JIS C 61326-1:2017 計測用，制御用及び試験室用の電気装置―電磁両立性要求事項―第１部：一般要求事項

                                                               C 61326-1 : 2017 (IEC 61326-1 : 2012)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  4 一般事項・・・・[5]
•  5 EMC試験計画・・・・[6]
•  5.1 一般・・・・[6]
•  5.2 試験中のEUTの構成・・・・[6]
•  5.3 試験中のEUTの動作条件・・・・[6]
•  5.4 機能性能の仕様・・・・[7]
•  5.5 試験に関する記載事項・・・・[7]
•  6 イミュニティ要求事項・・・・[7]
•  6.1 試験中の条件・・・・[7]
•  6.2 イミュニティ試験要求事項・・・・[7]
•  6.3 偶発性の側面・・・・[10]
•  6.4 性能評価基準・・・・[10]
•  7 エミッション要求事項・・・・[11]
•  7.1 測定中の条件・・・・[11]
•  7.2 エミッション限度値・・・・[11]
•  8 試験結果及び試験報告書・・・・[12]
•  9 使用説明・・・・[12]
•  附属書A(規定)電池又は測定対象の回路から電源供給を受ける可搬形の試験及び計測用の電気装置に対するイミュニティ試験要求事項・・・・[13]

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――――― [JIS C 61326-1 pdf 1] ―――――

C 61326-1 : 2017 (IEC 61326-1 : 2012)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本電気計測器工業会(JEMIMA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。これによって,
JIS C 1806-1:2010は廃止され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61326の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61326-1 第1部 : 一般要求事項
    JIS C 61326-2-1 第2-1部 : 個別要求事項−EMC防護が施されていない感受性の高い試験用及び測定
        用の装置の試験配置,動作条件及び性能評価基準
    JIS C 61326-2-2 第2-2部 : 個別要求事項−低電圧配電システムで使用する可搬形の試験用,測定用
        及び監視用の装置の試験配置,動作条件及び性能評価基準

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                         C 61326-1 : 2017
                                                                          (IEC 61326-1 : 2012)

計測用,制御用及び試験室用の電気装置−電磁両立性要求事項−第1部 : 一般要求事項

Electrical equipment for measurement, control and laboratory use- EMC requirements-Part 1: General requirements

序文

  この規格は,2012年に第2版として発行されたIEC 61326-1を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,交流1 000 V以下若しくは直流1 500 V以下の,電源若しくは電池で動作する電気装置,又
は測定対象の回路からの電源で動作する電気装置の電磁両立性(EMC)に関するイミュニティ及びエミッ
ションの要求事項について規定する。この規格は,工業用計測分野,工業プロセス分野,工業製造分野及
び教育分野での使用を意図した電気装置に適用する。これらの電気装置には,工業地域又は非工業地域で
の使用を意図した,次の装置及び計算機器を含む。
− 計測及び試験用の装置
− 制御用の装置
− 試験室用の装置
− これらの装置と一緒に使用することを意図した付帯装置(例えば,サンプルを取り扱う装置)
  情報技術装置(ITE)の適用範囲内にあって,適用可能なITEのEMC規格に適合する計算機器,そのア
センブリ及び類似の装置は,これらが意図した電磁環境に適用可能な場合,追加試験をしないでこの規格
の適用範囲にあるシステム内で使用してもよい。
  この規格(製品群規格)は,共通規格より優先する。
    注記1 国際電気標準会議(IEC)では,EMCに関連する規格を製品規格,製品群規格,共通規格及
            び基本規格の4分類と規定している(IEC Guide 107:2014参照)。
  この規格は,次の電気装置に適用する。
a) 計測及び試験用の電気装置 計測及び試験用の電気装置は,電気的手段によって,一つ以上の電気量
    又は非電気量を計測,表示又は記録する装置であり,また,信号発生器,計測用標準器,電源及びト
    ランスデューサのような非計測装置も含む。
b) 制御用の電気装置 制御用の電気装置は,手動設定,ローカル若しくはリモートのプログラミング,
    又は一つ以上の入力変数から決定される個々の設定値によって,一つ以上の出力量を特定の値に制御
    する装置である。また,次のような機器で構成する工業用プロセス計測制御(IPMCともいう。)装置
    を含む。

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2
C 61326-1 : 2017 (IEC 61326-1 : 2012)
  − プロセスコントローラ及びレギュレータ
  − プログラマブルコントローラ
  − 装置及びシステムの電源ユニット(集中形又は個別形)
  − アナログ又はデジタル指示計及び記録計
  − プロセス計測器
  − トランスデューサ,ポジショナ,インテリジェントアクチュエータなど
c) 試験室用の電気装置 試験室用の電気装置は,物質を測定,表示,監視若しくは分析する装置,又は
    材料を前処理するために使用する装置である。また,体外診断用医療機器(IVD機器)を含む。この
    装置は,試験室以外の場所でも使用することがある。例えば,自己検査用の体外診断用医療機器は,
    家庭で使用することがある。
  この規格の適用範囲内の電気装置(以下,“装置”という。)は,様々な電磁環境の中で動作する場合が
あるため,電磁環境によって,異なるエミッション及びイミュニティ要求事項を適用する。
  この規格では,次の3種類の電磁環境を考慮する。
− 基本的電磁環境
− 工業的電磁環境
− 管理された電磁環境
  電磁環境に対応するイミュニティ要求事項は,箇条6に規定する。
  エミッション要求事項は,CISPR 11に従って,クラスA装置又はクラスB装置に分類する。エミッシ
ョン要求事項は,箇条7に規定する。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61326-1:2012,Electrical equipment for measurement, control and laboratory use−EMC
                requirements−Part 1: General requirements(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 60050(規格群) 電気技術用語
      注記 対応国際規格 : IEC 60050 (all parts),International Electrotechnical Vocabulary
    JIS C 61000-3-2:2011 電磁両立性−第3-2部 : 限度値−高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電
        流が20 A以下の機器)
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-3-2:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 3-2: Limits−
             Limits for harmonic current emissions (equipment input current 16 A per phase),Amendment
             1:2008及びAmendment 2:2009
    JIS C 61000-4-2:2012 電磁両立性−第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-2:2008,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and
             measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test

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                                                               C 61326-1 : 2017 (IEC 61326-1 : 2012)
    JIS C 61000-4-3:2012 電磁両立性−第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ
        試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-3:2006,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
             measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test,
             Amendment 1:2007及びAmendment 2:2010
    JIS C 61000-4-4:2007 電磁両立性−第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/
        バーストイミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-4:2004,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4: Testing and
             measurement techniques−Electrical fast transient/burst immunity test及びAmendment 1:2010
    JIS C 61000-4-5:2009 電磁両立性−第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-5:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and
             measurement techniques−Surge immunity test
    JIS C 61000-4-6:2006 電磁両立性−第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する
        伝導妨害に対するイミュニティ
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-6:2008,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and
             measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
    JIS C 61000-4-8:2016 電磁両立性−第4-8部 : 試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-8:2009,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-8: Testing and
             measurement techniques−Power frequency magnetic field immunity test
    JIS C 61000-4-11:2008 電磁両立性−第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び
        電圧変動に対するイミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-11:2004,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11: Testing
             and measurement techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests
    CISPR 11:2009,Industrial, scientific and medical equipment−Radio-frequency disturbance characteristics−
        Limits and methods of measurement及びAmendment 1:2010

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 60050-161によるほか,次による。
3.1
基本的電磁環境(basic electromagnetic environment)
  商用電源から,低電圧で直接供給することによって特徴付けられる場所にある環境。
    例
      − 居住用建築物,例えば,住宅,アパート
      − 商業用店舗,例えば,小売店,スーパーマーケット
      − 業務施設,例えば,事務所,銀行
      − 娯楽施設,例えば,映画館,飲食店,ダンスホール
      − 屋外施設,例えば,ガソリンスタンド,駐車場,遊園地,スポーツセンター
      − 軽工業施設,例えば,作業所,研究所,サービスセンター

――――― [JIS C 61326-1 pdf 5] ―――――

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