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C 6189 : 2004
m
1 iR
の平均値 R'
m i1
R
- i
Ri 10 10
Rs
10
Rs 10
to 標準試験条件における被試験器の偏り
sx 標準試験条件における基準光反射器の誤
差(%)
ct 逸 誤差試験時の測定値のばらつきの標
準偏差(%)
m
(Ri R )2
1 i 1
ct 100 ・・・・・・・(6)
R m 1
6.3 個別誤差試験
6.3.1 温度依存特性 温度依存特性試験の接続を,図2に示す。
光ファイバ
被試験器 基準光反射器
恒温槽
図2 温度依存特性試験の接続
a) 装置 装置は,次による。
1) 恒温槽 温度分布が被試験器の試験結果に影響を与えないくらい十分に小さいもの。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
備考 この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
1) 標準試験条件における被試験器の指示値をRo (dB)とする。
2) 恒温槽内の温度を被試験器に指定の使用温度範囲でその下限及び上限を含めた5点以上の試験温度
Ta に変化させる。そのときの被試験器の指示値の最大値 R1 (dB)及び最小値 R2 (dB) を記録する。
3) 誤差の上限及び下限は式(7)及び式(8)によって算出する。
R2 Ro
tui 100 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(7)
Ro
R1 Ro
tli 100 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(8)
Ro
ここに, tui 誤差の上限(%)
tki 誤差の下限(%)
――――― [JIS C 6189 pdf 6] ―――――
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1R :
10R1 / 10
R2 : 10R2 / 10
Ro : 10
Ro / 10
6.3.2 直線性 図3に直線性試験での接続を示す。試験は標準試験条件で行う。
光ファイバ 光ファイバ
被試験器 可変光減衰器 基準光反射器
図 3 直線性試験の接続
a) 装置 装置は,次による。
1) 可変光減衰器 被試験器の出力光波長に対して光減衰量が校正され,光反射減衰量が十分に小さい
もの。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
備考 この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
1) 可変光減衰器の減衰量設定を X = 0 (dB)に設定する。このときの被試験器の指示値をRo (dB)とする。
2) 光減衰器の減衰量 X (dB) を2Xが被試験器のダイナミックレンジの下限及び上限を含めた5点以上
となるように変化させ,R−Ro −2Xの最大値 R1 (dB)及び最小値 R2 (dB) を記録する。ただし,R
は被試験器の指示値である。
3) 誤差の上限及び下限は,式(9)及び式(10)によって算出する。
tui (2 )1 100 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(9)
tli (1 )1 100 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(10)
ここに, tui 誤差の上限(%)
tli 誤差の下限(%)
1R :
10R1 / 10
R2 : 10R2 / 10
6.3.3 偏光依存特性 偏光依存特性の接続を図4に示す。試験は,標準試験条件で行う。
光ファイバ 光ファイバ
被試験器 偏光制御器 基準光反射器
図4 偏光依存特性試験の接続
a) 装置 装置は,次による。
――――― [JIS C 6189 pdf 7] ―――――
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C 6189 : 2004
1) 偏光制御器 被試験器の出力光の偏波面をすべての偏光状態に制御できる光ファイバ出力可能な偏
光制御器で,しかも偏光状態制御時のレベル変動が偏光依存特性の測定精度に対し十分に小さいも
の。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
備考 この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
1) 図4に示すとおり接続し,被試験器の指示値をRo(dB)とする。
2) 偏光制御器によって出力光偏波面をすべての偏光状態に変化させ,その間の被試験器の指示値の最
大値R1(dB)及び最小値R2(dB)を記録する。
3) 誤差の上限及び下限は,式(11)及び式(12)によって算出する。
R2 Ro
tui 100 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(11)
Ro
R1 Ro
tli 100 ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(12)
Ro
ここに, tui 誤差の上限(%)
tli 誤差の下限(%)
1R :
10R1 / 10
R2 : 10R2 / 10
Ro : 10 Ro / 10
7. その他の性能試験
7.1 出力光パワー試験
被試験器の出力光の光パワー試験である。
a) 装置 装置は,次による。
1) 光パワーメータ 被試験器の出力光波長に対して校正され測定時間内で安定度が保証されたもの。
b) 試験 試験は次の手順で行う。
備考 この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
1) 図5のように被試験器と光パワーメータとを測定用光ファイバで接続する。
なお,光ファイバの長さは2 m以上で損失が十分に小さいものとする。
2) 光パワーメータの指示値Po (dBm) を出力光パワーとする。
光ファイバ
被試験器 光パワーメータ
図5 出力光の光パワー試験の接続
7.2 出力光の中心光波長試験
被試験器の出力光の中心光波長試験である。
a) 装置 装置は,次による。
1) 光スペクトラムアナライザ 試験波長範囲及び試験条件において,波長測定精度が波長安定度の試
験に要求される精度に対して,十分に高いもの。
――――― [JIS C 6189 pdf 8] ―――――
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C 6189 : 2004
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
備考 この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
1) 図6のように被試験器と光スペクトラムアナライザとを測定用光ファイバで接続する。
光ファイバ
被試験器 光スペクトラムアナライザ
図6 出力光の中心波長試験の接続
2) 中心光波長 nm) は,光スペクトルが離散的な場合は式(13),連続的な場合は式(14)によって算出
する。
m
1
c pi i ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(13)
p0 i 1
ここに, P0 : 全光パワー(=pi)(mW)
pi : i番目の縦モードの光パワー(mW)
槿 i番目の縦モードの光波長(nm)
m : 縦モード数
1
c p( ) ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(14)
p0
ここに, P0 : 全光パワー(mW)
P( 光波長 ワー密度(mW/nm)
光波長(nm)
7.3 出力光の光スペクトル幅試験
出力光の光スペクトル幅試験の接続を,図7に示す。
光ファイバ
被試験器 光スペクトラムアナライザ
図7 出力光の光スペクトル幅試験の接続
a) 装置 装置は,次による。
1) 光スペクトラムアナライザ 7.2a) 1)による。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
備考 この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
1) 被試験器と光スペクトラムアナライザとを測定用光ファイバで接続する。
2) 光スペクトル幅 nm)は,スペクトルが離散的な場合は式(15),連続的な場合は式(16)によって算
出する。
m
2
pii
i 2
M c ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(15)
po
――――― [JIS C 6189 pdf 9] ―――――
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C 6189 : 2004
ここに, po : 全光パワー(=pi)(mW)
pi : i番目の縦モードの光パワー(mW)
槿 i番目の縦モードの波長(nm)
m : 縦モード数
M : 係数。2.35を用いる。
泰 FWHM ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(16)
ここに, FWHM : 光スペクトルの半値全幅
8. 強度試験
機械的な振動及び衝撃を与えて被試験器の損傷及び特性の変化の有無を試験する。
なお,被試験器が機械的に弱い構造となっていて,強度試験によって回復不可能となるおそれがある場
合には,この試験を省いてもよい。また,被試験器が製品規格によって他の規格,又は他の試験の厳しさ
を規定している場合は,それに従う。
なお,強度試験は被試験器を包装していない状態で行う。
8.1 振動試験
試験は,JIS C 0040によって実施する。
なお,試験の厳しさは次による(JIS C 0040 附属書C表C.2参照,“大型発電装置及び一般工業用に用
いる機器”を適用する)。
振動数範囲 : 1055 Hz
振幅(片振幅) : 0.15 mm
各軸方向の掃引サイクル数 : 10
8.2 落下試験
試験は,JIS C 0043によって実施する。
なお,試験の厳しさは次による。
面落下 : 25 mm又は30°の厳しさの小さいほう
角落下 : 25 mm又は30°の厳しさの小さいほう
関連規格 JIS C 6184 光ファイバ用光パワーメータ試験方法
JIS C 6189:2004の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.10 : 光ファイバ及び光ケーブル
JIS C 6189:2004の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0040:1999
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 正弦波振動試験方法
- JISC0043:1995
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 面落下,角落下及び転倒(主として機器)試験方法
- JISC1002:1975
- 電子測定器用語
- JISC6182:1991
- レーザビーム用光パワーメータ試験方法
- JISC6183:1992
- 光スペクトラムアナライザ試験方法
- JISC6832:2019
- 石英系マルチモード光ファイバ素線
- JISC6835:2017
- 石英系シングルモード光ファイバ素線
- JISZ8103:2019
- 計測用語
- JISZ8120:2001
- 光学用語