品に必要である。
  群遅延リップルを評価するためにふさわしい測定パラメータ,及び群遅延リップルの測定結果から位相
リップルを推定する方法を,7.4に規定する。多くの可変分散補償器は干渉効果を用いているが,可変分散

――――― [JIS C 61300-3-38 pdf 5] ―――――

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