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C 6181-1995 (IEC 1040 : 1990)
ピーク値に対してe1の点で測定したビーム径は,受光面の対角線寸法の101とし,1mm又は校正に使用さ
れる電磁放射の波長の20倍のいずれか小さい方よりも大きくなければならない。
参考 各面要素を連続的に照射するときは,検出器の応答の時定数及び下降時定数の和の10倍以上の
時間間隔で測定する。
1
また,JIS C 6182に規定のビーム径の定義を適用する場合は,ピーク値に対して eの点で測
2
定したビ−ム径が受光面の対角線寸法の71以下とする。
4.3 照射中の感度の変化
時間的に一定の最大許容放射パワー(連続波レーザパワー測定用検出器の場合),又は下降時定数の4
倍の繰返し周期のレーザパルスで最大許容パルスエネルギー(パルスレーザの出力エネルギー測定用検出
器の場合)によって1時間照射し,その期間中の感度の可逆性相対変化を測定する。製造業者がパルス占
有率の限界値を仕様に明記しているときは,明記された限界値の2倍で試験しなければならない。
4.4 感度の温度依存性
周囲温度040℃の範囲内で,感度の可逆性相対変化を測定する。その場合,試料及び環境が温度安定
状態になるまで必ず待たなければならない。
4.5 無偏光放射に対する感度の入射角依存性
無偏光放射を用いて,明記された照射方向を中心に5°の円すい内で,感度の最大相対変化を測定する。
検出器が明記された照射の方向に対して入射角の偏差を5°よりも小さく保つための補助調整器を含む場
合は,明記された調整の不確かさ以内で感度の相対変化を測定する。
4.6 感度の放射パワー又は放射エネルギー依存性(非直線性)
製造業者によって明記された放射パワー又は放射エネルギーに対する適用範囲内で,感度の定格値から
の最大相対偏差を測定する。一連の測定中は,ビームの空間分布とともにビーム径は変化してはならない。
検出器が非直線性の部分を補正できる専用の校正器を含んでいる場合,又は製造業者が校正曲線,表,
又は放射パワー(放射エネルギー)と出力との関係を示した数式を提供する場合には,残りの残留誤差を
測定する。
4.7 感度の波長依存性
明記された波長範囲で,分光感度の相対変化を測定する。製造業者が校正曲線,表,又は関数補正の形
で分光感度を提供する場合,そこに示された分光感度と実際の分光感度との最大相対偏差を測定によって
求めるか,又は校正手順から推定する。
4.8 直線偏光放射に対する感度の入射角依存性
偏光面の異なるそれぞれの直線偏光放射に対して,明記された照射方向を中心に5°の円すい内(又は
調整の不確かさによって与えられた円すい以内)で,感度の最大相対変化を測定する。
4.9 時間に関する平均化
レーザパルス繰返し周波数及びパルス占有率に対して明記された適用範囲内で,連続波放射に対する感
度からの最大相対偏差を測定する。その場合,算術平均値を時間に関する放射パワーの平均値としてみな
す。
4.10 ゼロドリフト
検出器,測定器又は測定装置を10分間予熱後,温度傾斜5±0.5K/h及び空気流速度1m/s以上での1時
間の動作期間中,それぞれの測定レンジの最大指示値又は最大出力に対する最大相対ゼロドリフトを測定
する。製造業者がゼロドリフトに対する補正方法を示している場合は,それによって補正後の残留誤差を
測定する。製造業者によって提供された取扱説明書の中で,温度傾斜及び空気流速度について明白に制限
――――― [JIS C 6181 pdf 6] ―――――
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C 6181-1995 (IEC 1040 : 1990)
がつけられている場合は,それらの制限条件のもとで測定を行わなければならない。
4.11 校正
校正の正確さは,製造業者によって明示された校正波長で,試験する検出器,測定器又は測定装置を標
準放射計と比較することによって評価しなければならない。
その場合,検出器受光面の中央部分50%に,放射照度の最大値の63% [(1−e1)×100%] 以上を照射しな
ければならない。校正の不確かさを求める場合,3.に示された誤差要因を考慮に入れて,標準放射計の不
確かさ及び値付けの不確かさを考察する。これらの照射条件は,例えば,開口絞りによってガウスビーム
の中心部分を切り出す方法を用いて実現してもよい。
参考 開口絞りを用いる場合は,回折光が入射しないように注意する。
他の試験方法を用いる場合,それらの方法が同じ結果をもたらすことを証明しなければならない。
4.12 過負荷
過負荷試験は,次の条件で検出器の全受光面を照射して行う。
a) レーザの(平均)出力パワー測定用検出器の場合
応答時定数の10倍の時間又は10分間のいずれか大きい方の時間,最大許容放射照度の2倍のパワ
ーを照射する。
b) レーザパルスのパルスエネルギー測定用検出器の場合
最大許容パルスエネルギーの2倍のエネルギーのパルスを,下降時定数の繰返し周期で,1パルス
ずつ合計10パルス照射する。
製造業者が仕様に明記した波長範囲のレーザ又は他の放射源は,この試験の放射源として使用すること
ができる。
5. 取扱説明書
レーザ放射測定用のすべての検出器,測定器又は測定装置には,少なくとも次の内容を含んだ取扱説明
書を添付しなければならない。
5.1 特性データ
検出器又は測定器についての次の特性データを,取扱説明書に明示しなければならない。
− 校正での測定条件を含む感度又は校正係数;
− 応答時定数及び下降時定数;
− 待ち時間(連続波レーザ検出器の場合);
− 3.1.13.1.11に明記された測定の不確かさ;
− スペクトルバンド幅(可能な限り,波長範囲による差異を明示したもの);
− 波長範囲;
− 補正表,補正曲線,補正式;ただし,3.1の最低要求事項又は3.2の階級要求事項を満足するために
必要な場合;
− 検出器の有効受光面積又は限界開口絞り。
明示されたこれらの特性データの適用に関して何らかの制限を伴う場合には,この事実を取扱説明書に
記載しなければならない[一つの例として,感度又は校正係数の波長依存性を補正しなければならないよ
うな検出器,測定器又は測定装置を,二つ以上の波長(線)で同時に発光するようなレーザを測定するた
めに使用しなければならない場合は,それらの発光線が一つのスペクトルバンド幅の中に入っているとき
に限り使用できるということを明示しなければならない。]。
――――― [JIS C 6181 pdf 7] ―――――
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C 6181-1995 (IEC 1040 : 1990)
もしも,不確かさが3.1に記載の要因以外の環境条件(振動,電界,磁界)に起因するならば,それら
を明示するとともに,それらの影響を評価することが望ましい。
5.2 限界値
a) 連続波レーザ測定用検出器,測定器及び測定装置
放射照度及び放射パワーに対する最大許容値を明示する。
b) パルスレーザ用検出器,測定器及び測定装置
放射照度,放射露光量及びパルスエネルギーの最大許容値を,パルス持続時間の関数として表した
表,グラフ又は数式を明示する。加えて,最大許容パルス繰返し周波数についても同様に明示するこ
と。
5.3 特殊な取扱方法
最低要求事項又は階級の要求事項が3.2に記載されたような一定の制限条件でだけ守られるとき(例え
ば,コーン型カロリメータの場合の空気の対流のない部屋の条件,又は測定結果の補正の必要性など。),
それらの要求事項は,制限条件も含めて詳細に明示しなければならない。
5.4 パワーレンジ(エネルギーレンジ)
直線性が確認され,上限値が規定されたパワー(エネルギー)の測定範囲をパワーレンジ(エネルギー
レンジ)と呼ぶ。
5.5 調整
取扱説明書には,レーザビームに関する検出器の位置決め及び調整の方法を含める。
5.6 損傷
それぞれの検出器の種類に特有な(例えば,過負荷による。)損傷の危険性に対する注意を促すとともに,
感度の変化の有無及びその程度について明示しなければならない。
5.7 危険
レーザ利用の安全性についての法規を考慮して,検出器からの反射光によって,人間及び物体がどの程
度危険にさらされるか明示しなければならない。
5.8 保守
確度階級を維持するために必要な保守の方法を明示する。
5.9 保存条件
確度階級を維持するために考慮に入れなければならない保存条件(例 : 温度範囲,相対湿度)を明示す
る。
5.10 動作点検の範囲
検出器,測定器又は測定装置がその正常な動作を試験するために補助的な機器を含む場合,この試験に
よって点検されない測定器の構成部品について明示する(例えば,点検のために電気的加熱機器を使用し
たとき,検出器の吸収体は,何も点検されていないというようなこと。)。
6. 表示及び銘板
銘板を検出器,測定器又は測定装置に取り付けるとともに,少なくとも次の情報を提供する。
− 製造業者名;
− 製造番号,製造年;
− 確度階級;
− 最大放射照度,W/mm2又は放射露光量,J/mm2;
――――― [JIS C 6181 pdf 8] ―――――
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C 6181-1995 (IEC 1040 : 1990)
− 波長範囲。
最大許容放射エネルギー又は最大許容放射パワーがパラメータ(例 : 波長,パルス持続時間)に依存す
る場合,その詳細が明記されている取扱説明書の関連項目を参照するための指示を銘板に明記する。
電子部会 オプトエレクトロニクス専門委員会 構成表
氏名 所属
(委員会長) 田 中 俊 一 東京理科大学
日 高 建 彦 工業技術院電子技術総合研究所
佐 藤 卓 蔵 財団法人光産業技術振興協会
中 島 一 郎 通商産業省機械情報産業局
倉 重 有 幸 工業技術院標準部
吉 田 淳 一 日本電信電話株式会社
波 平 宜 敬 国際電信電話株式会社
津 田 宏 東京電力株式会社
佐々木 孝 一 東日本旅客鉄道株式会社
弘 田 康 英 日体放送協会
荻 雅 勇 住宅・道路整備公団
長 滝 清 敬 日本道路公団
大久保 勝 彦 古河電気工業株式会社
橋 利 雄 富士通株式会社
斧 田 誠 一 株式会社日立製作所
西 江 光 昭 住友電気工業株式会社
田 中 英 吉 社団法人日本電気計測器工業会
立 川 明 社団法人日本電子機械工業会
江 本 俊 夫 社団法人日本電線工業会
(専門委員) J. P. スターン 米国電子業界日本事務所
P. キ ャ ロ ル GECマルコーニジャパン
(関係者) 藤 瀬 雅 行 国際電信電話株式会社
川 原 淨 彦 島田理化工業株式会社
前 田 昌 昭 財団法人日本品質保証機構
石 川 邦 夫 株式会社島津製作所
(事務局) 市 村 修 工業技術院標準部電気規格課
三 野 英 樹 工業技術院標準部電気規格課
松 尾 充 久 工業技術院標準部電気規格課
――――― [JIS C 6181 pdf 9] ―――――
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C 6181-1995 (IEC 1040 : 1990)
財団法人 光産業技術振興協会光測定器標準化委員会(平成5年度) 構成表
氏名 所属
(委員長) 藤 瀬 雅 行 国際電信電話株式会社
青 山 耕 一 日本電信電話株式会社
芦 川 栄 晃 株式会社東芝
足 立 正 二 安藤電気株式会社
石 川 邦 男 株式会社島津製作所
川 原 淨 彦 島田理化工業株式会社
栗 原 史 郎 工業技術院標準部(1993年6月まで)
倉 重 有 幸 工業技術院標準部(1993年7月から)
坂 野 伸 治 株式会社日立製作所
佐 藤 宗 純 工業技術院電子技術総合研究所
立 川 義 彦 横河電機株式会社
波 平 宜 敬 国際電信電話株式会社
早 川 弘 一 古河電気工業株式会社
堀 松 哲 夫 株式会社富士通研究所
前 田 昌 昭 財団法人日本品質保証機構
森 秀 夫 アンリツ株式会社
森 基 祐 セイコー電子工業株式会社
山 下 純一郎 三菱電機株式会社
山 田 剛 株式会社フジクラ
渡 辺 幸 光 株式会社アドバンテスト
(オブザーバ) 古 川 真 一 日本電信電話株式会社
(事務局) 戒 能 賢 明 財団法人光産業技術振興協会(1993年7月まで)
米 山 俊 一 財団法人光産業技術振興協会(1993年8月から)
山 下 建 財団法人光産業技術振興協会
JIS C 6181:1995の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61040:1990(IDT)
JIS C 6181:1995の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.260 : オプトエレクトロニクス.レーザー設備