JIS C 61340-2-1:2006 静電気―測定方法―材料及び製品の静電気電荷拡散性能の測定方法

                                                            C 61340-2-1 : 2006 (IEC 61340-2-1 : 2002)

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日
本工業規格である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 61340-2-1:2002,Electrostatics−Part
2-1: Measurement methods−Ability of materials and products to dissipate static electric chargeを基礎として用い
た。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。
  JIS C 61340-2-1には,次に示す附属書がある。
    附属書A(規定)試験方法及び手順

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 61340-2-1 pdf 1] ―――――

C 61340-2-1 : 2006 (IEC 61340-2-1 : 2002)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 定義・・・・[2]
•  4. 電荷減衰測定方法・・・・[2]
•  4.1 原理・・・・[2]
•  4.2 環境条件・・・・[2]
•  4.3 コロナ帯電を使用する装置・・・・[3]
•  4.4 帯電金属プレートを使用する装置・・・・[4]
•  5. サンプリング・・・・[6]
•  附属書A(規定)試験方法及び手順・・・・[7]

――――― [JIS C 61340-2-1 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 61340-2-1 : 2006
                                                                        (IEC 61340-2-1 : 2002)

静電気−測定方法−材料及び製品の静電気電荷拡散性能の測定方法

Electrostatics−Part 2-1: Measurement methods− Ability of materials and products to dissipate static electric charge

序文

 この規格は,2002年に第1版として発行されたIEC 61340-2-1,Electrostatics−Part 2-1: Measurement
methods−Ability of materials and products to dissipate static electric chargeを翻訳し,技術的内容及び規格票の
様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。
  静電気電荷の拡散性能の測定は,静電気の分野で極めて重要な測定技術に属する。均質な導電性材料に
おいて,この特性は,抵抗又は抵抗率パラメータを測定することによって評価することができる。拡散性
又は絶縁性の材料及び特に導電性繊維を混入した高抵抗材料(例えば,金属繊維が格子状に混入した織物)
において,抵抗測定では十分な信頼性がないか,又は十分な情報が得られない可能性がある。そして,静
電気電荷の拡散性能を測定する必要がある。プラスチックなどの多くの非金属の材料において,電荷の移
動は測定中に印加される電界強度に依存する。例えば,抵抗測定では,印加する試験電圧に対して非線形
依存が表れることが予想される。接触電極を使用する測定方法での材料の不均質性もまた問題である。こ
れらの点は,電荷の拡散性能の測定によって補うことができる。

1. 適用範囲

 この規格は,絶縁性及び静電気拡散性の材料及び静電気電荷の拡散性能の測定方法につい
て規定する。この規格は,試験方法の一般的な規定とともに,具体的な適用に関する試験手順の詳細につ
いて規定する。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
         (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 61340-2-1:2002,Electrostatics−Part 2-1: Measurement methods−Ability of materials and
              products to dissipate static electric charge (IDT)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格で引用することによって,この規格の規定の一部を構成する。
これらの引用規格のうちで,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規
定を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。
    JIS Z 9015-0:1999 計数値検査に対する抜取検査手順−第0部 : JIS Z 9015抜取検査システム序論
      備考 ISO 2859-0:1995,Sampling procedures for inspection by attributes−Part 0: Introduction to the ISO
             2859 attribute sampling systemが,この規格と一致している。
    IEC 61340-5-1:1998 Electrostatics−Part 5-1: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena

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2
C 61340-2-1 : 2006 (IEC 61340-2-1 : 2002)
        −General requirements
      備考 TR C 0027-1:2002,静電気現象からの電子デバイスの保護―第1部 : 一般要求事項(1)が,こ
            の国際規格と一致している。
            注(1) この標準情報の解釈には,TR C 0027-2(静電気現象からの電子デバイスの保護−第2
                  部 :  使用者のための指針)に記載されている参考文献を見るのがよい。
    ISO/TR 13425:1995 Guide for the selection of statistical methods in standardization and specification

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,次による。
3.1   電荷減衰 (charge decay) 帯電領域の電荷密度又は表面電位の減衰を起こさせる材料の表面又は内
部における電荷の移動。
3.2   電荷減衰時定数 (charge decay time constant) 局部的電荷密度又は表面電位がその初期値の1/eに降
下するのに要する時間(eは自然対数の底2.718 3)。
3.3   帯電プレートモニタ [charged plate monitor (CPM)   ] 製品又は材料の(電荷拡散/中和)特性を測定
するために,特定の静電容量及び形状の放電用帯電金属板を使用している装置。
3.4   コロナ (corona) 高電界による正又は負イオンの発生。
3.5   拡散性材料 (dissipative material) 電荷を発生するまでの時間又はその電荷が静電気問題を起こすま
での時間とを比較して短い時間内に,表面及び/又は内部を通って電荷が移動する材料。
3.6   絶縁体 (insulator) 非常に低い電荷移動度をもち,表面上の電荷が長時間とどまる材料。

4. 電荷減衰測定方法

4.1 原理

 二つの方法を示す。
  第一の方法では,コロナ放電によって帯電させた材料の表面電荷の拡散を測定する。表面電位の減少は,
電界計又はその他の等価な装置を用いて観測する。この方法は表面及び材料の電荷拡散の測定に適用でき
る。
  第二の方法では,金属製帯電プレートに電圧を印加し,その後電圧源を切り離し,試験品が触れたとき
の帯電プレートの電圧の減少を電界計又はその他の等価な装置を用いて観察することによって,試験品を
介する帯電プレートの電荷拡散を測定する。この方法は,指サック,手袋及び手持ち形工具などの製品を
介する電荷拡散の測定に適用できる。
    備考 ここに規定する帯電方法以外に,材料を帯電させる方法(例えば,摩擦帯電又は誘導帯電)が
          ある。

4.2 環境条件

 材料の電気的特性は,温度及び水分の吸着によって変化する。前処理及び試験の雰囲気
は,23 ℃±2 ℃及び相対湿度 (12±3)%とする。試験前の処理時間は少なくとも48 hとするか,又は他で
合意した時間とする。
  実地での測定の場合は,周囲温度及び相対湿度を記録する。
  実験室測定の場合は,製造業者の説明書に従って材料をクリーニングする。クリーニングに用いた材料
及び方法は報告する。
  実地又は導入後状態の測定の場合は,いかなる“特別”なクリーニングも行うことなく材料を試験する。
例えば,衣類の洗濯など,クリーニングが工程の一部である場合は,クリーニングの前後に実際の使用場
所で測定を実施することが望ましい。クリーニングに用いた材料及び方法は報告する。

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                                                            C 61340-2-1 : 2006 (IEC 61340-2-1 : 2002)

4.3 コロナ帯電を使用する装置

4.3.1  物理的設計の特徴 試験装置の一般的な構成及び関連寸法を図1に示す。同様な結果が得られれば
他の装置を用いてもよい。
                                                        単位       mm
  記号説明
  1 直径10 mmの円周状に配置されたコロナ放電点。    4 接地金属ケース(試験器)
  2 電界計の検知開口部                             5 試料
  3 可動板 :                                        6 開放シールド背面
  − 絶縁性板(下部) : コロナ放電点を取り付ける。  7 接地背面
  − 接地金属板(上部) : 電界計をシールドする。
  備考   寸法は,すべて公称値である。
  参考   上図は開放シールド背面測定,下図は接地背面測定を表す。
                      図 1 コロナ帯電を用いた電荷拡散測定のための構成例
  帯電及び帯電電荷測定のための試験開口部は,直径50 mmの円又は同じ面積をもつほぼ正方形の開口部
とする。すべてのコロナ放電点(先端)は,試験開口部の中心から10 mm上の直径10 mmの円周状に配
置するように可動板に取り付ける。電界計の検知開口部の位置は,試験面の中央上部25 mmとする。コロ
ナ放電点を取り付けた可動板を完全に取り去ったとき,試験面と電界計の検知開口部との間には遮るもの

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